CN204302119U - 一种低温数位冲击试验机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及检测设备技术领域,公开了一种低温数位冲击试验机,包括机台本体,所述机台本体设置有低温箱,所述低温箱内设置有用于夹持试样的夹具,所述机台本体设置有用于打开或关闭所述低温箱的密闭门,所述机台本体的上部还设置有用于冲击试样的冲击机构;本冲击试验机在使用时,先将试样装设于夹具中,然后启动机台本体的制冷系统进行低温冷冻,当低温冷冻时间达到后,打开密闭门,启用冲击机构,直接进行冲击试验即可,本冲击试验机无须反复装卸试样,保证在恒定的温度中,直接进行冲击试验,从而试验数据的准确性大大提高,本冲击试验机还具有结构简单、操作方便的优点。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种低温数位冲击试验机。
背景技术
冲击试验机是指对试样施加冲击试验力,进行冲击试验的材料试验机。其一般分为手动摆锤式冲击试验机、半自动冲击试验机、数显冲击试验机、微机控制冲击试验机、非金属冲击试验机等。可以通过更换摆锤和试样底座,可实现简支梁和悬臂梁两种形式的试验。
其中对于橡胶等材料,往往还要对其进行冷冻之后再进行冲击试验,以测试材料在低温环境下的抵抗冲击的性能,目前,一般是先将试样放于低温设备中进行冷冻,当冷冻时间到达后,再将试样取出装入冲击试验机,再进行冲击试验,显然,这种方式在实际应用中,当把试样取出装入冲击试验机的过程中往往需要耗费一定的时间,而且,一旦取出试验,需要即时进行冲击试验,试样在常温的作用下,试样的温度会发生一定的变化,这样,使冲击试验出来的数据不准确。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的不足,提供一种低温数位冲击试验机,本冲击试验机可直接对试样进行冷冻和冲击,其无须反复装卸试样,保证在恒定的温度中,直接进行冲击试验,试验数据的准确性大大提高。
为实现上述目的,本实用新型的一种低温数位冲击试验机,包括机台本体,所述机台本体设置有低温箱,所述低温箱内设置有用于夹持试样的夹具,所述机台本体设置有用于打开或关闭所述低温箱的密闭门,所述机台本体的上部还设置有用于冲击试样的冲击机构。
优选的是,所述冲击机构包括设置于所述夹具上方的固定座,所述固定座设置有摆动槽,所述摆动槽内铰接有第一摆动锤和第二摆动锤,所述固定座装设有用于限制所述第一摆动锤或第二摆动锤摆动的活动插销,所述固定座设置有用于磁吸所述活动插销移动的电磁铁。
优选的是,所述第一摆动锤、第二摆动锤均包括摆动臂和与所述摆动臂连接的冲击锤,所述摆动臂的上部套设有与所述活动插销卡接的卡扣件,所述冲击锤设置有供所述夹具通过的凹槽。
优选的是,所述夹具包括试样座,所述试样座连接有用于夹持试样的固定块和滑动块,所述滑动块与试样座滑动连接,所述试样座还设置有用于驱动所述滑动块的推力螺杆。
优选的是,所述机台本体还设置有用于承载所述夹具的同轴调节机构,所述同轴调节机构包括底板和与所述底板滑动连接的承载座,所述承载座连接有用于驱动所述底板滑动的调节螺杆。
优选的是,所述低温箱安装有循环风扇,所述机台本体的外部设置有用于驱动所述循环风扇转动的循环马达。
优选的是,所述机台本体还设置用于限制所述密闭门过度开启的限位座,所述限位座还设置有用于检测所述密闭门的感应开关。
优选的是,还包括用于控制温度及冲击机构的控制装置,所述控制装置包括触摸显示屏和与所述触摸显示屏电性连接的PCBA控制板。
本实用新型的有益效果:本实用新型的一种低温数位冲击试验机,包括机台本体,所述机台本体设置有低温箱,所述低温箱内设置有用于夹持试样的夹具,所述机台本体设置有用于打开或关闭所述低温箱的密闭门,所述机台本体的上部还设置有用于冲击试样的冲击机构;本冲击试验机在使用时,先将试样装设于夹具中,然后启动机台本体的制冷系统进行低温冷冻,当低温冷冻时间达到后,打开密闭门,启用冲击机构,直接进行冲击试验即可,本冲击试验机无须反复装卸试样,保证在恒定的温度中,直接进行冲击试验,从而试验数据的准确性大大提高,本冲击试验机还具有结构简单、操作方便的优点。
附图说明
图1为本实用新型的立体图。
