CN204882750U - 智能卡掉电保护的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种智能卡掉电保护的测试装置。该装置布置在读卡器端，该装置包括：写操作模块，用于执行对所述智能卡的写操作；掉电控制模块，用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中，控制所述读卡器掉电并重新上电；比较模块，用于在所述读卡器重新上电后，执行对所述智能卡的读操作，将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。本实用新型用以通过控制智能卡的掉电时间，方便分析和定位问题，同时提高掉电保护的测试效率。

Description

智能卡掉电保护的测试装置

技术领域

本实用新型涉及智能卡领域，尤其涉及一种智能卡掉电保护的测试装置。

背景技术

近年来，智能卡被广泛的应用于电信、金融、社会保障、交通、物联网等各个领域，有时智能卡中的数据需要频繁多次地变化更新，例如：公交卡，在使用智能卡的过程中，有可能发生智能卡掉电的情况，而智能卡的掉电保护功能体现了智能卡在数据变化过程中若发生掉电，智能卡对数据变化前的初始数据的保护能力。因此，这就对智能卡的掉电保护功能提出了较高的要求。实际使用中，为了了解智能卡的掉电保护功能，需要对智能卡的掉电保护功能进行测试。

在现有技术中，对智能卡掉电保护功能的测试方法是在读卡器与智能卡通信过程中，采用人工操作的方式，频繁使智能卡远离再进入到能够与读卡器通信的范围，这样通过使智能卡频繁离场再进场实现智能卡的频繁掉电再通电，最后使智能卡进场，通过读卡器读出智能卡中的数据并与初始的数据比对判断是否出现异常，若出现异常，则说明智能卡在掉电时数据遭到破坏，智能卡没有掉电保护功能，若没有出现异常，则说明智能卡具有掉电保护功能，以此实现对智能卡掉电保护功能的测试。

但是，这种方法对智能卡的掉电保护功能的测试完全取决于人工操作过程中智能卡的掉电时间，而由于采用的是人工操作的方式，因此智能卡的掉电时间基本上是随机的，这样一旦发现智能卡中的数据出现异常，很难进行分析和定位问题。而且，这种方法需要采用人工操作的方式频繁使智能卡离场和进场，因此，掉电保护的测试效率较低。

实用新型内容

本实用新型提供一种智能卡掉电保护的测试装置，用以通过控制智能卡的掉电时间，方便分析和定位问题，同时提高掉电保护的测试效率。

本实用新型提供一种智能卡掉电保护的测试装置，所述装置设置在读卡器端，所述装置包括：

写操作模块，用于执行对所述智能卡的写操作；

掉电控制模块，用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中，控制所述读卡器掉电并重新上电；

比较模块，用于在所述读卡器重新上电后，执行对所述智能卡的读操作，将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。

在本实用新型中，写操作模块执行对智能卡的写操作，掉电控制模块在写操作模块执行写操作的过程中，控制读卡器掉电并重新上电，比较模块在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断智能卡是否具有掉电保护功能。因此，通过控制读卡器掉电并重新上电，使智能卡也掉电并重新上电，使得智能卡的掉电时间可控制，不再是人工操作使智能卡随机掉电，在出现异常时方便分析和定位问题，并且避免了人工频繁使智能卡离场和进场造成的掉电时间不可控，提高了掉电保护的测试效率。

附图说明

图1为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第一实施例的结构示意图；

图2为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第一实施例的工作过程示意图；

图3为本实用新型中智能卡掉电保护的测试装置第二实施例的结构示意图；

图4为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第二实施例的具体工作过程示意图；

图5为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的结构示意图；

图6为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的一种工作过程示意图；

图7为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的另一种工作过程示意图；

图8为mifare卡中的存储结构。

具体实施方式

下面结合说明书附图和具体实施方式对本实用新型作进一步的描述。

如图1所示，为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第一实施例的结构示意图，该装置布置在读卡器端，具体可以包括：写操作模块11、掉电控制模块12和比较模块13，掉电控制模块12与写操作模块11连接，比较模块13与掉电控制模块12连接。

