CN204542426U - 一种Spee曲线深度测量装置 - Google Patents

Abstract

一种Spee曲线深度测量装置，属于口腔正畸医疗器械领域，其特征在于其由定位装置及用于测量下颌Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在下颌牙列中线的主定位杆，用于分别放置在左、右下颌牙列正上方的两块测量板，测量板的前或后端设有可以转动的副定位杆，测量板上设有若干测量孔；所述测量板通过连杆与主定位杆活动连接；所述测量板、主定位杆、副定位杆位于同一平面。本实用新型设计合理，结构简单，使用方便，可以精确测量Spee曲线深度。

Description

一种Spee曲线深度测量装置

技术领域

本发明属于口腔正畸医疗器械领域，具体涉及一种口腔下颌牙列Spee曲线深度测量装置。

背景技术

    从牙齿排列的垂直向位置关系特征可以看出，上下牙列的牙尖（下颌牙弓最低点）高度并不一致，牙列的形态也具有一定的曲度，曲线就是用以描述这一牙列形态特征的重要概念，矢状方向的曲线称为纵曲线，口腔中下颌牙列中，连接切牙的切嵴、尖牙牙尖、前磨尖牙及磨牙颊尖构成的一条连续的凹向上的纵曲线也称Spee曲线，正常牙列该曲线的切牙段较平直，从尖牙向后经前磨牙至第一磨牙的远中颊尖逐渐降低，然后第二、第三磨牙的颊尖又逐渐升高。Spee曲线是正畸诊断和治疗计划制定的重要参考指标，Spee曲线深度是指下颌Spee曲线最低点到下颌平面的垂直距离，下颌平面是由下颌中切牙中点及两侧下颌最后一个磨牙远中颊尖所构成的一个假想平面。Spee曲线深度是临床正畸治疗设计中计算下颌牙列拥挤度的重要参考因素，研究表明整平1mm Spee曲线需要1.5mm的间隙，临床上测量Spee曲线的常规方法是：将直尺放置在下切牙切端与最后一个下磨牙的牙尖上，医生通过肉眼估测两侧Spee曲线最低点至直尺的距离，牙弓两侧各测量一次，取两侧平均值加0.5mm，即为排平牙弓或改正颌曲线所需的间隙。Spee曲线是否正确测量，将影响牙列拥挤度的测量，影响矫治方案的选择，影响错牙合畸形设计时是否需要拔牙来提供间隙。因此，Spee曲线的精确估计具有重要的临床意义。

     目前临床没有专门装置测量Spee曲线，临床常用直尺放置在下切牙切端与最后一个下磨牙的牙尖上，由于下颌牙弓呈弓形，而直尺呈长条直形，故直尺并不能盖过下颌所有牙尖，尤其是Spee曲线中其最低位“牙尖”（ 最低位“牙尖”可以代表Spee曲线最低点，以下均用最低位“牙尖”来表述），因此用直尺法测量下颌牙列最低位“牙尖”到直尺的距离，势必会由于视线偏斜等，造成较大误差。而且，错牙合畸形牙列常较复杂，如牙列左右不对称，下颌中线偏斜，高位错牙合尖牙等等，都影响着下颌牙弓Spee曲线深度的测量。因此，设计一种适合各种复杂下颌牙列的Spee曲线深度测量装置具有重要的临床意义。

 发明内容

为了解决背景技术中提到的技术问题，本发明的目的在于提供一种Spee曲线深度测量装置。

本发明采用的技术方案如下：

一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于其由定位装置及用于测量下颌Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在牙列中线的主定位杆，用于分别放置在左、右牙列上方的两块测量板，测量板的前端或后端设有可以转动的副定位杆，测量板上设有若干测量孔；所述测量板通过连杆与主定位杆活动连接；所述测量板、主定位杆、副定位杆位于同一平面；所述测量装置包括设有刻度的测量尺和位于测量尺内且可上下滑动的测量笔。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量笔的上端对准起始刻度线，下端伸出测量尺，其伸出测量尺的长度等于测量板的的厚度。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量装置还包括平板，所述平板位于测量尺的最下端，且与测量尺垂直。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量装置包括设有刻度的测量尺，所述测量尺内设有可以上下滑动的测量笔，所述测量笔的上端对准起始刻度线，下端伸出测量尺，其伸出测量尺的长度等于测量板的的厚度。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板为网板。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板上的测量孔为圆孔。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述主定位杆为可伸缩杆。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述副定位杆的形状为T型。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板的前端和后端均设有可以转动的副定位杆。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述平板的性状为矩形。

