CN206096193U - 一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱 - Google Patents
一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱 Download PDFInfo
- Publication number
- CN206096193U CN206096193U CN201621138117.7U CN201621138117U CN206096193U CN 206096193 U CN206096193 U CN 206096193U CN 201621138117 U CN201621138117 U CN 201621138117U CN 206096193 U CN206096193 U CN 206096193U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- electronic components
- electronic devices
- environmental cabinet
- electrical property
- components
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 53
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims abstract description 62
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 13
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 7
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 5
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 claims description 3
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 claims description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims description 3
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000011160 research Methods 0.000 abstract description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 4
- 230000001808 coupling effect Effects 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 2
- 230000000703 anti-shock Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
Abstract
一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，属于电性能测试领域，解决了现有的宇航级电子元器件的空间环境效应研究的测试结果不准确，周期长和成本高的问题。所述环境箱密封防震隔热设置，在环境箱的上表面上设置有辐照窗口，在环境箱的内部设置有升降平台，在所述升降平台上设置有控温平台，在所述控温平台上设置有测试卡具，所述控温平台用于对待测的电子元器件进行冷却、加热或冷热循环处理，所述测试卡具用于将待测的电子元器件固定在控温平台上，被固定的电子元器件与辐照窗口上下相对，在所述环境箱的表面上还设置有通气孔和真空插头，所述被固定的电子元器件与真空插头通过导线相连。本新型适用于宇航级电子元器件的空间环境效应研究。
Description
技术领域
本实用新型涉及电性能测试领域，具体地说，涉及一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱。
背景技术
真空、低温、冷热循环和辐照是航天器在空间环境中服役时不可避免的环境因素，这些环境因素可能会对航天器内部的电子元器件造成严重的损伤。因此，在现有的宇航级电子元器件投入使用之前，需要对其进行空间环境效应研究，以确保宇航级电子元器件在恶劣的空间环境中能够正常运行，进而保证航天器的正常服役。
目前，宇航级电子元器件的空间环境效应研究多以地面模拟试验的方式为主，主要针对空间环境中的真空、低温、冷热循环和辐照因素。然而，在地面上模拟出具有真空、低温、冷热循环和辐照环境因素的空间环境是十分困难的。因此，现有宇航级电子元器件的空间环境效应研究的过程为：首先，将四组待测的电子元器件分别置于真空、低温、冷热循环和辐照的环境中，测试其电性能，并获得四组测试结果；其次，对四组测试结果进行外推综合，得到待测的电子元器件的电性能变化规律；最后，将所述电性能变化规律与空间搭载相结合，从而实现对宇航级电子元器件在空间环境中的电性能评价工作。
然而，上述宇航级电子元器件的空间环境效应研究因采用对多组不同因素下电子元器件的电性能测试结果进行外推综合的方式获得最终测试结果而使得该最终测试结果不准确。除此之外，该研究的周期长，成本高。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有的宇航级电子元器件的空间环境效应研究的测试结果不准确，测试周期长和成本高的问题，提出了一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱。
本实用新型所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，防震隔热设置；
在所述环境箱的上表面上设置有辐照窗口1；
在所述环境箱的内部设置有升降平台2，在所述升降平台2上设置有控温平台3，在所述控温平台3上设置有测试卡具4；
所述控温平台3用于对待测的电子元器件进行冷却、加热或冷热循环处理；
所述测试卡具4用于将待测的电子元器件固定在控温平台3上；
被固定的电子元器件与辐照窗口1上下相对；
在所述环境箱的表面上还设置有通气孔5和真空插头6；
所述被固定的电子元器件与真空插头6通过导线7相连。
优选的是，所述控温平台3包括加热灯管和液氮冷却管。
进一步的是，所述控温平台3还包括热电偶、温控仪和继电器；
所述热电偶用于测量待测的电子元器件的温度，将所测温度信号转化为电信号，并将该电信号发送至温控仪；
所述温控仪根据所述电信号，通过所述继电器控制加热灯管和液氮冷却管的开启或关闭。
优选的是，所述通气孔5与抽真空装置相连，在二者之间还设置有真空度检测表。
优选的是，所述真空插头6与电性能测试仪相连。
优选的是，所述环境箱为由不锈钢板制成的矩形箱，在所述矩形箱的内壁上设置有防震隔热层。
进一步的是，在相邻的两块不锈钢板的交接处设置有密封条。
优选的是，在所述辐照窗口1与环境箱的上表面的交接处设置钛箔，所述钛箔通过钢板和螺丝固定设置在环境箱的上表面上。
