CN205880720U - 一种芯片的保护电路和电源适配器 - Google Patents

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贺仲达
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Fuman microelectronics Group Co.,Ltd.
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Abstract

本实用新型提供了一种芯片的保护电路和电源适配器,涉及电路技术领域。该保护电路与芯片的反馈端、处理模块以及AC‑DC电源模块相连,芯片的反馈端通过外部的分压电阻R1接地,保护电路包括:采样模块、切换开关模块以及反馈控制模块;采样模块的输入端与AC‑DC电源模块相连,采样模块的采样端连接于反馈端与分压电阻R1的连接节点上,对反馈端的电压进行采样,切换开关模块的第一可选端与反馈端相连,切换开关模块的第二可选端接地,在芯片正常工作状态时,采样模块将反馈端的电压发送给反馈控制模块,当反馈端的电压大于参考电压时,反馈控制模块输出切换信号控制切换开关模块切换至第二可选端,进而调整反馈端的电压避免输入不准确的反馈信息。

Description

一种芯片的保护电路和电源适配器
技术领域
本实用新型属于电路技术领域,尤其涉及一种芯片的保护电路和电源适配器。
背景技术
现有的各种驱动芯片、控制芯片以及检测芯片等都设置有反馈端,在控制信息输送出去后又把其作用结果返送回来,进而对信息的再输出产生影响,用于对电路中的变化做出应有的反应。现有的芯片,为了使反馈端所反馈的信息更准确,是通过在芯片的反馈端外部增加分压电阻电路,对流经芯片反馈端的干扰电流进行接地导出。但是,在该分压电阻电路未正常接入芯片的反馈端时,则会导致芯片接收到的反馈信息不准确,进而导致芯片整体的工作状态变得混乱。
综上所述,现有的芯片无法对芯片反馈端的外部电路进行检测,进而导致芯片因反馈信息的不准确而导致芯片的工作状态变得混乱的问题。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的在于提供一种芯片的保护电路,旨在解决现有的芯片无法对芯片反馈端的外部电路进行检测,进而导致芯片因反馈信息的不准确而导致芯片的工作状态变得混乱的问题。
本实用新型实施例是这样实现的,一种芯片的保护电路,与芯片的反馈端、处理模块以及AC-DC电源模块相连,所述芯片的反馈端通过所述芯片外部的分压电阻R1接地,所述保护电路包括:采样模块、切换开关模块以及反馈控 制模块;
所述采样模块的输入端与所述AC-DC电源模块相连,所述采样模块的采样端连接于所述反馈端与所述分压电阻R1的连接节点上,对所述反馈端的电压进行采样,所述采样模块的输出端与所述反馈控制模块的第一输入端相连;
所述切换开关模块的固定端与所述处理模块输入输出端相连,所述切换开关模块的第一可选端与所述反馈端相连,所述切换开关模块的第二可选端接地,所述切换开关模块的受控端与所述反馈控制模块的控制输出端相连;
所述反馈控制模块的第二输入端接入参考电压,所述反馈控制模块的第三输入端接入时钟信号,在所述芯片正常工作状态时,所述采样模块将所述反馈端的电压发送给所述反馈控制模块,当所述反馈端的电压大于所述参考电压时,所述反馈控制模块输出切换信号控制所述切换开关模块切换至第二可选端,进而调整所述反馈端的电压避免输入不准确的反馈信息。
进一步的,所述反馈控制模块包括比较单元、延时单元以及逻辑单元;
