CN205354930U - 一种新型结构的金属薄膜开关 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种新型结构的金属薄膜开关,包括金属弹片、薄膜及导电基,所述金属弹片呈拱形状,金属弹片的上端面为圆弧凸面,薄膜覆盖于金属弹片的上端面;所述薄膜的上端面设置一凸起面,该凸起面位于薄膜的上端中间处,凸起面内部形成一凹腔,导电基设置于该凹腔内;导电基的下端面直接与金属弹片的上端面接触,导电基的上端为位于凸起面内部凹腔内。本实用新型将导电基设置于金属弹片与薄膜之间,因此在使用时按键动作不会影响金属弹片的形变过程,解决按压手感差以及在生产组装导致偏位重复返修的问题,还能降低塑胶键的制作成本。

Description

一种新型结构的金属薄膜开关
技术领域
本实用新型涉及一种新型结构的金属薄膜开关。
背景技术
如图1所示,原有的金属薄膜开关由薄膜以及金属弹片制成,此结构在整个按键模组里面需要有塑胶键上自带的导电基对准金属弹片中心按压,才会起到导通作用,这种结构在使用时,因为薄膜是一层带胶的PET材质,PET材质较硬不仅会影响整个按键作用力的传导还会导致整个金属弹片的形变受限制,从而影响按键的按压手感。
按键从金属弹片贴合薄膜到与塑胶胶组装或整机装配的工程公差都比较大,其导电基也不是在金属弹片的正中心,这会对整个机器的按键按压手感影响非常大。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种将导电基设置于金属弹片与薄膜之间,因此在使用时按键动作不会影响金属弹片的形变过程,解决按压手感差以及在生产组装导致偏位重复返修的问题,还能降低塑胶键的制作成本的新型结构的金属薄膜开关。
本实用新型是通过以下技术方案来实现的:一种新型结构的金属薄膜开关,包括金属弹片、薄膜及导电基,所述金属弹片呈拱形状,金属弹片的上端面为圆弧凸面,薄膜覆盖于金属弹片的上端面;
所述薄膜的上端面设置一凸起面,该凸起面位于薄膜的上端中间处,凸起面内部形成一凹腔,导电基设置于该凹腔内;
导电基的下端面直接与金属弹片的上端面接触,导电基的上端为位于凸起面内部凹腔内。
作为优选的技术方案,所述导电基的高度在0.1到0.5mm之间。
本实用新型的有益效果是:本实用新型将导电基设置于金属弹片与薄膜之间,因此在使用时按键动作不会影响金属弹片的形变过程,解决按压手感差以及在生产组装导致偏位重复返修的问题,还能降低塑胶键的制作成本。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术的中的结构示意图;
图2为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
本说明书中公开的所有特征,或公开的所有方法或过程中的步骤,除了互相排斥的特征和/或步骤以外,均可以以任何方式组合。
本说明书(包括任何附加权利要求、摘要和附图)中公开的任一特征,除非特别叙述,均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即,除非特别叙述,每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。
如图2所示,本实用新型的一种新型结构的金属薄膜开关,包括金属弹片2、薄膜1及导电基3,所述金属弹片2呈拱形状,金属弹片2的上端面为圆弧凸面,薄膜1覆盖于金属弹片2的上端面;
所述薄膜1的上端面设置一凸起面,该凸起面位于薄膜的上端中间处,凸起面内部形成一凹腔,导电基3设置于该凹腔内;
导电基3的下端面直接与金属弹片2的上端面接触,导电基3的上端为位于凸起面内部凹腔内。
其中,导电基3的高度在0.1到0.5mm之间,薄膜的凸起面可根据导电基的高度而调节,这样导电基区域明显,在按键动作时也不会影响METALD形变过程,影响其手感,使用时,导电基直接与金属弹片接触,解决偏位问题,增加按压手感。
本实用新型的有益效果是:本实用新型将导电基设置于金属弹片与薄膜之间,因此在使用时按键动作不会影响金属弹片的形变过程,解决按压手感差以及在生产组装导致偏位重复返修的问题,还能降低塑胶键的制作成本。
以上所述,仅为本实用新型的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何不经过创造性劳动想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

Claims (2)

1.一种新型结构的金属薄膜开关,其特征在于:包括金属弹片、薄膜及导电基,所述金属弹片呈拱形状,金属弹片的上端面为圆弧凸面,薄膜覆盖于金属弹片的上端面;
所述薄膜的上端面设置一凸起面,该凸起面位于薄膜的上端中间处,凸起面内部形成一凹腔,导电基设置于该凹腔内;
导电基的下端面直接与金属弹片的上端面接触,导电基的上端为位于凸起面内部凹腔内。
2.根据权利要求1所述的新型结构的金属薄膜开关,其特征在于:所述导电基的高度在0.1到0.5mm之间。
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