在本实施例中，写操作模块11用于执行对智能卡的写操作；掉电控制模块12用于在上述写操作模块11执行写操作的过程中，控制读卡器掉电并重新上电，读卡器掉电，则智能卡掉电，读卡器重新上电，则智能卡也重新上电；比较模块13用于在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，将读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断智能卡是否具有掉电保护功能，若读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致，则判定智能卡具有掉电保护功能，若读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致，则判定智能卡没有掉电保护功能。

本实施例的工作过程如下：如图2所示，为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第一实施例的具体工作过程示意图，该示意图具体可以包括如下步骤：

步骤21、写操作模块11执行对智能卡的写操作；

步骤22、在写操作模块11执行写操作过程中，掉电控制模块12控制读卡器掉电并重新上电；

具体地，读卡器掉电，则智能卡也就掉电，同样，读卡器重新上电，则智能卡也重新上电；

步骤23、比较模块13在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，将读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，判断读取的数据与智能卡中保存的初始数据是否一致，若是则执行步骤24，否则执行步骤25；

根据比较结果可以判断智能卡是否具有掉电保护功能；

步骤24、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致时，判定智能卡具有掉电保护功能；

步骤25、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致时，判定智能卡没有掉电保护功能。

在本实施例中，写操作模块11执行对智能卡的写操作，掉电控制模块12在写操作模块11执行写操作的过程中，控制读卡器掉电并重新上电，比较模块13在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断智能卡是否具有掉电保护功能。因此，通过控制读卡器掉电并重新上电，使智能卡也掉电并重新上电，使得智能卡的掉电时间可控制，不再是人工操作使智能卡随机掉电，在出现异常时方便分析和定位问题，并且避免了人工频繁使智能卡离场和进场造成的掉电时间不可控，提高了掉电保护的测试效率。

如图3所示，为本实用新型中智能卡掉电保护的测试装置第二实施例的结构示意图，在上一实施例的基础上，掉电控制模块12具体可以包括第一设置单元31和第一掉电控制单元32，第一设置单元31与第一掉电控制单元32连接，第一掉电控制单元32与写操作模块11和比较模块13连接。其中，第一设置单元31用于设置读卡器的掉电时间和上电时间；第一掉电控制单元32用于在写操作模块11执行写操作的过程中，根据掉电时间控制读卡器掉电，根据上电时间控制读卡器重新上电。具体地，第一设置单元31可以根据写操作模块11在智能卡执行一次写操作的时间内选取一个时间段设置为读卡器的掉电时间，则读卡器在这个时间段内进行一次掉电，并且第一设置单元31设置上电时间为读卡器掉电后经过预定时间后的时间，这里的预定时间可以根据实际使用情况进行设定，用于表示读卡器断开与智能卡的通信后再恢复与智能卡的通信所经过的时间。因此，根据设置的掉电时间可以将对智能卡的掉电保护的测试确定到智能卡写操作过程中具体的某一个时间段上，根据具体测试需要可随意设置这个掉电的时间，执行掉电保护测试时，在对智能卡执行写操作的过程中使智能卡在设置好的掉电时间进行一次掉电，可以在出现异常时，快速找到出现异常的位置。

如图4所示，为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第二实施例的具体工作过程示意图，该示意图具体可以包括如下步骤：

步骤41、第一设置单元31设置读卡器的掉电时间和上电时间；

具体地，第一设置单元31可以根据写操作模块11在智能卡执行一次写操作的时间内选取一个时间段设置为读卡器的掉电时间，设置上电时间为读卡器掉电后经过预定时间后的时间，该预定时间可以根据实际使用情况进行设定；

步骤42、写操作模块11执行对智能卡的写操作；

步骤43、在写操作模块11执行写操作过程中，第一掉电控制单元32根据掉电时间控制读卡器掉电，根据上电时间控制读卡器重新上电；

步骤44、比较模块13在读卡器重新上电后，执行对智能卡的读操作，将读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，判断读取的数据与智能卡中保存的初始数据是否一致，若是则执行步骤45，否则执行步骤46；