所述比较单元的第一信号输入端为所述反馈控制模块的第一输入端,所述比较单元的第二信号输入端为所述反馈控制模块的第二输入端,所述比较单元的信号输出端与所述延时单元的信号输入端相连,所述延时单元的信号输出端与所述逻辑单元的第一输入端相连,所述逻辑单元的第二输入端为所述反馈控制模块的第三输入端,所述逻辑单元的信号输出端为所述反馈控制模块的控制输出端,所述比较单元通过第一信号输入端接收所述反馈端的电压,并将所述反馈端的电压与所述参考电压进行比较,所述比较单元将比较后的结果通过所述延时单元发送给所述逻辑单元,所述逻辑单元在所述反馈端的电压大于所述参考电压时,向所述切换开关模块输出所述切换信号,以控制所述切换开关模块切换至第二可选端,进而调整所述反馈端的电压避免输入不准确的反馈信息。
进一步的,所述采样模块包括电阻R2;
所述电阻R2的第一端为所述采样模块的采样端和所述采样模块的输出端,所述R2的第二端为所述采样模块的输入端。
进一步的,所述切换开关模块包括第一开关管和第二开关管;
所述第一开关管的受控端与所述第二开关管的受控端相连,形成一节点,该节点为所述切换开关模块的受控端,所述第一开关管的高电位与所述第二开关管的低电位端相连后组成所述切换开关模块的固定端,所述第一开关管的低电位端接地,所述第二开关管的高电位端为所述切换开关模块的第一可选端,所述处理模块通过输入输出端为所述第一开关管的高电位与所述第二开关管的低电位端提供电压。
进一步的,所述比较单元包括比较器,所述比较器的正向信号输入端为所述比较单元的第一信号输入端,所述比较器的负向信号输入端为所述比较单元的第二信号输入端,所述比较器的输出端为所述比较单元的信号输出端。
进一步的,所述逻辑单元包括第一逻辑门、第二逻辑门以及触发器;
所述第一逻辑门的第一信号端输入端为所述逻辑单元的第一输入端,所述第一逻辑门的第二信号输入端为所述逻辑单元的第二输入端,所述第一逻辑门的输出端与所述第二逻辑门的信号输入端相连,所述第二逻辑门的信号输出端与所述触发器的时钟信号端相连,所述触发器的电源信号端接电源,所述触发器的输出端为所述逻辑单元的信号输出端。
进一步的,所述第一逻辑门为与非门。
进一步的,所述第二逻辑门为非门。
进一步的,所述触发器为D触发器。
本实用新型的另一目的在于提供一种电源适配器,所述电源适配器包括如上所述的芯片的保护电路。
本实用新型提供一种芯片的保护电路和电源适配器,芯片的保护电路与芯片的反馈端、处理模块以及AC-DC电源模块相连,芯片的反馈端通过外部的分压电阻R1接地,保护电路包括:采样模块、切换开关模块以及反馈控制模块;采样模块的采样端连接于反馈端与分压电阻R1的连接节点上,对反馈端的电压进行采样,切换开关模块的固定端与处理模块输入输出端相连,切换开 关模块的第一可选端与反馈端相连,切换开关模块的第二可选端接地,在芯片正常工作状态时,采样模块将反馈端的电压发送给反馈控制模块,当反馈端的电压大于参考电压时,反馈控制模块输出切换信号控制切换开关模块切换至第二可选端,进而调整反馈端的电压避免输入不准确的反馈信息。解决现有的芯片无法对芯片反馈端的外部电路进行检测的问题,避免了芯片因反馈信息的不准确而导致芯片的工作状态变得混乱的现象。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的芯片的结构示意图;
图2为本实用新型实施例提供的芯片的具体结构示意图;
图3为本实用新型实施例提供的芯片中采样模块与AC-DC电源模块连接的具体电路图;
图4为本实用新型实施例提供的芯片中切换开关模块的具体电路图;
图5为本实用新型实施例提供的芯片中反馈控制模块的具体电路图;
图6为本实用新型实施例提供的电源适配器的结构框图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
本实用新型实施例的目的在于提供一种芯片,旨在解决现有技术中芯片均不具备自我调整工作状体的功能的问题。
图1示出了本实施例提供的芯片的保护电路的结构示意图。
如图1所示,一种芯片的保护电路100,与芯片的反馈端110、处理模块120以及AC-DC电源模块130相连,芯片的反馈端110通过外部的分压电阻R1接地,保护电路100包括:采样模块10、切换开关模块20以及反馈控制模 块30;
