CN204495861U - 一种igbt测试用多脉冲发生电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型一种IGBT测试用多脉冲发生电路，所述电路包括按键延时整形电路，用于将按键按下后产生的按键信号进行延迟整形，以滤除按键时产生的抖动；下降沿检测电路，与所述按键延时整形电路连接，用于在检测到所述按键信号的下降沿时发出脉冲信号；信号锁定电路，与所述下降沿检测电路连接，用于将所述脉冲信号进行锁定为一高电平信号；脉冲振荡电路，与所述信号锁定电路连接，用于在所述脉冲信号变成高电平时进行振荡，输出一方波；脉冲计数电路，与所述脉冲振荡电路连接，用于将所述脉冲振荡电路输出的脉冲分为多路，以输出多脉冲。该多脉冲发生电路具有脉冲数目，脉冲占空比，脉冲频率均可调等优点。

Description

一种IGBT测试用多脉冲发生电路

技术领域

本实用新型涉及一种脉冲发生电路，特别涉及一种IGBT测试用多脉冲发生电路。

背景技术

IGBT作为一种大功率半导体功率开关器件，广泛应用于电机变频调速以及各种高性能电源、工业电气自动化等领域有着广阔的市场。在IGBT模块的实际应用过程中，必须观测IGBT在变换器中工作时的实际表现，了解此时IGBT模块的开关行为的各项参数，观测这些参数，最有效的方法就是脉冲测试法。因此，提供一种可以调节脉冲个数，脉冲占空比，脉冲频率的电路迫在眉睫。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种IGBT测试用多脉冲发生电路，旨在解决现有多脉冲发生电路不能调节脉冲个数，脉冲占空比和脉冲频率的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型通过如下技术方案实现的：

一种IGBT测试用多脉冲发生电路，所述电路包括

按键延时整形电路，用于将按键按下后产生的按键信号进行延迟整形，以滤除按键时产生的抖动；

下降沿检测电路，与所述按键延时整形电路连接，用于在检测到所述按键信号的下降沿时发出脉冲信号；

信号锁定电路，与所述下降沿检测电路连接，用于将所述脉冲信号进行锁定为一高电平信号；

脉冲振荡电路，与所述信号锁定电路连接，用于在所述脉冲信号变成高电平时进行振荡，输出一方波；

脉冲计数电路，与所述脉冲振荡电路连接，用于将所述脉冲振荡电路输出的脉冲分为多路，以输出多脉冲。

作为进一步的技术方案，所述按键延时整形电路包括：

与VCC连接的按键S1；

电阻R3，所述电阻R3一端接地，一端与所述按键S1并联；

电阻R4，所述电阻R4一端与所述按键S1连接，一端与所述R3连接；

三极管Q1，该三极管Q1的集电极与VCC连接，发射极与芯片的清零端连接，用于对按键信号进行清零；

电容C3，通过电阻R4与按键S1连接，用于滤除按键时产生的抖动；

反相器D1和反相器D2，所述反相器D1一端与R4连接，一端与所述反相器D2连接，用于将电压整形成方波。

作为进一步的技术方案，所述下降沿检测电路包括：

电容C4，与所述反相器D2连接，所述C4两端电压在所述反相器D2由高电平跳变为低电平时不能发生突变；

施密特触发器D3，与所述电容C4连接，用于在所述反相器D2的输出由高电平跳变为低电平时，施密特触发器的2脚变为低电平，3脚输出一高电平脉冲。

作为进一步的技术方案，所述信号锁定电路包括：

D触发器D10，所述D触发器的5脚与所述施密特触发器D3连接，用于接收所述施密特触发器D3的3脚输出；

电容C5，所述电容C5用于接收所述施密特触发器的另一路输出。

作为进一步的技术方案，所述脉冲振荡电路包括：

依次连接的三个施密特触发器D4、D5和D6，所述施密特触发器D4与所述D触发器D10连接，用于接收D触发器D10的一脚输出；

电感RT1和电感RT2，所述电感RT1的一端连接施密特触发器D4的一脚， 另一端连接所述电感RT2，所述电感RT2的与电子R13和R14组成并联回路后与所述施密特触发器D5的一脚连接，用于接收到高电平时开始振荡；

反相器D20，与所述施密特触发器D6连接，用于对振荡信号进行反相。

作为进一步的技术方案，所述脉冲计数电路包括：

移位寄存器D30，与所述脉冲振荡电路连接，用于接收所述脉冲振荡电路的两路脉冲，其中一路作为所述移位寄存器D30的时钟并发出一个脉冲。

作为进一步的技术方案，所述脉冲计数电路还包括多个移位寄存器D30，所述多个移位寄存器D30通过级联实现。

有益效果：

该脉冲发生电路主要由按键延时整形电路、下降沿检测电路、信号锁定电路、脉冲振荡电路、脉冲计数电路五部分组成。按键按下后，按键信号被延迟整形以滤除按键时的抖动；然后检测出信号的下降沿——即在按键松开以后才会发出脉冲；检测信号送入信号锁定电路，使脉冲振荡电路开始工作产生占空比和频率均可调的方波脉冲作为IGBT的驱动信号；同时，脉冲计数电路工作，当脉冲数目达到设定数目时，将整个系统清零，等待下一次按键。该多脉冲发生电路具有脉冲数目，脉冲占空比，脉冲频率均可调等优点。