步骤45、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致时，判定智能卡具有掉电保护功能；

步骤46、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致时，判定智能卡没有掉电保护功能。

如图5所示，为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的结构示意图，与第二实施例的不同之处在于，在该实施例中，掉电控制模块12具体可以包括第二设置单元51和第二掉电控制单元32，第二设置单元51与第二掉电控制单元52连接，第二掉电控制单元52与写操作模块11和比较模块13连接。其中，第二设置单元51用于设置两组以上掉电时间和上电时间；第二掉电控制单元52用于在写操作模块11执行写操作的过程中，根据每组掉电时间和上电时间控制读卡器进行掉电并重新上电，具体地，第二设置单元51可以在写操作模块11对智能卡执行一次写操作的时间内选取两个以上的时间段设置为掉电时间，读卡器掉电后经过预定时间后的时间设置为上电时间，得到两组以上的掉电时间和上电时间，然后第二掉电控制单元52根据每组的掉电时间控制读卡器掉电，根据每组的上电时间控制读卡器重新上电，这样，可以使读卡器进行两组以上掉电并重新上电的过程；比较模块13在读卡器每次重新上电后，执行对智能卡的读操作，将读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果和上电执行的次数，判断智能卡是否具有掉电保护功能，具体地，当读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致时，判断所述读卡器是否执行完两组以上掉电时间和上电时间，当读卡器执行完第二设置单元51设置的两组以上的掉电时间和上电时间时，判定智能卡具有掉电保护功能，当读卡器没有执行完第二设置单元51设置的两组以上的掉电时间和上电时间时，则返回写操作模块11继续执行下一次写操作的过程，第二掉电控制单元52根据下一组的掉电时间和上电时间控制读卡器进行下一组的掉电并重新上电，当读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致时，判定智能卡没有掉电保护功能。

如图6所示，为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的一种工作过程示意图，该示意图具体可以包括如下步骤：

步骤61、第二设置单元51设置两组以上掉电时间和上电时间；

具体地，第二设置单元51可以在写操作模块11对智能卡执行一次写操作的时间内选取两个以上的时间段设置为掉电时间，读卡器掉电后经过预定时间后的时间设置为上电时间，从而得到两组以上的掉电时间和上电时间；

步骤62、写操作模块11执行对智能卡的写操作；

步骤63、第二掉电控制模块52在写操作模块11执行写操作的过程中，根据每组掉电时间和上电时间控制读卡器进行掉电并重新上电；

这样，第二掉电控制单元52根据每组的掉电时间和上电时间控制读卡器掉电并重新上电，实现控制读卡器进行两组以上掉电并重新上电的过程；

步骤64、比较模块13在读卡器每次重新上电后，执行对智能卡的读操作，将读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，判断读取的数据与智能卡中保存的初始数据是否一致，若是则执行步骤65，否则执行步骤67；

步骤65、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致时，判断读卡器是否执行完第二设置单元51设置的两组以上掉电时间和上电时间，若是则执行步骤66，否则返回步骤62继续下一组的掉电并重新上电的过程；

