CN205538747U - 一种测试体及测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试体及测试工装。所述测试体包括：线分辨力及穿透分辨力检测卡；所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括：第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条；所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成，所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间，所述非金属板的另一端设置有缺口，所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。该测试体能够有效增强对成像图像真伪的分辨力。

Description

一种测试体及测试工装

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别涉及一种测试体及测试工装。

背景技术

X光安全检查设备，采用X光扫描成像技术，通过对物品进行扫描，并输出影像以供检查人员判断是否夹带违禁品，在飞机场、地铁站、火车站等需要进行安检的场所得到了广泛的应用。而X光安全检查设备的性能是否符合要求，则依赖于测试体进行测试。

现有技术中，X光安全检查设备的测试体是基于《GB T 15208.2-2006微剂量X辐射安全检查设备第2部分：测试体》标准规定的固定形态的测试体。随着图像处理技术的发展，产生了成像图像造假的技术，因此，需要测试体能够对X光安全检查设备成像图像的真伪进行辨别。

为了对X光安全检查设备的测试体的发展情况有更清楚的了解，以下就相关技术进行简要介绍。

1、一种X射线探测器测试仪的开发与应用分析，主要内容：线阵列X射线探测器是X射线安全检查设备的核心部件，X射线探测器测试仪是针对安检设备的基础部件—X射线闪烁探测器的信号增益、本底噪声信号、相邻像素信号串扰等性能指标进行测试而设计的基础部件专用测试仪器。

2、一种用于检测货运X射线安全检查设备的测试装置，包括：底座，升降机，第一测试体安装座，第二测试体安装座和控制单元。该测试装置具有定位准确、调整方便、安装牢固、使用安全，整体自动化程度高的特点。

3、材料分辨测试体，内容主要涉及测试设备的材料分辨能力，也即为GB15208.2—2006《微剂量X射线安全检查设备》标准中的标准测试体B。

4、X射线行李安检机检测装置研制，该项目依据国家标准规定的技术要求和试验方法，结合设备的现场使用条件，通过实验方法研究制订合理可行的X射线行李安检机在线检测方法和检测装置，建立以电离室剂量仪为测量标准、设计制作适合于现场检测要求的图像解析度测试体、材料分辨测试体，并通过现场实验进行完善。

项目研究的主要内容有：(1)研制检测X射线行李安检设备图形分辨力和材料分辨力的专用测试体；(2)选择、试验、改进X射线行李安检机输出空气比释动能测量仪器和X射线泄漏剂量测量仪器；(3)X射线行李安检机现场检测方法研究，参与起草X射线安全检查设备国家计量校准规范。

5、X光机测试箱GB15208.2，本标准内容涉及测试体包括测试体A和测试体B。测试体A为图像解析度测试体，用于测试设备的线分辨力、穿透分辨力、空间分辨力和穿透力；测试体B为材料分辨测试体，用于测试设备的材料分辨能力。测试体内包含测试卡。测试卡安装在测试体内的固定板上，并用上、下防护衬板封装成一长方形的测试体。测试体的防护衬板采用发泡聚乙烯板。

以上技术或专利文献虽然从不同的角度对测试体的技术发展情况进行了介绍，但经过分析发现现有技术中的测试体存在的共通问题是：无法对X光安全检查设备成像图像的真伪进行辨别。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试体及测试工装，能够有效增强对成像图像真伪的分辨力。

一方面，本实用新型提供一种测试体，包括：线分辨力及穿透分辨力检测卡；所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括：第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条；

所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成，所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间，所述非金属板的另一端设置有缺口，所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。

优选地，所述第一金属阶梯为铝阶梯，所述非金属板为塑料板。

优选地，还包括：穿透力检测卡；所述穿透力检测卡包括：第二检测卡底板、第二金属阶梯和多块铅块；所述第二金属阶梯贴合固定在所述第二检测卡底板上，所述第二金属阶梯具有多个阶梯，每个所述阶梯上放置一块所述铅块。

