CN204439591U - 电化学性能测试用三电极体系的一种工作电极 - Google Patents

电化学性能测试用三电极体系的一种工作电极 Download PDF

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杨晨
郑栓
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Abstract

电化学性能测试用三电极体系的一种工作电极,涉及一种电化学检测技术领域,包括聚四氟乙烯绝缘本体、贯穿于聚四氟乙烯绝缘本体内的铜丝,在绝缘本体的一端固定设置铜片,铜丝的一端与所述铜片相互连接,在裸露铜片的绝缘本体的端部通过螺纹连接一聚四氟乙烯绝缘副本体,在朝向铜片的绝缘副本体端开设放置平面电极的凹槽,与凹槽相对的绝缘副本体的另一端开设连通的通孔。本实用新型具有良好的绝缘性和不易粘结的特点,该装置的底部可拆卸,且底部中间有一凹槽,便于平面电极的更换与放置,使沉积有待测材料的平面电极一面与电解液直接接触,完成电化学性能测试。

Description

电化学性能测试用三电极体系的一种工作电极
技术领域
本实用新型涉及一种电化学检测技术领域。
背景技术
由电解池、工作电极、参比电极和对电极组成的“三电极体系”是进行电化学检测的关键部件。在三电极体系中,电解池用于容纳工作电极、参比电极和对电极,并提供电化学反应的空间。目前工作电极多为在玻碳电极表面修饰上合成的新材料,每次实验都需要首先清洗处理干净玻碳电极表面,然后进行修饰,用于三电极体系进行电化学检测。其缺陷是操作复杂,如在修饰前清洗不净,则直接影响修饰效果,也对所需检测的材料的相关性能测试不准,同时也影响和检测效率。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种方便、高效、准确进行电化学性能测试的三电极体系的工作电极。
本实用新型包括聚四氟乙烯绝缘本体、贯穿于聚四氟乙烯绝缘本体内的铜丝,特点是:在所述绝缘本体的一端固定设置铜片,所述铜片的一个表面裸露于绝缘本体的端面,铜丝的一端与所述铜片相互连接,在裸露铜片的绝缘本体的端部通过螺纹连接一聚四氟乙烯绝缘副本体,在朝向铜片的绝缘副本体端开设放置平面电极的凹槽,与凹槽相对的绝缘副本体的另一端开设通孔,所述通孔与所述凹槽连通。
采用本实用新型为工作电极进行测试前,只需将绝缘副本体从绝缘本体上拆下,在绝缘副本体的凹槽中装入比通孔略大的平面电极,再将绝缘副本体连接在绝缘本体上,形成完整的工作电极。电解池内的电解液可从通孔中进入与平面电极接触,而平面电极又通过铜片与铜丝形成导电连接,实现溶液中某物质的电子转移,进而完成平面电极电化学性能测试。所以,本实用新型形成的工作电极可与饱和甘汞电极、铂电极构成三电极体系进行电化学测试。
由于本实用新型的绝缘本体和绝缘副本体都为聚四氟乙烯材料制成,除了具有良好的绝缘性以外,还具有不易粘结的特点,而待测的材料性能则通过合成的方法负载于平面电极上,平面电极可以方便地通过上述结构进行更换。所以在每次测试前无须象原有技术一样对玻碳电极表面进行清洁处理后再修饰。因此本实用新型该装置的底部可拆卸,且底部中间有一凹槽,便于平面电极的更换与放置,使沉积有待测材料的平面电极一面与电解液直接接触,完成电化学性能测试。
附图说明
图1为本实用新型的一种结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,本实用新型设有由聚四氟乙烯材料制成的聚四氟乙烯绝缘本体1,绝缘本体1的下端设置外螺丝纹,铜丝2贯穿于绝缘本体1内,在绝缘本体1的下端固定设置铜片3,铜片3的下表面裸露于绝缘本体1的下端面,铜丝2的下端与铜片3以缠绕方式相互连接。
在裸露铜片3的绝缘本体1的下端部通过设置的内螺纹螺纹连接聚四氟乙烯绝缘副本体4,绝缘副本体4也以聚四氟乙烯材料制成。在朝向铜片3的绝缘副本体4端开设放置平面电极5的凹槽6,与凹槽6相对的绝缘副本体4的另一端开设通孔7,并使通孔7与凹槽6连通。
应用示例:
1、制作平面电极:以CN201410512298.4公开的一种合成银基底的方法合成Ag/Ti基底材料。
2、将合成的Ag/Ti基底材料作为平面电极,安装于本实用新型的凹槽6内,形成工作电极。
3、将上述工作电极与饱和甘汞、铂电极的一端置于电解池中,并使工作电极与铂电极形成电流回路,工作电极与饱和甘汞电极形成无电流通路,并在电解池中放入搅拌磁子,放置在恒温磁力搅拌器上,进行平面电极电化学性能测试之前,开启搅拌器将电解液搅拌均匀,进行电化学测试。

Claims (1)

1. 电化学性能测试用三电极体系的一种工作电极,包括聚四氟乙烯绝缘本体、贯穿于聚四氟乙烯绝缘本体内的铜丝,其特征在于,在所述绝缘本体的一端固定设置铜片,所述铜片的一个表面裸露于绝缘本体的端面,铜丝的一端与所述铜片相互连接,在裸露铜片的绝缘本体的端部通过螺纹连接一聚四氟乙烯绝缘副本体,在朝向铜片的绝缘副本体端开设放置平面电极的凹槽,与凹槽相对的绝缘副本体的另一端开设通孔,所述通孔与所述凹槽连通。
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