CN206020260U - 一种用于光谱检测的晶体切换部件 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于光谱检测的晶体切换部件，晶体切换部件为柱型，包括n个晶体装配结构，晶体装配结构均匀分布在晶体切换部件的外侧面；本实用新型通过在一个晶体切换部件上同时装配足够多个晶体且能自由切换，实现了全部谱线的测量，避免了拆卸装置的人力同时也避免了拆装过程中带来的晶体定位的误差，因此具有明显的优点。

Description

一种用于光谱检测的晶体切换部件

技术领域

本实用新型属于光谱仪检测仪器领域，尤其涉及一种用于光谱检测的晶体切换部件。

背景技术

光谱仪需要测量数十个元素的特征谱线；而单独一块晶体只能检测有限数量的特征谱线，只有通过晶体切换装置将多个晶体逐个切换，才能实现全部谱线的测量，光谱仪是精密测量仪器，工业现场使用频率高；这就要求晶体切换装置切换定位精度高，动作可靠，使用寿命长，实际工作中还要求满足真空条件下的工作需要，因此迫切需要寻找一种能够解决这些问题的晶体切换结构。

实用新型内容

有鉴于此，需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个，本实用新型提供了一种用于光谱检测的晶体切换部件。

所述一种用于光谱检测的晶体切换部件包括所述晶体切换部件为柱型，包括n个晶体装配结构，所述晶体装配结构均匀分布在所述晶体切换部件的外侧面。

根据本专利背景技术中对现有技术所述，当光谱仪需要进行数十个元素的检测工作时，只能检测有限数量的特征谱线的单个晶体已不能满足现实需要；而本实用新型公开的一种用于光谱检测的晶体切换部件，通过在一个晶体切换部件上同时装配足够多个晶体且能自由切换，实现了全部谱线的测量，避免了拆卸装置的人力同时也避免了拆装过程中带来的晶体定位的误差，因此具有明显的优点。

另外，根据本实用新型公开的用于光谱检测的晶体切换部件还具有如下附加技术特征：

进一步地，所述晶体装配结构包括开口背离所述晶体切换部件中心方向的第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于所述第二凹槽下方，所述第二凹槽顶部具有凸起，所述第二凹槽侧面及所述凸起内侧面为与晶体表面相配合的平面。

优选地，所述晶体切换部件中空，且具有中轴。

进一步地，所述晶体装配结构的内表面安装有具有向外弹出部件的弹性装置，所述向外弹出部件的顶端高于所述第一凹槽的深度。

可选地，所述弹性装置下端具有横片，下部形成“L”型结构。

进一步地，所述晶体装配结构中形成所述第一凹槽和所述第二凹槽的两侧支板上表面为平面且具有第三凹槽。

进一步地，所述晶体切换部件还包括T型部件，所述T型部件装入所述第三凹槽中，起到保护所述晶体切换部件的作用，减少检测光对所述晶体切换部件的所述支板表面的影响。

进一步地，所述n为2或4或6或8或10。

进一步地，所述晶体切换部件还包括固定安装在所述晶体切换部件中轴上的齿轮。

进一步地，所述晶体切换部件还包括固定安装在所述晶体切换部件中轴上的定位盘。

本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1晶体切换装置示意图；

图2是已装载了晶体的晶体切换部件示意图；

图3是晶体切换部件的T型部件；

图4晶体切换部件的某方向的示意图；

图中，100支撑框架，20定位机构，201回弹机构，202定位盘， 301齿轮，400晶体，401晶体切换部件，4011晶体装配结构，4012晶体切换部件中轴，4013第二凹槽，4014第一凹槽，4015支板，4016第三凹槽，4017凸起，4018弹性装置，4019T型部件。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能解释为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语 “上”、“下”、“底”、“顶”、“前”、“后”、“内”、“外”、“横”、“竖”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“连通”、“相连”、“连接”、“配合”应做广义理解，例如，可以是固定连接，一体地连接，也可以是可拆卸连接；可以是两个元件内部的连通；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连；“配合”可以是面与面的配合，也可以是点与面或线与面的配合，也包括孔轴的配合，对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

本实用新型的实用新型构思如下，通过在一个晶体切换部件上同时装配足够多个晶体且能自由切换，实现了全部谱线的测量，避免了拆卸装置的人力同时也避免了拆装过程中带来的晶体定位的误差，因此具有明显的优点。

下面将参照附图来描述本实用新型，其中图1晶体切换装置示意图；图2是已装载了晶体的晶体切换部件示意图；图3是晶体切换部件的T型部件；图4晶体切换部件的某方向的示意图。

如图1-4所示，根据本实用新型的实施例，所述用于光谱检测的晶体切换部件包括所述晶体支撑部件401为柱型，包括n个晶体装配结构4011，所述晶体装配结构4011均匀分布在所述晶体支撑部件401的外侧面。