采样模块10的输入端与AC-DC电源模块130相连,采样模块10的采样端连接于反馈端110与分压电阻R1的连接节点上,对反馈端110的电压进行采样,采样模块10的输出端与反馈控制模块30的第一输入端相连;
切换开关模块20的固定端与处理模块120输入输出端相连,切换开关模块20的第一可选端与反馈端110相连,切换开关模块20的第二可选端接地,切换开关模块20的受控端与反馈控制模块30的控制输出端相连;
反馈控制模块30的第二输入端接入参考电压VREF,反馈控制模块30的第三输入端接入时钟信号CLK,在芯片正常工作状态时,采样模块10将反馈端110的电压发送给反馈控制模块30,当反馈端110的电压大于参考电压VREF时,反馈控制模块30输出切换信号控制切换开关模块20切换至第二可选端,进而调整反馈端110的电压避免输入不准确的反馈信息。
图2示出了本实施例提供的芯片的保护电路的具体结构示意图,如图2所示,反馈控制模块30包括比较单元31、延时单元32以及逻辑单元33;
比较单元31的第一信号输入端为反馈控制模块30的第一输入端,比较单元31的第二信号输入端为反馈控制模块30的第二输入端,比较单元31的信号输出端与延时单元32的信号输入端相连,延时单元32的信号输出端与逻辑单元33的第一输入端相连,逻辑单元33的第二输入端为反馈控制模块30的第三输入端,逻辑单元33的信号输出端为反馈控制模块30的控制输出端,比较单元31通过第一信号输入端接收反馈端110的电压,并将反馈端110的电压与参考电压VREF进行比较,比较单元31将比较后的结果通过延时单元32发送给逻辑单元33,逻辑单元33在反馈端110的电压大于参考电压VREF时,向切换开关模块20输出切换信号,以控制切换开关模块20切换至第二可选端,进而调整反馈端110的电压避免输入不准确的反馈信息。
在本实施例中延时单元32可以是现有的延时电路,具体可以根据芯片的工作原理,为整体电路提供延时功能,以保证电路运行的稳定性。参考电压VREF 可以是其他电路提供的稳定电压。时钟信号CLK可以是时钟单元为芯片提供的时钟信号。
图3示出了本实施例提供的芯片中采样模块与AC-DC电源模块连接的具体电路图,如图3所示,采样模块10包括电阻R2;电阻R2的第一端为采样模块10的采样端和采样模块10的输出端,R2的第二端为采样模块10的输入端。
作为本实用新型的一实施例,AC-DC电源模块120以图3中的电路图为例,包括AC输入端,由二极管D2、二极管D3、二极管D4、二极管D5以及电容C1组成的电路,转换线圈以及二极管D6与电容C7组成的DC输出端。如图3所示,采样模块10中的电阻R2的第二端与线圈中的辅助线圈相连,用于采集芯片100的工作电压。
图4示出了本实施例提供的芯片中切换开关模块的具体电路图,如图4所示,切换开关模块20包括第一开关管Q1和第二开关管Q2;
第一开关管Q1的受控端与第二开关管Q2的受控端相连,形成一节点,该节点为切换开关模块20的受控端,第一开关管Q1的高电位与第二开关管Q2的低电位端相连后组成切换开关模块20的固定端,第一开关管Q1的低电位端接地,第二开关管Q2的高电位端为切换开关模块20的第一可选端,处理模块120通过输入输出端为第一开关管Q1的高电位与第二开关管Q2的低电位端提供电压。
作为本实用新型的一实施例,第一开关管Q1可以为MOS管或IGBT管或带体二极管的IGBT管,还可以是其他具有开关功能的三极管。同样,第二开关管Q2也可以为MOS管或IGBT管或带体二极管的IGBT管,还可以是其他具有开关功能的三极管。
以第一开关管Q1为NPN管Q1,第二开关管Q2为PNP管Q2为例,芯片从启动直到进入正常的工作状态后,反馈控制模块30在接收反馈端110输入端反馈信息的同时,会向反馈端110流入一干扰电流IFB,进而使得PNP管Q2导 通,此时NPN管Q1截止。
