CN206161815U - 一种电机堵转测试用锁轴装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电机堵转测试用锁轴装置，包括基座、下盖和上盖，所述基座上部设有竖直设置且互相平行的两个立柱，所述立柱之间设有矩形槽，所述矩形槽内插接有可沿矩形槽上下滑动的下盖，所述下盖的上端设有用于放置被侧电机轴的下半圆形槽，所述下半圆形槽的两端设有向两侧延伸的第一凸台，所述下盖的顶面贴合设有与其相对应的上盖，所述上盖与下盖的贴合面上设有与下半圆形槽相对的上半圆形槽，所述上半圆形槽的两端设有向两侧延伸的第二凸台。本实用新型解决电机堵转测试装置的通用性，实现任何角度均可实现锁住电机旋转主轴，实现电机的任意角度堵转测试；同时防止电机主轴径向受力，避免了对被测电机的主轴造成损害。

Description

一种电机堵转测试用锁轴装置

技术领域

本实用新型涉及一种电机堵转测试用锁轴装置。

背景技术

根据GB18488.2对电机进行测试时，需要做堵转测试；国家标准中规定电机堵转测试时需要完成均布的五个点测试；目前，现行的堵转装置一般只可实现5个位置的堵转测试，并且，这类装置往往需要根据不同电机形式，非标设计，无法实现通用；另外，此类装置需要事先安装到电机堵转测试的加载设备上，与加载设备对应的锁轴开口配合，如果加载设备在初期未设计相应配合机构，后期升级时，需较大工作量将堵转装置补充至系统中。

根据电机技术的不断发展，堵转测试不仅仅局限于五个点的测试，而是在圆周方向上任意角度均可实现堵转测试，现有测试装置已不能满足电机的测试需求。

实用新型内容

本实用新型为了解决上述问题，提出了一种电机堵转测试用锁轴装置，本实用新型解决电机堵转测试装置的通用性，实现任何角度均可实现锁住电机旋转主轴，实现电机的任意角度堵转测试；制作简便，使用安全性能高，同时防止电机主轴径向受力，避免了对被测电机的主轴造成损害。

为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种电机堵转测试用锁轴装置，包括基座、下盖和上盖，所述基座固定在底板上，所述基座上部设有竖直设置且互相平行的两个立柱，所述立柱之间设有矩形槽，所述矩形槽内插接有可沿矩形槽上下滑动的下盖，所述下盖的上端设有用于放置被侧电机轴的下半圆形槽，所述下半圆形槽的两端设有向两侧延伸的第一凸台，所述第一凸台上设有螺纹孔，所述下盖的顶面贴合设有与其相对应的上盖，所述上盖与下盖的贴合面上设有与下半圆形槽相对的上半圆形槽，所述上半圆形槽与下半圆形槽形成一个整圆，所述上半圆形槽的两端设有向两侧延伸的第二凸台，所述第二凸台上设有与第一凸台上的螺纹孔相对应的通孔。

所述第二凸台上设有朝向第一凸台且与第一凸台卡合的凸缘。

所述凸缘的末端设有倒角。

所述上半圆形槽和下半圆形槽内均设有环形凸台。

所述环形凸台设置在上盖和下盖厚度方向的中间位置。

所述上盖和下盖的端面设有角度指示盘，所述角度指示盘分为上角度指示盘和下角度指示盘。

所述上角度指示盘和下角度指示盘构成360°整圆指示盘。

本实用新型的有益效果为：

1、本实用新型解决电机堵转测试装置的通用性，实现任何角度均可实现锁住电机旋转主轴，实现电机的任意角度堵转测试；

2、本实用新型制作简便，使用安全性能高，同时防止电机主轴径向受力，避免了对被测电机的主轴造成损害。

附图说明

图1是本实用新型整体结构示意图；

图2是本实用新型使用状态结构示意图；

图3是本实用新型上盖正视图结构示意图；

图4是本实用新型上盖俯视图结构示意图；

图5是本实用新型下盖正视图结构示意图；

图6是本实用新型下盖俯视图结构示意图；

图7是本实用新型基座正视图结构示意图；

图8是本实用新型基座俯视图结构示意图；

图9是本实用新型角度指示盘结构示意图；

图10是本实用新型使用说明示意图；

其中，1、上盖，2、螺栓，3、下盖，4、角度指示盘，5、基座，6、被测电机主轴，7、第二凸台，8、凸缘，9、通孔，10、第一凸台，11、螺纹孔，12、立柱，13、矩形槽，14、上角度指示盘，15、下角度指示盘。

