CN205538758U - X射线荧光分析设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了X射线荧光分析设备，属于分析设备技术领域；所述的样品台的前侧设有滤光片；所述的分析箱体内的底部设有驱动装置；所述的分析箱体侧壁的上方设有探测装置；所述的探测装置与模数转换机构连接；所述的X射线发生器设置在分析箱体的前侧；且X射线发生器设置在分析箱体底部的滑轨上；所述的X射线发生器与智能控制装置连接。它结构设计合理，操作方便，灵活性好，可以分析不同距离的X射线的荧光数据，分析结果准度高，分析的效果也高。

Description

X射线荧光分析设备

技术领域：

本实用新型涉及分析设备技术领域，具体涉及X射线荧光分析设备。

背景技术：

X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。被广泛地应用于生命科学、环境科学、考古学、法学以及材料科学等方面。

X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台波长色散X射线荧光分析仪，至60年代本法在分析领域的地位得以确立。现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成:X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统(分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统(脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。不同元素具有波长不同的特征X射线谱，而各谱线的荧光强度又与元素的浓度呈一定关系，测定待测元素特征X射线谱线的波长和强度就可以进行定性和定量分析。本法具有谱线简单、分析速度快、测量元素多、能进行多元素同时分析等优点，是目前大气颗粒物元素分析中广泛应用的三大分析手段之一(其他两方法为中子活化分析和质子荧光分析) 。

荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。

现有的X射线荧光分析仪结构过于分散，设备仪器零部件较多在测试时，前续工作繁琐，易出现失误。

实用新型内容：

针对上述问题，本实用新型要解决的技术问题是提供一种结构设计合理、操作方便、加工效率高且质量稳定的X射线荧光分析设备。

本实用新型的X射线荧光分析设备，它包含分析箱体、样品台、滤光片、驱动装置、探测装置、模数转换机构、X射线发生器、智能控制装置；所述的分析箱体内设有样品台；所述的样品台的前侧设有滤光片；所述的分析箱体内的底部设有驱动装置；所述的分析箱体侧壁的上方设有探测装置；所述的探测装置与模数转换机构连接；所述的X射线发生器设置在分析箱体的前侧；且X射线发生器设置在分析箱体底部的滑轨上；所述的X射线发生器与智能控制装置连接。

作为优选，所述的分析箱体内的一圈都设有滤光片，避免杂事深入箱体中。

作为优选，所述的X射线发生器与分析箱体之间设有伸缩连接管，专用与X射线的发射，避免光的遗漏。

作为优选，所述的探测装置上设监控装置，便于智能控制装置随时掌控分析箱体内的状况。

本实用新型操作时，根据需要调节X射线发生器在轨道上的位置，通过智能控制装置控制X射线发生器的运作，X射线发射到样品台上的样品上，经探测装置的探测，将探测结果通过模数转转机构传递给智能控制装置。

本实用新型的有益效果：它结构设计合理，操作方便，灵活性好，可以分析不同距离的X射线的荧光数据，分析结果准度高，分析的效果也高。

附图说明：

为了易于说明，本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。

图1是本实用新型的结构示意图；

图中：

分析箱体1、样品台2、滤光片3、驱动装置4、探测装置5、模数转换机构6、X射线发生器7、智能控制装置8、滑轨9、伸缩连接管10。

具体实施方式：

如图1所示，本具体实施方式采用以下技术方案：它包含分析箱体1、样品台2、滤光片3、驱动装置4、探测装置5、模数转换机构6、X射线发生器7、智能控制装置8；所述的分析箱体1内设有样品台2；所述的样品台2的前侧设有滤光片3；所述的分析箱体1内的底部设有驱动装置4；所述的分析箱体1侧壁的上方设有探测装置5；所述的探测装置5与模数转换机构6连接；所述的X射线发生器7设置在分析箱体1的前侧；且X射线发生器7设置在分析箱体1底部的滑轨9上；所述的X射线发生器7与智能控制装置8连接。

作为优选，所述的分析箱体1内的一圈都设有滤光片3，避免杂事深入箱体中。

作为优选，所述的X射线发生器7与分析箱体1之间设有伸缩连接管10，专用与X射线的发射，避免光的遗漏。

作为优选，所述的探测装置5上设监控装置，便于智能控制装置8随时掌控分析箱体1内的状况。

本实用新型操作时，根据需要调节X射线发生器7在轨道9上的位置，通过智能控制装置8控制X射线发生器7的运作，X射线发射到样品台2上的样品上，经探测装置5的探测，将探测结果通过模数转转机构6传递给智能控制装置8。

本具体实施方式结构设计合理，操作方便，灵活性好，可以分析不同距离的X射线的荧光数据，分析结果准度高，分析的效果也高。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征以及本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (4)

1.X射线荧光分析设备，其特征在于它包含分析箱体、样品台、滤光片、驱动装置、探测装置、模数转换机构、X射线发生器、智能控制装置；所述的分析箱体内设有样品台；所述的样品台的前侧设有滤光片；所述的分析箱体内的底部设有驱动装置；所述的分析箱体侧壁的上方设有探测装置；所述的探测装置与模数转换机构连接；所述的X射线发生器设置在分析箱体的前侧；且X射线发生器设置在分析箱体底部的滑轨上；所述的X射线发生器与智能控制装置连接。

2.根据权利要求1所述的X射线荧光分析设备，其特征在于所述的分析箱体内的一圈都设有滤光片。

3.根据权利要求1所述的X射线荧光分析设备，其特征在于所述的X射线发生器与分析箱体之间设有伸缩连接管。

4.根据权利要求1所述的X射线荧光分析设备，其特征在于所述的探测装置上设监控装置。