CN205353331U - 一种高灵敏度单芯片推挽式tmr磁场传感器 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，包括衬底、位于衬底上的形成叉指结构的两个梳状软磁通量集中器，两个梳状软磁通量集中器分别包括N和N-1个矩形梳齿，N为整数且N>1，及各自对应的梳座，一个梳状软磁通量集中器的梳齿与另一个梳状软磁通量集中器的梳座沿X方向形成gap间隙，相邻梳齿沿+Y方向形成标号为2m-1的奇space间隙和2m的偶space间隙，m为整数且0<m<N，推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串分别位于奇space间隙和偶space间隙内，并电连接成推挽式磁电阻传感单元电桥，磁电阻传感单元磁性钉扎层磁化方向同为Y方向，X方向外磁场B_(x-ext)与Y方向space间隙处B_y磁场分量的磁场增益系数ANS＝B_y/B_(x-ext)大于1，本实用新型具有结构简单、高灵敏度、低功耗的优点。

Description

一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器

技术领域

本实用新型涉及磁性传感器领域，特别涉及一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器。

背景技术

加工高灵敏度单芯片线性TMR磁场传感器存在的主要困难在于如下两个方面，其一，对于推挽桥式线性磁电阻传感器，要求对应推臂的推磁电阻传感单元和对应挽臂的挽磁电阻传感单元分别设置相反的钉扎层方向；其二，对于参考桥式线性磁电阻传感器，要求参考臂对应的参考磁电阻传感单元被磁屏蔽，其存在主要问题如下：

(1)、对于推挽桥式磁电阻传感器，需要开发一种能够对磁电阻传感单元钉扎层磁化方向进行局域编程磁化的新技术；该技术需要高昂的费用；磁电阻传感单元钉扎层磁化方向进行局域编程技术的可靠性还未知；

(2)、对于参考桥式磁电阻传感器，其灵敏度只有最大可能灵敏度的一半，此外，磁电阻值较高，使得参考桥式磁电阻传感器的输出线性度较差。

实用新型内容

为了克服以上问题，本实用新型开发了通量集中器的设计，主要优点在于，长的叉指结构通量集中器用于提高外磁场增益，通量集中器与附近的TMR隧道磁阻传感单元互相交替排列，从而可以产生推挽式磁场轮廓，并作用于磁电阻传感单元，该实用新型使得单芯片线性磁电阻器件具有高的磁场灵敏度和好的线性。

本实用新型提出了一种新的Y轴磁电阻传感器的设计方案，采用叉指状软磁通量集中器实现X磁场在叉指间隙处转变成-Y和+Y两个大小相同、方向相反的磁场，而间隙处的磁电阻传感单元具有相同的磁多层薄膜结构和Y轴敏感方向，从而实现了推挽式Y轴磁电阻传感器的制备，此外，所述叉指状软磁通量集中器还能实现磁场的幅度的放大，从而实现一种高灵敏度推挽式磁电阻传感器的制造。

本实用新型所提出的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，包括衬底、位于所述衬底之上的两个梳状软磁通量集中器，一个梳状软磁通量集中器包括梳座和N个长度×宽度为Lx×Ly的矩形梳齿，另一个梳状软磁通量集中器包括梳座和N-1个长度×宽度为Lx×Ly的矩形梳齿，N为大于1的整数，两个梳状软磁通量集中器的梳齿相互交叉形成叉指结构，一个梳状软磁通量集中器的梳齿与另一个梳状软磁通量集中器的梳座之间沿X方向形成gap间隙，所述gap间隙长度为Lgx，相邻所述梳齿之间形成space间隙，所述space间隙分为沿+Y方向形成的标号分别为2m-1的奇space间隙和2m的偶space间隙，所述space间隙长度为Lsx，宽度为Lsy，其中m为整数，且0<m<N；