步骤66、当读卡器执行完第二设置单元51设置的两组以上掉电时间和上电时间时，判定智能卡具有掉电保护功能；

步骤67、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致时，判定智能卡没有掉电保护功能。

可选地，在该实施例中，还有一种特殊的情况，掉电控制模块12在写操作模块11执行写操作的过程中，根据每组掉电时间和上电时间控制读卡器进行掉电并重新上电，然后在写操作模块11对智能卡完成写操作后使智能卡掉电一次，判断智能卡中的数据是否被篡改。再参见图5所示的示意图，比较模块13具体可以包括判断单元131、读操作单元132、第一比较单元133和第二比较单元134，判断模块131和读操作单元132与第二掉电控制单元52连接，第一比较单元133与判断模块131和读操作单元132连接，第二比较单元134与写操作模块11、判断模块131和读操作单元132均连接。其中，判断单元131用于在读卡器每次重新上电后，判断是否接收到智能卡发送的写确认消息，通过判断是否接收到智能卡发送的确认消息，判断掉电之前写操作模块11是否对智能卡完成写操作；读操作单元132用于在读卡器每次重新上电后，执行对智能卡的读操作；第一比较单元133用于当判断单元131判定接收到智能卡发送的写确认消息时，将读操作单元132读取的数据与写入的数据进行比较，根据比较结果判断智能卡的数据是否被篡改，此时，掉电之前写操作模块11对智能卡完成了写操作，第一比较单元133将读操作单元132读取的数据与写入的数据进行比较，若读取的数据与写入的数据一致，则判定智能卡的数据没有被篡改，且整个掉电保护测试的过程也正常结束，若读取的数据与写入的数据不一致，则判定智能卡的数据被篡改；第二比较单元134用于当判断单元131判定未接收到智能卡发送的写确认消息时，将读操作单元132读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果和上电执行的次数，判断智能卡是否具有掉电保护功能，此时，掉电之前写操作模块11对智能卡没有完成写操作，第二比较单元134将读操作单元132读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，若读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致时，判断读卡器是否执行完第二设置单元51设置的两组以上掉电时间和上电时间，当读卡器执行完第二设置单元51设置的两组以上掉电时间和上电时间时，则判定智能卡具有掉电保护功能，当读卡器没有执行完第二设置单元51设置的两组以上掉电时间和上电时间时，返回写操作模块11继续执行下一次写操作的过程，第二掉电控制单元52根据下一组的掉电时间和上电时间控制读卡器进行下一组的掉电并重新上电，若读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致时，则判定智能卡没有掉电保护功能。这样，可以针对多个时间段进行多次测试，实现在写操作模块11对智能卡执行写操作的过程中使智能卡至少掉电一次，测试智能卡是否具有掉电保护功能，还可以判断智能卡中的数据是否被篡改。

如图7所示，为本实用新型智能卡掉电保护的测试装置第三实施例的另一种工作过程示意图，该示意图具体可以包括如下步骤：

步骤701、第二设置单元51设置读卡器的掉电时间和上电时间；

具体地，第二设置单元51可以在写操作模块11对智能卡执行一次写操作的时间内选取两个以上的时间段设置为掉电时间，读卡器掉电后经过预定时间后的时间设置为上电时间，从而得到两组以上的掉电时间和上电时间；

步骤702、写操作模块11对智能卡执行写操作；

步骤703、第二掉电控制单元52根据掉电时间控制读卡器掉电，根据上电时间控制读卡器上电；

第二掉电控制单元52具体可以根据步骤701设置的每组掉电时间，在不同的时间段控制读卡器掉电，并在设置的每组上电时间使读卡器重新上电，使读卡器在写操作模块11对智能卡执行一次写入操作的过程中进行两组以上掉电并重新上电的过程；

步骤704、判断单元131判断是否接收到智能卡发送的写确认消息，若是则执行步骤705，否则执行步骤709；

步骤705、读操作单元132执行对智能卡的读操作；

步骤706、第一比较单元133将读操作单元132读取的数据与写入的数据进行比较，判断读取的数据与写入的数据是否一致，若是则执行步骤707，否则执行步骤708；

步骤707、当读取的数据与写入的数据一致时，判定智能卡的数据没有被篡改；

步骤708、当读取的数据与写入的数据不一致时，判定智能卡的数据被篡改；

步骤709、读操作单元132执行对智能卡的读操作；

步骤710、第二比较单元134将读操作单元132读取的数据与智能卡中保存的初始数据进行比较，判断读取的数据与智能卡中保存的初始数据是否一致，若是则执行步骤711，否则执行步骤713；

步骤711、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据一致时，判断读卡器是否执行完第二设置单元51设置的两组以上掉电时间和上电时间，若是则执行步骤712，否则返回步骤702继续下一组的掉电并重新上电的过程；