优选地，多块所述铅块的形状相互不同。

优选地，所述铅块的底部镶嵌有磁铁。

优选地，所述第二金属阶梯为钢阶梯，且每个所述阶梯的厚度设置为不同的预设厚度。

优选地，还包括：空间分辨力检测卡；所述空间分辨力检测卡包括：第三检测卡底板和多个检测单元，每个所述检测单元由不同预设直径的漆包铜线构成。

另一方面，本实用新型提供一种测试工装，包括：滑动支架和测试体；所述测试体可拆卸地安装于所述滑动支架上，所述测试体为上述测试体。

优选地，所述滑动支架包括底板、固定支座、移动支座和位置调整机构；

所述固定支座固定在所述底板上，所述位置调整机构设置在所述底板和所述移动支座之间，所述固定支座和所述移动支座上分别安装一个所述测试体。

优选地，还包括：由上箱体和下箱体构成的测试箱体，所述上箱体的一个侧边和所述下箱体的一个侧边固定连接，所述滑动支架和所述测试体容装在所述下箱体中。

本实用新型实施例提供的测试体包括线分辨力及穿透分辨力检测卡；线分辨力及穿透分辨力检测卡包括：第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条；其中，多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成，非金属板的一端设置在第一检测卡底板和第一金属阶梯之间，非金属板的另一端设置有缺口，多块正弦波插条随机并行排布插入缺口中。由于多块正弦波插条的金属丝导体的直径不同，且多块正弦波插条能够随机并行排布，从而得到多种不同组合，能够有效增强对成像图像真伪的分辨力。

本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型实施例提供的一种测试体组装前的结构示意图；

图2为图1所示的测试体组装后的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的一种穿透力检测卡的结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的另外一种穿透力检测卡的结构示意图；

图5为图3所示的一种铅块的结构示意图；

图6为图4所示的另外一种铅块的结构示意图；

图7为本实用新型实施例提供的一种空间分辨力检测卡的结构示意图；

图8为本实用新型实施例提供的一种滑动支架的结构示意图；

图9为本实用新型实施例提供的一种滑动支架的第一安装状态示意图；

图10为本实用新型实施例提供的一种滑动支架的第二安装状态示意图；

图11为本实用新型实施例提供的一种测试工装的结构示意图；

图12为本实用新型实施例提供的另外一种测试工装的结构示意图；

图13为图11中下箱体及容装物的俯视图；

图14为图12中下箱体及容装物的俯视图；

图15为本实用新型实施例提供的一种箱体的结构示意图；

图16为图15所示的箱体的主视图。

附图标记：

1-线分辨力及穿透分辨力检测卡；

11-第一检测卡底板；12-第一金属阶梯；13-非金属板；14-正弦波插条；15-金属丝导体；

2-穿透力检测卡；

21-第二检测卡底板；22-第二金属阶梯；23-铅块；24-磁铁；

3-空间分辨力检测卡；

31-第三检测卡底板；32-检测单元；

4-滑动支架；

41-底板；42-固定支座；43-移动支座；44-位置调整机构；

5-测试箱体；

51-上箱体；52-下箱体；

6-测试工装。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

为了能够对X光安全检查设备进行线分辨力和穿透分辨力检测，本实用新型实施例提供一种测试体，如图1和图2所示，包括：线分辨力及穿透分辨力检测卡1；其中，线分辨力及穿透分辨力检测卡1包括：第一检测卡底板11、第一金属阶梯12、非金属板13和多块正弦波插条14；多块正弦波插条14的金属丝导体15采用不同预设直径的金属丝制成，非金属板13的一端设置在第一检测卡底板11和第一金属阶梯12之间，非金属板13的另一端设置有缺口，多块正弦波插条14随机并行排布插入缺口中。由于该测试体的多块正弦波插条的金属丝导体的直径不同，且能够随机并行排布，可以得到多种不同组合，因此，能够有效增强对成像图像真伪的分辨力。此外，采用插条组合的方式，插入缺口进行测试，安装、拆卸方便。

其中，上述第一金属阶梯12可以采用铝阶梯，非金属板13可以采用塑料板制成，该塑料板上设置有缺口，整体呈凹字形；第一检测卡底板11也可以制成塑料板。

在本实用新型实施例中，可以将线分辨力及穿透分辨力检测卡1的正弦波插条14的金属丝导体15的直径设置为各种不同规格。例如，可以制作为符合GB/T6109.1-2008中的0.063、0.080、0.1、0.125、0.16、0.2、0.25、0.315、0.4、0.5和美标中的AWG24、30、32、34、36、38、40合计17种规格。从而在测试过程中，将多块(例如5块)正弦波插条14随机并行排布插入缺口后，能够得到多种不同的组合，从而对成像造假现象能够进行有效区分。其中，金属丝导体可以采用漆包铜线，从而保证测试效果能够满足要求。

