CN205587019U - 测序芯片夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种测序芯片夹具，该测序芯片夹具包含对带有芯片测试座的基板进行固定的基座、对测试模块进行固定的第一滑块、第二滑块。其中，第一、第二滑块分别位于基座的两侧并通过导向轴相互连接。测序芯片夹具还包含：传送工装、隔开件、驱动机构。其中，驱动机构在带动隔开件将第二滑块与基座相互分离时，芯片被传送工装传送至第一滑块与基座之间，并在隔开件被带动至终止位置时，第一滑块带动测试模块将测试芯片压入基板上的芯片测试座内。同现有技术相比，驱动机构可通过隔开件使得第二滑块带动第一滑块向基座靠拢，从而使得测试模块可将测试芯片压入基板上的芯片测试座内，进而可实现对芯片的精准定位，以满足测试的要求。

Description

测序芯片夹具

技术领域

本实用新型涉及一种夹具，特别涉及一种测序芯片夹具。

背景技术

芯片，作为一种常用的电子设备，被广泛应用在电子、通讯和生物等领域，由于芯片的分类较多，通常根据不同的类型选择不同的测试方式，而微流体芯片，作为当前生命科学、化学科学与信息科学信号检测和处理方法研究的重要技术平台，其原理是将生物、化学、医学分析过程的样品制备、反应、分离、检测等基本操作单元集成到一块微米尺度的芯片上，自动完成分析全过程，因而微流体芯片的测试方式与普通的电子芯片的测试方式大不相同。

但目前，无论是微流体芯片，还是普通的电子芯片，都需要对芯片进行准确定位后再进行测试，然而，现有技术中，在对微流体芯片进行测试的过程中，由于微流体芯片的尺寸较小，很难对微流体芯片进行精准的定位，从而造成了测试的误差，无法满足测试的要求，进而使得实验人员采用微流体芯片对试样进行测试时，其结果会产生极大的误差。并且，在对微流体芯片进行测试的过程中，需要通过人工的方式对微流体芯片进行定位。

因此，如何实现对芯片的精准定位，是本实用新型所要解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测序芯片夹具，以实现对芯片的精准定位，并满足测试的要求。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种测序芯片夹具，包含对带有芯片测试座的基板进行固定的基座、对测试模块进行固定的第一滑块、带动所述第一滑块进行滑动的第二滑块；其中，所述第一滑块和所述第二滑块分别位于所述基座的两侧并通过导向轴相互连接，且所述导向轴整体贯穿所述基座并与所述基座之间形成空套；

所述测序芯片夹具还包含：将芯片传送至所述第一滑块和所述基座之间的传送工装、将所述第二滑块和所述基座相互分离的隔开件、带动所述传送工装和所述隔开件进行运动的驱动机构；

其中，所述第二滑块上还具有在所述驱动机构带动所述隔开件滑动至终止位置时对所述隔开件进行卡合的卡合位，且所述驱动机构在带动所述隔开件将所述第二滑块与所述基座相互分离时，所述芯片逐渐被所述传送工装传送至所述第一滑块与所述基座之间，并在所述隔开件被带动至终止位置时，所述第一滑块带动所述测试模块将所述测试芯片压入所述基板上的芯片测试座内。

本实用新型的实施方式相对于现有技术而言，由于整个测序芯片夹具是由带有基板的基座、带有测试模块的第一滑块、与第一滑块相连的第二滑块、带有芯片的传送工装、用于隔开基座和第二滑块的隔开件、驱动机构组成，且驱动机构可驱动隔开件滑动，从而在实际应用时，可由驱动机构通过传送工装将芯片传送至第一滑块与基座之间，而在传送的过程中，驱动机构可通过隔开件使得第二滑块带动第一滑块向基座靠拢，从而使得第一滑块上的测试模块可将测试芯片压入基板上的芯片测试座内，进而可实现对芯片的精准定位，以满足测试的要求。

进一步的，所述驱动机构包含与所述基座连接的直线轨道、设置在所述直线轨道上并与所述直线轨道滑动连接的支架；其中，所述传送工装和所述隔开件分别设置在所述支架的两端，且所述支架在所述直线轨道上的滑动方向与所述第一滑块和所述第二滑块的滑动方向相互垂直。由于整个支架是与直线轨道滑动连接的，且支架的两端分别设有传送工装和隔开件，并且由于支架的滑动方向与第一滑块和第二滑块的滑动方向是相互垂直的，因而使得传送工装可以将芯片传送至与测试模块和基板正对的位置，以确保隔开件滑动至终止位置时，芯片即被测试模块压入基板上的芯片测试座内。

