CN205562431U - 具有自动对焦功能的晶圆检测设备 - Google Patents

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莫阳
刘涛
王喜宝
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Abstract

本实用新型涉及自动对焦晶圆检测设备,此设备中,在显微镜物镜和管镜中间安装分光棱镜,自动对焦光源从外围射出激光,经分光棱镜反射通过物镜聚焦在晶圆上,晶圆的反射光线返回到物镜后,分为两部分,一部分光束经分光棱镜和管镜成像在相机,另一部分光经分光棱镜反射到自动对焦探测器,通过参数设定及内部机构换算,精密移动平台根据结果上下移动,实现自动对焦,同时在相机中,会得到清晰的图像。本实用新型通过自动对焦,可解决透明或不透明板上的线条或图像检测问题,并且可解决不同厚度的基板的焦面的自动调节。对焦时间短,精度高,客观有效的提高检测精度和速度。

Description

具有自动对焦功能的晶圆检测设备
技术领域
本实用新型属于半导体行业的晶圆检测技术领域,主要涉及在晶圆、掩膜板、PCB板、光学玻璃等透明或不透明衬底的图形或线条的检测。
背景技术
晶圆检测设备是半导体装备行业中重要的精密检测测量设备。常用的对焦方法是人为查找和被动对焦。人为查找具有主观性并不方便快捷。被动对焦采用图像处理技术,极不方便,其响应时间长,对焦精度低。
本实用新型采用主动对焦方式,方法简单,对焦速度快,对焦的图像清晰明了,客观简单有效。
发明内容
本实用新型是提供一种具有自动对焦功能的晶圆检测设备,能够进行快速对焦,提高检测设备的处理速度。
本实用新型的技术方案是:
一种具有自动对焦功能的晶圆检测设备,包括显微镜、对焦系统和精密移动平台。显微镜包括照明显微镜主体、光源、管镜、物镜、相机;对焦系统包括对焦光源、分光棱镜和探测器。
显微镜物镜和管镜中间安装分光棱镜,自动对焦光源从外围射出激光,经分光棱镜反射通过物镜聚焦在晶圆上,晶圆的反射光线返回到物镜后,分为两部分,一部分光束经分光棱镜和管镜成像在相机,另一部分光经分光棱镜反射到自动对焦探测器,通过参数设定及内部机构换算,精密移动平台根据结果上下移动,实现自动对焦,同时在相机中,会得到清晰的图像。
上述的显微镜的物镜和管镜为无限远光学成像系统。上述的精密位移平台可实现上下移动。
上述的分光棱镜为可见光半透半反型。上述的自动对焦光源和探测器在同一部件上。
本实用新型的优点是:
具有自动对焦功能的晶圆检测设备方法简单,对焦速度快,对焦的图像清晰明了,客观简单有效。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图
具体实施方式
下面结合附图,通过实施例对本实用新型作进一步地说明:
如图1所示,一种具有自动对焦功能的晶圆检测设备,包括显微镜、对焦系统和精密移动平台7。显微镜包括显微镜主体8、照明光源9、管镜3、物镜4、相机5;对焦系统包括对焦光源1、分光棱镜2和探测器1’。
显微镜物镜4和管镜3中间安装分光棱镜2,自动对焦光源1从外围射出激光,经分光棱镜2反射通过物镜4聚焦在晶圆6上,晶圆6的反射光线返回到物镜4后,分为两部分,一部分光束经分光棱镜2和管镜3成像在相机5,另一部分光经分光棱镜2反射到自动对焦探测器1’,通过参数设定及内部机构换算,精密移动平台7根据结果上下移动,实现自动对焦,同时在相机中,会得到清晰的图像。
在本实用新型中,管镜5和物镜4组成无限远成像系统,无限远校正光学系统中,由标本通过物镜的光线不在物镜成像,而是作为无限远的平行光束进入成像透镜,由成像透镜形成中间像。改变物镜与管镜的间隔,添加分光镜或者棱镜和滤光片等,不会影响原有的成像质量。
在本实用新型中,精密移动平台7需能实现Z轴上下移动,在实际晶圆检测过程中,平台需实现XYZ三轴联动。
在本实用新型中,显微镜的光源9为汞灯,波段为可见光区域,分光棱镜2为普通的分光棱镜,实用性强。
在本实用新型中,显微镜主体8提供稳定的结构,支撑设备的平衡和稳定。
本实用新型的有效技术效果是,通过自动对焦,可解决透明或不透明板上的线条或图像检测问题,,并且可解决不同厚度的基板的焦面的自动调节。相比较传统的对焦方式,本实用新型的对焦方式,对焦时间短,精度高,客观有效的提高了检测精度和速度。

Claims (5)

1.一种具有自动对焦功能的晶圆检测设备,其特征在于:包括显微镜、对焦系统和精密移动平台;
所述显微镜包括照明光源、管镜、物镜、相机;
所述对焦系统包括对焦光源、分光棱镜和探测器;
其特征在于:显微镜物镜和管镜中间安装分光棱镜,自动对焦光源从外围射出激光,经分光棱镜反射通过物镜聚焦在晶圆上,晶圆的反射光线返回到物镜后,分为两部分,一部分光束经分光棱镜和管镜成像在相机,另一部分光经分光棱镜反射到自动对焦探测器,通过参数设定及内部机构换算,精密移动平台根据结果上下移动,实现自动对焦,同时在相机中,会得到清晰的图像。
2.根据权利要求1所述的具有自动对焦功能的晶圆检测设备,其特征在于显微镜的物镜和管镜为无限远光学成像系统。
3.根据权利要求1所述的具有自动对焦功能的晶圆检测设备,其特征在于精密位移平台可实现上下移动。
4.根据权利要求1所述的具有自动对焦功能的晶圆检测设备,其特征在于分光棱镜为可见光半透半反型。
5.根据权利要求1所述的具有自动对焦功能的晶圆检测设备,其特征在于自动对焦光源和探测器在同一部件上。
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