CN205880079U - 电子产品开关机老化测试系统 - Google Patents
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Abstract
一种电子产品开关机老化测试系统，包括：恒温恒湿箱，用于提供对电子产品进行开关机老化测试所需的具有预设温湿度变化规律的测试环境；驱动电源，用于提供具有预设电源波形的驱动电源，以驱动恒温恒湿箱内的待测电子产品进行开关机；驱动电源独立于恒温恒湿箱设置；转接板，与驱动电源连接；转接板用于与至少一个待测电子产品连接；转接板独立于恒温恒湿箱设置；以及主控板，分别与恒温恒湿箱、驱动电源连接；主控板与恒温恒湿箱独立设置；主控板用于控制恒温恒湿箱和驱动电源同步开启和关闭。上述电子产品开关机老化测试系统的设备配置灵活性强且成本较低的，还能够实现温湿度曲线和电源曲线时序精确对齐。
Description
技术领域
本实用新型涉及开关机老化测试技术领域，特别是涉及一种电子产品开关机老化测试系统。
背景技术
对电子产品进行开关机老化测试过程中，电源需要按照一定频率和脉宽开关机，同时产品所处环境温湿度需要做周期性变化。传统的老化测试过程中需要使用专用老化机台进行测试。专用老化机台中的测试板与恒温恒湿箱是一体设置的，从而使得设备配置灵活性差，成本较高。并且，传统的测试过程中，需要手工同时开启恒温恒湿箱和电源来实现电源波形和温湿度曲线的时序对齐，时间误差较大。并且随着测试时间的延长，误差会累积，导致测试末端温湿度曲线和电源曲线的时序不能精确对齐。
实用新型内容
基于此，有必要提供一种设备配置灵活性强且成本较低的、能够实现温湿度曲线和电源曲线时序精确对齐的电子产品开关机老化测试系统。
一种电子产品开关机老化测试系统，包括：恒温恒湿箱，用于提供对电子产品进行开关机老化测试所需的具有预设温湿度变化规律的测试环境；驱动电源，用于提供具有预设电源波形的驱动电源，以驱动恒温恒湿箱内的待测电子产品进行开关机；所述驱动电源独立于所述恒温恒湿箱设置；转接板，与所述驱动电源连接；所述转接板用于与至少一个待测电子产品连接；所述转接板独立于所述恒温恒湿箱设置；以及主控板，分别与所述恒温恒湿箱、所述驱动电源连接；所述主控板与所述恒温恒湿箱独立设置；所述主控板用于控制所述恒温恒湿箱和所述驱动电源同步开启和关闭。
在其中一个实施例中，所述主控板还用于对所述恒温恒湿箱内的预设温湿度变化规律进行调整，以及对所述驱动电源的预设电源波形进行调整。
在其中一个实施例中，所述主控板上设置有单片机，所述单片机为51单片机或者STM32单片机。
在其中一个实施例中，所述主控板通过RS232接口或者RS458接口与所述驱动电源、所述恒温恒湿箱连接。
在其中一个实施例中，还包括上位机，所述上位机与所述主控板连接，以与所述恒温恒湿箱、所述驱动电源进行通讯。
在其中一个实施例中，还包括温度检测装置，所述温度检测装置与所述主控板连接，用于对所述恒温恒湿箱内的温度进行检测并输出给所述主控板；所述主控板用于根据所述温度检测装置检测到的温度对所述驱动电源的开关机时序进行调整。
在其中一个实施例中，所述温度检测装置为热电偶。
在其中一个实施例中，所述主控板还设置有红外遥控装置，用于对待测电子产品进行控制。
在其中一个实施例中，所述转接板上设置有多路连接通道；每一路连接通道对应一个待测电子产品；所述转接板上还设置有电流采样电路；所述电流采样电路用于对每路连接通道上的电流进行采样并输出采样电流给所述主控板。
在其中一个实施例中，所述转接板上还包括过流保护电路，所述过流保护电路用于对所述电子产品开关机老化测试系统进行过流保护。
上述电子产品开关机老化测试系统，驱动电源、转接板以及主控板均与恒温恒湿箱独立设置，从而可以提高设备配置灵活性。因此，恒温恒湿箱可以采用现有的各类恒温恒湿箱来实现，有利于降低系统成本。通过主控板来实现对恒温恒湿箱以及驱动电源的同步开关控制，能够确保恒温恒湿箱内的温湿度曲线和驱动电源的电源曲线在时序上的精确对齐，进而满足测试需求。
附图说明
图1为一实施例中的电子产品开关机老化测试系统的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
图1为一实施例中的电子产品开关机老化测试系统的结构示意图。该电子产品开关机老化测试系统用于对电子产品进行开关机老化测试。在本实施例中，电子产品可以为智能电视、车载多媒体设备、手机、电脑以及投影仪等各类电子设备。该电子产品开关机老化测试系统包括恒温恒湿箱110、驱动电源120、转接板130以及主控板140。其中，驱动电源120、转接板130以及主控板140均独立于恒温恒湿箱110设置，从而使得恒温恒湿箱110的要求较低，采用现有的各类恒温恒湿箱都能够适用，有利于降低系统成本。
恒温恒湿箱110用于提供对电子产品进行开关机老化测试所需的测试环境。在本实施例中，恒温恒湿箱110提供的测试环境的温湿度会根据预设温湿度变化规律而变化，从而满足测试需求。相对于传统的专用老化测试机台而言，将恒温恒湿箱110与其他测试电路分离，有利于提高设备配置的灵活性且有利于降低成本。
驱动电源120用于提供具有预设电源波形的驱动电源。驱动电源120用于驱动恒温恒湿箱110内的各待测电子产品进行开关机，以使得其在恒温恒湿箱110内进行开关机老化测试。驱动电源120可以为可编程电源，也可以为其他电源。驱动电源120可以为直流电，也可以为交流电。
