CN205920170U - 一种相位测试系统校准平台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于相位测试系统技术领域,涉及一种相位测试系统校准平台。所述的平台包括主工作台(2)和副工作台(1),所述副工作台(1)和主工作台(2)上设置有满足定位要求的定位安装结构,每组等效平板和对应的雷达罩对应一套副工作台(1)。等效平板与雷达罩安装在同一个副工作台上,采用同一个测量基准定位,保证了等效平板的测量精度与雷达罩的一致性,提高了等效平板测量结果的可信度。
Description
技术领域
本实用新型属于相位测试系统技术领域,涉及一种相位测试系统校准平台。
背景技术
等效平板是为验证雷达罩的壁结构电性能设计和工艺制造的符合性而加工的平板,对雷达罩电厚度测量与校正有指导性作用。因此电厚度测试流程中,首先完成对等效平板的电厚度测量是首要工作,并且平板与雷达罩的电厚度测量条件应保持一致,以便使得二者测量结果具有可比性。其中,等效平板与雷达罩的安装定位误差,在很大程度上决定了测试结果的可比性。如何降低等效平板与雷达罩的安装定位误差成为一大难题。
发明内容
本实用新型的目的:提供一种能够降低等效平板与雷达罩安装定位误差的校准平台。
本实用新型的技术方案:一种相位测试系统校准平台,其特征为:所述的平台包括主工作台2和副工作台1,所述副工作台1和主工作台2上设置有满足定位要求的定位安装结构,每组等效平板和对应的雷达罩对应一套副工作台。
优选地,副工作台1和主工作台2通过销钉定位。
本实用新型的有益效果:等效平板与雷达罩安装在同一个副工作台上,采用同一个测量基准定位,保证了等效平板的测量精度与雷达罩的一致性,提高了等效平板测量结果的可信度。
附图说明
图1为本技术方案的示意图。
具体实施方式
如图1所示,整个校准平台包括基座部分和主、副工作台(1、2),主工作台为机器设备原有满足测量定位要求的工作台,副工作台1为为提高测量效率与主工作台配合使用的结构。每一组等效平板和相应的雷达罩对应一套副工作台,每一副工作台1都与主工作台2设置有定位安装结构,一般通过销孔定位安装。在进行测试时,针对不同型号的雷达罩,只需选用相应的副工作台即可,由于副工作台与主工作台的定位已满足定位要求,无需在进行校准,提高了安装的效率。另一方面,在进行测试结构比对时,测试完雷达罩后只需要将雷达罩从副工作台上拆下,然后将等效平板再安装在该副工作台上。该设计保证了等效平板与雷达罩处于同一测量基准上,提高了对比结果的可信度。
Claims (2)
1.一种相位测试系统校准平台,其特征为:所述的平台包括主工作台(2)和副工作台(1),所述副工作台(1)和主工作台(2)上设置有满足定位要求的定位安装结构,每组等效平板和对应的雷达罩对应一套副工作台。
2.根据权利要求1所述的一种相位测试系统校准平台,其特征为:副工作台(1)和主工作台(2)通过销钉定位。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201620715908.5U CN205920170U (zh) | 2016-07-08 | 2016-07-08 | 一种相位测试系统校准平台 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201620715908.5U CN205920170U (zh) | 2016-07-08 | 2016-07-08 | 一种相位测试系统校准平台 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN205920170U true CN205920170U (zh) | 2017-02-01 |
Family
ID=57874783
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN201620715908.5U Active CN205920170U (zh) | 2016-07-08 | 2016-07-08 | 一种相位测试系统校准平台 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN205920170U (zh) |
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2016
- 2016-07-08 CN CN201620715908.5U patent/CN205920170U/zh active Active
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