CN206387330U - 校准规固定装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供了一种校准规固定装置,包括:底部固定主体(10),具有第一定位结构(20);支撑结构(30),设置在底部固定主体(10)上;顶部固定主体(40),设置在支撑结构(30)上并与底部固定主体(10)间隔设置,顶部固定主体(40)具有第二定位结构(50),第一定位结构(20)与第二定位结构(50)相对设置以共同夹持校准规。本实用新型的技术方案能够有效地解决现有技术中的手持校准规对精密测量仪器进行校准时,校准不够准确的问题。

Description

校准规固定装置
技术领域
本实用新型涉及测量仪器校准技术领域,具体而言,涉及一种校准规固定装置。
背景技术
目前,精密测量仪器(例如千分尺)用于待测量件的直径等尺寸的精密测量。在测量之前需要利用标准件(量块、轴类校准规等)对千分尺进行校准调零。其中,轴类校准规的尺寸基本固定,相比于组合量块测量更加精确。在现有技术中,在对千分尺进行校准时,先将千分尺固定在夹持表座上,再手持轴类校准规,在千分尺的两个测砧之间来回移动,进而对千分尺进行校准。然而,在上述校准过程中,操作者的手可能会触碰到轴类校准规的工作面,影响测量精度,同时手上的汗渍也可能会使轴类校准规生锈。此外,如果轴类校准规的尺寸较大,手持轴类校准规会不太容易稳定,从而使千分尺校准不够准确。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种校准规固定装置,以解决现有技术中的手持校准规对精密测量仪器进行校准时,校准不够准确的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供了一种校准规固定装置,包括:底部固定主体,具有第一定位结构;支撑结构,设置在底部固定主体上;顶部固定主体,设置在支撑结构上并与底部固定主体间隔设置,顶部固定主体具有第二定位结构,第一定位结构与第二定位结构相对设置以共同夹持校准规。
进一步地,第二定位结构相对于第一定位结构可移动地设置,以使第二定位结构具有与第一定位结构共同夹持校准规的第一位置以及与校准规相分离的第二位置。
进一步地,校准规固定装置还包括压紧结构,当第二定位结构处于第一位置后,压紧结构能够对第二定位结构施加向下的力以使第二定位结构压紧校准规。
进一步地,顶部固定主体与支撑结构枢转连接。
进一步地,压紧结构包括拉伸件,拉伸件连接在顶部固定主体与底部固定主体之间,以将顶部固定主体及第二定位结构拉向底部固定主体。
进一步地,压紧结构包括压缩件,压缩件的两端分别与顶部固定主体和第二定位结构相配合,以对第二定位结构施加向下的力。
进一步地,压紧结构还包括设置在顶部固定主体上的导向套筒,压缩件沿导向套筒的轴向方向设置在导向套筒内。
进一步地,第二定位结构连接在压缩件远离顶部固定主体的一端,压紧结构还包括限位结构,限位结构用于限制第二定位结构相对于导向套筒的移动行程。
进一步地,限位结构包括:限位挡板,设置在第二定位结构或压缩件上;限位槽,设置在导向套筒的筒壁上,限位挡板伸入至限位槽内并与限位槽相配合,以限制第二定位结构的移动行程。
进一步地,第一定位结构为向上凸出于底部固定主体的定位凸台,第二定位结构为定位柱。
应用本实用新型的技术方案,底部固定主体具有第一定位结构,顶部固定主体具有第二定位结构,支撑结构设置在底部固定主体上,顶部固定主体设置在支撑结构上并与底部固定主体间隔设置。当对校准规进行固定时,将校准规置于第一定位结构与第二定位结构之间,通过相对设置的第一定位结构与第二定位结构共同夹持校准规,以将该校准规固定住,再将精密测量仪器与校准规相配合,并对校准规进行测量,从而实现对精密测量仪器的校准,又由于校准规固定稳定,这样可以使校准更加准确,并且可以防止操作者手上的汗渍使校准规生锈。
附图说明
构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1示出了根据本实用新型的校准规固定装置的实施例一的结构示意图;以及
图2示出了根据本实用新型的校准规固定装置的实施例二的结构示意图。
其中,上述附图包括以下附图标记:
10、底部固定主体;20、第一定位结构;30、支撑结构;40、顶部固定主体;50、第二定位结构;60、拉伸件;71、压缩件;72、导向套筒;81、限位挡板;82、限位槽;90、避让孔。
具体实施方式