所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述平板位于测量尺的一侧。

本发明设计合理，结构简单，使用方便，且具有如下有益效果：（1）可以根据对称牙弓情况，调整宽度、长度，从而可以精确测量Spee曲线深度；（2）对于不对称牙弓，可以调整测量板，使之与牙列弓形相称，从而可以精确测量Spee曲线深度；（3）对于带有复杂Spee曲线的牙弓，如尖牙高出牙合平面，用直尺或者平板由于尖牙的干扰无法确切估计Spee曲线深度，则用本装置可以调整测量板、副定位杆，使测量板整体向后调整，绕过高位尖牙的干扰，从而可以精确测量Spee曲线深度；（4）对于下颌中线偏斜的牙弓，可以调整主定位杆前端的方向，使本装置主定位杆定位在牙列中线上，从而可以精确测量Spee曲线深度；（5）对于双侧牙弓长度不对称的牙弓，通过调整本装置的主定位杆及副定位杆，可以使双侧副定位杆精确定位在两侧最远端磨牙的颊尖上，从而可以精确测量Spee曲线深度；（6）对于个别狭长的牙弓，本装置可以压缩主定位杆的长度，及调整副定位杆的角度，满足下切牙中点及后牙区的定位；（7)在测量Spee曲线深度时，本装置可为口腔下颌牙列提供一个由主、副定位杆及测量板构成的具体的下颌平面，将原先的假想平面变成可以定位测量的具体的平面，保证了每一次测量时，下颌平面的稳定性和确定性，便于医生精确测量；(8)在测量Spee曲线深度时，本装置可以完整定位下颌平面，且完整地盖过下颌“牙尖”正上方，由于假想平面变成具体可以测量的平面，可以避免运用普通直尺测量左右两侧Spee曲线深度时其两侧的参考平面不一致的问题，提升了医生测量的精度；(9)测量尺下端设置平板，在测量时测量尺下面与测量板贴合，即可保证测量到Spee曲线最低位“牙尖”到测量板的垂直距离，而非倾斜的长度。保证了测量的精确性；（10）在不确定最低位“牙尖”时，医生可以通过反复测量，比对多次测量后的数据，直到找到左右两侧的最低点，这也是在参考平面确定的前提下得以实现的；（11）本装置所设计的测量尺子带有高精度的测量刻度，可以精确测量，避免了医生运用直尺充当下颌平面然后肉眼粗略估计Spee曲线最低位“牙尖”到下颌平面的距离所造成的误差。

附图说明

图1 、图2和图3分别是本发明定位装置的结构示意图；其中：图1测量板为网板；图2测量板上的测量孔为圆孔；图3的测量板前后两端均设置副定位杆；

图4和图5是本发明测量装置的结构示意图；其中：图4为测量笔伸出测量板外进行测量时的结构示意图；图5为测量笔的上端对准测量板上起始刻度线时的正视结构示意图；

图中：1-测量板；2-主定位杆；3-副定位杆；4-连杆；K1-测量尺；K2-测量笔；K3-刻度；K4-平板。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步说明。

本发明提供的一种Spee曲线深度测量装置，包括两个部分，即定位装置和测量装置。定位装置的设计其目的是为了能提供一种针对不同患者牙列状态进行准确定位的的测量面板，即将口腔下颌牙列的假想平面转化为一个具体的可测量的平面。本测量装置是用于测量Spee曲线最低位“牙尖”到定位装置所在平面的垂直距离。为了实现准确测量，定位装置的设计如下：其主要包括测量板1、主定位杆2和位于测量板1后端可转动的副定位杆3；测量板1、主定位杆2、副定位杆3均位于同一平面，测量板1通过两根活动连杆4与主定位杆2活动连接。测量板1上设有若干测量孔，可以为圆孔，也可以为别的形状；当然，也可以直接将测量板1设计为有网格构成的网板。测量装置垂直插入测量板1上的测量孔，其伸入端顶住测量牙的Spee曲线最低位“牙尖”进行测量。主定位杆2是定位在牙列中线，与左、右牙列相对应的左、右两块测量板1放置在牙列上方。 由于不正常的尖牙是位于牙弓的前方，此时，副定位杆3的位置设置在测量板1的前方, 或者测量板1的前后均设置副定位杆3。

测量装置包括设有刻度K3的测量尺K1，所述测量尺K1内设有可以上下滑动的测量笔K2，所述测量笔K2的上端对准起始刻度线（即0刻度线），下端伸出测量尺（K1），其伸出测量尺K1的长度等于测量板的1的厚度。