附图说明

图1是本实用新型的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的电路框图。

图2是本实用新型的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的按键延时整形电路的电路示意图

图3是本实用新型的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的下降沿检测电路的电路示意图。

图4是本实用新型的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的信号锁定电路的电路示意图。

图5是本实用新型的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的脉冲振荡电路的电 路示意图。

图6是本实用新型的一种IGBT测试用多脉冲发生电路的脉冲计数电路的电路示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

为了说明本实用新型所述的技术方案，下面通过具体实施例来说明。

如图1所示，一种IGBT测试用多脉冲发生电路，所述电路包括

按键延时整形电路1，用于将按键按下后产生的按键信号进行延迟整形，以滤除按键时产生的抖动；

下降沿检测电路2，与所述按键延时整形电路1连接，用于在检测到所述按键信号的下降沿时发出脉冲信号；

信号锁定电路3，与所述下降沿检测电路2连接，用于将所述脉冲信号进行锁定为一高电平信号；

脉冲振荡电路4，与所述信号锁定电路3连接，用于在所述脉冲信号变成高电平时进行振荡，输出一方波；

脉冲计数电路5，与所述脉冲振荡电路4连接，用于将所述脉冲振荡电路输出的脉冲分为多路，以输出多脉冲。

请参见图2，所述按键延时整形电路1包括：

与VCC连接的按键S1；

电阻R3，所述电阻R3一端接地，一端与所述按键S1并联；

电阻R4，所述电阻R4一端与所述按键S1连接，一端与所述R3连接；

三极管Q1，该三极管Q1的集电极与VCC连接，发射极与芯片的清零端连接，用于对按键信号进行清零；

电容C3，通过电阻R4与按键S1连接，用于滤除按键时产生的抖动；

反相器D1和反相器D2，所述反相器D1一端与R4连接，一端与所述反相器D2连接，用于将电压整形成方波。

具体的，当按键S1被按下后，5V电压经S1加到R3、R4、C2一端；此时C2呈短路状态，与R5连接的一端为5V，并经过R5对地放电，此处电压经Q1放大后通向各逻辑芯片清零端，实现按键清零功能。同时，5V电压经R4给C3充电，以滤除按键时产生的抖动，C3电压又经两个反相器D1和D2(采用反相器CD4069)整形成方波输入下一级。

请参见图3，所述下降沿检测电路2包括：

电容C4，与所述反相器D2连接，所述C4两端电压在所述反相器D2由高电平跳变为低电平时不能发生突变；

施密特触发器D3，与所述电容C4连接，用于在所述反相器D2的输出由高电平跳变为低电平时，施密特触发器的2脚变为低电平，3脚输出一高电平脉冲。

具体的，当反相器D2输出由高电平跳变为低电平(按键S1没有被按下)时，C4两端电压不能发生突变，施密特触发器D3(也即施密特触发器CD4093)的2脚此时变成低电平，因此施密特触发器CD4093的3脚输出为一高电平脉冲。

请参见图4，所述信号锁定电路3包括：

D触发器D10，所述D触发器的5脚与所述施密特触发器D3连接，用于接收所述施密特触发器D3的3脚输出；

电容C5，所述电容C5用于接收所述施密特触发器的另一路输出。

具体的，施密特触发器CD4093的3脚输出分为两路输入D触发器D10。一路经R8直接输入D触发器D10的5脚，另外一路经R7给C5充电，将信号延迟后再经两个反相器CD4069整形后输入D触发器D10的3脚，作为时钟电平。如此在时钟上升沿时，因为5脚为高电平，因此输出为由清零后的低电平跳变为高电平，而此后虽然信号又跌落到低电平，但因为没有下一个时钟上升沿的到来，D触发器D10的输入就一直锁定为高电平。D触发器D10的4脚清 零端接拨码开关S2用于设置脉冲个数。

请参见图5，所述脉冲振荡电路4包括：

依次连接的三个施密特触发器D4、D5和D6，所述施密特触发器D4与所述D触发器D10连接，用于接收D触发器D10的一脚输出；

电感RT1和电感RT2，所述电感RT1的一端连接施密特触发器D4的一脚，另一端连接所述电感RT2，所述电感RT2的与电子R13和R14组成并联回路后与所述施密特触发器D5的一脚连接，用于接收到高电平时开始振荡；