图2为本实用新型的主视图。
图3为图2的A部放大结构示意图。
图4为本实用新型的内部结构图。
图5为图4的主视图。
图6为图4的右视图。
图7为本实用新型的冲击机构、夹具和同轴调节机构的组合结构示意图。
图8为图7的主视图。
图9为图7的俯视图。
图10为图7的左视图。
附图标记包括:机台本体--1,低温箱--11,密闭门--12,限位座--13,感应开关--14,夹具--2,试样座--21,固定块--22,滑动块--23,推力螺杆--24,冲击机构--3,固定座--31,摆动槽--32,第一摆动锤--33,冲击锤--331,摆动臂--332,卡扣件--333,凹槽--334,第二摆动锤--34,活动插销--35,电磁铁--36,连接转轴--37,同轴调节机构--4,底板--41,承载座--42,调节螺杆--43,循环马达--5,触摸显示屏--61。
具体实施方式
下面结合附图本实用新型进行详细的说明。
参见图1至图10,一种低温数位冲击试验机,包括机台本体1,所述机台本体1设置有低温箱11,所述低温箱11内设置有用于夹持试样的夹具2,所述机台本体1设置有用于打开或关闭所述低温箱11的密闭门12,所述机台本体1的上部还设置有用于冲击试样的冲击机构3;本冲击试验机在使用时,先将试样装设于夹具2中,然后关闭密闭门12,启动机台本体1的制冷系统进行低温冷冻,所述制冷系统采用压缩机、蒸发器、冷凝器及膨胀阀等组成,当低温冷冻时间达到后,打开密闭门12,启用冲击机构3,直接进行冲击试验即可,本冲击试验机无须反复装卸试样,保证在恒定的温度中,直接进行冲击试验,从而试验数据的准确性大大提高,本冲击试验机还具有结构简单、操作方便的优点。
具体地说:所述冲击机构3包括设置于所述夹具2上方的固定座31,所述固定座31设置有摆动槽32,所述摆动槽32内铰接有第一摆动锤33和第二摆动锤34,所述固定座31装设有用于限制所述第一摆动锤33或第二摆动锤34摆动的活动插销35,所述固定座31设置有用于磁吸所述活动插销35移动的电磁铁36。其工作原理是:将试样装入夹具2后,将第二摆动锤34抬起并且将所述活动插销35拨出,使活动插销35伸出至摆动槽32与第二摆动锤34卡接,防止第二摆动锤34下坠,当完成冷冻后,打开密闭门12,电磁铁36通电,这时,将所述活动插销35向后吸引,使其退出摆动槽32,这时,第二摆动锤34失去限制,下坠与第一摆动锤33撞击,从而对第一摆动锤33与第二摆动锤34之间的试样形成冲击。
在本技术方案中,所述第一摆动锤33、第二摆动锤34均包括摆动臂332和与所述摆动臂332连接的冲击锤331,所述摆动臂332的上部套设有与所述活动插销35卡接的卡扣件333,所述冲击锤331设置有供所述夹具2通过的凹槽334。在卡接时,所述卡扣件333与活动插销35卡接,当第二摆动锤34下坠时,由于其具有凹槽334,其夹具2本身不会受到第二摆动锤34的冲击影响,而夹具2在夹持不同试样时,均可实现冲击试验,而无须更换不同的夹具2,减轻了测试人员的工作量。
在本技术方案中,所述夹具2包括试样座21,所述试样座21连接有用于夹持试样的固定块22和滑动块23,所述滑动块23与试样座21滑动连接,所述试样座21还设置有用于驱动所述滑动块23的推力螺杆24。使用时,将试样置于固定块22和滑动块23之间,然后旋动推力螺杆24,使滑动块23向固定块22移动,直至将试样较好的夹持于固定块22和滑动块23之间,这种夹具2结构与冲击机构3的配合,能实现不同试样的冲击试验,例如:橡胶、塑胶、毛皮等。
同时,为了进一步调节夹具2的位置,使试样可以进行前、后移动,所述机台本体1还设置有用于承载所述夹具2的同轴调节机构4,所述同轴调节机构4包括底板41和与所述底板41滑动连接的承载座42,所述承载座42连接有用于驱动所述底板41滑动的调节螺杆43。使用时,旋转调节螺杆43,从而驱动报所述承载座42进行前移或后移,这样,即可实现夹具2的前、后移动,使试样与第二摆动锤34的连接转轴37保持垂直相交,这样,即可使第二摆动锤34在摆动至接近垂直状态时具有较大的冲击力,以对试样形成较大的冲击。