转接板130与驱动电源120连接。转接板130用于与恒温恒湿箱110内的待测电子产品连接。转接板130上具有多路连接通道。每路连接通道对应一个待测电子产品。在本实施例中，转接板130上还设置有过流保护电路和电流采样电路。过流保护电路用于对整个系统进行过流保护。电流采样电路则用于对每路连接通道中的通道电流进行采样，并输出采样电流给主控板140。主控板140可以根据该采样电流对电子产品的开关机老化性能进行判断。具体地，过流保护电路包括保险管，电流采样电路包括采样电阻。
主控板140分别与恒温恒湿箱110以及驱动电源120连接。主控板140用于控制恒温恒湿箱110和驱动电源120同步开启和关闭，从而可以确保恒温恒湿箱110内的温湿度曲线的时序与驱动电源120的电源曲线的时序的精确对齐，以满足老化测试过程的需求。主控板140还用于对恒温恒湿箱110内的预设温湿度变化规律进行调整，并对驱动电源120的预设电源波形进行调整，从而使得二者均能够符合测试需求。在本实施例中，主控板140上设置有单片机。单片机可以为51单片机或者STM32单片机。相对于传统的专用老化测试机台使用CPLD或FPGA作为主控芯片，采用单片机可以降低系统成本。主控板140上的单片机通过RS232或者RS458接口与驱动电源120以及恒温恒湿箱110连接。主控板140上还设置有红外遥控装置，用于对待测电子产品进行控制。
上述电子产品开关机老化测试系统，驱动电源120、转接板130以及主控板140均与恒温恒湿箱110独立设置，从而可以提高设备配置灵活性。因此，恒温恒湿箱110可以采用现有的各类恒温恒湿箱来实现，有利于降低系统成本。通过主控板140来实现对恒温恒湿箱110以及驱动电源120的同步开关控制，能够确保恒温恒湿箱110内的温湿度曲线和驱动电源120的电源曲线在时序上的精确对齐，进而满足测试需求。
在本实施例中，上述电子产品开关机老化测试系统还包括上位机150以及温度检测装置160。上位机150通过RS232接口与主控板140上的单片机连接。上位机150用于将各配置参数发送给单片机，从而由单片机对整个测试系统进行控制。上位机150可以通过单片机与驱动电源120以及恒温恒湿箱110进行通讯，从而确保温湿度曲线与电源曲线(上下电曲线)在时序上的一致性。
温度检测装置160与主控板140连接，用于对恒温恒湿箱110内的温度进行检测并输出给主控板140。主控板140根据温度检测装置160检测到的温度对驱动电源120的开关机时序进行调整，从而确保电源曲线和温湿度曲线在时序上的精准对齐。温度检测装置160可以为热电偶。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，包括：
恒温恒湿箱，用于提供对电子产品进行开关机老化测试所需的具有预设温湿度变化规律的测试环境；
驱动电源，用于提供具有预设电源波形的驱动电源，以驱动恒温恒湿箱内的待测电子产品进行开关机；所述驱动电源独立于所述恒温恒湿箱设置；
转接板，与所述驱动电源连接；所述转接板用于与至少一个待测电子产品连接；所述转接板独立于所述恒温恒湿箱设置；以及
主控板，分别与所述恒温恒湿箱、所述驱动电源连接；所述主控板与所述恒温恒湿箱独立设置；所述主控板用于控制所述恒温恒湿箱和所述驱动电源同步开启和关闭。
2.根据权利要求1所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，所述主控板还用于对所述恒温恒湿箱内的预设温湿度变化规律进行调整，以及对所述驱动电源的预设电源波形进行调整。
3.根据权利要求1所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，所述主控板上设置有单片机，所述单片机为51单片机或者STM32单片机。
4.根据权利要求1所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，所述主控板通过RS232接口或者RS458接口与所述驱动电源、所述恒温恒湿箱连接。
5.根据权利要求1所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，还包括上位机，所述上位机与所述主控板连接，以与所述恒温恒湿箱、所述驱动电源进行通讯。
6.根据权利要求1所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，还包括温度检测装置，所述温度检测装置与所述主控板连接，用于对所述恒温恒湿箱内的温度进行检测并输出给所述主控板；所述主控板用于根据所述温度检测装置检测到的温度对所述驱动电源的开关机时序进行调整。
7.根据权利要求6所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，所述温度检测装置为热电偶。
8.根据权利要求1所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，所述主控板还设置有红外遥控装置，用于对待测电子产品进行控制。
9.根据权利要求1所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，所述转接板上设置有多路连接通道；每一路连接通道对应一个待测电子产品；所述转接板上还设置有电流采样电路；所述电流采样电路用于对每路连接通道上的电流进行采样并输出采样电流给所述主控板。
10.根据权利要求9所述的电子产品开关机老化测试系统，其特征在于，所述转接板上还包括过流保护电路，所述过流保护电路用于对所述电子产品开关机老化测试系统进行过流保护。
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