CN205212845U - 一种nfc天线测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种NFC天线测试装置，包括测试箱、辅助天线、辅助天线承载体；所述测试箱顶部设有与待测NFC天线对应的测试位，所述测试箱还设有与所述待测NFC天线馈电点接触导通的接触探针A、接触探针B，所述接触探针A、接触探针B之间并联连接至少一个电容，所述电容与待测NFC天线构成LC闭合回路；所述辅助天线设于所述天线承载体上，所述辅助天线的末端外接网络分析仪；所述辅助天线与所述LC闭合回路耦合获取所述待测NFC天线上的回波信号传输至所述网络分析仪。本实用新型提供一种通用的测试方案，对于不同外形的待测NFC天线均具有很好适用性和稳定性。
Description
技术领域
本实用新型涉及天线测试领域，具体地，涉及一种NFC天线测试装置。
背景技术
近场通讯(NearFieldCommunication，NFC)又称近距离无线通信，是一种传输距离在10厘米之内的高频无线通信技术。NFC技术目前在无线终端尤其是手机支付等领域具有很大的应用前景。NFC也因为其相比于其他无线通讯技术较好的安全性被中国物联网校企联盟比作机器之间的“安全对话”。NFC天线是用于发射和接受NFC信号的必不可缺的器件，通常由线圈部分和导磁片组装而成，它的性能稳定性直接影响无线终端NFC功能的实现。现有技术中，需要检测主板上NFC功能的器件是否贴的很好，有没有漏贴，同时需要判断NFC的读功能和卡功能能不能实现等问题。因此对于NFC天线的射频功能检测显得尤为重要。而复杂而昂贵的检测装置不利于对批量NFC天线的检测。
实用新型内容
针对现有技术中的缺陷，本实用新型的目的是提供一种NFC天线测试装置，结构简单，便于测试。
根据本实用新型提供的一种NFC天线测试装置，包括测试箱、辅助天线、辅助天线承载体；
所述测试箱顶部设有与待测NFC天线对应的测试位，所述测试箱还设有与所述待测NFC天线馈电点接触导通的接触探针A、接触探针B，所述接触探针A、接触探针B之间并联连接至少一个电容，所述电容与待测NFC天线构成LC闭合回路；
所述辅助天线设于所述天线承载体上，所述辅助天线的末端外接网络分析仪；
所述辅助天线与所述LC闭合回路耦合获取所述待测NFC天线上的回波信号传输至所述网络分析仪。
作为一种优化方案，所述辅助天线为单线圈天线。
作为一种优化方案，所述测试箱还包括至少一组限位插槽；所述限位插槽与所述辅助天线承载体对应，所述辅助天线承载体插接于不同限位插槽来实现与所述待测NFC天线的不同相对距离的调节。
作为一种优化方案，所述测试箱还包括翻转板；所述接触探针A、接触探针B设于所述翻转板上，所述翻转板翻转运动实现所述接触探针A、接触探针B与所述待测NFC天线馈电点的接触导通和断开。
与现有技术相比，本实用新型具有如下的有益效果：
本实用新型提供一种通用的测试方案，对于不同外形的待测NFC天线均具有很好适用性和稳定性。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为可选的一种NFC天线测试装置结构示意图；
图2为可选的一种待测NFC天线示意图；
图3为可选的一种翻转板上探针连接示意图；
图4为可选的一种单圈天线示意图。
图中：11-测试箱，12-测试位，13-限位插槽，20-待测NFC天线，21-待测NFC天线馈电点，30-翻转板，31-接触探针，32-电容，40-辅助天线承载体，41-单线圈天线，42-单线圈天线末端。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本实用新型进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本实用新型，但不以任何形式限制本实用新型。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进。这些都属于本实用新型的保护范围。
本实用新型提出一种NFC天线测试装置，如图1所示，包括测试箱11、辅助天线、辅助天线承载体40；
所述测试箱11顶部设有与待测NFC天线20对应的测试位12，所述测试箱11还设有与所述待测NFC天线20馈电点21接触导通的接触探针A、接触探针B，所述接触探针A、接触探针B之间并联连接至少一个电容32，所述电容32与待测NFC天线20构成LC闭合回路；