根据本专利背景技术中对现有技术所述，当光谱仪需要进行数十个元素的检测工作时，只能检测有限数量的特征谱线的单个晶体已不能满足现实需要；而本实用新型公开的一种用于光谱检测的晶体切换部件，通过在一个晶体切换部件上同时装配足够多个晶体且能自由切换，实现了全部谱线的测量，避免了拆卸装置的人力同时也避免了拆装过程中带来的晶体定位的误差，因此具有明显的优点。

另外，根据本实用新型公开的用于光谱检测的晶体切换部件还具有如下附加技术特征：

根据本实用新型的一些实施例，所述晶体装配结构4011包括开口背离所述晶体切换部件401中心方向的第一凹槽4014和第二凹槽4013，所述第一凹槽4014位于所述第二凹槽4013下方，所述第二凹槽4013顶部具有凸起4017，所述第二凹槽4013侧面及所述凸起4017内侧面为与晶体表面相配合的平面。

优选地，所述晶体切换部件401中空，且具有中轴4012。

根据本实用新型的一些实施例，所述晶体装配结构4011的内表面安装有具有向外弹出部件的弹性装置4018，所述向外弹出部件的顶端高于所述第一凹槽4014的深度。

根据本实用新型的一些实施例，所述弹性装置4018下端具有横片，下部形成“L”型结构。

根据本实用新型的一些实施例，所述晶体装配结构4011中形成所述第一凹槽4014和所述第二凹槽4013的两侧支板4015上表面为平面且具有第三凹槽4016。

根据本实用新型的一些实施例，所述晶体切换部件401还包括T型部件4019，所述T型部件4019装入所述第三凹槽4016中，起到保护所述晶体切换部件401的作用，减少检测光对所述晶体切换部件401的所述支板4015表面的影响。

根据本实用新型的一些实施例，所述n为2或4或6或8或10。

根据本实用新型的一些实施例，所述晶体切换部件401还包括固定安装在所述晶体切换部件中轴4012上的齿轮301。

外部传动部件将转动通过齿轮301传递所述晶体切换部件401，所述晶体切换部件401进行转动，从而使得晶体切换部件401上的晶体装配结构4011定位。

根据本实用新型的一些实施例，所述晶体切换部件401还包括固定安装在所述晶体切换部件中轴4012上的定位盘202。

所述定位盘202具有定位结构，当齿轮带动所述晶体切换部件401到达预定位置的同时，所述定位结构能够使得所述晶体切换部件401精确定位。

任何提及“一个实施例”、“实施例”、“示意性实施例”等意指结合该实施例描述的具体构件、结构或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例中。在本说明书各处的该示意性表述不一定指的是相同的实施例。而且，当结合任何实施例描述具体构件、结构或者特点时，所主张的是，结合其他的实施例实现这样的构件、结构或者特点均落在本领域技术人员的范围之内。

尽管参照本实用新型的多个示意性实施例对本实用新型的具体实施方式进行了详细的描述，但是必须理解，本领域技术人员可以设计出多种其他的改进和实施例，这些改进和实施例将落在本实用新型原理的精神和范围之内。具体而言，在前述公开、附图以及权利要求的范围之内，可以在零部件和/或者从属组合布局的布置方面作出合理的变型和改进，而不会脱离本实用新型的精神。除了零部件和/或布局方面的变型和改进，其范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.一种用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于,所述晶体切换部件为柱型，包括n个晶体装配结构，所述晶体装配结构均匀分布在所述晶体切换部件的外侧面。

2.根据权利要求1所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述晶体装配结构包括开口背离所述晶体切换部件中心方向的第一凹槽和第二凹槽，所述第一凹槽位于所述第二凹槽下方，所述第二凹槽顶部具有凸起，所述第二凹槽侧面及所述凸起内侧面为与晶体表面相配合的平面。

3.根据权利要求1所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述晶体切换部件中空，且具有中轴。

4.根据权利要求2所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述晶体装配结构的内表面安装有具有向外弹出部件的弹性装置，所述向外弹出部件的顶端高于所述第一凹槽的深度。

5.根据权利要求4所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述弹性装置下端具有横片，下部形成“L”型结构。

6.根据权利要求2所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述晶体装配结构中形成所述第一凹槽和所述第二凹槽的两侧支板上表面为平面且具有第三凹槽。

7.根据权利要求6所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述晶体切换部件还包括T型部件，所述T型部件装入所述第三凹槽中，起到保护所述晶体切换部件的作用，减少检测光对所述晶体切换部件的所述支板表面的影响。

8.根据权利要求1所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述n为2或4或6或8或10。

9.根据权利要求1所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述晶体切换部件还包括固定安装在所述晶体切换部件中轴上的齿轮。

10.根据权利要求1所述的用于光谱检测的晶体切换部件，其特征在于，所述晶体切换部件还包括固定安装在所述晶体切换部件中轴上的定位盘。