本实用新型所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，密封防震隔热设置；抽真空装置通过通气孔对所述环境箱进行抽真空；所述控温平台用于对待测的电子元器件进行冷却、加热或冷热循环处理；采用电子加速器经辐照窗口对待测的电子元器件进行辐照；所述待测的电子元器件依次经导线和真空插头与电性能测试仪相连；进而实现了在真空、各种温度(低温或冷热循环)和辐照的多物理场耦合作用下对电子元器件进行电性能原位测试，解决了现有的宇航级电子元器件的空间环境效应研究的测试结果不准确，测试周期长和成本高的问题。
附图说明
在下文中将基于实施例并参考附图来对本实用新型所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱进行更详细的描述，其中：
图1为本实用新型所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱的内部结构示意图。
在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱作进一步说明。
实施例一：下面结合图1详细地说明本实施例。
本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，防震隔热设置；
在所述环境箱的上表面上设置有辐照窗口1；
在所述环境箱的内部设置有升降平台2，在所述升降平台2上设置有控温平台3，在所述控温平台3上设置有测试卡具4；
所述控温平台3用于对待测的电子元器件进行冷却、加热或冷热循环处理；
所述测试卡具4用于将待测的电子元器件固定在控温平台3上；
被固定的电子元器件与辐照窗口1上下相对；
在所述环境箱的表面上还设置有通气孔5和真空插头6；
所述被固定的电子元器件与真空插头6通过导线7相连。
本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，能够实现在真空、各种温度(低温或冷热循环)和辐照的多物理场耦合作用下对电子元器件进行电性能原位测试，能够经济、高效及准确地完成电子元器件空间环境效应的评价工作。
实施例二：本实施例是对实施例一所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱作进一步限定。本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，所述控温平台3包括加热灯管和液氮冷却管。
本实施例中的加热灯管和液氮冷却管分别用于对待测的电子元器件进行加热和冷却。
实施例三：本实施例是对实施例二所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱作进一步限定。本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，所述控温平台3还包括热电偶、温控仪和继电器；
所述热电偶用于测量待测的电子元器件的温度，将所测温度信号转化为电信号，并将该电信号发送至温控仪；
所述温控仪根据所述电信号，通过所述继电器控制加热灯管和液氮冷却管的开启或关闭。
本实施例中的控温平台可实现对77K至400K范围内温度的准确控制，能够将环境箱内的温度差别控制在2K以内。
实施例四：本实施例是对实施例一所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱作进一步限定。本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，所述通气孔5与抽真空装置相连，在二者之间还设置有真空度检测表。
所述抽真空装置用于对所述环境箱进行抽真空，所述真空度检测表用于检测所述环境箱的真空度，本实施例所述环境箱内的真空度可达10-3Pa。
实施例五：本实施例是对实施例一所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱作进一步限定。本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，所述真空插头6与电性能测试仪相连。
实施例六：本实施例是对实施例一所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱作进一步限定。本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，所述环境箱为由不锈钢板制成的矩形箱，在所述矩形箱的内壁上设置有防震隔热层。
实施例七：本实施例是对实施例六所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱作进一步限定。本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，在相邻的两块不锈钢板的交接处设置有密封条。
实施例八：本实施例是对实施例一所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱作进一步限定。本实施例所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，在所述辐照窗口1与环境箱的上表面的交接处设置钛箔，所述钛箔通过钢板和螺丝固定设置在环境箱的上表面上。
钛箔的熔点高，抗腐蚀性强，能够确保辐照窗口与环境箱的上表面密封设置。
虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本实用新型，但是应该理解的是，这些实施例仅仅是本实用新型的原理和应用的示例。因此应该理解的是，可以对示例性的实施例进行许多修改，并且可以设计出其他的布置，只要不偏离所附权利要求所限定的本实用新型的精神和范围。应该理解的是，可以通过不同于原始权利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以理解的是，结合单独实施例所描述的特征可以使用在其他所述实施例中。
Claims (8)
1.一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，所述环境箱防震隔热设置；
在所述环境箱的上表面上设置有辐照窗口(1)；
在所述环境箱的内部设置有升降平台(2)，在所述升降平台(2)上设置有控温平台(3)，在所述控温平台(3)上设置有测试卡具(4)；
所述控温平台(3)用于对待测的电子元器件进行冷却、加热或冷热循环处理；
所述测试卡具(4)用于将待测的电子元器件固定在控温平台(3)上；
被固定的电子元器件与辐照窗口(1)上下相对；
在所述环境箱的表面上还设置有通气孔(5)和真空插头(6)；
所述被固定的电子元器件与真空插头(6)通过导线(7)相连。
2.如权利要求1所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，所述控温平台(3)包括加热灯管和液氮冷却管。
3.如权利要求2所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，所述控温平台(3)还包括热电偶、温控仪和继电器；
所述热电偶用于测量待测的电子元器件的温度，将所测温度信号转化为电信号，并将该电信号发送至温控仪；
所述温控仪根据所述电信号，通过所述继电器控制加热灯管和液氮冷却管的开启或关闭。
4.如权利要求1所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，所述通气孔(5)与抽真空装置相连，在二者之间还设置有真空度检测表。
5.如权利要求1所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，所述真空插头(6)与电性能测试仪相连。
