CN206047115U - 带测量装置的主轴箱结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种带测量装置的主轴箱结构，它与数控系统配套使用，它包括：主轴箱体；至少一个主轴，所述主轴安装在主轴箱体上，并且所述主轴带有主轴刀具；测量探头，所述测量探头安装在主轴箱体上，所述测量探头用于得到加工待加工零件的加工基准的测量探头空间坐标，数控系统中具有体现测量探头与主轴刀具之间的距离的距离空间坐标，所述测量探头与数控系统相连，以便所述数控系统根据距离空间坐标和测量探头传递的测量探头空间坐标得到主轴刀具的主轴刀具空间坐标。本实用新型无需频繁换刀，省去了换刀时间和重复对刀时间，提高生产效率、保证加工精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种带测量装置的主轴箱结构。
背景技术
目前，现在通用的立式加工中心，都是一个主轴系统及刀库部件来满足零件的各种加工工艺，对于加工工艺简单，加工为较少的电子壳体，生产过程中大量时间浪费在频繁更换刀具及测量装置上面，在每次换刀之后还需要通过对刀仪检测因换刀带来的刀具误差，辅助时间占有了绝大部分时间(60％)，降低了成产效率，提高了生产成本。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种带测量装置的主轴箱结构，它无需频繁换刀，省去了换刀时间和重复对刀时间，提高生产效率、保证加工精度。
为了解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种带测量装置的主轴箱结构，它与数控系统配套使用，它包括：
主轴箱体；
至少一个主轴，所述主轴安装在主轴箱体上，并且所述主轴带有主轴刀具；
测量探头，所述测量探头安装在主轴箱体上，所述测量探头用于得到加工待加工零件的加工基准的测量探头空间坐标，数控系统中具有体现测量探头与主轴刀具之间的距离的距离空间坐标，所述测量探头与数控系统相连，以便所述数控系统根据距离空间坐标和测量探头传递的测量探头空间坐标得到主轴刀具的主轴刀具空间坐标。
进一步提供了一种在主轴箱体上安装主轴的结构，所述主轴箱体上安装有和主轴一一对应的主轴夹持座，所述主轴安装在相对应的主轴夹持座上。
进一步提供了一种在主轴箱体上安装测量探头的结构，所述主轴箱体上安装有和测量探头对应的测量探头支座，所述测量探头安装在测量探头支座上。
进一步，所述主轴设置有两个，所述测量探头设置在两个主轴的中间。
进一步为了方便得到两个主轴刀具的空间坐标，两个主轴在Z向上距离测量探头的距离相等，两个主轴在Y向上距离测量探头的距离相等，两个主轴在X向上距离测量探头的距离相等，并且两个主轴在X向上呈关于测量探头的对称结构。
采用了上述技术方案后，本实用新型具有以下的有益效果：
(1)降低成本，提高机床寿命：减少了刀库部件及对刀仪，首先是极大降低了成本，其次因为不需要频繁换刀以及使用对刀仪，从而提高了机床的稳定性及可靠性，延长了机床的使用寿命。
(2)减少加工辅助时间，提高工作效率：本实用新型的主轴箱机构及工件测量的布置，减少了更换刀具以及更换工件测量仪的时间，减少了对刀仪的工作时间，从而提高了工作效率。
附图说明
图1为本实用新型的带测量装置的主轴箱结构的立体图；
图2为本实用新型的带测量装置的主轴箱结构的结构示意图‘
图3为图2的左视图。
具体实施方式
为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本实用新型作进一步详细的说明。
如图1～3所示，一种带测量装置的主轴箱结构，它与数控系统配套使用，它包括：
主轴箱体1；
至少一个主轴2，所述主轴2安装在主轴箱体1上，并且所述主轴2带有主轴刀具3；
测量探头7，所述测量探头7安装在主轴箱体1上，所述测量探头7用于得到加工待加工零件的加工基准的测量探头空间坐标，数控系统中具有体现测量探头与主轴刀具之间的距离的距离空间坐标，所述测量探头7与数控系统相连，以便所述数控系统根据距离空间坐标和测量探头传递的测量探头空间坐标得到主轴刀具3的主轴刀具空间坐标。
如图1所示，所述主轴箱体1上安装有和主轴2一一对应的主轴夹持座4，所述主轴2安装在相对应的主轴夹持座4上。
如图1所示，所述主轴箱体1上安装有和测量探头7对应的测量探头支座6，所述测量探头7安装在测量探头支座6上。
如图1所示，本实施例的主轴2设置有两个，所述测量探头7设置在两个主轴2的中间，但是主轴2的数量不限于此。