所述辅助天线设于所述天线承载体上，所述辅助天线的末端42外接网络分析仪；
所述辅助天线与所述LC闭合回路耦合获取所述待测NFC天线20上的回波信号传输至所述网络分析仪。
作为一种实施例，所述辅助天线为图4所示的单线圈天线41。辅助天线还可以是其他类型的天线，比如多圈的环形天线，但本实施例选用单圈天线为最优方案。
作为一种实施例，所述测试箱11还包括至少一组限位插槽13；所述限位插槽13与所述辅助天线承载体40对应，所述辅助天线承载体40插接于不同限位插槽13来实现与所述待测NFC天线20的不同相对距离的调节。所述辅助天线承载体40为板状载体，通过将辅助天线承载体40插入不同高度的限位插槽13，即可实现单圈天线与NFC天线之间不同距离的调节。所述限位插槽13与所述辅助天线承载体40的配合可以如图1所示的抽屉式的结构，其占用空间少且结构简单耐用。
作为一种实施例，所述测试箱11还包括如图1所示的翻转板30；所述接触探针A、接触探针B设于所述翻转板30上，如图3所示，所述翻转板30翻转运动实现所述接触探针A、接触探针B与所述待测NFC天线20馈电点21的接触导通和断开。待测NFC天线20的结构如图2所示。
在大批量测试中，可以在翻转板30上设置多组所述接触探针A、接触探针B，测试箱11顶部设置多个与所述接触探针A、接触探针B对应的待测NFC天线20，每个待测NFC天线20对应设置一单线圈天线41和一网络分析仪端口，从而实现NFC天线的批量测试。
本实施例的工作过程：首先测试箱11上的测试位12用于对待测NFC天线20进行固定，其次含接触探针31和电容32的PCB小板30合上，其上的接触探针31会与待测NFC天线馈电点21进行连接导通，同时接触探针之间有电容元件32相连，这样形成一个LC闭合回路。网络分析仪首先向单线圈天线41提供一测试信号，单线圈测试天线与待测NFC天线20互耦，互耦的信号即所述回波信号返回给网络分析仪，这个回波信号能够被与单线圈测试天线末端42连接的网络分析仪检测到。接着通过多档位的插槽13来调整单线圈天线41与待测NFC天线的相对位置，使得这个耦合信号幅度达到最强。最后再通过调整PCB小板上的电容32的值来调整这个耦合信号的频率。一旦达到预定目标，耦合信号的幅度和频率都固定，可以用最后固定下来的信号作为测试参考值，对其他待测NFC天线进行性能测试。当待测NFC天线存在不良时，可以通过这个耦合信号的幅度和频率偏差反映出来。
需要指出的是，图示测试箱上的测试位12以及含接触探针和电容元器件的翻转板30都需要根据待测NFC天线的外形做出调整。
以上对本实用新型的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本实用新型并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本实用新型的实质内容。
Claims (4)
1.一种NFC天线测试装置，其特征在于，包括测试箱、辅助天线、辅助天线承载体；
所述测试箱顶部设有与待测NFC天线对应的测试位，所述测试箱还设有与所述待测NFC天线馈电点接触导通的接触探针A、接触探针B，所述接触探针A、接触探针B之间并联连接至少一个电容，所述电容与待测NFC天线构成LC闭合回路；
所述辅助天线设于所述天线承载体上，所述辅助天线的末端外接网络分析仪；
所述辅助天线与所述LC闭合回路耦合获取所述待测NFC天线上的回波信号传输至所述网络分析仪。
2.根据权利要求1所述的一种NFC天线测试装置，其特征在于，所述辅助天线为单线圈天线。
3.根据权利要求1所述的一种NFC天线测试装置，其特征在于，所述测试箱还包括至少一组限位插槽；所述限位插槽与所述辅助天线承载体对应，所述辅助天线承载体插接于不同限位插槽来实现与所述待测NFC天线的不同相对距离的调节。
4.根据权利要求1所述的一种NFC天线测试装置，其特征在于，所述测试箱还包括翻转板；所述接触探针A、接触探针B设于所述翻转板上，所述翻转板翻转运动实现所述接触探针A、接触探针B与所述待测NFC天线馈电点的接触导通和断开。
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