还包括推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串，所述推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串分别位于所述奇space间隙和所述偶space间隙内且平行于X方向，推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串分别位于所述奇space间隙和所述偶space间隙内且平行于X方向，所述推磁电阻传感单元串电连接成推臂，所述挽磁电阻传感单元串电连接成挽臂，所述推臂和挽臂电连接成推挽式磁电阻传感单元电桥，所述推磁电阻传感单元串包括多个推磁电阻传感单元，所述挽磁电阻传感单元串包括多个挽磁电阻传感单元，所述推磁电阻传感单元和挽磁电阻传感单元磁性钉扎层磁化方向同为+Y或-Y方向，X或-X方向外磁场B_(x-ext)与Y或-Y方向所述space间隙处磁场分量B_y的磁场增益系数ANS＝B_y/B_(x-ext)大于1。

所述梳座为矩形，其长为Lex，宽为Ley。

还包括两个矩形软磁通量集中器，所述矩形软磁通量集中器长和宽分别平行于X和Y方向，且分别放置于距离所述叉指结构+Y端和-Y端相同距离的两个位置处。

所述梳座为瓶塞状，包括一个矩形以及一个梯形，所述梯形的短底边与所述梳齿相连，所述梯形的大长底边为所述梯形与所述矩形的公共边。

电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串所在的所述奇space间隙和偶space间隙标号之和为2N+1，即对于任一个标号为2m-1的所述推磁电阻传感单元串，存在着另一个标号为2(N-m+1)的所述挽磁电阻传感单元串，对于任何一个标号为2m的所述挽磁电阻传感单元串，存在着另一个标号为2(N-m)+1的所述推磁电阻传感单元串。所述的磁场增益系数ANS通过增加所述梳齿宽度Ly或减小所述space间隙宽度Lsy来提高。

所述的磁场增益系数ANS通过减小所述space间隙长度Lsx或增加所述gap间隙长度Lgx来提高。

所述的磁场增益系数ANS通过增加所述梳座长宽比、增加Lex、减小Ley或减小所述梳齿数量N来提高。

所述梳齿宽度Ly范围为20-200um，所述space间隙宽度Lsy范围为6-200um。

所述space间隙长度Lsx范围为10-200um，所述gap间隙长度Lgx在范围为20-500um。

所述Lex长度范围为20-2000um，所述梳齿数量N的范围为2≤N≤10。

所述推磁电阻传感单元和挽磁电阻传感单元为TMR传感单元，其中钉扎层方向平行于Y轴方向，自由层方向平行于X轴方向。

没有外加磁场时，所述推磁电阻传感单元和挽磁电阻传感单元通过永磁偏置、双交换作用、形状各向异性或者任意结合来使磁性自由层的磁化方向与磁性钉扎层的磁化方向垂直。

所述推挽式磁电阻传感单元电桥为半桥、全桥或者准桥。

所述推臂上的推磁电阻传感单元和所述挽臂上的挽磁电阻传感单元的数量相同。

所述梳状软磁通量集中器的材料为包含Fe、Ni、Co元素中的一种或多种的软磁合金。

所述衬底材料为玻璃或者硅片，且所述衬底上含有ASIC集成电路。所述ASIC集成电路为CMOS、BiCMOS、Bipolar、BCDMOS或者SOI。

所述衬底材料为玻璃或者硅片，且所述衬底与ASIC芯片相连接。所述ASIC芯片包含有偏移电路、增益电路、校准电路、温度补偿电路和逻辑电路中的任一种或多种应用电路。所述逻辑电路为数字开关电路或者旋转角度计算电路。由于上述技术方案，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型采用叉指结构软磁通量集中器，并在叉指间隙处交替设置TMR磁电阻传感单元，使得单芯片推挽式TMR磁场传感器具有高的磁场灵敏度和好的线性。本实用新型还具有结构简单、功耗低的优点。