在本技术方案中,所述低温箱11安装有循环风扇,所述机台本体1的外部设置有用于驱动所述循环风扇的循环马达5。在低温箱11中,为了使低温箱11内的空气温度更加一致,利用循环马达5驱动循环风扇,从而使低温箱11内的不同位置的不同温度的空气进行循环混合,而循环马达5设置于机台本体1的外部,又可以使低温不会对马达的正常工作造成影响,这种循环结构可以提高低温箱11的冷冻效果。
在本技术方案中,为了防止操作人员过度打开密闭门12,所述机台本体1还设置用于限制所述密闭门12过度开启的限位座13,所述限位座13还设置有用于检测所述密闭门12的感应开关14;在限位座13的作用下,当操作人员打开密封门至限位座13时,感应开关14感应到密封门到达开启位置,从而才能进一步启动电磁铁36工作,这样可以确保操作的安全性。
进一步的说,本低温数位冲击试验机还包括用于控制温度及冲击机构3的控制装置,所述控制装置包括触摸显示屏61和与所述触摸显示屏61电性连接的PCBA控制板。在测试时,试验人员通过触摸显示屏61直接进行相应的参数设定,例如:冷冻时间、循环马达5的工作控制以及接收感应信号后发送到电磁铁36进行冲击试验等。
以上内容仅为本实用新型的较佳实施例,对于本领域的普通技术人员,依据本实用新型的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。
Claims (8)
1.一种低温数位冲击试验机,包括机台本体(1),其特征在于:所述机台本体(1)设置有低温箱(11),所述低温箱(11)内设置有用于夹持试样的夹具(2),所述机台本体(1)设置有用于打开或关闭所述低温箱(11)的密闭门(12),所述机台本体(1)的上部还设置有用于冲击试样的冲击机构(3)。
2. 根据权利要求1所述的一种低温数位冲击试验机,其特征在于:所述冲击机构(3)包括设置于所述夹具(2)上方的固定座(31),所述固定座(31)设置有摆动槽(32),所述摆动槽(32)内铰接有第一摆动锤(33)和第二摆动锤(34),所述固定座(31)装设有用于限制所述第一摆动锤(33)或第二摆动锤(34)摆动的活动插销(35),所述固定座(31)设置有用于磁吸所述活动插销(35)移动的电磁铁(36)。
3. 根据权利要求2所述的一种低温数位冲击试验机,其特征在于:所述第一摆动锤(33)、第二摆动锤(34)均包括摆动臂(332)和与所述摆动臂(332)连接的冲击锤(331),所述摆动臂(332)的上部套设有与所述活动插销(35)卡接的卡扣件(333),所述冲击锤(331)设置有供所述夹具(2)通过的凹槽(334)。
4. 根据权利要求1所述的一种低温数位冲击试验机,其特征在于:所述夹具(2)包括试样座(21),所述试样座(21)连接有用于夹持试样的固定块(22)和滑动块(23),所述滑动块(23)与试样座(21)滑动连接,所述试样座(21)还设置有用于驱动所述滑动块(23)的推力螺杆(24)。
5. 根据权利要求1所述的一种低温数位冲击试验机,其特征在于:所述机台本体(10)还设置有用于承载所述夹具(2)的同轴调节机构(4),所述同轴调节机构(4)包括底板(41)和与所述底板(41)滑动连接的承载座(42),所述承载座(42)连接有用于驱动所述底板(41)滑动的调节螺杆(43)。
6. 根据权利要求1所述的一种低温数位冲击试验机,其特征在于:所述低温箱(11)安装有循环风扇,所述机台本体(1)的外部设置有用于驱动所述循环风扇转动的循环马达(5)。
7. 根据权利要求1所述的一种低温数位冲击试验机,其特征在于:所述机台本体(1)还设置用于限制所述密闭门(12)过度开启的限位座(13),所述限位座(13)还设置有用于检测所述密闭门(12)的感应开关(14)。
8. 根据权利要求1-7任一所述的一种低温数位冲击试验机,其特征在于:还包括用于控制温度及冲击机构(3)的控制装置,所述控制装置包括触摸显示屏(61)和与所述触摸显示屏(61)电性连接的PCBA控制板。
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CN111948082A (zh) * | 2020-08-19 | 2020-11-17 | 西南交通大学 | 一种冷热冲击试验装置 |
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