CN203773959U - 无线记忆卡测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种无线记忆卡测试装置，包含一主体、一供料载体、一电性测试接口以及一天线测试接口。利用设于供料载体上的电性测试接口及天线测试接口，使无线记忆卡测试装置可同时针对大量的待测无线记忆卡进行接触式智能卡及非接触式智能卡的测试，借此批量化测试待测无线记忆卡。
Description
技术领域
本实用新型是有关于一种记忆卡测试装置，且特别是有关于一种无线记忆卡测试装置。
背景技术
由于移动电子技术的蓬勃发展，可作为扩充记忆体使用的记忆卡成为不可或缺的热门产品，不论是手机、相机、平板电脑或甚至笔记型电脑，皆可见其应用。
而目前记忆卡除重视外观极小化及记忆容量极大化，为了使智能装置之间传输方便或者可于云端浏览存放数据，更进一步推广具有非接触式传输功能的微型记忆卡。
因此，有鉴于记忆卡的大量需求，不管于裸板测试或封装后的测试，其重要性都必须相对大幅提升。然而，已知的记忆卡测试流程当中，无法于一测试装置上同时测试数量众多的记忆卡，且须针对不同的测试项目而分别将一记忆卡放置在对应的不同测试装置，不仅成本极高、手续繁杂且人工移动的方式极容易出错。
综上所述，为因应记忆卡的高产量输出并同时保持其品质控管，更须同时达到微型记忆卡的接触式传输及非接触式传输的测试需求，势必得提供低成本且高效率的记忆卡测试装置。
实用新型内容
本实用新型的目的是在提供一种无线记忆卡测试装置，并可同时对大量的记忆卡进行测试。
依据本实用新型一实施方式是在提供一种无线记忆卡测试装置，其是用以测试多个具有记忆卡天线的待测无线记忆卡，无线记忆卡测试装置包含一主体、一供料载体、一电性测试接口以及一天线测试接口。供料载体设于主体上，供料载体用以承置多个待测无线记忆卡。电性测试接口设于供料载体上，电性测试接口执行待测无线记忆卡的开卡测试及读写测试。天线测试接口设于供料载体上，天线测试接口包含一天线读取器及一天线测试板，其中天线读取器读取传输多个天线调变测试信号。天线测试板设有多个测试天线，测试天线分别电性连接天线读取器并无线传输天线调变测试信号至各待测无线记忆卡的记忆卡天线。其中各待测无线记忆卡的记忆卡天线回传天线调变测试信号时，天线读取器利用那些测试天线接收各记忆卡天线回传的天线调变测试信号，且天线读取器验证天线调变测试信号，用以批量化测试各待测无线记忆卡。
依据前述的具无线记忆卡测试装置，其中天线调变测试信号的频率可为13.56MHz或2.4GHz。天线测试接口更可测试各待测无线记忆卡的一天线控制器。电性测试接口更可测试各待测无线记忆卡的一安全芯片，用以进行预个人化动作(personalization)。天线读取器是验证各记忆卡天线回传各天线调变测试信号的一传输范围、一传输速率及一传输强度。电性测试接口是根据ISO7816协议测试待测无线记忆卡。电性测试接口及天线测试接口是采用应用程序通讯协定数据单元(Application Protocol Data Unit，APDU)指令来对待测无线记忆卡进行测试。
本实用新型的无线记忆卡测试装置，其利用设于供料载体上的电性测试接口及天线测试接口达到于同一装置上便可对待测无线记忆卡进行ISO7816协议(接触式智能卡)及ISO14443协议(非接触式智能卡)的测试。同时天线测试接口的天线测试板具有多组的测试天线，可对大量的待测无线记忆卡进行无线传输的测试。借此，改善以往待测记忆卡需依照测试步骤，一步一步放置在不同的测试装置至整体测试完成的缺点。
附图说明
为让本实用新型的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：
图1是是绘示依照本实用新型一实施方式的一种无线记忆卡测试装置的外观示意图；
图2是绘示依照本实用新型一实施方式的一种无线记忆卡测试装置放置待测无线记忆卡的示意图；
图3是绘示依照本实用新型一实施方式的一种无线记忆卡测试装置的天线测试接口示意图。
具体实施方式
请参照图1、图2及图3，其中图1是绘示依照本实用新型一实施方式的一种无线记忆卡测试装置的外观示意图，图2是绘示无线记忆卡测试装置放置待测无线记忆卡的示意图，图3是绘示无线记忆卡测试装置的天线测试接口示意图。无线记忆卡测试装置100用以测试多个待测无线记忆卡600，无线记忆卡测试装置100包含一主体200、一供料载体300、一电性测试接口400以及一天线测试接口500。
主体200是供测试待测无线记忆卡600用的电脑主机放置(未图示)，其已为已知技术故不于此再多加赘述。
供料载体300设于主体200上，供料载体300用以承置待测无线记忆卡600。其中图2上所绘示待测无线记忆卡600的数量仅为示意，而不限定于其数量。
电性测试接口400设于供料载体300上，且电性测试接口400具有探针直接接触待测无线记忆卡600(未图示)，使电性测试接口400是可用以执行待测无线记忆卡600的开卡测试及读写测试。
天线测试接口500设于供料载体300上，天线测试接口500包含一天线读取器510及一天线测试板520，其中天线读取器510用以读取传输多个天线调变测试信号MT，更详细地说，天线读取器510是验证各待测无线记忆卡600内的记忆卡天线610，并回传各天线调变测试信号MT的一传输范围、一传输速率及一传输强度。天线测试板520设有多个测试天线521，测试天线521分别电性连接天线读取器510并无线传输天线调变测试信号MT至各待测无线记忆卡600的记忆卡天线610(如图3)。此外，假如待测无线记忆卡600具有可增幅信号的天线控制器(未图示)，更可利用天线测试接口500测试各待测无线记忆卡600的天线控制器，确保其工作效能。
当待测无线记忆卡600是符合信用卡组织公告规格及其作业规范，意即由信用卡公司直接委托让待测无线记忆卡600的制造商进行预个人化动作(personalization)，此时电性测试接口400更可测试待测无线记忆卡600的安全芯片(未图示)。另一方面，当然天线调变测试信号MT的频率可为13.56MHz或2.4GHz，其是目前近端移动支付必须应用到的频率。