在制造过程中，对金属丝导体的公差控制如下：

a)当0.063mm≤金属丝直径Φ≤0.224mm，公差为±0.003mm；

b)当0.250mm≤金属丝直径Φ≤0.355mm，公差为±0.004mm；

c)当0.400mm≤金属丝直径Φ≤0.500mm，公差为±0.005mm；

d)当0.560mm≤金属丝直径Φ≤0.630mm，公差为±0.006mm；

e)0.800mm≤金属丝直径Φ≤1.000mm，公差为±1％×金属丝直径Φ；

f)金属丝直径Φ＝1.250mm，公差为±0.013mm；

g)1.400mm≤金属丝直径Φ≤2.000mm，公差为±1％×金属丝直径Φ；

h)金属丝直径Φ＝2.240mm，公差为±0.022mm；

i)金属丝直径Φ＝2.500mm，公差为±0.025mm。

其中，每个铝阶梯都可以设置为三级台阶，每级台阶的高度可以为满足标准规定的高度。为了增加组合数量，可以设置两组铝阶梯，其中一组铝阶梯上台阶的高度分别为：9.5mm、15.9mm、22.2mm，另一组铝阶梯上台阶的高度可以分别为：12.3mm、20.7mm、27.1mm。需要说明的是，台阶的高度为自台阶底部至该级台阶上表面的高度，台阶可以按照自高至低的顺序依次排布。

为了能够对X光安全检查设备进行穿透力检测，上述测试体还可以包括如图3所示的穿透力检测卡2，穿透力检测卡2包括：第二检测卡底板21、第二金属阶梯22和多块铅块23；其中，第二金属阶梯22贴合固定在第二检测卡底板21上，第二金属阶梯22具有多个阶梯，每个阶梯上放置一块铅块23。

为了增强穿透力检测过程中对图像成像真伪的分辨力，如图4所示，多块铅块23的形状可以设置为相互不同，在实际应用时，可以在每个阶梯上随机放上一种形状的铅块23，从而增加图像仿真难度，在出现图像造假时，容易进行识别。其中，铅块23的形状可以设置为三角形、圆形、长方形、菱形、五角星形、四叶草形等任意形状。第二检测卡底板21可以设置为塑料板。

为了便于铅块23的拆卸、更换及固定，如图5和图6所示，上述铅块23的底部可以镶嵌有磁铁24。具体可以在厚度为5mm以上的铅块23的下部开槽，再将尺寸与槽相匹配的磁铁24镶嵌进铅块23中，从而保证铅块23能够紧密吸附在第二金属阶梯22上部。

为了进一步增强穿透力检测过程中对图像成像真伪的分辨力，上述第二金属阶梯22可以设置为钢阶梯，且将每个阶梯的厚度设置为不同的预设厚度，通过增加厚度的变化，可以进一步增加组合的种类，增加图像成像造假的难度。具体而言，钢阶梯可以设置为四组，钢阶梯的厚度变化范围可以为5mm至48mm，其中，钢阶梯的厚度为自底部到该级钢阶梯的上表面的高度，钢阶梯的厚度具体可以采用：5mm、7mm、10mm、12mm、14mm、16mm、18mm、20mm、22mm、25mm、27mm、30mm、32mm、34mm、36mm、38mm、40mm、43mm、46mm和48mm，阶梯可以按照自高至低的顺序进行排布。其中，钢阶梯厚度的公差范围可以设置为：±0.2mm。

如图7所示，上述测试体还可以包括：空间分辨力检测卡3；其中，空间分辨力检测卡3包括：第三检测卡底板31和多个检测单元32，每个检测单元32由不同直径的漆包铜线构成，从而能够增强图像成像造假的分辨力。

其中，上述第三检测卡底板31也可以采用塑料板。

在一个实施例中，可以将空间分辨力检测卡的检测范围设置为：Ф0.6～Ф2.5共8个检测单元，分别为：Ф0.6mm、Ф0.8mm、Ф1.0mm、Ф1.2mm、Ф1.6mm、Ф2.0mm、Ф2.1mm、Ф2.5，从而增加图像仿真难度，在出现图像造假时，及时进行识别。

本实用新型实施例另外提供一种测试工装，包括：滑动支架4和上述测试体；其中，测试体可拆卸地安装于滑动支架4上。由于测试体可以方便地进行拆卸、安装，从而实现不同的组合，对不同的项目进行测试。

如图8所示，为本实用新型实施例提供的一种滑动支架4的结构示意图，包括底板41、固定支座42、移动支座43和位置调整机构44；固定支座42固定在底板41上，位置调整机构44设置在底板41和移动支座43之间，固定支座42和移动支座43上分别安装一个上述测试体。

在本实施例中，通过上述位置调整机构44能够使移动支座43产生位移，从而调整测试体之间的相对位置、布局，其中，测试工装的调节精度≤1mm，从而进一步增加图像仿真难度，在出现图像造假时，及时进行识别。

如图9至图16所示，上述测试工装还包括：由上箱体51和下箱体52构成的测试箱体5，上箱体51的一个侧边和下箱体52的一个侧边固定连接，其中，滑动支架4和测试体容装在下箱体52中。

