CN206311717U - 指纹芯片性能检测系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种指纹芯片性能检测系统，包括载台、支撑板、PCB板、盖板和基板，所述盖板前端通过一连接销和位于基板上的卡座活动连接，所述载台安装于基板上，位于缺口槽正下方的所述基板一侧设置有一与扳扣对应的扣座部，所述扳扣的卡钩部用于与扣座部扣接，所述支撑板安装于基板下表面并载台下表面接触，所述支撑板和载台上均开有若干供PIN针穿入的通孔，所述PIN针依次嵌入载台和支撑板的通孔内，此PIN针下端与所述PCB板的电接触区电接触，一核心板通过灰排线与排线座电连接，此核心板用于产生和处理检测信号。本实用新型通过盖板上扳扣的设置，方便待测芯片的取放，凸起部的设置可以对待测芯片起到很好的压紧固定作用，使得待测芯片与PIN针良好接触，从而提高检测的准确性和灵敏性。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种指纹芯片性能检测系统，涉及手机指纹芯片加工领域。
背景技术
随着人们对信息安全的要求越来越高，传统的数字密码或九宫格密码已不能满足人们对信息安全的要求。生物识别广泛应用于新一代的电子设备，而指纹具有的稳定性和唯一性使得指纹识别装置的应用非常广泛。
指纹芯片通常在出厂质检、回收品检查、使用性能检测等情况都需进行检测，通常情况下，检测治具包括设置检测电路的治具底板，治具底板上固定检测底座，治具底板上设置连接检测电路并与电子芯片匹配设置的检测探针；检测时，将芯片放置在检测底座，检测探针对应接触到相应芯片的检测点，一般情况下，芯片的上端简单的压块压住芯片或有时候将芯片焊接在检测底座上，让芯片贴紧检测探针进行检测，然而芯片在检测底座上容易错位，在芯片上端的受力不足容易造成某些部分不能与检测探针接触，导致检测结果不准确，另外焊接固定的方式工艺复杂，容易导致芯片及检测底座的损坏。
发明内容
本实用新型目的是提供一种指纹芯片性能检测系统，该指纹芯片性能检测系统，其盖板上扳扣的设置灵活方便，便于待测芯片的取放，凸起部的设置可以对待测芯片起到很好的压紧固定作用，使得待测芯片与PIN针良好接触，提高检测的准确性和灵敏性，其次，其载台与支撑板可适用多种待测芯片，提高夹具的通用性，从而大大节约了成本。
为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种指纹芯片性能检测系统，包括载台、支撑板、PCB板、盖板和基板，所述盖板前端通过一连接销和位于基板上的卡座活动连接，所述载台安装于基板上，所述盖板下表面设置有一与载台对应的凸起部；
所述盖板一侧具有一缺口槽，一扳扣安装于所述盖板的缺口槽内，位于缺口槽正下方的所述基板一侧设置有一与扳扣对应的扣座部，一转轴嵌入盖板、扳扣各自的转轴通孔内，从而使得所述扳扣在缺口槽中可绕转轴旋转，所述扳扣进一步包括卡钩部和按压部，所述扳扣的卡钩部用于与扣座部扣接；
所述基板上开有一安装孔，所述载台嵌入安装孔内，所述支撑板安装于基板下表面并与载台下表面接触，所述支撑板和载台上均开有若干供PIN针穿入的通孔；
所述PCB板一端安装有排线座，另一端上表面具有电接触区，所述PCB板位于排线座和电接触区之间区域具有一跳线区，所述PIN针依次嵌入载台和支撑板的通孔内，此PIN针上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，PIN针下端与所述PCB板的电接触区电接触；一核心板通过灰排线与排线座电连接，此核心板用于产生和处理检测信号。
上述技术方案中进一步改进的方案如下：
1. 上述方案中，所述卡钩部和按压部呈垂直设置。
2. 上述方案中，所述转轴嵌入盖板、按压部各自的通孔内。
3. 上述方案中，所述卡钩部位于按压部的中部。
4. 上述方案中，所述跳线区位于PCB板靠近排线座一侧。
由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点和效果：