无线记忆卡测试装置100对于待测无线记忆卡600的测试可分为裸板时测试(In Circuit Test，ICT)及封装后测试(Final Test，FT)，且不管裸板时测试或封装后测试，皆须使用电性测试接口400及天线测试接口500对待测无线记忆卡600进行测试。而在测试时，电性测试接口400及天线测试接口500是采用应用程序通讯协定数据单元(Application Protocol Data Unit，APDU)指令来对待测无线记忆卡600进行测试，并取得其回应。其中电性测试接口400是根据ISO7816协议测试待测无线记忆卡600，天线测试接口500则根据ISO14443协议测试待测无线记忆卡600。
电性测试接口400是测试待测无线记忆卡600的开卡测试及读写测试，其测试项目包含记忆卡ID、记忆体区块、电性接脚及数位协定，并对待测无线记忆卡600安装相关记忆卡的资讯及进行格式化。
而于天线测试接口500测试待测无线记忆卡600时，各待测无线记忆卡600的记忆卡天线610回传天线调变测试信号MT时，天线读取器510利用那些测试天线521接收各记忆卡天线610回传的天线调变测试信号MT，且天线读取器510验证天线调变测试信号MT，借此批量化测试各待测无线记忆卡600的记忆卡天线610。
因此，由上述实施方式可知本实用新型的无线记忆卡测试装置，其具有以下优点：
1.将电性测试接口及天线测试接口同时设于供料载体上，使其达到于同一装置上便可对待测无线记忆卡进行ISO7816协议(接触式智能卡)及ISO14443协议(非接触式智能卡)的测试。
2.同时天线测试接口的天线测试板可具有多组的测试天线，而供料载体可对大量的待测无线记忆卡进行无线传输的测试，改善已知测试装置功能单一的缺点。
虽然本实用新型已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何熟悉此技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本实用新型的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。
Claims (8)
1.一种无线记忆卡测试装置，其特征在于，其是用以测试多个具有记忆卡天线的待测无线记忆卡，该无线记忆卡测试装置包含：
一主体；
一供料载体，其设于该主体上，该供料载体用以承置所述待测无线记忆卡；
一电性测试接口，其设于该供料载体上，该电性测试接口执行所述待测无线记忆卡的开卡测试及读写测试；以及
一天线测试接口，其设于该供料载体上，该天线测试接口包含：一天线读取器，其读取传输多个天线调变测试信号；及一天线测试板，其设有多个测试天线，所述测试天线分别电性连接该天线读取器并无线传输所述天线调变测试信号至各该待测无线记忆卡的该记忆卡天线；
其中所述待测无线记忆卡的所述记忆卡天线回传所述天线调变测试信号时，该天线读取器利用所述测试天线接收所述记忆卡天线回传的所述天线调变测试信号，且该天线读取器验证所述天线调变测试信号后批量化测试所述待测无线记忆卡。
2.根据权利要求1的无线记忆卡测试装置，其特征在于，所述天线调变测试信号的频率为13.56MHz。
3.根据权利要求1的无线记忆卡测试装置，其特征在于，所述天线调变测试信号的频率为2.4GHz。
4.根据权利要求1的无线记忆卡测试装置，其特征在于，该天线测试接口测试各该待测无线记忆卡的一天线控制器。
5.根据权利要求1的无线记忆卡测试装置，其特征在于，该电性测试接口测试各该待测无线记忆卡的一安全芯片，用以进行预个人化动作。
6.根据权利要求1的无线记忆卡测试装置，其特征在于，该天线读取器是验证各该记忆卡天线回传各该天线调变测试信号的一传输范围、一传输速率及一传输强度。
7.根据权利要求1的无线记忆卡测试装置，其特征在于，该电性测试接口是根据ISO7816协议测试所述待测无线记忆卡。
8.根据权利要求1的无线记忆卡测试装置，其特征在于，该电性测试接口及该天线测试接口是采用应用程序通讯协定数据单元指令。
Applications Claiming Priority (2)
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| TW103203262 | 2014-02-25 |
Publications (1)
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Country Status (2)
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN105372578A (zh) * | 2015-09-24 | 2016-03-02 | 北京同方微电子有限公司 | 一种非接触芯片测试系统及方法 |
-
2014
- 2014-02-25 TW TW103203262U patent/TWM479493U/zh not_active IP Right Cessation
- 2014-03-03 CN CN201420092077.1U patent/CN203773959U/zh not_active Expired - Lifetime
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|---|---|---|---|---|
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Also Published As
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