CN104777381B - 一种双天线的电磁干扰测试方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及电磁干扰测试技术领域，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试方法，包括水平方向极化的天线A、垂直方向极化的天线B、开关矩阵和EMI接收机，所述方法包括：控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号。本发明实施例利用了两根接收天线来同时测量水平和垂直方向的干扰信号，以及开关矩阵，解决了因为更换天线极化方向造成的双倍测量时间，极大的提高了测量效率。

Description

一种双天线的电磁干扰测试方法和系统

【技术领域】

本发明涉及电磁干扰测试技术领域，特别是涉及一种双天线的电磁干扰测试方法和系统。

【背景技术】

辐射干扰测试是电磁兼容测试领域中的一项重要项目，几乎所有的电子产品都需要执行此测试才能进入流通市场。该测试当前的方案主要是在一个标准的测试场地，利用一根天线进行接收电磁波，再将电磁波传递到接收机或频谱分析仪进行分析并最终得出数据，但为测试出电子产品的最大干扰强度，实际测试时除了必要的旋转转台和天线塔以外，还必须将测量天线分别置于水平极化和垂直极化进行，除此之外还需要在产品的不同工作模式下进行相应的测试。随着社会的发展以及产品功能的更加复杂多样化，进行一个电子产品的辐射干扰测试所花费的时间也就越来越长。在这种情形下，需要采取一些更加高效的测试方法来降低测试时间，提高测试效率。

关于辐射干扰的测试时间，其等于产品模式数量*单个模式及单个天线极化方向下的测试时间*2(天线水平极化+垂直极化)，由此可见两个极化方向也就意味着测试时间翻倍。

【发明内容】

本发明要解决的技术问题是提供一种同时进行水平极化和垂直极化测试的方法，用以同时得出水平和垂直的辐射干扰测试结果。本发明采用如下技术方案：

一方面，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试方法，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、开关矩阵和EMI接收机，所述方法包括：

控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；

控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号。

优选的，所述EMI接收机具体包括EMI接收机A和EMI接收机B时，所述分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口，具体包括：所述双出端口C和端口D分别连接到所述EMI接收机A和EMI接收机B，则所述方法还包括：控制所述开关矩阵，切换内部端口连接方式，导通所述端口A和端口D，以及端口B和端口C。

优选的，所述显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号，具体还包括：显示接收到信号对应的峰值、准峰值、平均值，输出功率中的一种或者多种参数数据。

优选的，调整开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口C，使得所述EMI接收机上能够显示混合了所述天线A和天线B接收的信号的频谱。

另一方面，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试方法，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、开关矩阵、EMI接收机和频谱分析仪，所述方法包括：

控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口和频谱分析仪的信号输入端口；控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，并在所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录和所述频谱分析仪对天线B的信号记录后，切换端口A和端口D导通，以及端口B和端口C导通。

优选的，所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录，具体包括：峰值、准峰值、平均值，输出功率中的一种或者多种参数数据的记录。

优选的，所述频谱分析仪对天线B的信号记录，具体包括：信号失真度、调制度、谱纯度、频率稳定度和交调失真中的一种或者多种参数数据的记录。

还有一方面，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试系统，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、开关矩阵和EMI接收机，所述系统包括：

控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号。

优选的，调整开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口C，使得所述EMI接收机上能够显示混合了所述天线A和天线B接收的信号的频谱。

还有一方面，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试系统，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、开关矩阵、EMI接收机和频谱分析仪，所述系统包括：

控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口和频谱分析仪的信号输入端口；控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，并在所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录和所述频谱分析仪对天线B的信号记录后，切换端口A和端口D导通，以及端口B和端口C导通。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：本发明实施例利用了两根接收天线来同时测量水平和垂直方向的干扰信号，以及开关矩阵，解决了因为更换天线极化方向造成的双倍测量时间，极大的提高了测量效率。

【附图说明】

图1是本发明实施例提供的一种双天线的电磁干扰测试的方法流程图；

图2是本发明实施例提供的一种双天线的电磁干扰测试的方法流程图；

图3是本发明实施例提供的一种双天线的电磁干扰测试的系统结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种双天线的电磁干扰测试的系统结构示意图；

图5是本发明实施例提供的一种双天线的电磁干扰测试的系统结构示意图。

【具体实施方式】

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

实施例1:

如图1所示，本发明实施例1提供了一种双天线的电磁干扰测试方法，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、开关矩阵和EMI接收机，所述方法包括：

在步骤201中，控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口。

在步骤202中，控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号。

其中，显示接收到的信号，包括的显示接收到信号对应的峰值、准峰值、平均值，输出功率中的一种或者多种参数数据。

本发明实施例利用了两根接收天线来同时测量水平和垂直方向的干扰信号，以及开关矩阵，解决了因为更换天线极化方向造成的双倍测量时间，极大的提高了测量效率。

在本实施例中，所述EMI接收机具体可以是由1台提供2个信号输入端口给所述开关矩阵的双出端口C和端口D，其对应的系统结构图如图3所示；也可以是由2台EMI接收机分别提供1个信号输入端口给所述开关矩阵的双出端口C和端口D，其对应的系统结构图如图4所示。对于其中后者的实现方式，具体包括：所述双出端口C和端口D分别连接到所述EMI接收机A和EMI接收机B，则所述方法还包括：控制所述开关矩阵，切换内部端口连接方式，导通所述端口A和端口D，以及端口B和端口C。