具体实施方式

下面结合附图与实施例对本实用新型作进一步说明。

如图1和图2所示，一种电机堵转测试用锁轴装置，包括基座5、下盖3和上盖1，所述基座5固定在底板上，如图7和图8所示，所述基座5上部设有竖直设置且互相平行的两个立柱12，所述立柱12之间设有矩形槽13，如图5和图6所示，所述矩形槽13内插接有可沿矩形槽13上下滑动的下盖3，将下盖3设置能能够在基座5内上下滑动的形式，使在电机测试时，能够缓解电机转动时主轴的一定的偏心，同时又能保证不会发生偏转，具体的，基座5与下盖3实现上下滑动的方法，可以采用凸台与沟槽的滑动连接，也可以采用导轨的形式，这种技术方案已是本领域的常规技术方案，此处不再赘述。所述下盖3的上端设有用于放置被侧电机轴的下半圆形槽，所述下半圆形槽的两端设有向两侧延伸的第一凸台10，所述第一凸台10上设有螺纹孔11，如图3和图4所示，所述下盖3的顶面贴合设有与其相对应的上盖1，所述上盖1与下盖3的贴合面上设有与下半圆形槽相对的上半圆形槽，所述上半圆形槽与下半圆形槽形成一个整圆，恰好将被侧电机的电机轴固定在整圆内，所述上半圆形槽的两端设有向两侧延伸的第二凸台7，所述第二凸台7上设有与第一凸台10上的螺纹孔11相对应的通孔9，上盖1和下盖3通过螺栓2固定连接，具体的，螺栓2穿过上盖1的通孔9，然后旋入下盖3上的螺纹孔11内进行锁紧。所述第二凸台7上设有朝向第一凸台10且与第一凸台10卡合的凸缘8，保证上盖1和下盖3锁紧后上半圆形槽和下半圆形槽同心，避免因为上盖1和下盖3锁紧时发生偏移，使上半圆形槽和下半圆形槽不同心，损伤电机主轴。所述凸缘8的末端设有倒角，这样，在上盖1与下盖3进行贴合时，能够对上盖1起导向作用，便于上盖1的凸缘8与下盖3上的第一凸台10卡合。所述上半圆形槽和下半圆形槽内均设有环形凸台。所述环形凸台设置在上盖1和下盖3厚度方向的中间位置。如图9所示，所述上盖1和下盖3的端面设有角度指示盘，所述角度指示盘分为上角度指示盘14和下角度指示盘15，所述上角度指示盘14和下角度指示盘15上均加工有刻度。所述上角度指示盘14和下角度指示盘15构成360°整圆指示盘，用于被侧电机轴旋转角度的指示。

具体操作过程如下：

如图10所示，使用时，先将基座5沿电机主轴轴线方向任意位置固定好，将上盖1与下盖3分开；将下盖3插入基座5中，并检查其上下运动的顺畅性，此时，被测电机主轴6正好位于下盖3的下半圆型槽内；然后，将上盖1的上半圆型槽朝向电机主轴扣下；被测电机主轴6恰好位于下盖3的下半圆型槽和上盖1的上半圆型槽形成的整圆内；转动被测电机主轴6，按角度指示牌的角度调整好堵转测试时所需的任意角度；螺栓2穿过上盖1上的通孔9连接至下盖3上的螺纹孔11内；因上盖1在重力的作用下，上半圆型槽的内表面与被测电机主轴6外圆面先接触上，拧紧螺栓2；下盖3在螺栓2带动作用下，沿基座5向上移动，直至下盖3的下半圆型槽与被测电机主轴6外圆面接触上时，停止移动；这时，上盖1的上半圆型槽和下盖3的下半圆型槽锁合，抱死电机主轴；因下盖3的底部已插入到基座5中，左右方向被限位，无法左右偏摆；电机主轴被锁死，无法旋转。电机可在调整好的任意角度上完成堵转测试；下盖3在基座5内能够上下运动，无限位，所以被测电机主轴6不会受径向力，这样就避免了损害被测电机主轴6；本装置因采用上下半圆合并抱轴的设计，因此，只要被测电机主轴直径相应大于上下半圆合并后的直径时，均可实现抱轴锁紧，实现电机堵转测试装置的通用性。

上述虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式进行了描述，但并非对本实用新型保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本实用新型的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。

Claims (7)

1.一种电机堵转测试用锁轴装置，其特征是：包括基座、下盖和上盖，所述基座固定在底板上，所述基座上部设有竖直设置且互相平行的两个立柱，所述立柱之间设有矩形槽，所述矩形槽内插接有可沿矩形槽上下滑动的下盖，所述下盖的上端设有用于放置被侧电机轴的下半圆形槽，所述下半圆形槽的两端设有向两侧延伸的第一凸台，所述第一凸台上设有螺纹孔，所述下盖的顶面贴合设有与其相对应的上盖，所述上盖与下盖的贴合面上设有与下半圆形槽相对的上半圆形槽，所述上半圆形槽与下半圆形槽形成一个整圆，所述上半圆形槽的两端设有向两侧延伸的第二凸台，所述第二凸台上设有与第一凸台上的螺纹孔相对应的通孔。

2.如权利要求1所述的一种电机堵转测试用锁轴装置，其特征是：所述第二凸台上设有朝向第一凸台且与第一凸台卡合的凸缘。

3.如权利要求2所述的一种电机堵转测试用锁轴装置，其特征是：所述凸缘的末端设有倒角。

4.如权利要求1所述的一种电机堵转测试用锁轴装置，其特征是：所述上半圆形槽和下半圆形槽内均设有环形凸台。

5.如权利要求4所述的一种电机堵转测试用锁轴装置，其特征是：所述环形凸台设置在上盖和下盖厚度方向的中间位置。

6.如权利要求1所述的一种电机堵转测试用锁轴装置，其特征是：所述上盖和下盖的端面设有角度指示盘，所述角度指示盘分为上角度指示盘和下角度指示盘。

7.如权利要求6所述的一种电机堵转测试用锁轴装置，其特征是：所述上角度指示盘和下角度指示盘构成360°整圆指示盘。