图5示出了本实施例提供的芯片中反馈控制模块的具体电路图,如图5所示,比较单元51包括比较器U1,比较器U1的正向信号输入端IN+为比较单元51的第一信号输入端,比较器U1的负向信号输入端IN-为比较单元51的第二信号输入端,比较器U1的输出端OUT_U为比较单元51的信号输出端。
如图5所示,逻辑单元33包括第一逻辑门M1、第二逻辑门M2以及触发器M3;
第一逻辑门M1的第一信号端输入端IN_1为逻辑单元33的第一输入端,第一逻辑门M1的第二信号输入端IN_2为逻辑单元33的第二输入端,第一逻辑门M1的信号输出端OUT与第二逻辑门M2的信号输入端相连,第二逻辑门M2的信号输出端与触发器M3的时钟信号端CLR相连,触发器M3的电源信号端D接电源VDD,触发器M3的输出端Q为逻辑单元33的信号输出端。
作为本实用新型的一实施例,第一逻辑门M1为与非门M1,第二逻辑门M2为非门M2,触发器M3为D触发器M3。
在其他实施例中,第一逻辑门M1、第二逻辑门M2以及触发器M3还可以是其他不同类型逻辑门与触发器的组合。
以下结合图1至图5所示的电路图,对本实施例提供的芯片的工作原理进行详细说明。
在芯片通过外接电源上电后,其电源输入端上升到一定电压后,切换开关模块20的第一可选端导通,即开关管Q2导通,芯片开始工作。
芯片在工作状态下,其工作电流I会经过芯片100的反馈端110流出一电流IFB,通过切换开关模块20的第一可选端进行输出。此时,经过芯片的反馈端110流出一反馈引脚电流IFB其电压为IFB*R1R2/R1+R2,具体的,其中R1为接地电阻R1的阻值,R2为接地采样模块10中的电阻R2的阻值。芯片100在工作状态下,电压IFB*R1R2/R1+R2大于参考电压VREF,即IFB*R1R2/R1+R2>VREF。比较器U1的输出端OUT_U输出一个高电位,经过延时单元32后送到与非门 M1的第一信号端输入端IN_1,时钟信号CLK会经过与非门M1和反相器M2到达D触发器M3的时钟输入端CLR。由于D触发器的电源信号端D接电源VDD,因此D触发器的输出端Q会由于时钟的触发而变为高电位,进而输出切换信号控制切换开关模块40切换至第二可选端。
若在芯片上电后,的反馈端110直接接地,那么比较器U1的正向信号输入端IN+就会一直为低电位,比较器U1的输出端OUT_U就一直为低,D触发器的时钟输入端CLR会得到一个低信号,这会使得D触发器的输出端Q为低电平,保持芯片处于关闭状态。
以上述实施例为基础,提出另一实施例,目的在于提供一种电源适配器200。图6示出了本实用新型实施例提供的电源适配器的结构框图。如图6所示,电源适配器200包括上述实施例中的芯片的保护电路100。
由于本实施例与本实用新型内容相关的改进点和实现方式在上述实施例中以及详细说明,故此处不再赘述。
本实用新型提供的一种芯片的保护电路和电源适配器,芯片的保护电路与芯片的反馈端、处理模块以及AC-DC电源模块相连,芯片的反馈端通过外部的分压电阻R1接地,保护电路包括:采样模块、切换开关模块以及反馈控制模块;采样模块的输入端与AC-DC电源模块相连,采样模块的采样端连接于反馈端与分压电阻R1的连接节点上,对反馈端的电压进行采样,切换开关模块的固定端与处理模块输入输出端相连,切换开关模块的第一可选端与反馈端相连,切换开关模块的第二可选端接地,切换开关模块的受控端与反馈控制模块的控制输出端相连;在芯片正常工作状态时,采样模块将反馈端的电压发送给反馈控制模块,当反馈端的电压大于参考电压时,反馈控制模块输出切换信号控制切换开关模块切换至第二可选端,进而调整反馈端的电压避免输入不准确的反馈信息。解决现有的芯片无法对芯片反馈端的外部电路进行检测的问题,避免了芯片因反馈信息的不准确而导致芯片的工作状态变得混乱的现象。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型, 凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种芯片的保护电路,与芯片的反馈端、处理模块以及AC-DC电源模块相连,所述芯片的反馈端通过所述芯片外部的分压电阻R1接地,其特征在于,所述保护电路包括:采样模块、切换开关模块以及反馈控制模块;
