CN203811282U - 一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,属于干涉仪设备领域。本实用新型包括半导体激光器、显微物镜空间滤波器、准直透镜、分光棱镜Ⅰ、平面反射镜、分光棱镜Ⅱ、空间光调制器、分光棱镜Ⅲ、分光棱镜Ⅳ以及光电耦合器件。本实用新型只需要简单的实验器材如激光器、分光棱镜和平面反射镜及光电耦合器件就能对涡旋光束的拓扑电荷数进行测定,对实验条件和器材没有特殊要求,解决了目前需要一些特殊器材如Dove棱镜,多孔干涉仪,角向干涉仪,弱随机散射屏等不常见的器材或设备的问题。

Description

一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置
技术领域
本实用新型涉及一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,属于干涉仪设备领域。
背景技术
当前用来测定涡旋光束的设备或仪器中,需要有特殊制备的仪器,如Dove棱镜,多孔干涉仪,角向干涉仪,叉形光栅或弱随机散射屏等,这类仪器或设备存在利用率低、制备困难,精度要求高等困难,本实用新型提出的基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置不需要特殊的仪器或设备,它以分光棱镜和反射镜以及光电耦合器件即可完成对涡旋光束拓扑电荷数的测定。
发明内容
本实用新型提供了一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,用于解决当前测定涡旋光束的拓扑电荷数需要特定仪器或设备,这些设备需要较高成本或需要特殊制备的问题。
本实用新型的技术方案是:一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,包括半导体激光器1、显微物镜空间滤波器2、准直透镜3、分光棱镜Ⅰ4、平面反射镜5、分光棱镜Ⅱ6、空间光调制器7、分光棱镜Ⅲ8、分光棱镜Ⅳ9以及光电耦合器件10;其中半导体激光器1距显微物镜空间滤波器2为0.15m-0.2m,准直透镜3的前焦面恰好位于显微物镜空间滤波器2的出瞳位置,分光棱镜Ⅰ4距准直透镜3为0.08m-0.15m,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅱ6在同一条水平线上,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅲ8在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅲ8与分光棱镜Ⅳ9在同一条水平线上,分光棱镜Ⅱ6与分光棱镜Ⅳ9在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅰ4、分光棱镜Ⅱ6、分光棱镜Ⅲ8和分光棱镜Ⅳ9在光学平台上构成一个矩形光路,平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离为0.03m-0.05m,空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离为0.03m-0.05m,光电耦合器件10在分光棱镜Ⅳ9水平向右方向的距离为0.1m-0.15m。
所述平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离与空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离相等 (对于其它数值范围的数据可以与所述平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离与空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的相等的两个距离信息相互任意组合) 。
本实用新型的工作原理是:
该种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置中,光束从半导体激光器1射出,通过显微物镜空间滤波器2的滤波扩束后,被准直透镜3准直成平面光波,平面光波通过分光棱镜Ⅰ4的分光作用分为两束,一束透射光经过分光棱镜Ⅱ6和平面反射镜5及分光棱镜Ⅳ9的三次反射后到达光电耦合器件10的表明形成参考光;分光棱镜Ⅰ4处分出的另一路反射光经过分光棱镜Ⅲ8和空间光调制器7两次反射后再透射过分光棱镜Ⅳ9到达光电耦合器件10形成物光与参考光产生干涉条纹。
本实用新型所述构成元件均为市售产品。
本实用新型的有益效果是:
通过本实用新型的实施,只需要简单的实验器材如激光器、分光棱镜和平面反射镜及光电耦合器件就能对涡旋光束的拓扑电荷数进行测定,对实验条件和器材没有特殊要求,解决了目前需要一些特殊器材如Dove棱镜,多孔干涉仪,角向干涉仪,弱随机散射屏等不常见的器材或设备的问题。
附图说明
图1为本实用新型的实验装置图;
图中各标号:1为半导体激光器、2为显微物镜空间滤波器、3为准直透镜、4为分光棱镜Ⅰ、5为平面反射镜、6为分光棱镜Ⅱ、7为空间光调制器、8为分光棱镜Ⅲ、9为分光棱镜Ⅳ、10为光电耦合器件。
具体实施方式
实施例1:如图1所示,一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,包括半导体激光器1、显微物镜空间滤波器2、准直透镜3、分光棱镜Ⅰ4、平面反射镜5、分光棱镜Ⅱ6、空间光调制器7、分光棱镜Ⅲ8、分光棱镜Ⅳ9以及光电耦合器件10;其中半导体激光器1距显微物镜空间滤波器2为0.15m,准直透镜3的前焦面恰好位于显微物镜空间滤波器2的出瞳位置,分光棱镜Ⅰ4距准直透镜3为0.08m,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅱ6在同一条水平线上,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅲ8在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅲ8与分光棱镜Ⅳ9在同一条水平线上,分光棱镜Ⅱ6与分光棱镜Ⅳ9在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅰ4、分光棱镜Ⅱ6、分光棱镜Ⅲ8和分光棱镜Ⅳ9在光学平台上构成一个矩形光路,平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离为0.03m,空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离为0.03m,光电耦合器件10在分光棱镜Ⅳ9水平向右方向的距离为0.1m。
所述平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离与空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离相等。
实施例2:如图1所示,一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,包括半导体激光器1、显微物镜空间滤波器2、准直透镜3、分光棱镜Ⅰ4、平面反射镜5、分光棱镜Ⅱ6、空间光调制器7、分光棱镜Ⅲ8、分光棱镜Ⅳ9以及光电耦合器件10;其中半导体激光器1距显微物镜空间滤波器2为0.16m,准直透镜3的前焦面恰好位于显微物镜空间滤波器2的出瞳位置,分光棱镜Ⅰ4距准直透镜3为0.10m,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅱ6在同一条水平线上,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅲ8在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅲ8与分光棱镜Ⅳ9在同一条水平线上,分光棱镜Ⅱ6与分光棱镜Ⅳ9在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅰ4、分光棱镜Ⅱ6、分光棱镜Ⅲ8和分光棱镜Ⅳ9在光学平台上构成一个矩形光路,平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离为0.04m,空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离为0.04m,光电耦合器件10在分光棱镜Ⅳ9水平向右方向的距离为0.12m。
所述平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离与空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离相等。
实施例3:如图1所示,一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,包括半导体激光器1、显微物镜空间滤波器2、准直透镜3、分光棱镜Ⅰ4、平面反射镜5、分光棱镜Ⅱ6、空间光调制器7、分光棱镜Ⅲ8、分光棱镜Ⅳ9以及光电耦合器件10;其中半导体激光器1距显微物镜空间滤波器2为0.2m,准直透镜3的前焦面恰好位于显微物镜空间滤波器2的出瞳位置,分光棱镜Ⅰ4距准直透镜3为0.15m,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅱ6在同一条水平线上,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅲ8在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅲ8与分光棱镜Ⅳ9在同一条水平线上,分光棱镜Ⅱ6与分光棱镜Ⅳ9在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅰ4、分光棱镜Ⅱ6、分光棱镜Ⅲ8和分光棱镜Ⅳ9在光学平台上构成一个矩形光路,平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离为0.05m,空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离为0.05m,光电耦合器件10在分光棱镜Ⅳ9水平向右方向的距离为0.15m。
实施例4:如图1所示,一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,包括半导体激光器1、显微物镜空间滤波器2、准直透镜3、分光棱镜Ⅰ4、平面反射镜5、分光棱镜Ⅱ6、空间光调制器7、分光棱镜Ⅲ8、分光棱镜Ⅳ9以及光电耦合器件10;其中半导体激光器1距显微物镜空间滤波器2为0.15m,准直透镜3的前焦面恰好位于显微物镜空间滤波器2的出瞳位置,分光棱镜Ⅰ4距准直透镜3为0.08m,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅱ6在同一条水平线上,分光棱镜Ⅰ4与分光棱镜Ⅲ8在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅲ8与分光棱镜Ⅳ9在同一条水平线上,分光棱镜Ⅱ6与分光棱镜Ⅳ9在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅰ4、分光棱镜Ⅱ6、分光棱镜Ⅲ8和分光棱镜Ⅳ9在光学平台上构成一个矩形光路,平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离为0.035m,空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离为0.035m,光电耦合器件10在分光棱镜Ⅳ9水平向右方向的距离为0.11m。
所述平面反射镜5在分光棱镜Ⅱ6垂直向上方向的距离与空间光调制器7在分光棱镜Ⅲ8水平向左方向的距离相等。
各器件参数为:
半导体激光器1波长532.8nm;
显微物镜空间滤波器2放大倍率40                                               ;针孔尺寸15
准直透镜3焦距800mm;
分光棱镜分光比50:50;
空间光调制器7为HOLOEYE LC-R2500;
光电耦合器件为MicroView MVC3000,204815365fps,CMOS;或者为The Imaging Source DMK 23U445,128096030fps,CCD。
上面结合附图对本实用新型的具体实施方式作了详细说明,但是本实用新型并不限于上述实施方式,在本领域普通技术人员所具备的知识范围内,还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (2)

