CN204405799U - 一种电路测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种电路测试装置，包括数字逻辑电路、键盘、存储器、数/模转换器、显示器、运算放大器和开关K1；数字逻辑电路、键盘、存储器、数/模转换器和显示器均与数字逻辑电路相连；数/模转换器的输出端经电阻R1接运算放大器的同相输入端，运算放大器的输出端经电阻R4和R3组成的分压电路接地；电阻R2连接运算放大器的反向输入端和电阻R3和R4的连接点P；运算放大器的输出端经电阻R5接电路测试装置的电压输出端Q；-5V电源依次经电阻R6和开关K1接电路测试装置的电压输出端Q。该电路测试装置设置输出电压灵活方便，适合于多种类型的电路测试，通用性好。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种电路测试装置。
背景技术
现有的电路测试装置，其电压输出模块类似于一个电压手动可调的恒压源，一般根据旋纽调节输出电压的大小，给电路提供电源，从而对电路或电路板实施测试，这种电路测试装置功能简单，灵活性较差，无法满足更复杂的测试要求。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种电路测试装置，该电路测试装置设置输出电压灵活方便，适合于多种类型的电路测试，通用性好。
实用新型的技术解决方案如下：
一种电路测试装置，包括数字逻辑电路、键盘、存储器、数/模转换器、显示器、运算放大器和开关K1；
数字逻辑电路、键盘、存储器、数/模转换器和显示器均与数字逻辑电路相连；数/模转换器的输出端经电阻R1接运算放大器的同相输入端，运算放大器的输出端经电阻R4和R3组成的分压电路接地；电阻R2连接运算放大器的反向输入端和电阻R3和R4的连接点P；
运算放大器的输出端经电阻R5接电路测试装置的电压输出端Q；
-5V电源依次经电阻R6和开关K1接电路测试装置的电压输出端Q。
电阻R1～R6均为1000Ω。
所述的开关K1为继电器的常开开关，所述的继电器受控于数字逻辑电路。
开关K1也可以是普通的手动开关。
所述的数字逻辑电路采用集成数据处理芯片，所述的集成数据处理芯片为单片机或DSP。
数字逻辑电路完全可以采用普通的逻辑器件来搭接，这样会体积膨大，优选的方式是采用集成器件如单片机或DSP。
本实用新型虽然涉及到单片机或DSP，但是并没有对单片机或DSP本身进行改进，本实用新型现对于现有技术的改进在于整体上的改进，另外，也不涉及到方法和程序，只是利用单片机或DSP代替数字逻辑电路时，只是利用单片机或DSP本身具有的功能，因此，本实用新型属于实用新型的保护客体。
有益效果：
本实用新型的电路测试装置，采用键盘和数字逻辑电路以及数/模转换器(DAC)输出初始的模拟电压Uin，再基于运算放大器构建同相放大器将初始的模拟电压放大得到U1，U1再选择性的与-5V电源进一步分压，最终输出Uout，Uout可以是正电压，负电源，也可以是变化的电压(如正弦波形，方波形，三角波形的电压等)，因此，这种电路测试装置能为被测电路提供灵活多变的电源供应。
另外，本实用新型的一大创新在于可以通过开关K1选择将-5V电压接入电路形成负压。开关K1可以是手动，当开关K1是继电器的常开开关时，而继电器又受控于数字逻辑电路时，该开关的控制就变成自动了。因此，这种电路模式灵活性好，适用性广。
综上所述，本实用新型的电路测试装置功能丰富，灵活性好，易于实施。
附图说明
图1为电路测试装置的内部电路示意图。
具体实施方式
以下将结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步详细说明：
实施例1：如图1，一种电路测试装置，包括数字逻辑电路、键盘、存储器、数/模转换器、显示器、运算放大器和开关K1；
数字逻辑电路、键盘、存储器、数/模转换器和显示器均与数字逻辑电路相连；数/模转换器的输出端经电阻R1接运算放大器的同相输入端，运算放大器的输出端经电阻R4和R3组成的分压电路接地；电阻R2连接运算放大器的反向输入端和电阻R3和R4的连接点P；
运算放大器的输出端经电阻R5接电路测试装置的电压输出端Q；
-5V电源依次经电阻R6和开关K1接电路测试装置的电压输出端Q。
电阻R1～R6均为1000Ω。
所述的开关K1为继电器的常开开关，所述的继电器受控于数字逻辑电路。
开关K1也可以是普通的手动开关。
所述的数字逻辑电路采用集成数据处理芯片，所述的集成数据处理芯片为单片机或DSP。
工作过程说明：
基于运算放大器的同向放大电路，其放大倍数为2；如果需要最终的5V电压输出(Uout)，只需通过按键控制DAC输出的Uin为2.5V即可。而且此时开关K1需要断开。
如需要输出-2.5V的电压，则只要保证开关K1合上，且U1为零即可(此时Uin为0)。
DAC还可以输出变化的电压，则Q点输出的Uout也为一个变化的电压值，从而为待测电路提供灵活多变的输入信号或电压供应。
Claims (4)
1.一种电路测试装置，其特征在于，包括数字逻辑电路、键盘、存储器、数/模转换器、
显示器、运算放大器和开关K1；
数字逻辑电路、键盘、存储器、数/模转换器和显示器均与数字逻辑电路相连；
数/模转换器的输出端经电阻R1接运算放大器的同相输入端，运算放大器的输出端经电阻R4和R3组成的分压电路接地；电阻R2连接运算放大器的反向输入端和电阻R3和R4的连接点P；
运算放大器的输出端经电阻R5接电路测试装置的电压输出端Q；
-5V电源依次经电阻R6和开关K1接电路测试装置的电压输出端Q。
2.根据权利要求1所述的电路测试装置，其特征在于，电阻R1～R6均为1000Ω。
3.根据权利要求1所述的电路测试装置，其特征在于，所述的开关K1为继电器的常开开关，所述的继电器受控于数字逻辑电路。
4.根据权利要求1-3任一项所述的电路测试装置，其特征在于，所述的数字逻辑电路采用集成数据处理芯片，所述的集成数据处理芯片为单片机或DSP。
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| CN201520090647.8U CN204405799U (zh) | 2015-02-07 | 2015-02-07 | 一种电路测试装置 |
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| CN204405799U true CN204405799U (zh) | 2015-06-17 |
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| CN (1) | CN204405799U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110857959A (zh) * | 2018-08-24 | 2020-03-03 | 西安恩狄集成电路有限公司 | 一种芯片复位测试板及测试方法 |
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2015
- 2015-02-07 CN CN201520090647.8U patent/CN204405799U/zh not_active Expired - Fee Related
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Legal Events
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| GR01 | Patent grant | ||
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Granted publication date: 20150617 Termination date: 20160207 |