结合本实施例所述的开关矩阵，不仅提供如实施例一所述的双通道并行测试功能，还能够提供极化天线间信号干扰后的测试结果。因此，结合本实施例还存在一种扩展的实现方案，其中，调整开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口C，使得所述EMI接收机上能够显示混合了所述天线A和天线B接收的信号的频谱。

实施例2:

如图2所示，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试方法，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、开关矩阵、EMI接收机和频谱分析仪，所述方法包括：

在步骤301中，控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口和频谱分析仪的信号输入端口。

在步骤302中，控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，并在所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录和所述频谱分析仪对天线B的信号记录后，切换端口A和端口D导通，以及端口B和端口C导通。

本发明实施例利用了两根接收天线来同时测量水平和垂直方向的干扰信号，并利用开关矩阵使用接收机和频谱分析仪相结合的方式，在不增加大量投入的情况下解决了因为更换天线极化方向造成的双倍测量时间，将测试时间缩短一倍，极大的提高了测量效率，降低产品的研发成本。

结合本实施例，优选的，所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录，具体包括：峰值、准峰值、平均值，输出功率中的一种或者多种参数数据的记录。

结合本实施例，优选的，所述频谱分析仪对天线B的信号记录，具体包括：信号失真度、调制度、谱纯度、频率稳定度和交调失真中的一种或者多种参数数据的记录。

实施例3:

如图3所示，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试系统，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、开关矩阵和EMI接收机，所述系统包括：

控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号。

结合本实施例，优选的，调整开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口C，使得所述EMI接收机上能够显示混合了所述天线A和天线B接收的信号的频谱。

实施例4:

如图5所示，本发明实施例提供了一种双天线的电磁干扰测试系统，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、开关矩阵、EMI接收机和频谱分析仪，所述系统包括：

控制所述开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口和频谱分析仪的信号输入端口；控制所述双进开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，并在所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录和所述频谱分析仪对天线B的信号记录后，切换端口A和端口D导通，以及端口B和端口C导通。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：本发明实施例利用了两根接收天线来同时测量水平和垂直方向的干扰信号，以及开关矩阵，解决了因为更换天线极化方向造成的双倍测量时间，极大的提高了测量效率。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种双天线的电磁干扰测试方法，其特征在于，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、双进双出开关矩阵和EMI接收机，所述方法包括：

控制所述双进双出开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述双进双出开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；

控制所述双进双出开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号；

控制所述双进双出开关矩阵，切换内部端口连接方式，导通所述端口A和端口D，以及端口B和端口C，使得所述EMI接收机提供信号输入端口给所述开关矩阵的双出端口C和端口D；

控制所述双进双出开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口C，使得所述EMI接收机上能够显示混合了所述天线A和天线B接收的信号的频谱。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述EMI接收机具体包括EMI接收机A和EMI接收机B时，所述分别连接所述双进双出开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口，具体包括：

所述双出端口C和端口D分别连接到所述EMI接收机A和EMI接收机B，则所述方法还包括：

控制所述双进双出开关矩阵，切换内部端口连接方式，导通所述端口A和端口D，以及端口B和端口C。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号，具体还包括：

显示接收到信号对应的峰值、准峰值、平均值，输出功率中的一种或者多种参数数据。

4.一种双天线的电磁干扰测试方法，其特征在于，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、双进双出开关矩阵、EMI接收机和频谱分析仪，所述方法包括：

控制所述双进双出开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述双进双出开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口和频谱分析仪的信号输入端口；

控制所述双进双出开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，并在所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录和所述频谱分析仪对天线B的信号记录后，切换端口A和端口D导通，以及端口B和端口C导通。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录，具体包括：

峰值、准峰值、平均值，输出功率中的一种或者多种参数数据的记录。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述频谱分析仪对天线B的信号记录，具体包括：

信号失真度、调制度、谱纯度、频率稳定度和交调失真中的一种或者多种参数数据的记录。

7.一种双天线的电磁干扰测试系统，其特征在于，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、双进双出开关矩阵和EMI接收机，所述系统包括：

控制所述双进双出开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述双进双出开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口；

控制所述双进双出开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，使得所述EMI接收机上能够分别显示水平方向极化的天线A和垂直方向极化的天线B接收到的信号；

控制所述双进双出开关矩阵，切换内部端口连接方式，导通所述端口A和端口D，以及端口B和端口C，使得所述EMI接收机提供信号输入端口给所述开关矩阵的双出端口C和端口D；

控制所述双进双出开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口C，使得所述EMI接收机上能够显示混合了所述天线A和天线B接收的信号的频谱。

8.一种双天线的电磁干扰测试系统，其特征在于，包括设置为水平方向极化的天线A、设置为垂直方向极化的天线B、双进双出开关矩阵、EMI接收机和频谱分析仪，所述系统包括：

控制所述双进双出开关矩阵分别连接其双进端口A和端口B到所述天线A和天线B，分别连接所述双进双出开关矩阵的双出端口C和端口D到所述EMI接收机的信号输入端口和频谱分析仪的信号输入端口；

控制所述双进双出开关矩阵，导通所述端口A和端口C，以及端口B和端口D，并在所述EMI接收机完成对所述天线A的信号记录和所述频谱分析仪对天线B的信号记录后，切换端口A和端口D导通，以及端口B和端口C导通。