附图说明

图1显示了叉指结构软磁通量集中器结构一；

图2显示了叉指结构软磁通量集中器结构二；

图3显示了叉指结构软磁通量集中器结构三；

图4为高灵敏度推挽式磁电阻传感器结构图；

图5为推挽磁电阻传感单元串在叉指结构软磁通量集中器中的分布图；

图6为X外磁场作用下叉指结构软磁通量集中器间隙处Y磁场分布图；

图7为Y外磁场作用下叉指结构软磁通量集中器间隙处Y磁场分布图；

图8为瓶塞状梳座的叉指结构软磁通量集中器磁力线分布图；

图9为矩形梳座的叉指结构软磁通量集中器磁力线分布图；

图10显示了叉指结构软磁通量集中器磁场增益因子随space间隙长度Lsx变化；

图11显示了叉指结构软磁通量集中器磁场增益因子随space间隙宽度Lsx变化；

图12显示了叉指结构软磁通量集中器磁场增益因子随gap间隙宽度Lgx变化；

图13显示了叉指结构软磁通量集中器磁场增益因子随梳齿宽度Ly变化；

图14显示了叉指结构软磁通量集中器磁场增益因子随梳座长度Lex变化。

具体实施方式

下面将参考附图并结合实施例，来详细说明本实用新型。

实施例一

图1为叉指结构软磁通量集中器结构一1，包括两个梳状软磁通量集中器4和7，其中梳状软磁通量集中器4包括梳座2和N个矩形梳齿3(i)，i为从1到N的整数，梳状软磁通量集中器7包括梳座5和N-1个矩形梳齿6(j)，j为从1到N-1的整数，每个所述矩形梳齿3(i)和6(j)的长度为Lx，宽度为Ly。本结构1中所述梳座2和5均为矩形，长度为Lex，宽度为Ley，梳状软磁通量集中器4和7的梳齿相互交叉形成叉指结构，其中，任一矩形梳齿3(i)与梳座5之间、以及任一矩形梳齿6(j)与梳座2之间沿X方向形成长度为Lgx的gap间隙，相邻所述梳齿3(i)和6(j)之间形成space间隙，所述space间隙分为沿+Y方向交替形成的标号为2m-1的奇space间隙g(2m-1)和标号为2m的偶space间隙g(2m)，所述奇space间隙和偶space间隙的长度为Lsx，宽度为Lsy，其中m为整数，且0<m<N。

图2为叉指结构软磁通量集中器结构二8，其与叉指结构软磁通量集中器结构一1的不同之处在于，梳座13和18为瓶塞状，梳座13包括一个矩形9以及一个梯形10，梯形10的短底边11与梳齿连接，长底边12与矩形9相连；梳座18包括矩形14和梯形15，梯形15的短底边16与梳齿连接，其长底边17与矩形14相连。

图3为叉指结构软磁通量集中器结构三20，其不同之处在于，在叉指结构软磁通量集中器结构21的+Y端和-Y端分别增加了一个长条形软磁通量集中器22和23，软磁通量集中器22到叉指结构软磁通量集中器结构21的+Y端的距离与软磁通量集中器23到叉指结构软磁通量集中器结构21的-Y端的距离相等。叉指结构软磁通量集中器结构21可以是上述叉指结构软磁通量集中器结构一1或叉指结构软磁通量集中器结构二8。

图4为高灵敏度推挽式磁电阻传感器结构图30，包括衬底31，位于衬底31之上的形成叉指结构的梳状软磁通量集中器36和37，以及推磁电阻传感单元串38和挽磁电阻传感单元串39；梳状软磁通量集中器36和37的梳齿相互交叉，并沿+Y方向交替形成奇space间隙g(2m-1)和偶space间隙g(2m)，推磁电阻传感单元串38位于奇space间隙g(2m-1)，挽磁电阻传感单元串39位于偶space间隙g(2m)，所述推磁电阻传感单串38电连接成推臂，挽磁电阻传感单元串39电连接成挽臂，推臂和挽臂通过导线40电连接成桥式结构，并连接到电源32和地电极35，输出信号电极33和34。

图5为推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串在叉指结构间隙中的分布图，实际对应为图4中椭圆区域，外磁场B_(x-ext)经过叉指结构软磁通量集中器之后，分别在间隙51和间隙52中产生B_y磁场分量和-B_y磁场分量并分别作用于推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串，所对应的磁场增益因子为ANS＝B_y/B_(x-ext)，其中推磁电阻传感单元和挽磁电阻传感单元具有相同的磁场敏感方向53，即为沿+Y或者-Y方向，此外，为了保证推挽式磁电阻传感器具有更高的磁场灵敏度，要求ANS大于1，即能够对外磁场进行放大。