1. 本实用新型指纹芯片性能检测系统，其盖板一侧具有一缺口槽，一扳扣安装于所述盖板的缺口槽内，位于缺口槽正下方的所述基板一侧设置有一与扳扣对应的扣座部，一转轴嵌入盖板、扳扣各自的转轴通孔内，从而使得所述扳扣在缺口槽中可绕转轴旋转，所述扳扣进一步包括卡钩部和按压部，所述扳扣的卡钩部用于与扣座部扣接，盖板上扳扣的设置灵活方便，便于待测芯片的取放，其次，其盖板下表面设置有一与载台对应的凸起部，此凸起部的设置可以对待测芯片起到很好的压紧固定作用，使得待测芯片与PIN针良好接触，从而提高检测的准确性和灵敏性。
2. 本实用新型指纹芯片性能检测系统，其核心板通过灰排线与排线座电连接，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。
附图说明
附图1为本实用新型指纹芯片性能检测系统结构示意图；
附图2为附图1的局部结构示意图一；
附图3为附图1的局部结构示意图二。
以上附图中：1、载台；2、支撑板；3、PCB板；4、盖板；5、基板；51、卡座；6、连接销；8、安装孔；9、PIN针；10、通孔；13、缺口槽；14、扳扣；141、卡钩部；142、按压部；15、扣座部；16、转轴；17、转轴通孔；18、排线座；19、电接触区；20、跳线区；21、凸起部；23、核心板；24、灰排线。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型作进一步描述：
实施例1：一种指纹芯片性能检测系统，包括载台1、支撑板2、PCB板3、盖板4和基板5，所述盖板4前端通过一连接销6和位于基板5上的卡座51活动连接，所述载台1安装于基板5上，所述盖板4下表面设置有一与载台1对应的凸起部21；
所述盖板4一侧具有一缺口槽13，一扳扣14安装于所述盖板4的缺口槽13内，位于缺口槽13正下方的所述基板5一侧设置有一与扳扣14对应的扣座部15，一转轴16嵌入盖板4、扳扣14各自的转轴通孔17内，从而使得所述扳扣14在缺口槽13中可绕转轴16旋转，所述扳扣14进一步包括卡钩部141和按压部142，所述扳扣14的卡钩部141用于与扣座部15扣接；
所述基板5上开有一安装孔8，所述载台1嵌入安装孔8内，所述支撑板2安装于基板5下表面并与载台1下表面接触，所述支撑板2和载台1上均开有若干供PIN针9穿入的通孔10；
所述PCB板3一端安装有排线座18，另一端上表面具有电接触区19，所述PCB板3位于排线座18和电接触区19之间区域具有一跳线区20，所述PIN针9依次嵌入载台1和支撑板2的通孔10内，此PIN针9上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，PIN针9下端与所述PCB板3的电接触区19电接触；一核心板23通过灰排线24与排线座18电连接，此核心板23用于产生和处理检测信号。
上述卡钩部141和按压部142呈垂直设置；上述转轴16嵌入盖板4、按压部142各自的通孔内。
实施例2：一种指纹芯片性能检测系统，包括载台1、支撑板2、PCB板3、盖板4和基板5，所述盖板4前端通过一连接销6和位于基板5上的卡座51活动连接，所述载台1安装于基板5上，所述盖板4下表面设置有一与载台1对应的凸起部21；
所述盖板4一侧具有一缺口槽13，一扳扣14安装于所述盖板4的缺口槽13内，位于缺口槽13正下方的所述基板5一侧设置有一与扳扣14对应的扣座部15，一转轴16嵌入盖板4、扳扣14各自的转轴通孔17内，从而使得所述扳扣14在缺口槽13中可绕转轴16旋转，所述扳扣14进一步包括卡钩部141和按压部142，所述扳扣14的卡钩部141用于与扣座部15扣接；
所述基板5上开有一安装孔8，所述载台1嵌入安装孔8内，所述支撑板2安装于基板5下表面并与载台1下表面接触，所述支撑板2和载台1上均开有若干供PIN针9穿入的通孔10；
