CN204925170U - 一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置 - Google Patents

一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置 Download PDF

Info

Publication number
CN204925170U
CN204925170U CN201520642341.9U CN201520642341U CN204925170U CN 204925170 U CN204925170 U CN 204925170U CN 201520642341 U CN201520642341 U CN 201520642341U CN 204925170 U CN204925170 U CN 204925170U
Authority
CN
China
Prior art keywords
coating conductor
electric current
insulation plate
bearing device
critical electric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201520642341.9U
Other languages
English (en)
Inventor
杨坚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GRIMN Engineering Technology Research Institute Co Ltd
Original Assignee
Beijing General Research Institute for Non Ferrous Metals
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Beijing General Research Institute for Non Ferrous Metals filed Critical Beijing General Research Institute for Non Ferrous Metals
Priority to CN201520642341.9U priority Critical patent/CN204925170U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN204925170U publication Critical patent/CN204925170U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本实用新型提供一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,它包括有:两个绝缘板,该两个绝缘板上下相邻设置,该两个绝缘板可相对移动,下该绝缘板表面平整;引线接头,该引线接头分设有两根电流引线与两根电压引线,该两根电流引线与两根电压引线分别穿过上该绝缘板;调节装置,该调节装置和上绝缘板和下绝缘板连接,通过该调节装置,使该两个该绝缘板可相对移动,使该两根电流引线和该两根电压引线移可分离地与放置在下该绝缘板上的该被测基底接触。

