CN201780313U - 一种可调电阻式测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可调电阻式测试装置，包括测试接口、可调电阻、运算放大器、三极管和电阻；所述运算放大器的正向输入端与所述可调电阻的第一端连接，反向输入端通过所述电阻连接所述测试接口的第一端，运算放大器的输出端连接所述三极管的基极；所述三极管的集电极与所述测试接口的第二端连接，发射极连接所述电阻的输入端；所述可调电阻的第二端与三极管的集电极连接，可调电阻的第三端与所述电阻的输出端连接；所述测试接口的第三输入端连接电源，测试接口的第四端接地。本实用新型在电阻阻值不变的情况下，通过调节可调电阻的阻值，改变测试装置的实际电阻值，从而满足不同附件的测试阻值的要求，而且实现方式非常简单。

Description

一种可调电阻式测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种移动终端测试的电阻，特别涉及一种可调电阻式测试装置。

背景技术

目前在手机和手机附件测试时，经常会用到不同的电阻值。比如在进行充电器测试时，会使用一些特殊阻值的电阻，而且这些测试对这种电阻的功率和精度都有一定的要求。

为了测试，需要专门做一些不同的测试夹具以适应不同电阻值的要求，在测试过程中需要不断地更换电阻的阻值，从而导致需经常更换测试夹具，这样影响了测试时间，并且很可能影响测试精度。

因而现有技术还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种可调电阻式测试装置，能根据需要调节测试装置的阻值。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

一种可调电阻式测试装置，包括测试接口和可调电阻，其中，还包括运算放大器、三极管和电阻；所述运算放大器的正向输入端与所述可调电阻的第一端连接，反向输入端通过所述电阻连接所述测试接口的第一端，运算放大器的输出端连接所述三极管的基极；所述三极管的集电极与所述测试接口的第二端连接，发射极连接所述电阻的输入端；所述可调电阻的第二端与三极管的集电极连接，可调电阻的第三端与所述电阻的输出端连接；所述测试接口的第三输入端连接电源，测试接口的第四端接地。

所述的可调电阻式测试装置，其中，所述运算放大器的增益大于60db。

所述的可调电阻式测试装置，其中，所述运算放大器采用电压串联负反馈模式。

所述的可调电阻式测试装置，其中，三极管为NPN三极管。

本实用新型提供的可调电阻式测试装置，是利用测试接口、可调电阻、运算放大器、三极管和电阻搭建而成的有源电路，所述运算放大器的正向输入端与所述可调电阻的第一端连接，反向输入端通过所述电阻连接所述测试接口的第一端，运算放大器的输出连接所述三极管的基极；所述三极管的集电极与所述测试接口的第二端连接，发射极连接所述电阻的输入端；所述可调电阻的第二端与三极管的集电极连接，可调电阻的第三端与所述电阻的输出端连接。在电阻阻值不变的情况下，通过调节可调电阻的阻值，改变测试装置的实际电阻值，从而满足不同附件的测试阻值的要求，实现方式非常简单，而且测试装置的电路结构简单，成本低。

附图说明

图1是本实用新型可调电阻式测试装置的电路示意图。

具体实施方式

本实用新型提供一种可调电阻式测试装置，是利用测试接口、可调电阻、运算放大器、三极管和电阻搭建而成的有源电路，该可调电阻式测试装置所体现的电气特性为电阻。

也就是说，可以将该可调电阻式测试装置当做一个电阻使用，并且该可调电阻式测试装置的输出电阻只需通过修改电路中的可调电阻的参数就可以达到修改测试装置的电阻值的目的。本实用新型可调电阻式测试装置可以使用在各种需要不同电阻的场合，而且调节方式非常简单。

为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实例对本实用新型进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1，本实用新型可调电阻式测试装置包括一壳体(图中未示出)，在所述壳体内设置有测试接口J1、可调电阻RV1、运算放大器A1、三极管Q1和电阻R3。

其中，可调电阻RV1包括三个接线端，分别为第一端a、第二端b和第三端c，并且可调电阻RV1的阻值可以选大一些，譬如，100千欧姆，可调电阻RV1在电路中输入的阻值可以根据需要调节。

本实施例中，假定可变电阻的第三端c在可变电阻的某一个中间状态时，其上部的电阻为R1，下部的电阻为R2。

所述运算放大器A1为差分输入，单端输出的运放，其正向输入端与所述可调电阻RV1的第一端a连接，运算放大器A1的反向输入端通过所述电阻R3连接所述测试接口J1的第一端1，运算放大器A1的输出端与所述三极管Q1的基极连接。