所述PCB板3一端安装有排线座18，另一端上表面具有电接触区19，所述PCB板3位于排线座18和电接触区19之间区域具有一跳线区20，所述PIN针9依次嵌入载台1和支撑板2的通孔10内，此PIN针9上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，PIN针9下端与所述PCB板3的电接触区19电接触；一核心板23通过灰排线24与排线座18电连接，此核心板23用于产生和处理检测信号。
上述卡钩部141位于按压部142的中部；上述跳线区20位于PCB板3靠近排线座18一侧。
采用上述指纹芯片性能检测系统时，通过盖板上扳扣的设置，方便待测芯片的取放，凸起部的设置可以对待测芯片起到很好的压紧固定作用，使得待测芯片与PIN针良好接触，从而提高检测的准确性和灵敏性，此外，核心板通过灰排线与排线座电连接，可对获得的检测信号直接进行传输和处理，高效准确的完成对芯片性能的检测。
上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种指纹芯片性能检测系统，其特征在于：包括载台（1）、支撑板（2）、PCB板（3）、盖板（4）和基板（5），所述盖板（4）前端通过一连接销（6）和位于基板（5）上的卡座（51）活动连接，所述载台（1）安装于基板（5）上，所述盖板（4）下表面设置有一与载台（1）对应的凸起部（21）；
所述盖板（4）一侧具有一缺口槽（13），一扳扣（14）安装于所述盖板（4）的缺口槽（13）内，位于缺口槽（13）正下方的所述基板（5）一侧设置有一与扳扣（14）对应的扣座部（15），一转轴（16）嵌入盖板（4）、扳扣（14）各自的转轴通孔（17）内，从而使得所述扳扣（14）在缺口槽（13）中可绕转轴（16）旋转，所述扳扣（14）进一步包括卡钩部（141）和按压部（142），所述扳扣（14）的卡钩部（141）用于与扣座部（15）扣接；
所述基板（5）上开有一安装孔（8），所述载台（1）嵌入安装孔（8）内，所述支撑板（2）安装于基板（5）下表面并与载台（1）下表面接触，所述支撑板（2）和载台（1）上均开有若干供PIN针（9）穿入的通孔（10）；
所述PCB板（3）一端安装有排线座（18），另一端上表面具有电接触区（19），所述PCB板（3）位于排线座（18）和电接触区（19）之间区域具有一跳线区（20），所述PIN针（9）依次嵌入载台（1）和支撑板（2）的通孔（10）内，此PIN针（9）上端与待检测指纹芯片的连接器电接触，PIN针（9）下端与所述PCB板（3）的电接触区（19）电接触；
一核心板（23）通过灰排线（24）与排线座（18）电连接，此核心板（23）用于产生和处理检测信号。
2.根据权利要求1所述的指纹芯片性能检测系统，其特征在于：所述卡钩部（141）和按压部（142）呈垂直设置。
3.根据权利要求1所述的指纹芯片性能检测系统，其特征在于：所述转轴（16）嵌入盖板（4）、按压部（142）各自的通孔内。
4.根据权利要求1所述的指纹芯片性能检测系统，其特征在于：所述卡钩部（141）位于按压部（142）的中部。
5.根据权利要求1所述的指纹芯片性能检测系统，其特征在于：所述跳线区（20）位于PCB板（3）靠近排线座（18）一侧。
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Inventor after: Wei Xianlong Inventor after: Wang Li Inventor after: Chen Dong Inventor after: Wang Haichang Inventor after: Jiang Haiguang Inventor before: Li Lin Inventor before: Jiang Haiguang Inventor before: Chen Dong Inventor before: Wang Haichang |
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