反相器D20，与所述施密特触发器D6连接，用于对振荡信号进行反相。

其中，当D触发器D10的1脚向反相器D20的5脚输出低电平时，振荡停止；当变成高电平时，振荡开始，输出为方波，频率和占空比由RT1和RT2调节。

请参见图6，所述脉冲计数电路5包括：

移位寄存器D30，与所述脉冲振荡电路4连接，用于接收所述脉冲振荡电路4的两路脉冲，其中一路作为所述移位寄存器D30的时钟并发出一个脉冲。

需要说明的是，由振荡器输出的脉冲分为两路，一路作为驱动信号传送给IGBT模块的驱动电路，另一路作为移位寄存器D30的时钟，发生一个脉冲，移位寄存器D30的3脚、2脚、4脚、7脚、10脚、1脚、5脚、6脚、9脚、11脚会依次由低电平跳变到高电平，然后再跳变回低电平。此10个脚与拨码开关S2相连，当S2设置成某个开关导通，经过一串脉冲后，移位寄存器D30被清零，整个系统停止。以此电路能够在1～10以内设定输出脉冲的个数，并且如果需要输出更多的脉冲数，还能够通过级联多片移位寄存器D30来实现。

需要说明的是，所述脉冲计数电路还包括多个移位寄存器D30，所述多个移位寄存器D30通过级联实现。

该脉冲发生电路主要由按键延时整形电路1、下降沿检测电路2、信号锁定电路3、脉冲振荡电路4、脉冲计数电路5五部分组成。按键按下后，按键信号被延迟整形以滤除按键时的抖动；然后检测出信号的下降沿——即在按键松开 以后才会发出脉冲；检测信号送入信号锁定电路，使脉冲振荡电路开始工作产生占空比和频率均可调的方波脉冲作为IGBT的驱动信号；同时，脉冲计数电路工作，当脉冲数目达到设定数目时，将整个系统清零，等待下一次按键。该多脉冲发生电路具有脉冲数目，脉冲占空比，脉冲频率均可调等优点

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种IGBT测试用多脉冲发生电路，其特征在于，所述电路包括

按键延时整形电路，用于将按键按下后产生的按键信号进行延迟整形，以滤除按键时产生的抖动；

下降沿检测电路，与所述按键延时整形电路连接，用于在检测到所述按键信号的下降沿时发出脉冲信号；

信号锁定电路，与所述下降沿检测电路连接，用于将所述脉冲信号进行锁定为一高电平信号；

脉冲振荡电路，与所述信号锁定电路连接，用于在所述脉冲信号变成高电平时进行振荡，输出一方波；

脉冲计数电路，与所述脉冲振荡电路连接，用于将所述脉冲振荡电路输出的脉冲分为多路，以输出多脉冲。

2.根据权利要求1所述的一种IGBT测试用多脉冲发生电路，其特征在于，所述按键延时整形电路包括：

与VCC连接的按键S1；

电阻R3，所述电阻R3一端接地，一端与所述按键S1并联；

电阻R4，所述电阻R4一端与所述按键S1连接，一端与所述R3连接；

三极管Q1，该三极管Q1的集电极与VCC连接，发射极与芯片的清零端连接，用于对按键信号进行清零；

电容C3，通过电阻R4与按键S1连接，用于滤除按键时产生的抖动；

反相器D1和反相器D2，所述反相器D1一端与R4连接，一端与所述反相器D2连接，用于将电压整形成方波。

3.根据权利要求2所述的一种IGBT测试用多脉冲发生电路，其特征在于，所述下降沿检测电路包括：

电容C4，与所述反相器D2连接，所述C4两端电压在所述反相器D2由高 电平跳变为低电平时不能发生突变；

施密特触发器D3，与所述电容C4连接，用于在所述反相器D2的输出由高电平跳变为低电平时，施密特触发器的2脚变为低电平，3脚输出一高电平脉冲。

4.根据权利要求3所述的一种IGBT测试用多脉冲发生电路，其特征在于，所述信号锁定电路包括：

D触发器D10，所述D触发器的5脚与所述施密特触发器D3连接，用于接收所述施密特触发器D3的3脚输出；

电容C5，所述电容C5用于接收所述施密特触发器的另一路输出。

5.根据权利要求4所述的一种IGBT测试用多脉冲发生电路，其特征在于，所述脉冲振荡电路包括：

依次连接的三个施密特触发器D4、D5和D6，所述施密特触发器D4与所述D触发器D10连接，用于接收D触发器D10的一脚输出；

电感RT1和电感RT2，所述电感RT1的一端连接施密特触发器D4的一脚，另一端连接所述电感RT2，所述电感RT2的与电子R13和R14组成并联回路后与所述施密特触发器D5的一脚连接，用于接收到高电平时开始振荡；

反相器D20，与所述施密特触发器D6连接，用于对振荡信号进行反相。

6.根据权利要求5所述的一种IGBT测试用多脉冲发生电路，其特征在于，所述脉冲计数电路包括：

移位寄存器D30，与所述脉冲振荡电路连接，用于接收所述脉冲振荡电路的两路脉冲，其中一路作为所述移位寄存器D30的时钟并发出一个脉冲。

7.根据权利要求6所述的一种IGBT测试用多脉冲发生电路，其特征在于，所述脉冲计数电路还包括多个移位寄存器D30，所述多个移位寄存器D30通过级联实现。