所述三极管Q1的集电极与所述测试接口J1的第二端2连接，三极管Q1的发射极与所述电阻R3的输入端连接。其中，所述可调电阻的第二端b连接三极管Q1的集电极，可调电阻RV1的第三端c连接所述电阻R3的输出端。所述测试接口J1的第三输入端3连接电源，测试接口J1的第四端4接地。

应当说明的是，测试接口J1为常规的测试接口，附图中对该测试接口中各个接线端的标号次序并不表示各接线端的顺序。

以下将本实用新型可调电阻式测试装置的电路工作原理进行详细描述：

在该电路中，三极管Q1在电路中主要起开关作用，其采用NPN(三极管的型号)三极管，并且，三极管发射极的电流流向电阻R3和运算放大器A1的反向输入端。

运算放大器A1采用电压串联负反馈模式，其增益大于60db(Decibel，分贝)，即放大倍数在1000倍以上。所以，本实施例采用的运算放大器A1为理想运放，其特性为：放大倍数无穷大，输入阻抗无穷大。

运算放大器A1的正向输入端的电压由可调电阻RV1分压而来(即R2的对地电压)，运算放大器A1的反向输入端的电压来自电阻R3上的压降，并且反向输入端的电压为反馈电压。这样运算放大器A1正向输入端与反向输入端的电压差为可调电阻RV1上的分压与电阻电阻R3上的压降之差，假设为ΔV_in，运算放大器A1的放大倍数为A(A＞1000)，因此运算放大器A1的输出端驱动三极管Q1的电压为V＝ΔV_in×A，该电压的最大值为运算放大器A1的工作电压Vcc(因为运算放大器A1输出最大电压，即饱和电压为运算放大器的工作电压)。

因而，可以得到

又因，运算放大器A1的放大倍数A在1000以上，其放大倍数非常的大，因而ΔV_in非常的小，可以忽略不计。因此运算放大器A1正向输入端的电压最终会与其反向输入端的电压相等。

根据上述原理，可调电阻RV1在R2上的压降为

，该电压最终等于三极管Q1的电流在R3上的压降为I_in×R₃；

即： $V_{\mathrm{in}}\×\frac{R_2}{R_1+R_2}=I_{\mathrm{in}}\×R_3$ ..............................①

由公式①可以得到： $V_{\mathrm{in}}=I_{\mathrm{in}}\×R_3\×(1+\frac{R_1}{R_2})$ ..............................②

假设，可调电阻式测试装置实际的阻抗为RX(从图1中Rx端看进去的电阻值为整个电路所代表的实际阻抗)，而 $R_x=\frac{V_{\mathrm{in}}}{I_{\mathrm{in}}}$ .........③，

将公式②代入公式③中，因而有 $R_x=R_3\×(1+\frac{R_1}{R_2})$ .............................④。

公式④中，计算出来的电阻值为从Rx端看进去的可调电阻式测试装置的实际电阻值。

由公式④可以看出，在电阻R3固定的情况下，只要修改可调电阻RV1中

的值，就可以改变R_x的阻值，从而达到了改变电阻的目的。

综上所述，本实用新型提供的可调电阻式测试装置，在电阻阻值不变的情况下，通过调节可调电阻的阻值，改变测试装置的实际电阻值，从而满足不同附件的测试阻值的要求，而且实现方式非常简单，适合在各种需要切换不同电阻的测试场合使用。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。

Claims (4)

1.一种可调电阻式测试装置，包括测试接口和可调电阻，其特征在于，还包括运算放大器、三极管和电阻；所述运算放大器的正向输入端与所述可调电阻的第一端连接，反向输入端通过所述电阻连接所述测试接口的第一端，运算放大器的输出端连接所述三极管的基极；所述三极管的集电极与所述测试接口的第二端连接，发射极连接所述电阻的输入端；所述可调电阻的第二端与三极管的集电极连接，可调电阻的第三端与所述电阻的输出端连接；所述测试接口的第三输入端连接电源，测试接口的第四端接地。

2.根据权利要求1所述的可调电阻式测试装置，其特征在于，所述运算放大器的增益大于60db。

3.根据权利要求1所述的可调电阻式测试装置，其特征在于，所述运算放大器采用电压串联负反馈模式。

4.根据权利要求1所述的可调电阻式测试装置，其特征在于，三极管为NPN三极管。

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