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的,除非上下文另外明确指出,否则单数形式也意图包括复数形式,此外,还应当理解的是,当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时,其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。同时,应当明白,为了便于描述,附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
在本实用新型的描述中,需要理解的是,方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,在未作相反说明的情况下,这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制;方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。
为了便于描述,在这里可以使用空间相对术语,如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等,用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是,空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如,如果附图中的器件被倒置,则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而,示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位),并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。
此外,需要说明的是,使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件,仅仅是为了便于对相应零部件进行区别,如没有另行声明,上述词语并没有特殊含义,因此不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
目前,由于发动机为汽车提供动力,汽车的性能主要取决于发动机的性能,发动机的开发制造就显得尤为重要。发动机的试制(小批量生产)使发动机从设计转化为实际,而在实际的试制装配过程中,需要对设计开发的零件进行精密测量。现在发动机对于油耗、排放、动力性能、NVH、体积、重量等要求越来越严格,强化系数越来越高。因此,对发动机各个位置的精度要求越来越高。随着制造水平的不断提高,间隙、公差带等也越收越窄,这就要求测量设备具有较高的精度。
在发动机试验前后,尤其需要对发动机的运转摩擦副进行精密测量,评估发动机运转过程中的磨损量,为发动机后续的改进提供数据支持和积累。在现有技术中,可以使用精密测量仪器对发动机的摩擦副进行精密测量,在最大限度上保证测量手法能够一致,尽可能地避免误差。例如,可以使用千分尺对发动机的转动轴的直径进行测量,在测量时一般多采用比对法。在测量前需要利用轴类校准规对千分尺进行校准调零。
如图1所示,实施例一的校准规固定装置用于对轴类校准规的固定,固定之后通过轴类校准规对千分尺进行校准调零。上述校准规固定装置包括底部固定主体10、支撑结构30以及顶部固定主体40。其中,底部固定主体10具有第一定位结构20。支撑结构30设置在底部固定主体10上。顶部固定主体40设置在支撑结构30上并与底部固定主体10间隔设置。顶部固定主体40具有第二定位结构50。第一定位结构20与第二定位结构50相对设置以共同夹持轴类校准规。
应用本实施例的校准规固定装置,底部固定主体10具有第一定位结构20,顶部固定主体40具有第二定位结构50,支撑结构30设置在底部固定主体10上,顶部固定主体40设置在支撑结构30上并与底部固定主体10间隔设置。当对轴类校准规进行固定时,将轴类校准规置于第一定位结构20与第二定位结构50之间,通过相对设置的第一定位结构20与第二定位结构50共同夹持轴类校准规,以将该轴类校准规固定住,再将千分尺的两个测砧放置在轴类校准规的两侧卡住轴类校准规,移动千分尺并对轴类校准规进行测量,从而实现对千分尺的校准,又由于轴类校准规固定稳定,这样可以使校准更加准确,并且可以防止操作者手上的汗渍使轴类校准规生锈。
