CN205484690U - 一种适用于pcb测试治具的微型探针 - Google Patents

一种适用于pcb测试治具的微型探针 Download PDF

Info

Publication number
CN205484690U
CN205484690U CN201521125543.2U CN201521125543U CN205484690U CN 205484690 U CN205484690 U CN 205484690U CN 201521125543 U CN201521125543 U CN 201521125543U CN 205484690 U CN205484690 U CN 205484690U
Authority
CN
China
Prior art keywords
pcb test
pcb
needle body
plastochondria
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201521125543.2U
Other languages
English (en)
Inventor
苏宝军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dongguan Lianwei Electronic Co ltd
Original Assignee
Dongguan Lianwei Electronic Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dongguan Lianwei Electronic Co ltd filed Critical Dongguan Lianwei Electronic Co ltd
Priority to CN201521125543.2U priority Critical patent/CN205484690U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN205484690U publication Critical patent/CN205484690U/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本实用新型涉及PCB测试设备技术领域,尤其涉及一种适用于PCB测试治具的微型探针。本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,包括导电针体,还包括绝缘粒体,绝缘粒体固定于导电针体的中段,导电针体的直径为0.1~0.2mm。本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,绝缘粒体无法穿过PCB测试治具的模板,避免该探针被拉动,提高了PCB测试治具的可靠性;导电针体的直径为0.1~0.2mm,可以用于测试体积较小的、高精度的PCB。本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,工作时,与弹簧连线连接良好,性能稳定,提高了PCB测试治具的可靠性。