梳状软磁通量集中器的材料为包含Fe、Ni、Co等元素中的一种或多种的软磁合金。

所述衬底材料为玻璃或者硅片，且所述衬底上含有ASIC集成电路，所述ASIC集成电路为CMOS、BiCMOS、Bipolar、BCDMOS或者SOI；或所述衬底与另外的ASIC芯片相连接，所述ASIC芯片包含有偏移电路、增益电路、校准电路、温度补偿电路和逻辑电路中的任一种或多种应用电路，所述逻辑电路为数字开关电路或者旋转角度计算电路。

图6为叉指结构软磁通量集中器在X磁场作用下，各奇space间隙和偶space间隙处Y磁场分量的变化图，可以看出，所述奇space间隙和偶space间隙处的Y磁场分量具有相反的磁场方向，此外，其幅度相同。

图7为叉指结构软磁通量集中器在Y磁场作用下，各奇space间隙和偶space间隙处Y磁场分量的变化图，可以看出，Y磁场分量在各奇space间隙和偶space间隙处的幅度大小并不一致，标号为从1到N的space间隙Y磁场分量具有中心对称的特点，即标号和为1+N的两个space间隙具有相同的Y磁场分量。因此，在构造推挽式磁电阻传感器所包含的推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串时，为了保证推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串在Y磁场作用下，推臂和挽臂上的电阻完全相同，从而产生0信号输出，除了要求推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串分别交替位于奇space间隙和偶space间隙之外，所述磁电阻传感单元串的分布还必须满足如下条件，即对于任一个标号为2m-1的所述推磁电阻传感单元串，必须存在另一个标号为2(N-m+1)的所述挽磁电阻传感单元串，对于任何一个标号为2m的所述挽磁电阻传感单元串，必须存在另一个标号为2(N-m)+1的所述推磁电阻传感单元串，其中m为整数，且0<m<N。

图8和图9分别为瓶塞形梳座和矩形梳座的叉指状软磁通量集中器在X外磁场作用下磁力线分布图，比较可以看出，相对于矩形梳座结构，瓶塞状梳座能够将磁力线更有效的集中在space间隙处，因此具有更高的磁场增益。

图10-14分别给出了推挽式磁电阻传感器的增益因子随叉指结构软磁通量集中器的几何设计参数的变化，以确保能够得到高的磁场增益因子，图中刻度值前的“-”表示反向。

图10表示磁场增益因子随space间隙长度的变化，可以看出，减小space间隙的长度Lsx将提高磁场增益因子。

图11表示磁场增益因子随space间隙宽度的变化，可以看出，减小space间隙的宽度Lsy将提高磁场增益因子。

图12为磁场增益因子随gap间隙长度的变化，可以看出，增加gap间隙的长度Lgx能够提高磁场增益因子，但是gap间隙的长度Lgx在大于60um之后，提高作用不明显。

图13表示磁场增益因子随梳齿宽度Ly的变化，可以看出，增加梳齿宽度Ly将大大提高磁场增益因子。

图14表示磁场增益因子随梳座长度Lex的变化，可以看出，增加梳齿的长度Lex，将提高磁场增益因子。

根据计算结果，为了得到高灵敏度的推挽式磁电阻传感器，叉指结构软磁通量引导器在设计上要求，梳齿宽度Ly的范围为20-200um，所述space间隙宽度Lsy的范围为6-200um；space间隙长度Lsx的范围为10-200um，所述gap间隙长度Lgx的范围为20-500um；所述梳座长度Lex的范围为20-2000um，所述梳齿数量N的范围为2≤N≤10。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化，本实用新型中的实施也可以进行不同组合变化，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (21)

1.一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，包括衬底，位于所述衬底之上的两个梳状软磁通量集中器，一个梳状软磁通量集中器包括梳座和N个长度×宽度为Lx×Ly的矩形梳齿，另一个梳状软磁通量集中器包括梳座和N-1个长度×宽度为Lx×Ly的矩形梳齿，N为大于1的整数，两个梳状软磁通量集中器的梳齿相互交叉形成叉指结构，一个梳状软磁通量集中器的梳齿与另一个梳状软磁通量集中器的梳座之间沿X方向形成gap间隙，所述gap间隙长度为Lgx，相邻所述梳齿之间形成space间隙，所述space间隙分为沿+Y方向形成的标号分别为2m-1的奇space间隙和2m的偶space间隙，所述space间隙长度为Lsx，宽度为Lsy，其中m为整数，且0<m<N；