需要说明的是,在本实施例中,校准规固定装置用于对轴类校准规的固定,固定之后通过轴类校准规对千分尺进行校准调零。当然,校准规固定装置的应用环境不限于此,在其他实施方式中,校准规固定装置可以对其他类型的校准规进行固定,固定之后通过该校准规对其他类型的精密测量仪器(例如带表千分尺)进行校准调零,第一定位结构和第二定位结构可以根据校准规的具体类型进行设计。
如图1所示,在实施例一的校准规固定装置中,第二定位结构50相对于第一定位结构20可移动地设置,以使第二定位结构50具有与第一定位结构20共同夹持校准规的第一位置以及与校准规相分离的第二位置。当对轴类校准规进行固定时,先将第二定位结构50移动至第二位置,将轴类校准规置于第一定位结构20的上方,再将第二定位结构50移动至第一位置,使第一定位结构20与第二定位结构50共同夹持轴类校准规。当需要取下轴类校准规时,将第二定位结构50移动至第二位置,再取下轴类校准规。上述结构便于轴类校准规的固定和取下。
需要说明的是,第二定位结构50的结构不限于此,在其他实施方式中,第二定位结构可以不移动地设置,只要能顺利固定或取下轴类校准规即可。例如,将第一定位结构和第二定位结构设置为弹性件(橡胶件),通过该弹性件自身的变形实现轴类校准规的固定或取下。
如图1所示,在实施例一的校准规固定装置中,校准规固定装置还包括压紧结构。当第二定位结构50处于第一位置后,压紧结构能够对第二定位结构50施加向下的力以使第二定位结构50压紧校准规。上述压紧结构能够通过第二定位结构50对轴类校准规施加向下的力,从而使第二定位结构50和第一定位结构20夹紧轴类校准规,使轴类校准规不会左右晃动,进而使轴类校准规固定更加稳定。
如图1所示,在实施例一的校准规固定装置中,顶部固定主体40与支撑结构30枢转连接。在本实施例中,顶部固定主体40与支撑结构30通过扁圆头铆钉可枢转地连接,结构简单,便于加工制造。由于顶部固定主体40可以相对于支撑结构30转动,从而驱动第二定位结构50在第一位置与第二位置之间移动,进而能够方便轴类校准规的放置与取出,使用更加灵活。
如图1所示,在实施例一的校准规固定装置中,压紧结构包括拉伸件60。拉伸件60连接在顶部固定主体40与底部固定主体10之间,以将顶部固定主体40及第二定位结构50拉向底部固定主体10。上述拉伸件60能够对第二定位结构50、轴类校准规施加向下的力。在本实施例中,拉伸件60为拉伸弹簧。顶部固定主体40的下表面与底部固定主体10的上表面上均设置有拉环,拉伸弹簧的上下两端具有拉钩,通过拉钩钩住拉环将拉伸弹簧连接在顶部固定主体40与底部固定主体10之间。当然,拉伸件60不限于拉伸弹簧,在图中未示出的其他实施方式中,拉伸件可以为其他拉伸结构。
如图1所示,在实施例一的校准规固定装置中,轴类校准规的上下两端均设置有尼龙手持棒,尼龙手持棒呈筒状。第一定位结构20为向上凸出于底部固定主体10的定位凸台,第二定位结构50为定位柱。上述定位凸台和定位柱能够分别插入至轴类校准规下端和上端的尼龙手持棒的中心孔中,从而对轴类校准规进行定位夹持,固定更加稳定。在本实施例中,定位柱的中部设置有避让孔90,该避让孔90用于避让尼龙手持棒内部的螺钉帽。需要说明的是,此时,轴类校准规不会左右晃动,但是可以沿其中心线转动,便于千分尺校准。当然,第一定位结构20和第二定位结构50的结构不限于此,在图中未示出的其他实施方式中,第一定位结构和第二定位结构的结构可以根据校准规的具体类型进行设计,例如,可以将第一定位结构和第二定位结构直接设计成顶尖,这样可以实现对轴类校准规的自对中。
在本实施例中,不同的轴类校准规的整体高度基本一致,误差仅在1~2mm之间。利用轴类校准规的这一特性可以设计出顶部固定主体40与底部固定主体10之间的距离。当对轴类校准规进行固定时,先将顶部固定主体40稍微抬起,将轴类校准规放置在底部固定主体10的定位凸台上,定位凸台可以使轴类校准规保持直立,再将顶部固定主体40压下,正好通过定位柱夹住轴类校准规。此时,顶部固定主体40与底部固定主体10之间的拉伸弹簧(圆柱螺旋拉伸弹簧)使得轴类校准规能更好地被夹紧。
如图2所示,实施例二的校准规固定装置与实施例一的主要区别在于,压紧结构包括压缩件71。压缩件71的两端分别与顶部固定主体40和第二定位结构50相配合,以对第二定位结构50施加向下的力。上述压缩件71能够对第二定位结构50、轴类校准规施加向下的力。在本实施例中,压缩件71为压缩弹簧。当对轴类校准规进行固定时,先将压缩弹簧的下端上移,并带动第二定位结构50上移。当压缩弹簧的下端移动至能够使第二定位结构50与第一定位结构20之间形成足够大的空间时,将将轴类校准规放置在底部固定主体10的定位凸台上,定位凸台可以使轴类校准规保持直立,再将压缩弹簧松开,该压缩弹簧下压轴类校准规,以通过定位柱夹住轴类校准规。当然,压缩件71不限于压缩弹簧,在图中未示出的其他实施方式中,压缩件可以为其他压缩结构。