其中，测试工装中的位置调整机构44可以采用微型高精度导轨，以达到较高的定位精度。当使用直线导轨作为线性导引时，由于直线导轨的摩擦方式为滚动摩擦，不仅摩擦系数降低至滑动导引的1/50，动摩擦力与静摩擦力的差距亦变得很小。因此当平台运行时，不会有打滑的现象发生，可达到μm级的定位精度。由于直线导轨移动时摩擦力非常小，只需较小动力便能让平台运行，尤其是在平台的工作方式为经常性往返运行时，更能明显降低平台电力损耗量，且其摩擦产生的热量较小，可适用于高速运行。

此外，可以将测试工装中的导轨设计成可同时承受上下、左右方向的负荷，由于直线导轨特殊的束制结构设计，可同时承受上、下、左、右方向的负荷，能够克服滑动导引在平行接触面方向无法承受较重的侧向负荷的缺陷。

另外，测试工装中的位置调整机构44还可以采用微型滚珠丝杠副，由于滚珠丝杠副的丝杠轴与丝杠螺母之间有很多滚珠在做滚动运动，所以能得到较高的运动效率。与滑动丝杠副相比驱动力矩将至1/3以下，即达到同样运动结果所需的动力为使用滚动丝杠副的1/3。微型滚珠丝杠是高精度的保证。滚珠丝杠副是一般是用世界最高水平的机械设备连贯生产出来的，特别是在研削、组装、检查各工序的工厂环境方面，对温度、湿度进行了严格的控制，由于完善的品质管理体制使精度得以充分保证。滚珠丝杠副将使微进给成为可能。滚珠丝杠副由于是利用滚珠运动，所以启动力矩极小，不会出现滑动运动那样的爬行现象，能保证实现精确的微进给。滚珠丝杠副无侧隙、刚性高。滚珠丝杠副可以加预压，由于预压力可使轴向间隙达到负值，进而得到较高的刚性(滚珠丝杠内通过给滚珠加预压力，在实际用于机械装置时，由于滚珠的斥力可使丝母部的刚性增强)。

本实施例提供的测试工装，通过对测试体之间相对位置的调整，能够增加图像仿真的难度，从而有效增强对成像图像真伪的分辨力。

显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种测试体，其特征在于，包括：线分辨力及穿透分辨力检测卡；

所述线分辨力及穿透分辨力检测卡包括：第一检测卡底板、第一金属阶梯、非金属板和多块正弦波插条；所述多块正弦波插条的金属丝导体采用不同预设直径的金属丝制成，所述非金属板的一端设置在所述第一检测卡底板和所述第一金属阶梯之间，所述非金属板的另一端设置有缺口，所述多块正弦波插条随机并行排布插入所述缺口中。

2.根据权利要求1所述的测试体，其特征在于：所述第一金属阶梯为铝阶梯，所述非金属板为塑料板。

3.根据权利要求1所述的测试体，其特征在于，还包括：穿透力检测卡；

所述穿透力检测卡包括：第二检测卡底板、第二金属阶梯和多块铅块；

所述第二金属阶梯贴合固定在所述第二检测卡底板上，所述第二金属阶梯具有多个阶梯，每个所述阶梯上放置一块所述铅块。

4.根据权利要求3所述的测试体，其特征在于：多块所述铅块的形状相互不同。

5.根据权利要求3或4任一项所述的测试体，其特征在于：所述铅块的底部镶嵌有磁铁。

6.根据权利要求5所述的测试体，其特征在于：所述第二金属阶梯为钢阶梯，且每个所述阶梯的厚度设置为不同的预设厚度。

7.根据权利要求1或3任一项所述的测试体，其特征在于，还包括：空间分辨力检测卡；

所述空间分辨力检测卡包括：第三检测卡底板和多个检测单元，每个所述检测单元由不同预设直径的漆包铜线构成。

8.一种测试工装，其特征在于，包括：

滑动支架和测试体；所述测试体可拆卸地安装于所述滑动支架上，所述测试体为权利要求1至7任一项所述的测试体。

9.根据权利要求8所述的测试工装，其特征在于：

所述滑动支架包括底板、固定支座、移动支座和位置调整机构；

所述固定支座固定在所述底板上，所述位置调整机构设置在所述底板和所述移动支座之间，所述固定支座和所述移动支座上分别安装一个所述测试体。

10.根据权利要求8或9任一项所述的测试工装，其特征在于，还包括：由上箱体和下箱体构成的测试箱体，所述上箱体的一个侧边和所述下箱体的一个侧边固定连接，所述滑动支架和所述测试体容装在所述下箱体中。