为了减少人为误差，实现垂直测量，本发明的测量装置最好在测量尺K1的最下端设置平板K4，该平板K4与测量尺K1垂直，在测量时测量尺K1最下端与测量板1贴合，即可保证测量Spee曲线最低位“牙尖”到测量板的垂直距离，而非倾斜的长度。平板K4可以位于测量尺K1的两侧，但为了测量方便，最好设计在其中一侧。此时平板K4与测量尺K1构成的形状呈“L型”。

为了实现主定位杆2前后移动，主定位杆2最好设计为可伸缩杆， 可以根据牙列的长度实现伸长和缩短。

为了适应更多的牙列畸形，本发明将副定位杆3的形状设计为T型。其可以实现如下效果：如对于带有复杂Spee曲线的牙弓，如尖牙高出牙合平面，用直尺或者平板由于尖牙的干扰无法确切估计Spee曲线深度，则用本装置可以调整测量板，副定位杆，使测量板整体向后调整，绕过高位尖牙的干扰，从而可以精确测量Spee曲线深度。

测量时，先观察口腔模型下颌牙列的形态特征，根据牙弓左右是否对称、牙弓后牙区最后磨牙的前后位置、后牙段牙弓的对称性、下颌牙列中线的位置等具体情况，先调整副定位杆将其放置在两侧最远中磨牙的颊尖上，调整左右连杆使得左右测量板放置在两侧牙弓正上方，最后调整主定位杆的方向与长度，使主定位杆定位在下颌中切牙的中点。这样就将一个假想的下颌平面转化成一个具体的可视的直观的平面。医生用左手将定位好的测量装置和口腔模型贴合固定，此时拿起模型便可从各个角度观察口腔下颌模型两侧各Spee曲线最低位“牙尖”到测量板的距离，找到最低位“牙尖”，将测量笔从其上方测量孔伸出到此“牙尖”上，因测量尺的下端为一平面，测量时，该平面与测量尺贴合，即可确保Spee曲线最低位“牙尖”到测量板的数据为垂直距离，测量完一侧再测另一侧，由于测量时本装置始终与口腔模型贴合，故确保了测量左右两侧时参考平面的稳定性和唯一性，医生将两侧所测的Spee曲线深度相加除以2再加0.5mm即为整平该患者Spee曲线深度所需要的间隙。测量笔的使用将Spee曲线最低位“牙尖”到下颌参考平面的垂直距离做到了精确的测量。若不确定最低“牙尖”，可以通过多次测量直至测量到最低位“牙尖”到测量板的距离。对于异常高位尖牙错

牙合畸形的患者，本装置可以调整主副定位杆、连杆，让测量板整体后移及外移，让测量板绕开高位尖牙的干扰，前端调整主定位杆长度和方向，依然定位在口腔模型下颌牙列中线处，故绕开了高位尖牙对下颌平面定位的干扰，定位后再如上述测量即可。

本发明不局限于上述最佳实施方式，任何人在本发明的启示下都可得出其他各种形式的产品，但不论在其形状或结构上作任何变化，凡是具有与本申请相同或相近似的技术方案，均落在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于其由定位装置及用于测量下颌Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在牙列中线的主定位杆（2），用于分别放置在左、右牙列上方的两块测量板（1），测量板（1）的前端或后端设有可以转动的副定位杆（3），测量板（1）上设有若干测量孔；所述测量板（1）通过连杆（4）与主定位杆（2）活动连接；所述测量板（1）、主定位杆（2）、副定位杆（3）位于同一平面；所述测量装置包括设有刻度（K3）的测量尺（K1）和位于测量尺（K1）内且可上下滑动的测量笔（K2）。

2.根据权利要求1所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量笔（K2）的上端对准起始刻度线，下端伸出测量尺（K1），其伸出测量尺（K1）的长度等于测量板的（1）的厚度。

3.根据权利要求1所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量装置还包括平板（K4），所述平板（K4）位于测量尺（K1）的最下端，且与测量尺（K1）垂直。

4.根据权利要求1所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板（1）为网板。

5.根据权利要求1所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板（1）上的测量孔为圆孔。

6.根据权利要求1所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述主定位杆（2）为可伸缩杆。

7.根据权利要求1所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述副定位杆（3）的形状为T型。

8.根据权利要求1所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述测量板（1）的前端和后端均设有可以转动的副定位杆（3）。

9.根据权利要求3所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述平板（K4）的性状为矩形。

10.根据权利要求3所述的一种Spee曲线深度测量装置，其特征在于：所述平板（K4）位于测量尺（K1）的一侧。