CN205002749U - X射线检测装置 - Google Patents

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CN205002749U
CN205002749U CN201520749774.4U CN201520749774U CN205002749U CN 205002749 U CN205002749 U CN 205002749U CN 201520749774 U CN201520749774 U CN 201520749774U CN 205002749 U CN205002749 U CN 205002749U
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axle guiding
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刘骏
王鹏涛
赵勇
辛晨
郭俊峰
杨龙
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WUXI UNICOMP TECHNOLOGY Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种X射线检测装置,包括:机架,机架的顶部设置有X射线源,机架的底部设置有成像器,成像器的上方依次设置有X轴导向机构、Y轴导向机构与Z轴导向机构;Y轴导向机构与X轴导向机构连接,Z轴导向机构与Y轴导向机构连接,Z轴导向机构上设置有检测平台。该X射线检测装置采用自上而下的透射方式,通过X轴导向机构、Y轴导向机构与Z轴导向机构能够实现三维运动,可以对被测物体360゜的成像;而且,该X射线检测装置结构简单,能够实现小型化,占地空间少,适用于简单的电子检修平台。

Description

X射线检测装置
技术领域
本实用新型涉及电子元器件检测设备,特别地,涉及一种X射线检测装置。
背景技术
X射线检测装置是电子行业中常用的检测设备,广泛的应用于手机、电脑、电池等电子产品的故障检修中。目前,市场上的X射线检测设备的特点是:射线源发出射线的主射线束与被测物体的旋转轴垂直,探测器平面与旋转轴平行。投影数据的获取过程是:射线源和探测器绕被测物体旋转一周,在不同的旋转角度下得到物体的二维投影,而后采用一定的算法重建物体的三维图像。这种常规的X射线检测装置在检测扁平构件时,由于扁平构件在某个方向的尺寸较大,无法在射线源和探测器之间有限的空间内旋转,从而无法使被测物360゜旋转,无法取到全角度的图像。同时,这种X射线检测装置不仅结构复杂,而且体积大,仅适用于具有较大空间的电子检测维修室,对于简单的电子检修平台(例如,手机、电脑等电子产品的售后服务站)就无法适用。
实用新型内容
本实用新型目的在于提供一种X射线检测装置,以解决现有技术中,X射线检测装置对于扁平构件难检测,同时结构复杂,体积大,不适用于简单的电子检修平台的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供一种X射线检测装置,包括:机架,所述机架的顶部设置有X射线源,所述机架的底部设置有成像器,所述成像器的上方依次设置有X轴导向机构、Y轴导向机构与Z轴导向机构;所述Y轴导向机构与所述X轴导向机构连接,所述Z轴导向机构与所述Y轴导向机构连接,所述Z轴导向机构上设置有检测平台。
进一步地,所述X轴导向机构、所述Y轴导向机构与所述Z轴导向机构均分别包括导线丝杆及与所述导线丝杆连接的传动电机;所述Y轴导向机构设置在所述X轴导向机构的导线丝杆上,所述Z轴导向机构设置在所述Y轴导向机构的导线丝杆上。
进一步地,所述检测平台设置在所述Z轴导向机构的导线丝杆上,所述检测平台包括检测承载平板与卡盘机构,所述卡盘机构包括旋转电机及设置在所述旋转电机转轴上的卡盘。
进一步地,所述检测承载平板为碳素纤维板。
本实用新型具有以下有益效果:
该X射线检测装置采用自上而下的透射方式,通过X轴导向机构、Y轴导向机构与Z轴导向机构能够实现三维运动,可以对被测物体360゜的成像;而且,该X射线检测装置结构简单,能够实现小型化,占地空间少,适用于简单的电子检修平台。
附图说明
下面将参照图,对本实用新型作进一步详细的说明。构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:
图1是本实用新型X射线检测装置优选实施例的主视图;以及
图2是本实用新型X射线检测装置优选实施例的右视图。
附图标记说明:
101、机架;102、成像器;103、X射线源;104、X轴导向机构;105、Y轴导向机构;106、Z轴导向机构;107、检测平台。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。
请参阅图1与图2,本实用新型的优选实施例提供了一种X射线检测装置,包括:机架101,所述机架101的顶部设置有X射线源103,所述机架101的底部设置有成像器102,所述成像器102的上方依次设置有X轴导向机构104、Y轴导向机构105与Z轴导向机构106;所述Y轴导向机构105与所述X轴导向机构104连接,所述Z轴导向机构106与所述Y轴导向机构105连接,所述Z轴导向机构106上设置有检测平台107。
该X射线检测装置采用自上而下的透射方式,相互连接的X轴导向机构104、Y轴导向机构105与Z轴导向机构106三轴联动,可以取到全角度的图像。Z轴导向机构106上下调节,用于调节放大倍数,以实现不同的识别精度;Z轴导向机构106同时保证了检测样件最大限度的接近X射线源103的出射面,以满足BGA(BallGridArray、球栅阵列结构)等SMT(SurfaceMountTechnology、电子电路表面组装技术)检测的放大倍数要求;而且,该X射线检测装置结构简单,能够实现小型化,占地空间少,适用于简单的电子检修平台。
优选地,所述X轴导向机构104、所述Y轴导向机构105与所述Z轴导向机构106均分别包括导线丝杆(图未示)及与所述导线丝杆连接的传动电机(图未示);所述Y轴导向机构105设置在所述X轴导向机构104的导线丝杆上,所述Z轴导向机构106设置在所述Y轴导向机构105的导线丝杆上。调节位置时,传动电机带动导线丝杆旋转,即可实现位置方向的调整。
优选地,所述检测平台107设置在所述Z轴导向机构106的导线丝杆上,所述检测平台107包括检测承载平板(图未示)与卡盘机构(图未示),所述卡盘机构包括旋转电机(图未示)及设置在所述旋转电机转轴上的卡盘(图未示)。检测承载平板用于进行平面检测,直接将被检物(手机等)放置在检测承载平板上,通过X轴导向机构104与Y轴导向机构105平面运动实现对被测物的全检。如需要进行倾斜检测,则将检测承载平板取出,将被检物夹持在与旋转电机连接在一起的卡盘上,控制电机旋转从而实现对被检物的三维检测。
优选地,所述检测承载平板为碳素纤维板。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型;对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (4)

1.一种X射线检测装置,其特征在于,包括:
机架,所述机架的顶部设置有X射线源,所述机架的底部设置有成像器,所述成像器的上方依次设置有X轴导向机构、Y轴导向机构与Z轴导向机构;所述Y轴导向机构与所述X轴导向机构连接,所述Z轴导向机构与所述Y轴导向机构连接,所述Z轴导向机构上设置有检测平台。
2.根据权利要求1所述的X射线检测装置,其特征在于:
所述X轴导向机构、所述Y轴导向机构与所述Z轴导向机构均分别包括导线丝杆及与所述导线丝杆连接的传动电机;所述Y轴导向机构设置在所述X轴导向机构的导线丝杆上,所述Z轴导向机构设置在所述Y轴导向机构的导线丝杆上。
3.根据权利要求2所述的X射线检测装置,其特征在于:
所述检测平台设置在所述Z轴导向机构的导线丝杆上,所述检测平台包括检测承载平板与卡盘机构,所述卡盘机构包括旋转电机及设置在所述旋转电机转轴上的卡盘。
4.根据权利要求3所述的X射线检测装置,其特征在于:
所述检测承载平板为碳素纤维板。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116499401A (zh) * 2023-06-29 2023-07-28 深圳市圭华智能科技有限公司 基于X-ray的晶圆级玻璃通孔TGV检测装置及方法

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