进一步的，所述传送工装包含对所述芯片进行定位的工装本体、分别与所述工装本体和所述支架连接的弹性压缩组件；其中，所述基板朝向所述工装本体的一侧暴露在所述基座外，而所述工装本体的根部向外凸出形成与所述基板相互抵持的抵持部，且所述工装本体的抵持部在抵住所述基板时，所述芯片被传送至所述基座与所述第一滑块之间，并与所述基板的芯片测试座和所述测试模块处于同一轴线上。由于基板朝向工装本体的一侧暴露在基座外，且工装本体的根部向外凸出形成与基板相互抵持的抵持部，从而使得工装本体在滑动一段距离后因抵持部抵住基板而不再继续滑动，以实现芯片处于与测试模块和基板正对的位置，并确保芯片与芯片测试座和测试模块处于同一轴线上。

并且，所述弹性压缩组件包含贯穿所述工装本体并与所述工装本体固定连接的导杆、套设在所述导杆上并分别抵住所述工装本体和所述支架的弹簧；其中，所述弹簧的压缩行程大于所述隔开件从起始位置运动至终止位置时的距离，且所述导杆与所述弹簧之间形成空套。从而使得弹簧的压缩行程能够保证隔开件可以运动至终止位置，并且，弹簧在隔开件离开终止位置时可在自身弹力的作用下自动归位，以便于后续的芯片测试。

进一步的，所述导杆朝向所述支架一端向外凸起形成倒扣在所述支架上的帽檐。从而保证了在隔开件回复至起始位置的过程中，可通过帽檐与支架之间的相互抵持对支架进行限位，进而防止支架从导杆上滑出。

进一步的，所述支架被所述导杆贯穿的部位还设有套设在所述导杆上的轴承座。从而使得导杆在跟随工装本体停止运动后，可通过轴承座的作用，保证支架能够正常的在导杆上进行滑动，避免支架因与导杆产生摩擦而出现卡死。

进一步的，所述第二滑块朝向所述隔开件的一侧至少有部分为一斜面，且所述卡合位为开设在所述斜面上的卡槽；所述隔开件包含设置在所述支架上的立柱、与所述立柱连接的挡板、设置在所述挡板上与所述第二滑块的斜面相互配合并推动所述第二滑块进行滑动的推板；其中，所述推板在推动所述第二滑块滑动至终止位置时，插入所述斜面的卡槽内。从而使得推板在与第二滑块斜面接触后，可推动第二滑块沿垂直于隔开件的滑动方向进行运动，以使得推板在插入斜面的卡槽内时，通过卡槽可对推板进行锁止，防止推板脱离卡槽，以保证第二滑块可以将第一滑块带动至压紧芯片的位置。

进一步的，为了提升卡槽对推板的锁合效果，所述推板在插入所述卡槽内后与所述卡槽的槽壁相互贴合。由此可知，在实际应用的过程中，可通过推板与卡槽的槽壁相互贴合，增大推板与卡槽之间的接触面积，提升锁止效果。

进一步的，所述导向轴设有两根且以所述基座的轴线为中心上下对称设置。

进一步的，所述基座被所述导向轴贯穿的部位设有套设在所述导向轴上的轴承套，从而使得导向轴在跟随第二滑块运动的过程中，可通过轴承座的作用，使得导向轴在穿过基座带动第一滑块的同时，能够保证其能够正常的进行滑动，避免导向轴卡死在基座上。

附图说明

图1为本实用新型第一实施方式中测序芯片夹具在对芯片进行测试前的结构示意图；

图2为本实用新型第一实施方式中隔开件在起始位置时的状态示意图；

图3为本实用新型第一实施方式中测序芯片夹具在对芯片进行测试时的结构示意图；

图4为本实用新型第一实施方式中隔开件到达终止位置时的状态示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本实用新型各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。

本实用新型的第一实施方式涉及一种测序芯片夹具，如图1、图2和图3所示，该测序芯片夹具主要是由对带有芯片测试座的基板1-1进行固定的基座1、对测试模块2-1进行固定的第一滑块2、带动第一滑块2进行滑动的第二滑块3、将芯片8传送至第一滑块2和基座1之间的传送工装、将第二滑块3和基座1相互分离的隔开件6、带动传送工装和隔开件6进行运动的驱动机构构成。