所述采样模块的输入端与所述AC-DC电源模块相连,所述采样模块的采样端连接于所述反馈端与所述分压电阻R1的连接节点上,对所述反馈端的电压进行采样,所述采样模块的输出端与所述反馈控制模块的第一输入端相连;
所述切换开关模块的固定端与所述处理模块输入输出端相连,所述切换开关模块的第一可选端与所述反馈端相连,所述切换开关模块的第二可选端接地,所述切换开关模块的受控端与所述反馈控制模块的控制输出端相连;
所述反馈控制模块的第二输入端接入参考电压,所述反馈控制模块的第三输入端接入时钟信号,在所述芯片正常工作状态时,所述采样模块将所述反馈端的电压发送给所述反馈控制模块,当所述反馈端的电压大于所述参考电压时,所述反馈控制模块输出切换信号控制所述切换开关模块切换至第二可选端,进而调整所述反馈端的电压避免输入不准确的反馈信息。
2.如权利要求1所述的芯片的保护电路,其特征在于,所述反馈控制模块包括比较单元、延时单元以及逻辑单元;
所述比较单元的第一信号输入端为所述反馈控制模块的第一输入端,所述比较单元的第二信号输入端为所述反馈控制模块的第二输入端,所述比较单元的信号输出端与所述延时单元的信号输入端相连,所述延时单元的信号输出端与所述逻辑单元的第一输入端相连,所述逻辑单元的第二输入端为所述反馈控制模块的第三输入端,所述逻辑单元的信号输出端为所述反馈控制模块的控制输出端,所述比较单元通过第一信号输入端接收所述反馈端的电压,并将所述反馈端的电压与所述参考电压进行比较,所述比较单元将比较后的结果通过所述延时单元发送给所述逻辑单元,所述逻辑单元在所述反馈端的电压大于所述参考电压时,向所述切换开关模块输出所述切换信号,以控制所述切换开关模块切换至第二可选端,进而调整所述反馈端的电压避免输入不准确的反馈信息。
3.如权利要求1所述的芯片的保护电路,其特征在于,所述采样模块包括电阻R2;
所述电阻R2的第一端为所述采样模块的采样端和所述采样模块的输出端,所述R2的第二端为所述采样模块的输入端。
4.如权利要求1所述的芯片的保护电路,其特征在于,所述切换开关模块包括第一开关管和第二开关管;
所述第一开关管的受控端与所述第二开关管的受控端相连,形成一节点,该节点为所述切换开关模块的受控端,所述第一开关管的高电位与所述第二开关管的低电位端相连后组成所述切换开关模块的固定端,所述第一开关管的低电位端接地,所述第二开关管的高电位端为所述切换开关模块的第一可选端,所述处理模块通过输入输出端为所述第一开关管的高电位与所述第二开关管的低电位端提供电压。
5.如权利要求2所述的芯片的保护电路,其特征在于,所述比较单元包括比较器,所述比较器的正向信号输入端为所述比较单元的第一信号输入端,所述比较器的负向信号输入端为所述比较单元的第二信号输入端,所述比较器的输出端为所述比较单元的信号输出端。
6.如权利要求2所述的芯片的保护电路,其特征在于,所述逻辑单元包括第一逻辑门、第二逻辑门以及触发器;
所述第一逻辑门的第一信号端输入端为所述逻辑单元的第一输入端,所述第一逻辑门的第二信号输入端为所述逻辑单元的第二输入端,所述第一逻辑门的输出端与所述第二逻辑门的信号输入端相连,所述第二逻辑门的信号输出端与所述触发器的时钟信号端相连,所述触发器的电源信号端接电源,所述触发器的输出端为所述逻辑单元的信号输出端。
7.如权利要求6所述的芯片的保护电路,其特征在于,所述第一逻辑门为与非门。
8.如权利要求6所述的芯片的保护电路,其特征在于,所述第二逻辑门为非门。
9.如权利要求6所述的芯片的保护电路,其特征在于,所述触发器为D触发器。
10.一种电源适配器,其特征在于,所述电源适配器包括如权利要求1-9任意一项所述的芯片的保护电路。
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