CN206114797U - 一种微波变频器抗干扰测试系统 - Google Patents
一种微波变频器抗干扰测试系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN206114797U CN206114797U CN201621041632.3U CN201621041632U CN206114797U CN 206114797 U CN206114797 U CN 206114797U CN 201621041632 U CN201621041632 U CN 201621041632U CN 206114797 U CN206114797 U CN 206114797U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- interference
- test
- voltage
- devices
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 67
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims description 4
- 238000012827 research and development Methods 0.000 abstract description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract 5
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 abstract 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本实用新型提供了一种微波变频器抗干扰测试系统，涉及电磁干扰测试技术领域。该系统包括：待测设备、用于提供直流电压的供电电源、用于将直流电压转换为待测设备的工作电压的偏置器、用于模拟各种频率的干扰信号的信号产生器、用于分析并记录干扰信号对所述待测设备产生的干扰强度的频谱分析仪，其中信号产生器的信号输出端连接至待测设备的信号输入端，待测设备的信号输出端连接至偏置器的信号输入端，偏置器的信号输出端连接至频谱分析仪的信号输入端，偏置器的电压输入端连接至供电电源的电压输出端。本实用新型可以测试出会对微波变频器性能产生影响的干扰信号的频率，能够为研发调试屏蔽微波变频器的干扰信号提供数据参考。
Description
技术领域
本实用新型属于电磁干扰测试技术领域，尤其涉及一种微波变频器抗干扰测试系统。
背景技术
随着科学技术的发展，微波变频器行业也越来越多，竞争也越来越激烈。目前，微波行业在各项特性及测试方法大致相当的情况下在不同国家级地区却存在各种频率干扰，若干扰信号的频率在微波变频器的工作频段范围内，则会影响到微波变频器的性能，严重的会使微波变频器无法正常工作。因此，如何测试出会对微波变频器产生干扰的频率信号，以为研发调试屏蔽该干扰信号提供数据参考成为现有技术中亟需解决的问题。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的在于提供一种微波变频器抗干扰测试系统，可以模拟各个国家和地区的各种频率干扰信号，测试出会对微波变频器性能产生影响的干扰信号的频率，能够为研发调试屏蔽微波变频器的干扰信号提供数据参考。
本实用新型实施例是这样实现的，一种微波变频器抗干扰测试系统，包括：待测设备、用于提供直流电压的供电电源、用于将所述直流电压转换为所述待测设备的工作电压的偏置器、用于模拟各种频率的干扰信号的信号产生器、用于分析并记录所述干扰信号对所述待测设备产生的干扰强度的频谱分析仪，其中，所述信号产生器的信号输出端连接至所述待测设备的信号输入端，所述待测设备的信号输出端连接至所述偏置器的信号输入端，所述偏置器的信号输出端连接至所述频谱分析仪的信号输入端，所述偏置器的电压输入端连接至所述供电电源的电压输出端。
在上述技术方案的基础上，还包括连接在所述信号产生器的信号输出端和所述待测设备的信号输入端之间，用于将所述信号产生器模拟的各种频率的干扰信号传输至所述待测设备的测试治具。
在上述技术方案的基础上，所述信号产生器模拟的干扰信号的频率范围为0～20GHZ。
在上述技术方案的基础上，所述信号产生器包括用于设置功率放大倍数的功率级参数设定单元。
在上述技术方案的基础上，所述供电电源输出的供电电压的取值范围为0～30V。
在上述技术方案的基础上，所述偏置器将所述供电电源的输出供电电压转换为13V的低频工作电压或者18V的高频工作电压。
在上述技术方案的基础上，所述偏置器工作频率的取值范围为0～22KHZ。
实施本实用新型实施例提供的一种微波变频器抗干扰系统具有以下有益效果：
本实用新型实施例提供的一种微波变频器抗干扰测试系统由于包括待测设备、用于提供直流电压的供电电源、用于将所述直流电压转换为所述待测设备的工作电压的偏置器、用于模拟各种频率的干扰信号的信号产生器、用于分析并记录所述干扰信号对所述待测设备产生的干扰强度的频谱分析仪，其中，所述信号产生器的信号输出端连接至所述待测设备的信号输入端，所述待测设备的信号输出端连接至所述偏置器的信号输入端，所述偏置器的信号输出端连接至所述频谱分析仪的信号输入端，所述偏置器的电压输入端连接至所述供电电源的电压输出端，从而可以模拟各个国家和地区的各种频率干扰信号，并测试出会对微波变频器性能产生影响的干扰信号的频率，能够为研发调试屏蔽微波变频器的干扰信号提供数据参考。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的一种微波变频器抗干扰测试系统的示意性框图。