其中，如图1所示，第一滑块2和第二滑块3分别位于基座1的两侧并通过导向轴4相互连接，且导向轴4整体贯穿基座1并与基座1之间形成空套。

并且，第二滑块3上还具有在驱动机构带动隔开件6滑动至终止位置时对隔开件6进行卡合的卡合位，且驱动机构在带动隔开件6将第二滑块3与基座1相互分离时，芯片逐渐被传送工装传送至第一滑块2与基座1之间，并在隔开件6被带动至终止位置时，第一滑块2带动测试模块2-1将测试芯片压入基板1-1上的芯片测试座内。

通过上述内容不难发现，由于整个测序芯片夹具是由带有基板1-1的基座1、带有测试模块2-1的第一滑块2、与第一滑块2相连的第二滑块3、带有芯片8的传送工装、用于隔开基座1和第二滑块3的隔开件6、驱动机构组成，且驱动机构可驱动隔开件6滑动，从而在实际应用时，可由驱动机构通过传送工装将芯片8传送至第一滑块2与基座1之间，而在传送的过程中，驱动机构可通过隔开件6使得第二滑块3带动第一滑块2向基座1靠拢，从而使得第一滑块2上的测试模块2-1将测试芯片压入基板1-1上的芯片测试座(图中未标注)内，进而可实现对芯片8的精准定位，以满足测试的要求。

具体的说，在本实施方式中，如图1和图2所示，芯片8为微流体芯片，测试模块2-1为微流体芯片测试模块2-1，其中，在微流体芯片测试模块2-1上背离基座1的一侧上设有多个通孔(图中未标注)，而在相对基座1的一侧设有与通孔相连的凸起(图中未标注)，因而当微流体芯片被第一滑块2与基座1夹紧时，微流体芯片测试模块2-1上的凸起可以将微流体芯片压入基座1的基板1-1上的芯片测试座内，从而可通过通孔引入液体来对微流体芯片进行测试。

而在实际应用的过程中，如图1所示，本实施方式的驱动机构主要是由与基座1连接的直线轨道9、设置在直线轨道9上并与直线轨道9滑动连接的支架7构成。其中，传送工装和隔开件6分别设置在支架7的两端，且支架7在直线轨道9上的滑动方向与第一滑块2和第二滑块3的滑动方向相互垂直。

由此可知，由于整个支架7是与直线轨道9滑动连接的，且支架7的两端分别设有传送工装和隔开件6，并且由于支架7的滑动方向与第一滑块2和第二滑块3的滑动方向是相互垂直的，因而使得传送工装可以将芯片8传送至与测试模块2-1和基板1-1正对的位置，以确保隔开件6滑动至终止位置时，芯片8即被测试模块2-1压入基座1的基板1-1上的芯片测试座内。

并且，如图1和图3所示，本实施方式中的传送工装主要是由对芯片8进行定位的工装本体5、分别与工装本体5和支架7连接的弹性压缩组件10构成。其中，工装本体5上设有对芯片8卡合的卡合工位，而基板1-1朝向工装本体5的一侧暴露在基座1外，而工装本体5的根部向外凸出形成与基板1-1相互抵持的抵持部5-1，且工装本体5的抵持部5-1在抵住基板1-1时，芯片8能够被传送至基座1与第一滑块2之间，并与基板1-1的芯片测试座和测试模块2-1处于同一轴线上。而在实际应用中，如图1所示，工装本体5的卡合工位上的芯片8朝向第一滑块2的一侧有部分暴露在工装本体5外，而朝向基座1的一侧有部分暴露在工装本体5外，并且，当工装本体5将芯片8传送至与测试模块2-1和芯片测试座正对的位置后，隔开件6继续向终止位置滑动，并在滑动的过程中使得第二滑块3带动第一滑块2向基座1靠拢，从而使得隔开件6滑动至终止位置时，第一滑块2上的测试模块2-1的凸起可将芯片8压入基座1的基板1-1上的芯片测试座上。

由此可知，由于基板1-1朝向工装本体5的一侧暴露在基座1外，且工装本体5的根部向外凸出形成与基板1-1相互抵持的抵持部5-1，从而使得工装本体5在滑动一段距离后因抵持部5-1抵住基板1-1而不再继续滑动，以实现芯片处于与测试模块2-1和基板1-1正对的位置，并确保芯片8与芯片测试座和测试模块2-1处于同一轴线上。

