CN204116393U - 一种用于sdram芯片检测的连接基座 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括顶座、底座、以及连接顶座与底座的弹簧，顶座设有定位条，底座设有与定位条配合的定位槽，底座底部为带插置孔的底板，底板的插置孔上固定插有PIN针，底板上方设有活动板，活动板穿过PIN针，PIN针穿过活动板，活动板与底板之间设有压簧，活动板通过导杆与顶座连接，活动板上方固定设有栅板，栅板上设置有栅条，底座上还设置有夹紧机构，顶座上设置有与夹紧机构配合的触动块，PIN针按15×6阵列进行排列，PIN针包括上部两对称的短凹弧，中部两对称的长凹弧，以及底部的引针，位于同侧的短凹弧与长凹弧相接，两长凹弧的末端相接后连接引针，引针固定于底板的插置孔中。
Description
技术领域
本实用新型属于芯片检测设备技术领域，涉及一种芯片检测用的辅助连接设备，尤其是一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，采用该种连接基座能够实现不同种类的SDRAM芯片与机台的连接。
背景技术
在SDRAM（同步动态随机存储器）芯片完成封装或者组装后，通常会对芯片的性能以及老化程度进行测试，以便对封装后的芯片进行筛选；同时，再将通过测试的良品进行可靠性试验，以确定芯片的可靠性等级，以此满足不同行业的级别需求，芯片的可靠性等级分为消费级、工业级、军工级以及宇航级。
在进行上述测试的过程中，都需要采用SOCKET作为连接基座，将待检测SDRAM芯片与检测机台的电路连接，而针对不同的SDRAM芯片，需要采用不同的SOCKET进行连接；因此，在进行不同款式的SDRAM芯片测试时，需要不同的SOCKET，不仅增加测试成本，降低资金利用率，而且可能错误使用SOCKET而产生损坏SDRAM芯片的情况。
实用新型内容
本实用新型的目的在于，针对上述现有技术中存在的一种SOCKET只能针对特定的SDRAM芯片的技术缺陷，提供设计一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，以实现对不同款式的SDRAM芯片的连接，以降低测试成本，降低错误使用SOCKET的情形。
为实现上述目的，本实用新型给出以下技术方案：
一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括：顶座、底座、以及用于连接顶座与底座的弹簧，弹簧的两端分别固定的顶座与底座上，所述顶座设置有定位条，底座设置有与定位条配合的定位槽，底座底部为一带插置孔的底板，底板的插置孔上固定插置有PIN针；其特征在于：底板上方设有一活动板，所述活动板穿过PIN针，活动板与底板之间设有压簧，活动板通过导杆与顶座连接，活动板上方固定设有一栅板，栅板上设置有栅条，所述底座上还设置有夹紧机构，顶座上设置有与夹紧机构相配合的触动块，所述PIN针共15行6列，并按15×6阵列进行排列，PIN针的行间距为0.8mm，PIN针第一列与第二列之间的间距、第二列与第三列之间的间距、第四列与第五列之间的间距、第五列与第六列之间的间距均为0.8mm，第三列与第四列之间的间距为3.2mm，所述PIN针包括：上部两对称的短凹弧，中部两对称的长凹弧，以及底部的引针，位于同侧的短凹弧与长凹弧相接，两长凹弧的末端相接后连接引针，所述引针固定于底板的插置孔中。
优选地，所述顶座上还设置有第一导向柱，所述第一导向柱位于顶座与底座之间的弹簧内；通过第一导向柱能够进一步确保顶座与底座之间的位置关系，使得顶座与底座精准对位。
优选地，所述活动板的底部设置有第二导向柱，所述第二导向柱位于活动板与底板之间的压簧内；通过第二导向柱能够确保活动板与底板之间的位置关系。
优选地，所述夹紧机构包括夹紧块，所述夹紧块通过转轴固定在底座上，夹紧块与底座之间还设置有回位弹簧；夹紧块与回位弹簧配合以夹紧SDRAM芯片，转轴使得夹紧块能够转动。
优选地，所述栅板通过螺栓固定设置在底座上；能够方便的拆卸栅板，便于实现栅板的更换。
优选地，所述栅板上栅条的倾斜角度为45度；栅条的倾斜角度为45度，保证SDRAM芯片的引脚与PIN针连接的基础上，设计方便。
优选地，所述栅条的宽度为0.5mm—1.0mm。
优选地，所述栅条的宽度为0.8mm；确保SDRAM芯片的引脚与PIN针的连接。
本实用新型的有益效果在于，该连接基座能够将不同型号的SDRAM芯片与机台电路进行连接，以便实现SDRAM芯片的检测，降低测试成本的同时，也降低错误使用SOCKET的情形；夹紧机构用于卡紧待检测SDRAM芯片，防止检测过程中出现移动而导致检测不准确的情况发生；此外，本实用新型设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
由此可见，本实用新型与现有技术相比，具有实质性特点和进步，其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
图1为本实用新型提供的一种用于SDRAM芯片检测的连接基座的结构示意图。
图2为图1中PIN针与底座的固定结构示意图。
其中，1-顶座，2-底座，3-弹簧，4-定位条，5-定位槽，6-导杆，7-栅板，8-触动块，9-第一导向柱，10-夹紧块，11-回位弹簧，12-转轴，13-活动板，14-PIN针，15-第二导向柱，16-压簧，17-栅条，18-底板，141-短凹弧，142-长凹弧，143-引针。
具体实施方式
下面结合附图并通过具体实施例对本实用新型进行详细阐述，以下实施例是对本实用新型的解释，而本实用新型并不局限于以下实施方式。
实施例一：
如图1和2所示，本实用新型提供的一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括：顶座1、底座2、以及用于连接顶座1与底座2的弹簧3，弹簧3的两端分别固定的顶座1与底座2上，所述顶座1设置有定位条4，底座2设置有与定位条4配合的定位槽5，底座2底部为一带插置孔的底板18，底板18的插置孔上固定插置有PIN针14，底板18上方设有一活动板13，所述活动板13穿过PIN针14，活动板13与底板18之间设有压簧16，活动板13通过导杆6与顶座1连接，活动板13上方固定设有一栅板7，栅板7上设置有栅条17，所述底座2上还设置有夹紧机构，顶座1上设置有与夹紧机构相配合的触动块8，所述PIN针14共15行6列，并按15×6阵列进行排列，PIN针14的行间距为0.8mm，PIN针第一列与第二列之间的间距、第二列与第三列之间的间距、第四列与第五列之间的间距、第五列与第六列之间的间距均为0.8mm，第三列与第四列之间的间距为3.2mm，所述PIN针14包括：上部两对称的短凹弧141，中部两对称的长凹弧142，以及底部的引针143，位于同侧的短凹弧141与长凹弧142相接，两长凹弧142的末端相接后连接引针143，所述引针143固定于底板18的插置孔中。
本实施例中，所述顶座1上还设置有第一导向柱9，所述第一导向柱9位于顶座1与底座2之间的弹簧3内；通过第一导向柱9能够进一步确保顶座1与底座2之间的位置关系，使得顶座1与底座2精准对位。
本实施例中，所述活动板13的底部设置有第二导向柱15，所述第二导向柱15位于活动板13与底板18之间的压簧16内；通过第二导向柱15能够确保活动板13与底板18之间的位置关系。
本实施例中，所述夹紧机构包括夹紧块10，所述夹紧块10通过转轴12固定在底座2上，夹紧块10与底座2之间还设置有回位弹簧11；夹紧块10与回位弹簧11配合以夹紧SDRAM芯片，转轴12使得夹紧块10能够转动。
本实施例中，所述栅板7通过螺栓固定设置在底座2上；能够方便的拆卸栅板7，便于实现栅板7的更换。
本实施例中，所述栅板7上栅条17的倾斜角度为45度；栅条17的倾斜角度为45度，保证SDRAM芯片的引脚与PIN针14连接的基础上，设计方便。
本实施例中，所述栅条17的宽度为0.5mm—1.0mm。
本实施例中，所述栅条17的宽度为0.8mm；确保SDRAM芯片的引脚与PIN针的连接。
在具体使用过程中：
按压顶座1，在定位条4与第一导向柱9的作用下，顶座1沿直线往下运动，当触动块8触及夹紧机构的夹紧块10时，压缩回位弹簧11，夹紧块10张开；继续按压顶座1，导杆6触及活动板13，并按压活动板13，活动板13往下运动时，挤压PIN针14的长凹弧142，使得短凹弧142的开口变大，此时，将待检测SDRAM芯片放入底座2上，保证待检测SDRAM芯片的阵脚落入PIN针14的短凹弧141内，之后松开顶座1，在弹簧3的作用下，顶座1回复原位置，在回位弹簧11的作用下，夹紧块10回复原位置，以夹紧待检测DSRAM芯片，在压簧16的作用下，活动板13上移，使得PIN针14的短凹弧141开口减小，以夹紧待检测芯片的引脚。
实施例二：
本实施例与实施例一的不同之处在于：
所述栅条17的宽度为0.8mm。
实施例三：
本实施例与实施例一的不同之处在于：
所述栅条17的宽度为1.0mm。
以上公开的仅为本实用新型的优选实施方式，但本实用新型并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的没有创造性的变化，以及在不脱离本实用新型原理前提下所作的若干改进和润饰，都应落在本实用新型的保护范围内。
Claims (8)
1.一种用于SDRAM芯片检测的连接基座，包括：顶座、底座、以及用于连接顶座与底座的弹簧，弹簧的两端分别固定的顶座与底座上，所述顶座设置有定位条，底座设置有与定位条配合的定位槽，底座底部为一带插置孔的底板，底板的插置孔上固定插置有PIN针；其特征在于：底板上方设有一活动板，所述活动板穿过PIN针，活动板与底板之间设有压簧，活动板通过导杆与顶座连接，活动板上方固定设有一栅板，栅板上设置有栅条，所述底座上还设置有夹紧机构，顶座上设置有与夹紧机构相配合的触动块，所述PIN针共15行6列，并按15×6阵列进行排列，PIN针的行间距为0.8mm，PIN针第一列与第二列之间的间距、第二列与第三列之间的间距、第四列与第五列之间的间距、第五列与第六列之间的间距均为0.8mm，第三列与第四列之间的间距为3.2mm，所述PIN针包括：上部两对称的短凹弧，中部两对称的长凹弧，以及底部的引针，位于同侧的短凹弧与长凹弧相接，两长凹弧的末端相接后连接引针，所述引针固定于底板的插置孔中。
2.根据权利要求1所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于：所述顶座上还设置有第一导向柱，所述第一导向柱位于顶座与底座之间的弹簧内。
3.根据权利要求1或2所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于：所述活动板的底部设置有第二导向柱，所述第二导向柱位于活动板与底板之间的压簧内。
4.根据权利要求3所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于：所述夹紧机构包括夹紧块，所述夹紧块通过转轴固定在底座上，夹紧块与底座之间还设置有回位弹簧。
5.根据权利要求4所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于：所述栅板通过螺栓固定设置在底座上。
6.根据权利要求5所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于：所述栅板上栅条的倾斜角度为45度。
7.根据权利要求6所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于：所述栅条的宽度为0.5mm—1.0mm。
8.根据权利要求7所述的用于SDRAM芯片检测的连接基座，其特征在于：所述栅条的宽度为0.8mm。
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| CN201420621077.6U CN204116393U (zh) | 2014-10-24 | 2014-10-24 | 一种用于sdram芯片检测的连接基座 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109196364A (zh) * | 2018-08-31 | 2019-01-11 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 一种夹盘装置 |
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- 2014-10-24 CN CN201420621077.6U patent/CN204116393U/zh not_active Expired - Fee Related
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