步骤712、当读卡器执行完第二设置单元51设置的两组以上掉电时间和上电时间时，判定智能卡具有掉电保护功能；

步骤713、当读取的数据与智能卡中保存的初始数据不一致时，判定智能卡不具有掉电保护功能。

可选地，再参见图5所示的示意图，该智能卡掉电保护的测试装置还可以包括记录模块53，记录模块53与第二掉电控制单元52连接。记录模块53用于记录读卡器掉电的次数。对应地，在图6所示的本实施例的一种工作过程示意图中，可以在步骤63与步骤64之间增加步骤68，步骤68具体为：记录模块53记录读卡器掉电的次数；同样地，在图7所示的本实施例的另一种工作过程示意图中，可以在步骤703与步骤704之间增加步骤714，步骤714具体为：记录模块53记录读卡器掉电的次数。通过记录下掉电的次数，就可以在测试过程中出现异常情况时，得知此时已经掉电的次数，从而就可以根据设置的掉电时间得到出现异常时的时间，有利于找到在对智能卡执行一次写操作的过程中出现异常的时间，这样就可以根据写操作过程中出现异常的时间得到出现异常时的数据，进而分析出现异常的数据。

可选地，在本实施例中，写操作模块11对智能卡执行一次写操作时的操作单位具体可以对应智能卡存储器结构中的块，还可以对应智能卡存储器结构中的页。需要说明的是，某些智能卡的存储器的存储结构中的块可分为数据块和控制块，例如：mifare卡，如图8所示，为mifare卡的存储结构，在该图所示的存储结构中，包括15个扇区，每一个扇区中有4块，分别为块0、块1、块2和块3，每个块的大小为16字节，其中，块0、块1和块2是数据块，用于存储数据，块3是控制块，用于存储控制信息，控制信息包括读写控制条件和密钥。每一个扇区的密钥和读写控制条件都是独立的，所以在每一扇区的控制块中只包括本扇区的密钥和本扇区的读写控制条件，例如：在扇区0中，块3为控制块，块3包括该扇区0的密钥以及用于该扇区0中各块的读写控制条件。每个扇区中的控制块的密钥与数据块的密钥不同，所以根据不同的扇区号和块号区分数据块和控制块，得到的对应数据块和控制块密钥就不相同。因此，采用本实用新型智能卡掉电保护的测试装置进行测试前，可以先根据不同的扇区号和块号选取数据块或控制块作为前述的执行写操作的操作单位，然后针对该操作单位开始掉电保护的测试，在读操作单元132读取该操作单位的数据的过程中，由于数据块的密钥与控制块的密钥不同，读操作单元132根据操作单位是数据块还是控制块会采用不同的密钥实现对智能卡的交互，读取智能卡数据块或控制块的数据。这样，就可以将数据块和控制块分开，实现有针对性地对数据块和控制块进行掉电保护的测试。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围。

Claims (5)

1.一种智能卡掉电保护的测试装置，其特征在于，所述装置布置在读卡器端，所述装置包括：

写操作模块，用于执行对所述智能卡的写操作；

掉电控制模块，用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中，控制所述读卡器掉电并重新上电；

比较模块，用于在所述读卡器重新上电后，执行对所述智能卡的读操作，将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述掉电控制模块包括：

第一设置单元，用于设置所述读卡器的掉电时间和上电时间；

第一掉电控制单元，用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中，根据所述掉电时间控制所述读卡器掉电，根据所述上电时间控制所述读卡器重新上电。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述掉电控制模块包括：

第二设置单元，用于设置两组以上掉电时间和上电时间；

第二掉电控制单元，用于在所述写操作模块执行所述写操作的过程中，根据每组掉电时间和上电时间控制所述读卡器进行掉电并重新上电；

所述比较模块用于在所述读卡器每次重新上电后，执行对所述智能卡的读操作，将读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果和上电执行的次数，判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述比较模块包括：

判断单元，用于在所述读卡器每次重新上电后，判断是否接收到所述智能卡发送的写确认消息；

读操作单元，用于在所述读卡器每次重新上电后，执行对所述智能卡的读操作；

第一比较单元，用于当所述判断单元判定接收到所述智能卡发送的写确认消息时，将所述读操作单元读取的数据与写入的数据进行比较，根据比较结果判断所述智能卡的数据是否被篡改；

第二比较单元，用于当所述判断单元判定未接收到所述智能卡发送的写确认消息时，将所述读操作单元读取的数据与所述智能卡中保存的初始数据进行比较，根据比较结果和上电执行的次数，判断所述智能卡是否具有掉电保护功能。

5.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述装置还包括记录模块，用于记录所述读卡器掉电的次数。