Description

一种适用于PCB测试治具的微型探针
技术领域
本实用新型涉及PCB测试设备技术领域,尤其涉及一种适用于PCB测试治具的微型探针。
背景技术
目前,PCB测试机种所使用的弹簧连线包括经弹簧丝一体绕成的测试探针托体,电子导线焊接于弹簧下端。测试探针能上下活动地置于探针板中,处于PCB待测点下方,测试探针活动接触于弹簧上端,在PCB测试时,上下测试治具中的探针板互向对PCB挤压,使探针板中的测试探针上端在接触到电路板测试点的同时,测试探针的下端下移接触到弹簧连线中的弹簧上端托体,测试电流将通过测试机排线流到电子导线,通过电子导线转流到弹簧,经绕过弹簧后再流到测试探针从而实现导电测试。弹簧的作用是对测试探针的下移起到缓冲作用,避免测试探针扎伤PCB。现有的探针,结构简单,易与弹簧发生脱离,性能不稳定。
因此有必要提供一种性能可靠的、不易与弹簧发生脱离的探针。
实用新型内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的不足提供一种适用于PCB测试治具的微型探针,性能可靠,不易与弹簧脱离。
为实现上述目的,本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,包括导电针体,还包括绝缘粒体,绝缘粒体固定于导电针体的中段,导电针体的直径为0.1~0.2mm。
优选的,所述导电针体的直径为0.15mm。
优选的,所述绝缘粒体呈圆柱状。
优选的,所述绝缘粒体为塑料材质的绝缘粒体。
优选的,所述导电针体的一端沿导电针体的轴线方向依次设置有第一扁平段和针尖段。
优选的,所述扁平段的长度为1mm~3mm。
优选的,所述导电针体的另一端的末端设置有防脱部。
优选的,所述防脱部呈球状。
优选的,所述防脱部的一侧设置有第二扁平部,绝缘粒体包覆于第二扁平部。
本实用新型的有益效果:本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,工作时,绝缘粒体无法穿过PCB测试治具的模板,避免该探针被拉动,避免将探针从PCB测试治具的模板拔出造成该探针与弹簧连线的弹簧脱离,提高了PCB测试治具的可靠性;导电针体的直径为0.1~0.2mm,可用于检测排列较密的PCB待测点,可以用于测试体积较小的、高精度的PCB。本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,工作时,与弹簧连线连接良好,性能稳定,提高了PCB测试治具的可靠性。
附图说明
图1为本实用新型的实施例一的结构示意图。
图2为本实用新型的实施例二的结构示意图。
图3为图2中A-A方向的剖视结构示意图。
附图标记包括:
1—导电针体
11—第一扁平段 12—针尖段 13—防脱部
14—第二扁平部
2—绝缘粒体。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。
实施例一。
如图1所示,本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,包括导电针体1,还包括绝缘粒体2,绝缘粒体2固定于导电针体1的中段,导电针体1的直径为0.1~0.2mm。工作时,本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针的一端与弹簧连线的弹簧体连接,该探针的另一端穿过PCB测试治具的模板后与PCB待测点电连接,绝缘粒体2无法穿过PCB测试治具的模板,避免该探针被拉动,避免将探针从PCB测试治具的模板拔出造成该探针与弹簧连线的弹簧脱离,提高了PCB测试治具的可靠性;导电针体1的直径为0.1~0.2mm,可用于检测排列较密的PCB待测点,可以用于测试体积较小的、高精度的PCB。本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,工作时,与弹簧连线连接良好,性能稳定,提高了PCB测试治具的可靠性。进一步优选的,所述绝缘粒体2呈圆柱状。
优选的,所述导电针体1的直径为0.15mm,可用于检测手机、智能手表等PCB待测点密度较高的PCB。
为了便于加工,所述绝缘粒体2为塑料材质的绝缘粒体,塑料材质的绝缘粒体2,可通过注塑形成,可先将导电针体1固定于注塑模腔,然后将熔融的塑料注入模腔,冷却后开模即可形成本实用新型的微型探针,另外塑料材质的绝缘粒体2绝缘效果好。本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,便于实施,成本低,性能可靠。
如图1所示,所述导电针体1的一端沿导电针体1的轴线方向依次设置有第一扁平段11和针尖段12。第一扁平段11可代替黑胶棉,防止卡针,提高了该微型探针的可靠性,针尖段12用于与PCB待测点接触,导电效果好,本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,可靠性高。进一步优选的,所述扁平段的长度为1mm~3mm。
实施例二。
如图2、3所示,本实施例与实施例一不同之处在于,所述导电针体1的另一端的末端设置有防脱部13;工作时,防脱部13与外部弹簧连线的弹簧体过盈配合,弹簧体与导线体连接时,将防脱部13嵌于弹簧体的一端即可完成连接,连接效率高,且连接稳定,避免弹簧体与导线体松脱;本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,便于与外部的弹簧体连接,性能可靠,不易发生故障。
如图2所示,所述防脱部13呈球状。球状的防脱部13可通过将该探针的一端熔融一小段后形成。进一步优选的,所述防脱部13呈椭球状,椭球状的防脱部13的末端具有一定的锥度,便于弹簧体套接于防脱部13。本实用新型的一种适用于PCB测试治具的微型探针,于实施,成本低。
优选的,所述防脱部13的一侧设置有第二扁平部14,绝缘粒体2包覆于第二扁平部14,扁平部对绝缘粒体2的轴向移动起到限制作用,避免绝缘粒体2与导电针体1松脱,提高了本实用新型的适用于PCB测试治具的微型探针的可靠性。
本实施例的其余部分与实施例一相同,在本实施例中未解释的特征,均采用实施例一的解释,这里不再进行赘述。
综上所述可知本实用新型乃具有以上所述的优良特性,得以令其在使用上,增进以往技术中所未有的效能而具有实用性,成为一极具实用价值的产品。
以上内容仅为本实用新型的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本实用新型的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (9)