如图2所示,在实施例二的校准规固定装置中,压紧结构还包括设置在顶部固定主体40上的导向套筒72。压缩件71沿导向套筒72的轴向方向设置在导向套筒72内。上述导向套筒72对压缩件71起到导向作用。在本实施例中,第二定位结构50连接在压缩件71远离顶部固定主体40的一端。压紧结构还包括限位结构。限位结构用于限制第二定位结构50相对于导向套筒72的移动行程。
如图2所示,在实施例二的校准规固定装置中,限位结构包括限位挡板81和限位槽82。其中,限位挡板81设置在第二定位结构50上并位于第二定位结构50与压缩件71之间。限位槽82设置在导向套筒72的筒壁上。限位挡板81伸入至限位槽82内并与限位槽82相配合,以限制第二定位结构50的移动行程。当然,限位结构的结构不限于此,在图中未示出的其他实施方式中,限位结构可以为其他形式的限位结构,例如,限位挡板可以设置在压缩件上。
从以上的描述中,可以看出,本实用新型上述的实施例实现了如下技术效果:
1、在精密测量仪器校准过程中,能够尽可能地减少对轴类校准规的触碰;
2、在精密测量仪器校准过程中,将轴类校准规稳定固定,防止轴类校准规晃动,减少人为因素带来的误差;
3、制作简单,使用方便。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种校准规固定装置,其特征在于,包括:
底部固定主体(10),具有第一定位结构(20);
支撑结构(30),设置在所述底部固定主体(10)上;
顶部固定主体(40),设置在所述支撑结构(30)上并与所述底部固定主体(10)间隔设置,所述顶部固定主体(40)具有第二定位结构(50),所述第一定位结构(20)与所述第二定位结构(50)相对设置以共同夹持校准规。
2.根据权利要求1所述的校准规固定装置,其特征在于,所述第二定位结构(50)相对于所述第一定位结构(20)可移动地设置,以使所述第二定位结构(50)具有与所述第一定位结构(20)共同夹持所述校准规的第一位置以及与所述校准规相分离的第二位置。
3.根据权利要求2所述的校准规固定装置,其特征在于,所述校准规固定装置还包括压紧结构,当所述第二定位结构(50)处于第一位置后,所述压紧结构能够对所述第二定位结构(50)施加向下的力以使所述第二定位结构(50)压紧所述校准规。
4.根据权利要求3所述的校准规固定装置,其特征在于,所述顶部固定主体(40)与所述支撑结构(30)枢转连接。
5.根据权利要求4所述的校准规固定装置,其特征在于,所述压紧结构包括拉伸件(60),所述拉伸件(60)连接在所述顶部固定主体(40)与所述底部固定主体(10)之间,以将所述顶部固定主体(40)及所述第二定位结构(50)拉向所述底部固定主体(10)。
6.根据权利要求3所述的校准规固定装置,其特征在于,所述压紧结构包括压缩件(71),所述压缩件(71)的两端分别与所述顶部固定主体(40)和所述第二定位结构(50)相配合,以对所述第二定位结构(50)施加向下的力。
7.根据权利要求6所述的校准规固定装置,其特征在于,所述压紧结构还包括设置在所述顶部固定主体(40)上的导向套筒(72),所述压缩件(71)沿所述导向套筒(72)的轴向方向设置在所述导向套筒(72)内。
8.根据权利要求7所述的校准规固定装置,其特征在于,所述第二定位结构(50)连接在所述压缩件(71)远离所述顶部固定主体(40)的一端,所述压紧结构还包括限位结构,所述限位结构用于限制所述第二定位结构(50)相对于所述导向套筒(72)的移动行程。
9.根据权利要求8所述的校准规固定装置,其特征在于,所述限位结构包括:
限位挡板(81),设置在所述第二定位结构(50)或所述压缩件(71)上;
限位槽(82),设置在所述导向套筒(72)的筒壁上,所述限位挡板(81)伸入至所述限位槽(82)内并与所述限位槽(82)相配合,以限制所述第二定位结构(50)的移动行程。
10.根据权利要求1至9中任一项所述的校准规固定装置,其特征在于,所述第一定位结构(20)为向上凸出于所述底部固定主体(10)的定位凸台,所述第二定位结构(50)为定位柱。
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