如图2、3所示，两个主轴2在Z向上距离测量探头7的距离相等，两个主轴2在Y向上距离测量探头7的距离相等，两个主轴2在X向上距离测量探头7的距离相等，并且两个主轴2在X向上呈关于测量探头7的对称结构；其中，Z向为主轴刀具3的轴向，XY向位于主轴刀具3的横截面上，并且X向为两个主轴2所在的通一条直线的方向，Y向为与X向垂直的方向。
本实用新型的工作原理如下：
两个主轴2与测量探头7的尺寸布置，可根据加工零件的尺寸将两个主轴2与测量探头7间的距离排布为X1、X2；前后距离为Y；为保证在加工零件时测头与工件不发生干涉，可根据加工零件的深度将高低落差设置为Z，机床装配完成之后，将实际的X1、X2、Y、Z值测出，并将其录入数控系统，将测量探头7所得到的空间坐标尺寸转换为主轴刀具3加工的坐标基准，如测量探头7所得的加工基准的空间坐标为(a、b、c)时；即可得到第一个主轴2的空间坐标为(a-Y、b+X1、c-Z)；第一个主轴2的空间坐标为(a-Y、b-X2、c-Z)；通过数控系统内部程序的运算，就可以避免每次装夹零件时的误差，导致加工时的位置偏差；或是避免在装夹工件后重复的测量时间，采用这种装置即节省了零件加工的时间，又大大提高了零件加工的精度。
以上所述的具体实施例，对本实用新型解决的技术问题、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种带测量装置的主轴箱结构，它与数控系统配套使用，其特征在于，它包括：
主轴箱体(1)；
至少一个主轴(2)，所述主轴(2)安装在主轴箱体(1)上，并且所述主轴(2)带有主轴刀具(3)；
测量探头(7)，所述测量探头(7)安装在主轴箱体(1)上，所述测量探头(7)用于得到加工待加工零件的加工基准的测量探头空间坐标，数控系统中具有体现测量探头与主轴刀具之间的距离的距离空间坐标，所述测量探头(7)与数控系统相连，以便所述数控系统根据距离空间坐标和测量探头传递的测量探头空间坐标得到主轴刀具(3)的主轴刀具空间坐标。
2.根据权利要求1所述的带测量装置的主轴箱结构，其特征在于：所述主轴箱体(1)上安装有和主轴(2)一一对应的主轴夹持座(4)，所述主轴(2)安装在相对应的主轴夹持座(4)上。
3.根据权利要求1所述的带测量装置的主轴箱结构，其特征在于：所述主轴箱体(1)上安装有和测量探头(7)对应的测量探头支座(6)，所述测量探头(7)安装在测量探头支座(6)上。
4.根据权利要求1所述的带测量装置的主轴箱结构，其特征在于：所述主轴(2)设置有两个，所述测量探头(7)设置在两个主轴(2)的中间。
5.根据权利要求4所述的带测量装置的主轴箱结构，其特征在于：两个主轴(2)在Z向上距离测量探头(7)的距离相等，两个主轴(2)在Y向上距离测量探头(7)的距离相等，两个主轴(2)在X向上距离测量探头(7)的距离相等，并且两个主轴(2)在X向上呈关于测量探头(7)的对称结构。
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|---|---|---|---|
| CN201621067282.8U CN206047115U (zh) | 2016-09-20 | 2016-09-20 | 带测量装置的主轴箱结构 |
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111015363A (zh) * | 2019-12-27 | 2020-04-17 | 四川职业技术学院 | 一种机械加工用快速定位装置 |
| CN115427190A (zh) * | 2020-04-17 | 2022-12-02 | 发那科株式会社 | 机床 |
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2016
- 2016-09-20 CN CN201621067282.8U patent/CN206047115U/zh active Active
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| CN115427190A (zh) * | 2020-04-17 | 2022-12-02 | 发那科株式会社 | 机床 |
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