图2是本实用新型另一实施例提供的一种微波变频器抗干扰测试系统的示意性框图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图1是本实用新型实施例提供的一种微波变频器抗干扰测试系统的示意性框图。为了便于说明，仅仅示出了与本实施例相关的部分。
参见图1所示，本实用新型实施例提供的一种微波变频器抗干扰测试系统，包括：待测设备2、用于提供直流电压的供电电源5、用于将所述直流电压转换为所述待测设备2的工作电压的偏置器3、用于模拟各种频率的干扰信号的信号产生器1、用于分析并记录所述干扰信号对所述待测设备2产生的干扰强度的频谱分析仪4，其中，所述信号产生器1的信号输出端连接至所述待测设备2的信号输入端，所述待测设备2的信号输出端连接至所述偏置器3的信号输入端，所述偏置器3的信号输出端连接至所述频谱分析仪4的信号输入端，所述偏置器3的电压输入端连接至所述供电电源5的电压输出端。
在本实施例中，所述频谱分析仪4输入的中频信号的频率等于由信号产生器1输出的信号的频率与待测设备2的本机振荡频率之差，其能够通过对所述输入的中频信号进行频谱分析搜寻到最强干扰信号的频宽。
进一步的，所述信号产生器1模拟的干扰信号的频率范围为0～20GHZ。
在本实施例中，测试人员可根据测试需要调节所述信号产生器1输出的模拟信号的频率。
进一步的，所述信号产生器1包括用于设置功率放大倍数的功率级参数设定单元。
在本实施例中，测试前需要通过所述功率级参数设定单元将所述信号产生器1的功率级参数设定为与所述待测设备2的增益放大倍数相同。例如：若所述待测设备2的增益放大倍数为65dB，则在测试前将所述信号产生器1的功率级参数设定为65dB。
进一步的，所述供电电源5输出的供电电压的取值范围为0～30V。
在本实施例中，测试将所述供电电源5的输出电压调试至20V～22V之间，以便为所述偏置器3提供脉冲电压，使所述偏置器3对所述脉冲电压进行偏置调节后输出至所述待测设备2，为所述待测设备2提供工作电压。
进一步的，所述偏置器3将所述供电电源5的输出供电电压转换为13V的低频工作电压或者18V的高频工作电压。
在本实施例中，所述偏置器3包括低频偏置调节和高频偏置调节两种偏置调节模式，其中，所述偏置器3在低频偏置调节模式下将供电电源5输出的供电电压转换为13V的低频工作电压后给所述待测设备2供电；在高频偏置调节模式下，将供电电源5输出的供电电压转换为18V的高频工作电压给所述待测设备2供电。
在本实施例中，在测试干扰信号时，需要由测试人员根据信号频率产生器输出的模拟信号的频率按照接近于本振频率点判断该模拟信号是低频段还是高频段，正常待测设备2的低频段本振频率为9.75GHZ，高频段本振频率为10.6GHZ；然后，根据判断结果将所述偏置器3调整至对应的偏置调节模式。进一步的，在本实施例中，所述偏置器3工作频率的取值范围为0～22KHZ，测试人员可根据待测设备2的工作频率对应调节所述偏置器3的工作频率。
进一步的，参见图2所示，在另一实施例中，所述的微波变频器抗干扰测试系统还包括连接在所述信号产生器1的信号输出端和所述待测设备2的信号输入端之间，用于将所述信号产生器1模拟的各种频率的干扰信号传输至所述待测设备2的测试治具6。
在本实施例中，所述测试治具6主要用于固定所述信号产生器1和所述待测设备2，并将所述信号产生器1输出的模拟信号传输至所述待测设备2，以优化测试环境，使得测试结果更加精确。
下面结合图1～图2，详述本实用新型实施例提供的微波变频器抗干扰测试系统的工作原理：
在实际测试时，首先由测试人员将待测设备2、信号产生器1、测试治具6、偏置器3以及频谱分析仪4等所有设备连接并通电，然后由测试人员完成调试信号产生器1模拟干扰信号的频率、设定信号产生器1的功率级参数、调节偏置器3的偏置调节模式以及工作频率等调试工作。在调试工作完成后，进入到测试阶段，由测试人员对频谱分析仪4测试频率点调整至最高点时静止，然后对频谱分析仪4上干扰信号最高点进行读数，并记录干扰信号最高点对应的干扰强度和信号频率，这样便测试得出了会对微波变频器性能产生影响的干扰信号的频率，可以为后续研发调试屏蔽微波变频器的干扰信号提供数据参考。
综上，本实用新型实施例提供的微波变频器抗干扰测试系统可以模拟各个国家和地区的各种频率干扰信号，并测试出会对微波变频器性能产生影响的干扰信号的频率，能够为研发调试屏蔽微波变频器的干扰信号提供数据参考。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种微波变频器抗干扰测试系统，其特征在于，包括：待测设备、用于提供直流电压的供电电源、用于将所述直流电压转换为所述待测设备的工作电压的偏置器、用于模拟各种频率的干扰信号的信号产生器、用于分析并记录所述干扰信号对所述待测设备产生的干扰强度的频谱分析仪，其中，所述信号产生器的信号输出端连接至所述待测设备的信号输入端，所述待测设备的信号输出端连接至所述偏置器的信号输入端，所述偏置器的信号输出端连接至所述频谱分析仪的信号输入端，所述偏置器的电压输入端连接至所述供电电源的电压输出端。
2.如权利要求1所述的微波变频器抗干扰测试系统，其特征在于，还包括连接在所述信号产生器的信号输出端和所述待测设备的信号输入端之间，用于将所述信号产生器模拟的各种频率的干扰信号传输至所述待测设备的测试治具。
3.如权利要求1所述的微波变频器抗干扰测试系统，其特征在于，所述信号产生器模拟的干扰信号的频率范围为0～20GHZ。