而如图1、图2和图4所示，本实施方式中的弹性压缩组件10主要是由贯穿工装本体5并与工装本体5固定连接的导杆10-1、套设在导杆10-1上并分别抵住工装本体5和支架7的弹簧10-2构成。其中，弹簧10-2的压缩行程大于隔开件6从起始位置运动至终止位置时的距离，且导杆10-1与弹簧10-2之间形成空套。如图2所示，当隔开件6位于起始位置时，第二滑块3贴紧基座1，因而当隔开件6被驱动后，支架7可在隔开件6的作用下，通过弹簧10-2来推动工装本体5进行滑动，使得弹簧10-2在被推动的过程中产生一定程度的压缩；而如图3所示，工装本体5在滑动一段距离后因其抵持部5-1被基板1-1抵住而不再继续滑动，进而使得导杆10-1也跟随工装本体5不再继续滑动，而此时，支架7在隔开件6的作用下，仍可沿着直线轨道9继续滑动，从而使得支架7对弹簧10-2进行进一步的压缩，直至隔开件6到达终止位置后，支架7停止对弹簧10-2进行压缩。并且，隔开件6在运动的过程中可以推动第二滑块3向背离基座1的方向运动，并使得第二滑块3带动第二滑块2向基座1靠拢，并在到达终止位置时，使得第一滑块2压紧基座1。另外，隔开件6在返回起始位置的过程中，弹簧10-2会回弹至原有形状，因而不需要外力驱动隔开件6，而通过弹簧10-2的弹性形变即可使得支架7能够带动隔开件6和工装本体5自动回到起始位置。

由此可知，由于弹簧10-2的压缩行程大于隔开件6从起始位置运动至终止位置时的距离，从而使得弹簧10-2的压缩行程能够保证隔开件6可以运动至终止位置，并且，弹簧10-2在隔开件6离开终止位置时可在自身弹力的作用下自动归位，以便于后续的芯片测试。

如图1所示，为了保证第二滑块3能够将第一滑块2带动至准确的位置，在本实施方式中，第二滑块3朝向隔开件6的一侧有部分为一斜面3-2，且斜面3-2是朝向背离基座1的方向进行倾斜的，并使得第二滑块3在空间上形成了一个内凹的区域。另外，斜面3-2上还开设有内凹的卡槽3-1，且卡槽3-1所在的位置为卡合位。其中，卡槽3-1的槽口呈矩形，且卡槽3-1的槽体宽度向内逐渐递减，使得卡槽3-1的槽体的横向截面为三角形。

而如图1所示，隔开件6主要是由设置在支架7上的立柱6-1、与立柱6-1连接的挡板6-3、设置在挡板6-3上的推板6-2构成。其中，推板6-2在跟随支架7滑动时，可与第二滑块3的斜面3-2接触，并可以通过与斜面3-2相互配合来推动第二滑块3进行滑动，而第二滑块3在滑动的过程中，逐渐与基座1相分离，并通过导向轴4带动第一滑块2向基座1靠拢。且推板6-2在推动第二滑块3时，推板6-2可以被第二滑块3的内凹的区域所容纳。而当推板6-2滑动至卡合位时，推板6-2插入到斜面3-2的卡槽3-1内，其卡槽3-1的槽体可以容纳推板6-2的头部。从而使得推板6-2不再推动第二滑块3滑动而到达终止位置。此时，第二滑块3在停止滑动后，第一滑块2刚好被第二滑块3带动至可以压紧芯片8的位置。并且，在实际操作的过程中，挡板6-3可以延长，以方便工作人员推动隔开件6，并通过隔开件6来带动支架7和工装本体5在直线轨道9上进行滑动。

由此可知，推板6-2在与第二滑块3斜面3-2接触后，可推动第二滑块3沿垂直于隔开件6的滑动方向进行运动，以使得推板6-2在插入斜面3-2的卡槽内时，通过卡槽可对推板6-2进行锁止，防止推板6-2脱离卡槽3-1，以保证第二滑块3可以将第一滑块2带动至压紧芯片8的位置。

并且，为了提升卡槽3-1对推板6-2的锁合效果，本实施方式中的推板6-2在插入卡槽3-1内后与卡槽3-1的槽壁相互贴合。从而在实际应用的过程中，可通过推板6-2与卡槽3-1的槽壁相互贴合，增大推板6-2与卡槽3-1之间的接触面积，提升锁止效果。

另外，值得一提的是，在本实施方式中，如图1所示，导杆10-1朝向支架7一端向外凸起形成倒扣在支架7上的帽檐10-1-1。从而保证了在隔开件6回复至起始位置的过程中，可通过帽檐10-1-1与支架7之间的相互抵持对支架7进行限位，进而防止支架7从导杆10-1上滑出。