Description

一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置
技术领域
本实用新型属于物理量测量技术领域,尤指涂层导体的临界电流测量样品的承载装置。
背景技术
目前,在超导材料的研究中,通常采用四引线输运法测量超导材料的临界电流。以金属带材为基底的涂层导体在测量时,由于金属基底很薄、很软,在使用简单的压铟技术作为四引线接头时,一方面可能会导致被测带材的折损,另一方面在接触点位置可能会产生较大的接触电阻,引起局部发热致使无法测到真实的数据,更甚者可能损坏样品,造成不必要的损失。本实用新型用于解决这一问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,在采用四引线法测量涂层导体超导临界电流时,在测量过程中保持被测基底的完整性。
为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:
一种涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其包括有:
上、下两绝缘板,该两个绝缘板上下相邻设置且可相对移动,下绝缘板的上表面平整;
一引线接头,该引线接头带有两根电流引线与两根电压引线,所述的两根电流引线与两根电压引线分别穿过上绝缘板而使末端位于下绝缘板之上;
至少设有一对可实现上、下两绝缘板相对移动的调节装置。
所述涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置中,所述各调节装置可以由同时穿过两绝缘板的调节杆和尾端螺接的螺母组成,调节杆的头端带有调节旋钮,上绝缘板随动于所述的调节杆,螺母固定在下绝缘板的底侧。
所述调节杆与各个绝缘板之间设有护套为佳。
较佳的,上绝缘板与调节旋钮间应设有弹性元件。
所述各绝缘板优选为环氧板。
较佳的,所述各电流引线的末端为平整的块体,所述各电压引线的末端为插针。
所述块体为铜块体,更佳的,其下端还应设有金属铟块。
所述插针为平头铜插针,其针头可以是用金属铟制成。
在较佳的实施例中,所述上绝缘板横向上开设有不同位置以供两根所述电流引线和两根所述电压引线穿过的通孔。
本实用新型有益效果是:在采用四引线法测量涂层导体超导临界电流的测量过程中,本实用新型可保证不引起大的接触电阻并保持被测基底的完整性,保护被测基底避免受损,且承载装置本体所用材料绝缘,不会影响超导电性的测量。
附图说明
图1为本实用新型一实施例结构示意图(主视)。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置包括有:两个绝缘板、引线接头5和至少一个调节装置2。
其中,所述两个绝缘板上下相邻设置,下绝缘板12表面平整用以放置被测基底,承载引线接头所引出的测试引线。该两个绝缘板可相对移动。引线接头5带有两根电流引线4与两根电压引线3,两根电流引线4与两根电压引线3分别穿过上绝缘板11;通过该调节装置使该两个该绝缘板可相对移动并可相对固定,使该两根电流引线4和该两根电压引线3分别与位于下该绝缘板12上的被测基底接触或分离,固定被测基底并使其均匀受力。即该上绝缘板11移动,带动该两根电流引线4和该两根电压引线3移动,以使它们末端端头和下绝缘板1上的被测基底接触;或者,该下绝缘板1移动以使位于其上的被测基底与该两根电流引线4和该两根电压引线3末端端头接触,以通过引线接头5外接的测量线路实现被测基底相关参数的测量。
如此,在使用时,将被测基底放置在下绝缘板12上,由于下绝缘板12的表面平整,这样可使被测基底与下绝缘板12很好的无缝对接,并且两个绝缘板具有一定强度,受压过程中可保护被测基底避免受损,保证其完整性。且两个绝缘板绝缘性能好,不会影响超导电性的测量。
如图1所示,本实用新型一较佳实施例中,采用上绝缘板11可移动的方式,上、下绝缘板相互平行,调节装置2的调节杆23同时穿过上、下绝缘板且其尾端与一套设固定在下绝缘板12底端的螺母22螺接,调节杆23的头端带有调节旋钮21,上绝缘板11随动于调节杆23,通过旋转调节旋钮21,可使上绝缘板11上下移动,以使两根该电流引线3与两根该电压引线4与放置在下绝缘板12上的被测基底接触或分离,通过引线接头5将被测基底接入相关的测量线路中。
本较佳实施例中为两个该调节装置2分设在该上、下绝缘板11、12的两端据以调节,但在其他较佳实施例中并不以此为限。
较佳地,为保护调节装置2与上、下绝缘板之间的连接,在各调节杆23与各绝缘板之间设有护套24。
为进一步保护被测基底,防止在下移上绝缘板时对被测基底形成的压力过大,在调节旋钮21与上绝缘板11之间套设有弹性元件25(弹簧为佳)。
较佳地,所述绝缘板为绝缘的、可加工的、表面光滑平整的板体,例如用环氧板制作。
较佳地,由于电流引线4与电压引线3均需要较好的接触面,但是电流引线需要通入电流,当通过大电流时,可能会导致样品局部发热,并产生接触电阻,因此更强调电流引线处尽可能增加接触面积,减少可能带来的损耗。因此,两根所述电流引线4的末端为平整的块体41,加大与被测基底的接触面积。两根所述电压引线3的末端为插针,与被测基底接触。
较佳地,所述块体41下端还可设有金属铟块42,所述插针的针头处设有金属铟垫。因为铟比铜软,更容易与样品接触,故可加强电流探头和电压探头与被测基底的接触,减少接触电阻,防止引起局部发热致使无法测到真实的数据或损坏样品,造成不必要的损失。
在本较佳实施例中,所述电流引线和电压引线均为铜质材料,因此所述块体41和金属铟块42均应为平整的铜块体,插针采用平头的铜插针以防刺破被测基底。
较佳地,两根电流引线4和两根电压引线3可根据被测基底的长短左右移动位置。两根电流引线4放置在被测基底可测范围的两端,两个电压引线3位于该两根电流引线4之间。若被测基底够长(大于等于3厘米),则两根电压引线3的间距大于等于1厘米。可在上绝缘板11左右方向上开设有不同位置的通孔供两根电流引线4和两根电压引线3穿过,以方便调节两根电流引线4和两根电压引线3的位置并固定。
综上所述,在采用四引线法测量涂层导体超导临界电流的测量过程中本实用新型可保证不引起大的接触电阻并保持被测基底的完整性,保护被测基底避免受损,且材料绝缘,不会影响超导电性的测量。
上述各实施例可在不脱离本实用新型的范围下加以若干变化,故以上的说明所包含及附图中所示的结构应视为例示性,而非用以限制本实用新型申请专利的保护范围。

Claims (9)