4.如权利要求1所述的微波变频器抗干扰测试系统，其特征在于，所述信号产生器包括用于设置功率放大倍数的功率级参数设定单元。
5.如权利要求1所述的微波变频器抗干扰测试系统，其特征在于，所述供电电源输出的供电电压的取值范围为0～30V。
6.如权利要求5所述的微波变频器抗干扰测试系统，其特征在于，所述偏置器将所述供电电源的输出供电电压转换为13V的低频工作电压或者18V的高频工作电压。
7.如权利要求6所述的微波变频器抗干扰测试系统，其特征在于，所述偏置器工作频率的取值范围为0～22KHZ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621041632.3U CN206114797U (zh) | 2016-09-07 | 2016-09-07 | 一种微波变频器抗干扰测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621041632.3U CN206114797U (zh) | 2016-09-07 | 2016-09-07 | 一种微波变频器抗干扰测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN206114797U true CN206114797U (zh) | 2017-04-19 |
Family
ID=58518728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201621041632.3U Expired - Fee Related CN206114797U (zh) | 2016-09-07 | 2016-09-07 | 一种微波变频器抗干扰测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN206114797U (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108732433A (zh) * | 2018-07-24 | 2018-11-02 | 华讯方舟科技有限公司 | 微波变频器噪声值检测系统 |
| CN111289807A (zh) * | 2020-03-31 | 2020-06-16 | 西安微电子技术研究所 | 一种电子产品抗干扰方式选取方法 |
| CN113391141A (zh) * | 2020-03-12 | 2021-09-14 | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 | 噪声测试装置及测试方法 |
| CN113552568A (zh) * | 2020-04-24 | 2021-10-26 | 深圳市万普拉斯科技有限公司 | 超声波接近感应方法、装置、计算机设备和存储介质 |
-
2016
- 2016-09-07 CN CN201621041632.3U patent/CN206114797U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108732433A (zh) * | 2018-07-24 | 2018-11-02 | 华讯方舟科技有限公司 | 微波变频器噪声值检测系统 |
| CN108732433B (zh) * | 2018-07-24 | 2024-05-28 | 深圳市华讯方舟光电技术有限公司 | 微波变频器噪声值检测系统 |
| CN113391141A (zh) * | 2020-03-12 | 2021-09-14 | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 | 噪声测试装置及测试方法 |
| CN113391141B (zh) * | 2020-03-12 | 2024-01-23 | 圣邦微电子（北京）股份有限公司 | 噪声测试装置及测试方法 |
| CN111289807A (zh) * | 2020-03-31 | 2020-06-16 | 西安微电子技术研究所 | 一种电子产品抗干扰方式选取方法 |
| CN111289807B (zh) * | 2020-03-31 | 2022-08-23 | 西安微电子技术研究所 | 一种电子产品抗干扰方式选取方法 |
| CN113552568A (zh) * | 2020-04-24 | 2021-10-26 | 深圳市万普拉斯科技有限公司 | 超声波接近感应方法、装置、计算机设备和存储介质 |
| CN113552568B (zh) * | 2020-04-24 | 2024-03-22 | 深圳市万普拉斯科技有限公司 | 超声波接近感应方法、装置、计算机设备和存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN206114797U (zh) | 一种微波变频器抗干扰测试系统 | |
| CN102981086B (zh) | 一种电压驱动型辐射源电磁辐射分析测量方法 | |
| CN103234534A (zh) | 一种飞机无线电罗盘接收机灵敏度测试方法 | |
| CN109212336A (zh) | 一种便携式微弱电信号的低频噪声测试方法 | |
| CN106338653B (zh) | 一种局部放电典型干扰模拟装置 | |
| Zhang et al. | Predicting far-field radiation with the emission models of power converters | |
