CN205138947U - 一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪 - Google Patents

一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪 Download PDF

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Abstract

一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪,主要包括仪器主体、控温表和口膜清洗装置,所述口膜清洗装置包括头部和旋转杆,所述旋转杆固定在熔融指数测试仪仪器主体上,清洗口膜时转动旋转杆,使其位于出料口下端,不使用时,将其转至一端;所述头部有磁性,清洗时可将口膜吸引到头部的圆孔中,口膜的毛细管与头部下端小圆孔相通,可供清洗器通过,本实用新型在清洗口膜的过程中操作灵活,简单快捷,避免了烫伤、清洗不干净、口膜散落等现象,大大提高了工作效率。

Description

一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪
技术领域
本实用新型涉及一种熔融指数测试仪,特别涉及一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪。
背景技术
熔融指数测试仪是用于测定各种高聚物在粘流状态时熔体的流动速率MFR值的仪器,其原理是在一定的温度和压力下,将热塑性高聚物从规定长度和直径的口膜中挤出,记录在规定时间内流出的质量。测试过程中要多次对口膜进行清洗,清洗过程中要将残留在口膜中心毛细管中的高聚物用直径相当的清洗工具清理出来。一方面,口膜体积很小,外径约为9.5mm,毛细管内径仅约为2mm,容易散落且操作不便;另一方面,高聚物在粘流状态下温度高达几百摄氏度,而需要在高温下高聚物固化之前,将残留在口膜中心毛细管中的高聚物清理出来,容易导致烫伤,高聚物凝固在口膜而清洗不干净等,影响工作效率。
鉴于此,有必要提供一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪。
发明内容
本实用新型目的在于避免上述存在的问题,克服缺点,提供一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪。
本实用新型为解决其技术问题采用的技术方案是:一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪,主要包括仪器主体、控温表和口膜清洗装置,所述口膜清洗装置包括头部和旋转杆,所述旋转杆固定在熔融指数测试仪仪器主体上,清洗口膜时转动旋转杆,使其位于出料口下端,不使用时,将其转至一端;所述头部有磁性,清洗时可将口膜吸引到头部的圆孔中,口膜的毛细管与头部下端小圆孔相通,可供清洗器通过。
本实用新型口膜清洗装置头部中心的小圆孔直径为3mm,略大于口膜毛细管直径,用清洗器清理毛细管时,避免因毛细孔与头部圆孔未完全对齐造成不便;大圆孔直径为10mm,略大于口膜外径,保证口膜准确落入;头部厚度为14mm,大圆孔高8mm,与口膜高度相等。
本实用新型的口膜清洗装置在清洗口膜的过程中操作灵活,简单快捷,避免烫伤、清洗不干净,口膜散落等现象,大大提高了工作效率。
附图说明
图1为本实用新型熔融指数测试仪的整体结构示意图。
图2为本实用新型口膜清洗装置的结构示意图。
图3为本实用新型口膜的结构示意图。
标记说明:仪器主体1、控温表2、出料口3、口膜清洗装置4、头部5、旋转杆6。
具体实施方式
下面将结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的说明。
如图1所示,一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪,主要包括仪器主体1和控温表2和口膜清洗装置4,如图2所示,口膜清洗装置包括头部5和旋转杆6,所述旋转杆固定在熔融指数测试仪上,图3所示为仪器的口膜。清洗口膜时转动旋转杆,使其位于出料口3的下端,不使用时,将其转至一端;所述头部有磁性,清洗时可将出料口处的口膜吸引到头部的圆孔中,口膜的毛细管与头部下端小圆孔相通,可供清洗器通过。
清洗口膜时首先转动旋转杆,使其位于出料口下端,按压带活塞的压料杆使口膜从出料口落下,口膜在磁体的吸引作用下落入口膜清洗装置的大圆孔中,转动旋转杆,使其转至一端,用清洗器除去口膜顶部覆盖的聚合物,然后迅速清理口膜毛细管中的聚合物。待口膜冷却后,将口膜取出,清洗完成。

Claims (2)

1.一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪,主要包括仪器主体、控温表和口膜清洗装置,所述口膜清洗装置包括头部和旋转杆,所述旋转杆固定在熔融指数测试仪仪器主体上,清洗口膜时转动旋转杆,使其位于出料口下端,不使用时,将其转至一端;所述头部有磁性,清洗时可将口膜吸引到头部的圆孔中,口膜的毛细管与头部下端小圆孔相通,可供清洗器通过。
2.根据权利要求1所述的一种易于清洗口膜的熔融指数测试仪其特征在于:口膜清洗装置头部中心的小圆孔直径为3mm,略大于口膜毛细管直径,用清洗器清理毛细管时,避免因毛细孔与头部圆孔未完全对齐造成不便;大圆孔直径为10mm,略大于口膜外径,保证口膜准确落入;头部厚度为14mm,大圆孔高8mm,与口膜高度相等。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN108572190A (zh) * 2017-03-09 2018-09-25 江苏金发科技新材料有限公司 双螺杆挤出机剪切强度的评价方法

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