并且，在本实施方式中，支架7被导杆10-1贯穿的部位还设有套设在导杆10-1上的轴承座(图中未标注)。从而使得导杆10-1在跟随工装本体5停止运动后，可通过轴承座的作用，保证支架7能够正常的在导杆10-1上进行滑动，避免支架7因与导杆10-1产生摩擦而出现

另外，需要说明的是，在本实施方式中，为了满足实际的装配要求，如图2和图4所示，导向轴4设有两根且以基座1的轴线为中心上下对称设置。并且，基座1被导向轴4贯穿的部位设有套设在导向轴4上的轴承套，

由此可知，导向轴4在跟随第二滑块3运动的过程中，可通过轴承座的作用，使得导向轴4在穿过基座1带动第一滑块2的同时，能够保证其能够正常的进行滑动，避免导向轴4卡死在基座1上。

本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本实用新型的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本实用新型的精神和范围。

Claims (10)

1.一种测序芯片夹具，其特征在于：包含对带有芯片测试座的基板进行固定的基座、对测试模块进行固定的第一滑块、带动所述第一滑块进行滑动的第二滑块；其中，所述第一滑块和所述第二滑块分别位于所述基座的两侧并通过导向轴相互连接，且所述导向轴整体贯穿所述基座并与所述基座之间形成空套；

所述测序芯片夹具还包含：将芯片传送至所述第一滑块和所述基座之间的传送工装、将所述第二滑块和所述基座相互分离的隔开件、带动所述传送工装和所述隔开件进行运动的驱动机构；

其中，所述第二滑块上还具有在所述驱动机构带动所述隔开件滑动至终止位置时对所述隔开件进行卡合的卡合位，且所述驱动机构在带动所述隔开件将所述第二滑块与所述基座相互分离时，所述芯片逐渐被所述传送工装传送至所述第一滑块与所述基座之间，并在所述隔开件被带动至终止位置时，所述第一滑块带动所述测试模块将所述芯片压入所述基板上的芯片测试座内。

2.根据权利要求1所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述驱动机构包含与所述基座连接的直线轨道、设置在所述直线轨道上并与所述直线轨道滑动连接的支架；

其中，所述传送工装和所述隔开件分别设置在所述支架的两端，且所述支架在所述直线轨道上的滑动方向与所述第一滑块和所述第二滑块的滑动方向相互垂直。

3.根据权利要求2所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述传送工装包含对所述芯片进行定位的工装本体、分别与所述工装本体和所述支架连接的弹性压缩组件；

其中，所述基板朝向所述工装本体的一侧暴露在所述基座外，而所述工装本体的根部向外凸出形成与所述基板相互抵持的抵持部，且所述工装本体 的抵持部在抵住所述基板时，所述芯片被传送至所述基座与所述第一滑块之间，并与所述基板的芯片测试座和所述测试模块处于同一轴线上。

4.根据权利要求3所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述弹性压缩组件包含贯穿所述工装本体并与所述工装本体固定连接的导杆、套设在所述导杆上并分别抵住所述工装本体和所述支架的弹簧；

其中，所述弹簧的压缩行程大于所述隔开件从起始位置运动至终止位置时的距离，且所述导杆与所述弹簧之间形成空套。

5.根据权利要求4所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述导杆朝向所述支架一端向外凸起形成倒扣在所述支架上的帽檐。

6.根据权利要求4所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述支架被所述导杆贯穿的部位还设有套设在所述导杆上的轴承座。

7.根据权利要求2所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述第二滑块朝向所述隔开件的一侧至少有部分为一斜面，且所述卡合位为开设在所述斜面上的卡槽；

所述隔开件包含设置在所述支架上的立柱、与所述立柱连接的挡板、设置在所述挡板上与所述第二滑块的斜面相互配合并推动所述第二滑块进行滑动的推板；

其中，所述推板在推动所述第二滑块滑动至终止位置时，插入所述斜面的卡槽内。

8.根据权利要求7所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述推板在插入所述卡槽内后与所述卡槽的槽壁相互贴合。

9.根据权利要求1至8中任意一项所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述导向轴设有两根且以所述基座的轴线为中心上下对称设置。

10.根据权利要求9所述的测序芯片夹具，其特征在于：所述基座被所述导向轴贯穿的部位设有套设在所述导向轴上的轴承套。