6.如权利要求1所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，所述环境箱为由不锈钢板制成的矩形箱，在所述矩形箱的内壁上设置有防震隔热层。
7.如权利要求6所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，在相邻的两块不锈钢板的交接处设置有密封条。
8.如权利要求1所述的一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，在所述辐照窗口(1)与环境箱的上表面的交接处设置钛箔，所述钛箔通过钢板和螺丝固定设置在环境箱的上表面上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621138117.7U CN206096193U (zh) | 2016-10-19 | 2016-10-19 | 一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621138117.7U CN206096193U (zh) | 2016-10-19 | 2016-10-19 | 一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN206096193U true CN206096193U (zh) | 2017-04-12 |
Family
ID=59976406
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201621138117.7U Active CN206096193U (zh) | 2016-10-19 | 2016-10-19 | 一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN206096193U (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107680922A (zh) * | 2017-10-11 | 2018-02-09 | 德淮半导体有限公司 | 一种晶圆允收测试系统及提高其热使用效率的方法 |
| CN108037064A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-05-15 | 华测检测认证集团股份有限公司 | 多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试装置 |
| CN112629429A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-04-09 | 哈尔滨工业大学 | 一种真空和变温环境下整星热变形测量装置、系统及方法 |
| CN113295889A (zh) * | 2021-06-30 | 2021-08-24 | 江苏拓波隆利航空科技有限公司 | 一种电子元器件通用疲劳试验机及方法 |
-
2016
- 2016-10-19 CN CN201621138117.7U patent/CN206096193U/zh active Active
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107680922A (zh) * | 2017-10-11 | 2018-02-09 | 德淮半导体有限公司 | 一种晶圆允收测试系统及提高其热使用效率的方法 |
| CN107680922B (zh) * | 2017-10-11 | 2020-12-01 | 德淮半导体有限公司 | 一种晶圆允收测试系统及提高其热使用效率的方法 |
| CN108037064A (zh) * | 2017-12-26 | 2018-05-15 | 华测检测认证集团股份有限公司 | 多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试装置 |
| CN112629429A (zh) * | 2020-12-04 | 2021-04-09 | 哈尔滨工业大学 | 一种真空和变温环境下整星热变形测量装置、系统及方法 |
| CN112629429B (zh) * | 2020-12-04 | 2023-02-07 | 哈尔滨工业大学 | 一种真空和变温环境下整星热变形测量装置、系统及方法 |
| CN113295889A (zh) * | 2021-06-30 | 2021-08-24 | 江苏拓波隆利航空科技有限公司 | 一种电子元器件通用疲劳试验机及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN206096193U (zh) | 一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱 | |
| CN106777633B (zh) | 一种固体绝缘开关柜开关触点温度计算方法及装置 | |
| CN101713721A (zh) | 一种变压器油纸绝缘热老化的实验装置与实验方法 | |
| CN204241400U (zh) | 不规则尺寸固体材料导热系数测试系统 | |
| CN104459412B (zh) | 一种变压器热老化实时模拟测量装置及其应用 | |
| CN203705376U (zh) | 一种鉴定硫化矿石自燃倾向性的装置 | |
| CN105784765B (zh) | 粉体材料隔热效果评价装置及其使用方法 | |
| CN102070305A (zh) | 可实时检测真空性能的真空玻璃 | |
| CN204009619U (zh) | 一种基于温度控制的压电常数测试仪 | |
| CN205720442U (zh) | 温控式电导率测试装置 | |
| CN204462903U (zh) | 一种内存测试加温盖 | |
| CN204758718U (zh) | 直流电缆系统全工况运行试验设备 | |
| CN104764768B (zh) | 一种建筑围护结构热工性能现场检测方法 | |
| CN104571203B (zh) | 一种绝缘油过热性故障模拟试验装置 | |
| CN201434852Y (zh) | 测试涂料散热节能效率的评价装置 | |
| CN203275582U (zh) | 气体绝缘状态模拟检测装置 | |
| CN104215884A (zh) | 气体绝缘状态模拟检测装置和气体绝缘状态检测方法 | |
| CN106680351A (zh) | 一种用于绝缘油纸中微水含量的在线动态测量装置 | |
| CN111060565A (zh) | 一种高压直流电缆料电阻率特性评价方法 | |
| CN107014511B (zh) | 一种不可直接接触的点热源温度测试方法 | |
| CN204925366U (zh) | 变温条件下硅钢片磁性能测试装置 | |
| CN206235593U (zh) | 一种用于绝缘油纸中微水含量的在线动态测量装置 | |
| CN103115939A (zh) | 一种硬质材料与流体之间传热过程的简易测试装置 | |
| CN209311376U (zh) | 一种节能玻璃的保温性能测试设备 | |
| CN204269747U (zh) | 一种变压器热老化实时模拟测量装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |