CN204101669U - 一种光照传感器故障检测电路 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种光照传感器故障检测电路。它包括光照传感器和检测电路模块,其特征在于:检测电路模块包括单片机、运算放大器和三极管;所述的单片机的AD引脚通过二极管连接有电源,AD引脚同时通过电阻接地,AD引脚上还连接有电阻,电阻的另一端与运算放大器的第一脚相连,运算放大器的第二脚与第一脚相连,运算放大器的第三脚与光照传感器相连,第三脚同时通过电阻与三极管的集电极相连,三极管的发射极接地,三极管的基极通过电阻R5与单片机的I/O引脚相连;三极管的集电极同时通过电阻连接有+12V电源。它解决了现有技术中的光照传感器故障检测电路存在对开路、短路检测精度不高,容易误报故障的技术问题。

Description

一种光照传感器故障检测电路
技术领域
本实用新型涉及一种汽车电子设备中的空调系统用电路,具体是指一种光照传感器故障检测电路。 
背景技术
现有技术中较为高级的汽车大都配套有空调自动控制系统。所述的空调自动控制系统通过汽车光照传感器采集的阳光光照强度,来作为汽车自动空调控制器的一项重要参数输入;该参数对车内空调温度自动控制的舒适度起着重要的作用。而一旦光照传感器由于自身问题或者接插件未连接好而导致开路,或传感器短路,则需要自动空调控制器及时检测出来。目前常用的检测电路主要有如下两种电路方案。 
方案1:结合附图1中所示,该电路包括光照传感器01和检测电路模块02两个部分;电路在光线不弱的情况下检测值比较准确,但是在光线比较弱(如室内装配车间)的情况下,传感器产生的电流比较弱,MCU AD引脚采集到的电压也非常的低,接近0V,而此电压与开路时电压值(0V)是一样的,所以就会造成弱光下自动空调控制器误报开路故障。而在强光下,由于光照度比较强,传感器产生的电流比较大,MCU AD引脚采集到的电压很高,接近5V,而此电压与短路时电压值(5V)是一样的,所以会造成强光下自动空调控制器误报短路故障。 
方案2:结合附图2中所示,该电路包括光照传感器01和检测电路模块02两个部分;该电路在光照传感器01内部并联了一颗电阻R7,该电阻阻值远大于采样电阻R8阻值,在弱光下仍然有电流流过,MCU AD引脚可以采集到电压,可以区分弱光环境和开路故障。但是该方案,在弱光环境下通过电阻R7的电流几乎与光敏二极管所产生的电流一致,所以严重影响了光照度和输出电流比对应曲线的线性度。且该方案也会造成强光下自动空调控制器误报短路故障。 
综上所述,现有技术中的光照传感器故障检测电路存在对开路、短路检测精度不高,容易误报故障的不足之处。 
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是,提供一种检测精度更高,不会误报故障的光照传感器故障检测电路。 
为解决上述技术问题,本实用新型提供的技术方案为:一种光照传感器故障检测电路,它包括光照传感器和检测电路模块,所述的检测电路模块包括单片机MCU、运算放大器U1和三极管Q1;所述的单片机MCU的AD引脚通过二极管D5连接有+5V电源,AD引脚同时通过电阻R2接地,AD引脚上还连接有电阻R1,电阻R1的另一端与运算放大器U1的输出脚相连,运算放大器U1的反相输入脚与输出脚相连,运算放大器U1的同相输入脚与光照传感器相连,同相输入脚同时通过电阻R3与三极管Q1的集电极相连,三极管Q1的发射极接地,三极管Q1的基极通过电阻R5与单片机MCU的I/O引脚相连;三极管Q1的集电极同时通过电阻R4连接有+12V电源。 
作为优选,所述的电阻R1的阻值为2K欧姆,精度为1%。 
作为优选,所述的电阻R2的阻值为10K欧姆,精度为1%。 
作为优选,所述的单片机MCU的型号为:S9S12GN48F0CLH,所述的单片机MCU通过I/O引脚定时输出高低电平来控制三极管Q1的饱和导通和截止,来定时开启和关闭故障检测。 
作为优选,所述的光照传感器在故障检测模式时处于正向导通状态。 
采用上述结构后,本实用新型具有如下有益效果:光照传感器核心部件为一个光敏二极管,光敏二极管在电路中一般处于反向工作状态。在没有光照时,反向电阻很大,反向电流很小,只有很微弱的暗电流。当有光照时,光子打在PN结附近,于是在PN结附近产生电子空穴对,它们在PN结内部电场作用下作定向运动,形成光电流。光照越强,光电流越大大。 
本发明中利用光敏二极管的正向导通特性来实现故障检测。MCU通过控制三极管饱和导通和截止来定时故障检测。正常工作时,MCU的I/O引脚输出高电平,三极管饱和导通,光敏二极管处于反向工作状态,光电流与光照度成线性关系,故障检测时MCU的I/O引脚输出低电平,三极管截止,光敏二极管处于正向导通工作状态,将电压钳位。钳位后的电压经过分压输入到MCU的AD引脚。MCU通过AD引脚采集的电压来判断传感器是否开路或短路。总的来说本实用新型对应的电路结构有如下创新点:1、利用了光敏二极管的正向导通特性来做故障检测;2、MCU通过I/O引脚定时输出高低电平来控制三极管的饱和导通和截止(或其他开关电路均可),来定时开启和关闭故障检测;3、三极管饱和导通时能将采样电阻的一端下拉至地,三极管截止时,通过电阻将采样电压上拉至12V(大于6V均可)。其在不影响光照传感器采集精度的情况下,很容易识别弱光与开路状态,并能识别强光与短路状态,以保障自动空调控制器故障检测的顺利进行。该技术方案即保证了采集精度,又克服了误报故障的缺陷。 
附图说明
图1是现有技术中常用方案一的光照传感器故障检测电路的原理图。 
图2是现有技术中常用方案二的光照传感器故障检测电路的原理图。 
图3是本实用新型中光照传感器故障检测电路的原理图。 
如图所示:现有技术中:01、光照传感器,02、检测电路模块。 
本实用新型中:1、光照传感器,2、检测电路模块。 
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明。 
结合附图3,一种光照传感器故障检测电路,它包括光照传感器1和检测电路模块2,所述的检测电路模块2包括单片机MCU、运算放大器U1和三极管Q1;所述的单片机MCU的AD引脚通过二极管D5连接有+5V电源,AD引脚同时通过电阻R2接地,AD引脚上还连接有电阻R1,电阻R1的另一端与运算放大器U1的输出脚相连,运算放大器U1的反相输入脚与输出脚相连,运算放大器U1的同相输入脚与光照传感器1相连,同相输入脚同时通过电阻R3与三极管Q1的集电极相连,三极管Q1的发射极接地,三极管Q1的基极通过电阻R5与单片机MCU的I/O引脚相连;三极管Q1的集电极同时通过电阻R4连接有+12V电源。 
作为优选,所述的电阻R1的阻值为2K欧姆,精度为1%。 
作为优选,所述的电阻R2的阻值为10K欧姆,精度为1%。 
作为优选,所述的单片机MCU的型号为:S9S12GN48F0CLH,所述的单片机MCU通过I/O引脚定时输出高低电平来控制三极管Q1的饱和导通和截止,来定时开启和关闭故障检测。 
作为优选,所述的光照传感器在故障检测模式时处于正向导通状态。 
需要说明的是:R1、R2组成分压电路,将输入电压降低到单片机MCU能识别的电压即可,我的说明文档中的阻值只是一个实施例,例如R1取20K,R2取100K也是一样的效果。所述的单片机MCU虽然有指定的最佳实施型号,但具体实施时只要是带AD引脚和I/O引脚的MCU均可应用。MCU的定时输出高低电平控制三极管Q1的饱和导通和截止很重要,如果没有MCU的此项时序控制,电路无法实现预期功能,但一般情况下单片机MCU都是带有时序控制的。光照传感器在正常工作时是反向导通的,本发明利用了光照传感器的正向导通特性来实现故障检测。 
本实用新型专利涉及的光照传感器故障检测电路工作原理如下:光照传感器核心部件为一个光敏二极管,光敏二极管在电路中一般处于反向工作状态。在没有光照时,反向电阻很大,反向电流很小,只有很微弱的暗电流。当有光照时,光子打在PN结附近,于是在PN结附近产生电子空穴对,它们在PN结内部电场作用下作定向运动,形成光电流。光照越强,光电流越大大。本发明中利用光敏二极管的正向导通特性来实现故障检测。MCU通过控制三极管饱和导通和截止来定时故障检测。正常工作时,MCU的I/O引脚输出高电平,三极管饱和导通,光敏二极管处于反向工作状态,光电流与光照度成线性关系,故障检测时MCU的I/O引脚输出低电平,三极管截止,光敏二极管处于正向导通工作状态,将电压钳位。钳位后的电压经过分压输入到MCU的AD引脚。MCU通过AD引脚采集的电压来判断传感器是否开路或短路。该技术方案即保证了采集精度,又克服了误报故障的缺陷。 
进一步结合电路图,正常工作情况下MCU I/O引脚口输出高电平,三极管Q1饱和导通将采样电阻R3的一端短接到地,此时光敏二极管产生的电流通过采样电阻R3产生采样电压V1,V1通过运放U1构成的跟随电路(增大输入阻抗,不影响R3电压采样,减小输出阻抗)输出,再经过R1、R2电阻构成的分压电路输出到MCU的AD引脚。MCU通过对AD引脚的电压的采集来计算通过阳光传感器的电流。 
MCU I/O引脚口定时(时间以客户能接受的最大时间为准,例如1次/秒)输出低电平进行开路检测,当MCU I/O引脚口电平为低电平时,三极管Q1截止,采样电阻R3一端被电阻R4上拉至12V,则光敏二极管正向导通将采样电压V1钳位到5.6V,MCU AD引脚采集到的电压值为V1乘以分压比,约为5.6Vx10/(10+2)=4.67V。若传感器开路,则无光敏二极管钳位,采样电压V1变为12V,MCU AD引脚采集到的电压值为二极管D5钳位后所得的电压,约为5.7V。若传感器短路,则采样电压V1变为5V,MCU AD引脚采集到的电压为5.0Vx10/(10+2)=4.16V。 
综上所述,得出如下判断逻辑,当MCU I/O引脚口输出为低电平时, 
若MCU AD引脚采集到的电压为4.67V左右时,判定为传感器无故障;
若MCU AD引脚采集到的电压为5.7V左右时,则判定为传感器开路;
若MCU AD引脚采集到的电压为4.16V左右时,则判定为传感器短路。
以上对本实用新型及其实施方式进行了描述,该描述没有限制性,附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一,实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示,在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下,不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例,均应属于本实用新型的保护范围。 

Claims (5)

1.一种光照传感器故障检测电路,它包括光照传感器(1)和检测电路模块(2),其特征在于:所述的检测电路模块(2)包括单片机MCU、运算放大器U1和三极管Q1;所述的单片机MCU的AD引脚通过二极管D5连接有+5V电源,AD引脚同时通过电阻R2接地,AD引脚上还连接有电阻R1,电阻R1的另一端与运算放大器U1的输出脚相连,运算放大器U1的反相输入脚与输出脚相连,运算放大器U1的同相输入脚与光照传感器(1)相连,同相输入脚同时通过电阻R3与三极管Q1的集电极相连,三极管Q1的发射极接地,三极管Q1的基极通过电阻R5与单片机MCU的I/O引脚相连;三极管Q1的集电极同时通过电阻R4连接有+12V电源。
2.根据权利要求1所述的光照传感器故障检测电路,其特征在于:所述的电阻R1的阻值为2K欧姆,精度为1%。
3.根据权利要求1所述的光照传感器故障检测电路,其特征在于:所述的电阻R2的阻值为10K欧姆,精度为1%。
4.根据权利要求1所述的光照传感器故障检测电路,其特征在于:所述的单片机MCU的型号为:S9S12GN48F0CLH,所述的单片机MCU通过I/O引脚定时输出高低电平来控制三极管Q1的饱和导通和截止,来定时开启和关闭故障检测。
5.根据权利要求1所述的光照传感器故障检测电路,其特征在于:所述的光照传感器(1)在故障检测模式时处于正向导通状态。
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