| Xie et al. | Using X-parameters to model mixers | |
| CN108009308B (zh) | 一种传导电磁干扰预测方法 | |
| CN107490757B (zh) | 一种微波放大器辐照效应在线测试方法及系统 | |
| Xiao et al. | Simulation analysis of electromagnetic shielding of electronic device chassis | |
| CN1841971A (zh) | 一种用于调试时分双工系统功率放大器线性的方法及系统 | |
| CN101464501B (zh) | 电能质量测试分析仪检定装置 | |
| CN114264891B (zh) | 一种高功率微波效应实验测试方法及自动化测试系统 | |
| Casini et al. | Investigation of X-parameters modeling for accurate envelope tracking power amplifier system simulations | |
| Su et al. | A novel method of detecting and analyzing electromagnetic emission | |
| CN109541515A (zh) | 特高频电磁干扰模拟系统 | |
| CN101221227A (zh) | 剩余电流动作保护器磁芯磁性能测试系统及其方法 | |
| CN107340442A (zh) | 一种功率变换器共模干扰抑制效果现场评估系统及方法 | |
| CN109239490B (zh) | 星载接收机的emc裕度测试方法 | |
| CN112526442A (zh) | 一种用于电能表测试的电网异常模拟测试系统 | |
| CN106771687B (zh) | 一种用于测试微波产品装配cap后的噪声的设备及方法 | |
| CN206431205U (zh) | 一种用于测试微波产品装配cap后的噪声的设备 | |
| Bacher et al. | Novel measurement set-ups of FTB stress propagation in an IC | |
| González-Ramos et al. | Comparison of conducted emissions due to electric vehicle charging processes under isolated and on-line conditions in the 9–500 kHz frequency range | |
| RU151305U1 (ru) | Мобильный аппаратно-программный комплекс для проведения исследований средств вычислительной техники на побочные электромагнитные излучения и наводки |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| PP01 | Preservation of patent right |
Effective date of registration: 20210630 Granted publication date: 20170419 |
|
| PP01 | Preservation of patent right | ||
| PD01 | Discharge of preservation of patent |
Date of cancellation: 20230421 Granted publication date: 20170419 |
|
| PD01 | Discharge of preservation of patent | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20230814 Address after: 518000 404, building 37, chentian Industrial Zone, chentian community, Xixiang street, Bao'an District, Shenzhen City, Guangdong Province Patentee after: Shenzhen Huaxun ark Photoelectric Technology Co.,Ltd. Patentee after: CHINA COMMUNICATION TECHNOLOGY(HUBEI) Co.,Ltd. Address before: 434020 shacen Road (Zhuqiao Industrial Park), Jingzhou Development Zone, Jingzhou City, Hubei Province Patentee before: CHINA COMMUNICATION TECHNOLOGY(HUBEI) Co.,Ltd. Patentee before: CHINA COMMUNICATION TECHNOLOGY Co.,Ltd. |
|
| TR01 | Transfer of patent right | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20170419 |