1.一种涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于包括有:
上、下两绝缘板,该两个绝缘板上下相邻设置且可相对移动,下绝缘板的上表面平整;
一引线接头,该引线接头带有两根电流引线与两根电压引线,所述的两根电流引线与两根电压引线分别穿过上绝缘板而使末端位于下绝缘板之上;
至少设有一个可实现上、下两绝缘板相对移动的调节装置。
2.根据权利要求1所述的涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,所述各调节装置由同时穿过两绝缘板的调节杆和尾端螺接的螺母组成,调节杆的头端带有调节旋钮,上绝缘板随动于所述的调节杆,螺母固定在下绝缘板的底侧。
3.根据权利要求2所述的涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,所述调节杆与各个绝缘板之间设有护套。
4.根据权利要求1至3任一所述的涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,上绝缘板与调节旋钮间设有弹性元件。
5.根据权利要求1所述的涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,所述各绝缘板为环氧板。
6.根据权利要求1所述的涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,所述各电流引线的末端为平整的块体,所述各电压引线的末端为插针。
7.根据权利要求6所述的涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,所述块体为铜块体,其下端还设有金属铟块。
8.根据权利要求6所述的涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,所述插针为平头铜插针,该插针的针头处设有金属铟垫。
9.根据权利要求1所述的涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置,其特征在于,所述上绝缘板横向上开设有不同位置以供两根所述电流引线和两根所述电压引线穿过的通孔。
CN201520642341.9U 2015-08-24 2015-08-24 一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置 Active CN204925170U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201520642341.9U CN204925170U (zh) 2015-08-24 2015-08-24 一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201520642341.9U CN204925170U (zh) 2015-08-24 2015-08-24 一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN204925170U true CN204925170U (zh) 2015-12-30

Family

ID=54974283

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201520642341.9U Active CN204925170U (zh) 2015-08-24 2015-08-24 一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN204925170U (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107727894A (zh) * 2017-12-11 2018-02-23 宿迁学院 一种超导材料电阻测量辅助装置
CN108982950A (zh) * 2018-07-02 2018-12-11 东北大学 测试ybco膜超导环流电压信号的传感器及其制作方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107727894A (zh) * 2017-12-11 2018-02-23 宿迁学院 一种超导材料电阻测量辅助装置
CN108982950A (zh) * 2018-07-02 2018-12-11 东北大学 测试ybco膜超导环流电压信号的传感器及其制作方法
CN108982950B (zh) * 2018-07-02 2021-10-22 东北大学 测试ybco膜超导环流电压信号的传感器及其制作方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20160282496A1 (en) Segmented-centralized-type high-density electrical method measurement system and application thereof
CN204925170U (zh) 一种用于涂层导体超导临界电流测量的样品承载装置
CN206300975U (zh) 手车式真空断路器回路电阻测试接头
CN207096344U (zh) 一种500kV GIS盆式绝缘子VFTO试验装置
CN111913042A (zh) 电缆缓冲层轴向电阻率测试装置及测试方法
CN203275522U (zh) 一种新型断路器回路电阻测试钳
CN205844462U (zh) 一种固体绝缘材料表面放电试验装置
Tokarska Measuring resistance of textile materials based on Van der Pauw method
CN203870132U (zh) 探针连接杆、探针装置和电性测试装置
CN205786856U (zh) 染污绝缘子受潮表面电导率的测量装置
CN104458817B (zh) 一种射频同轴电缆阻抗变化试验方法
CN204740323U (zh) 自动对位绝缘探针四端子检测治具
CN111913043A (zh) 电缆缓冲层径向电阻率测试装置及方法
CN201562512U (zh) 单触点可测式滑动变阻器
CN104897965A (zh) 一种电阻自动化测试系统
CN106053993A (zh) 交流线路杆塔的雷电冲击响应检测系统
CN206378511U (zh) 用于贴装元件测量的夹具
CN206788252U (zh) 一种压力状态下陶瓷涂层的绝缘电阻测试装置
CN104425303A (zh) 测量导电层厚度的方法
CN208459241U (zh) 一种适用于大数据监测环境腐蚀性的柔性传感器
CN205091365U (zh) 一种柔性阵列器件的测量接线结构
Miyoshi et al. Homogeneous performance and strain tolerance of long Bi-2223 HTS conductors under hoop stress
KR101521718B1 (ko) 홀센서 어레이를 이용한 임계전이온도 측정장치 및 그 방법
CN207408469U (zh) 一种易于对准的电流钳形表
CN204649127U (zh) 10kV开关小车触头接触行程专用测量工具

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20190704

Address after: 101407 No. 11 Xingke East Street, Yanqi Economic Development Zone, Huairou District, Beijing

Patentee after: Research Institute of engineering and Technology Co., Ltd.

Address before: No. 2, Xinjie street, Xicheng District, Beijing, Beijing

Patentee before: General Research Institute for Nonferrous Metals

TR01 Transfer of patent right