还包括推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串，所述推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串分别位于所述奇space间隙和所述偶space间隙内且平行于X方向，所述推磁电阻传感单元串电连接成推臂，所述挽磁电阻传感单元串电连接成挽臂，所述推臂和挽臂电连接成推挽式磁电阻传感单元电桥，所述推磁电阻传感单元串包括多个推磁电阻传感单元，所述挽磁电阻传感单元串包括多个挽磁电阻传感单元，所述推磁电阻传感单元和挽磁电阻传感单元磁性钉扎层磁化方向同为+Y或-Y方向，X或-X方向外磁场B_(x-ext)与Y或-Y方向所述space间隙处磁场分量B_y的磁场增益系数ANS＝B_y/B_(x-ext)大于1。

2.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述梳座为矩形，其长为Lex，宽为Ley。

3.根据权利要求2所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，还包括两个矩形软磁通量集中器，所述矩形软磁通量集中器长和宽分别平行于X和Y方向，且分别放置于距离所述叉指结构+Y端和-Y端相同距离的两个位置处。

4.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述梳座为瓶塞状，包括一个矩形以及一个梯形，所述梯形的短底边与所述梳齿相连，所述梯形的长底边为所述梯形与所述矩形的公共边。

5.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述推磁电阻传感单元串和挽磁电阻传感单元串所在的所述奇space间隙和偶space间隙标号之和为2N+1，即对于任一个标号为2m-1的所述推磁电阻传感单元串，存在着另一个标号为2(N-m+1)的所述挽磁电阻传感单元串，对于任何一个标号为2m的所述挽磁电阻传感单元串，存在着另一个标号为2(N-m)+1的所述推磁电阻传感单元串。

6.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述的磁场增益系数ANS通过增加所述梳齿宽度Ly或减小所述space间隙宽度Lsy来提高。

7.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述的磁场增益系数ANS通过减小所述space间隙长度Lsx或增加所述gap间隙长度Lgx来提高。

8.根据权利要求2或3所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述的磁场增益系数ANS通过增加所述梳座长宽比、增加Lex、减小Ley或减小所述梳齿数量N来提高。

9.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述梳齿宽度Ly范围为20-200um，所述space间隙宽度Lsy范围为6-200um。

10.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述space间隙长度Lsx范围为10-200um，所述gap间隙长度Lgx范围为20-500um。

11.根据权利要求2所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述Lex长度范围为20-2000um，所述梳齿数量N的范围为2≤N≤10。

12.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述推磁电阻传感单元和挽磁电阻传感单元为TMR传感单元，其中钉扎层方向平行于Y轴方向，自由层方向平行于X轴方向。

13.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，没有外加磁场时，所述推磁电阻传感单元和挽磁电阻传感单元通过永磁偏置、双交换作用、形状各向异性或者任意结合来使磁性自由层的磁化方向与磁性钉扎层的磁化方向垂直。

14.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述推挽式磁电阻传感单元电桥为半桥、全桥或者准桥。

15.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述推臂上的推磁电阻传感单元和所述挽臂上的挽磁电阻传感单元的数量相同。

16.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述梳状软磁通量集中器的材料为包含Fe、Ni、Co元素中的一种或多种的软磁合金。

17.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述衬底材料为玻璃或者硅片，且所述衬底上含有ASIC集成电路。

18.根据权利要求1所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述衬底材料为玻璃或者硅片，且所述衬底与ASIC芯片相连接。

19.根据权利要求17所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述ASIC集成电路为CMOS、BiCMOS、Bipolar、BCDMOS或者SOI。

20.根据权利要求18所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述ASIC芯片包含有偏移电路、增益电路、校准电路、温度补偿电路和逻辑电路中的任一种或多种应用电路。

21.根据权利要求20所述的一种高灵敏度单芯片推挽式TMR磁场传感器，其特征在于，所述逻辑电路为数字开关电路或者旋转角度计算电路。