1.一种适用于PCB测试治具的微型探针,包括导电针体(1),其特征在于:还包括绝缘粒体(2),绝缘粒体(2)固定于导电针体(1)的中段,导电针体(1)的直径为0.1~0.2mm。
2. 根据权利要求1所述的一种适用于PCB测试治具的微型探针,其特征在于:所述导电针体(1)的直径为0.15mm。
3. 根据权利要求1所述的一种适用于PCB测试治具的微型探针,其特征在于:所述绝缘粒体(2)呈圆柱状。
4. 根据权利要求1所述的一种适用于PCB测试治具的微型探针,其特征在于:所述绝缘粒体(2)为塑料材质的绝缘粒体。
5. 根据权利要求1所述的一种适用于PCB测试治具的微型探针,其特征在于:所述导电针体(1)的一端沿导电针体(1)的轴线方向依次设置有第一扁平段(11)和针尖段(12)。
6. 根据权利要求5所述的一种适用于PCB测试治具的微型探针,其特征在于:所述扁平段的长度为1mm~3mm。
7. 根据权利要求5所述的一种适用于PCB测试治具的微型探针,其特征在于:所述导电针体(1)的另一端的末端设置有防脱部(13)。
8. 根据权利要求7所述的一种适用于PCB测试治具的微型探针,其特征在于:所述防脱部(13)呈球状。
9. 根据权利要求7所述的一种适用于PCB测试治具的微型探针,其特征在于:所述防脱部(13)的一侧设置有第二扁平部(14),绝缘粒体(2)包覆于第二扁平部(14)。
CN201521125543.2U 2015-12-31 2015-12-31 一种适用于pcb测试治具的微型探针 Expired - Fee Related CN205484690U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201521125543.2U CN205484690U (zh) 2015-12-31 2015-12-31 一种适用于pcb测试治具的微型探针

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201521125543.2U CN205484690U (zh) 2015-12-31 2015-12-31 一种适用于pcb测试治具的微型探针

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN205484690U true CN205484690U (zh) 2016-08-17

Family

ID=56662987

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201521125543.2U Expired - Fee Related CN205484690U (zh) 2015-12-31 2015-12-31 一种适用于pcb测试治具的微型探针

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN205484690U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107607753A (zh) * 2017-09-20 2018-01-19 上达电子(深圳)股份有限公司 一种测试治具新型探针

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107607753A (zh) * 2017-09-20 2018-01-19 上达电子(深圳)股份有限公司 一种测试治具新型探针
CN107607753B (zh) * 2017-09-20 2021-08-17 上达电子(深圳)股份有限公司 一种测试治具新型探针

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN205333701U (zh) 一种微型绝缘探针
CN105044406B (zh) 电流探针
CN204287257U (zh) 一种多点接触式弹片型探针组件
CN105308464A (zh) 测试探针、测试探针组件及测试平台
CN205484690U (zh) 一种适用于pcb测试治具的微型探针
CN106645818A (zh) 大电流导电装置
CN201673179U (zh) Av端口专用测试探针
CN203225379U (zh) 磁吸式电源连接器
CN206388874U (zh) 一种耐腐蚀且低阻抗的弹簧探针
CN205720552U (zh) 一种避免损伤pcb板的复合测试治具
CN203232966U (zh) 一种免焊接直插式串口接头
CN205720550U (zh) 一种专用微针测试治具
CN203909240U (zh) 一种基于pcb射频信号的检测装置
CN201146273Y (zh) 弹簧式接触探针
JP2004333459A (ja) コンタクトプローブ、これを用いた半導体及び電気検査装置
CN206740837U (zh) 具有引线的分流器
CN201413340Y (zh) 线路板测试用转接弹簧
CN106093752A (zh) 一种应用于集成电路的测试探针卡
CN205749594U (zh) 一种微型弹簧连线
CN108931668B (zh) 大电流导电装置
CN110542770A (zh) 非接触式试电笔
CN203164235U (zh) 一种具有绝缘套圈的弹性探针
CN217007620U (zh) 一种电池测试探针
CN205317828U (zh) 一种探针
CN204789899U (zh) 一种测试适配器

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20160817

Termination date: 20211231