1.一种基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,其特征在于:包括半导体激光器(1)、显微物镜空间滤波器(2)、准直透镜(3)、分光棱镜Ⅰ(4)、平面反射镜(5)、分光棱镜Ⅱ(6)、空间光调制器(7)、分光棱镜Ⅲ(8)、分光棱镜Ⅳ(9)以及光电耦合器件(10);其中半导体激光器(1)距显微物镜空间滤波器(2)为0.15m-0.2m,准直透镜(3)的前焦面恰好位于显微物镜空间滤波器(2)的出瞳位置,分光棱镜Ⅰ(4)距准直透镜(3)为0.08m-0.15m,分光棱镜Ⅰ(4)与分光棱镜Ⅱ(6)在同一条水平线上,分光棱镜Ⅰ(4)与分光棱镜Ⅲ(8)在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅲ(8)与分光棱镜Ⅳ(9)在同一条水平线上,分光棱镜Ⅱ(6)与分光棱镜Ⅳ(9)在同一条垂直线上,分光棱镜Ⅰ(4)、分光棱镜Ⅱ(6)、分光棱镜Ⅲ(8)和分光棱镜Ⅳ(9)在光学平台上构成一个矩形光路,平面反射镜(5)在分光棱镜Ⅱ(6)垂直向上方向的距离为0.03m-0.05m,空间光调制器(7)在分光棱镜Ⅲ(8)水平向左方向的距离为0.03m-0.05m,光电耦合器件(10)在分光棱镜Ⅳ(9)水平向右方向的距离为0.1m-0.15m。
2.根据权利要求1所述的基于改进型马赫曾德干涉仪测定涡旋光束拓扑电荷数的装置,其特征在于:所述平面反射镜(5)在分光棱镜Ⅱ(6)垂直向上方向的距离与空间光调制器(7)在分光棱镜Ⅲ(8)水平向左方向的距离相等。
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