CN203758937U - X-荧光光谱分析用双面样品盒 - Google Patents
X-荧光光谱分析用双面样品盒 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型提供一种X-荧光光谱分析用双面样品盒,属于X-荧光光谱分析领域,其结构包括盒体、盒盖、底板及面罩构成,盒盖旋接在盒体上端开口处,面罩抵压设置在盒体上端与盒盖之间,盒盖上开有透射孔,面罩上开有检测孔,面罩上检测孔的直径小于盒盖上透射孔的直径,且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合,底板外缘设置有外螺纹并与盒体内壁上设置的内螺纹相配合,在底板的内侧上表面设置有下压板,下压板的外缘设置有定位凸起并与底板上设置的定位凹槽相配合,底板上开有透射孔,下压板上开有检测孔。底板在此可与盖体形成两个面罩。本实用新型缩短了检测该样品时抽真空的时间,强了样品盒的使用功能。
Description
技术领域
本实用新型涉及X-荧光光谱分析领域,具体地说是一种X-荧光光谱分析用双面样品盒。
背景技术
X-荧光光谱分析中,通常把样品放置在样品盒中施行测定,样品盒的形状为圆柱体,对于圆柱体的两个底面,一个底面开有圆孔,另一个完全封闭,开有圆孔的底面称为面罩,设置在面罩上的圆孔规定着样品检测面的位置和大小,通常称其为检测孔或观测孔。对于固定在样品盒的样品来说,其检测位置和大小就被面罩所固定下来。现有的样品盒大都只可以检测样品的上部位置,如果检测完样品盒中的一个样品时,需要再准备另一个样品放入盒体中,这样一来便产生样品检测的真空期,增加了检测时间。
发明内容
本实用新型的技术任务是针对现有技术的不足,提供一种设计合理、使用效果好的X-荧光光谱分析领域。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:
X-荧光光谱分析用双面样品盒,包括盒体、盒盖、底板及面罩构成,盒盖旋接在盒体上端开口处,面罩抵压设置在盒体上端与盒盖之间,盒盖上开有透射孔,面罩上开有检测孔,面罩上检测孔的直径小于盒盖上透射孔的直径,且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合,底板外缘设置有外螺纹并与盒体内壁上设置的内螺纹相配合,在底板的内侧上表面设置有下压板,下压板的外缘设置有定位凸起并与底板上设置的定位凹槽相配合,底板上开有透射孔,下压板上开有检测孔。底板在此可与盖体形成两个面罩。
所述的X-荧光光谱分析用双面样品盒,其下压板上检测孔的直径小于底板上透射孔的直径,且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合。
所述的X-荧光光谱分析用双面样品盒,其在透射孔周边的底板外表面上设置有定位柄。
所述的X-荧光光谱分析用双面样品盒,其在透射孔周边的底板外表面上设置有定位凹槽。
所述的X-荧光光谱分析用双面样品盒,其在下压板外表面上固定有调节手柄。
把上述样品盒中封闭的底面开一个圆孔(即检测孔)用于放置检测样品,使其变为样品盒的一个面罩,那么该样品盒就有了上下两个面罩。
本实用新型的X-荧光光谱分析用双面样品盒与现有技术相比,所产生的有益效果是:
1)、该样品盒可以携带两个用于检测的样品进入仪器,一个用于检测,另一个为检测做预抽真空准备,从而缩短了检测该样品时抽真空的时间,从而提高了效率。
2)、两个面罩的类型和大小设置为不同时,就能满足不同的检测需求,从而增强了样品盒的使用功能。
附图说明
附图1是实施例一X-荧光光谱分析用样品盒的结构示意图;
附图2是图1所示样品盒的仰视结构示意图;
附图3是实施例二X-荧光光谱分析用样品盒的结构示意图;
附图4是图3所示样品盒的仰视结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作以下详细说明。
实施例一:
如附图1、2所示,本实用新型其结构包括盒体5、盒盖3、底板8及面罩4构成,盒盖3旋接在盒体5上端开口处,面罩4抵压设置在盒体5上端与盒盖3之间,盒盖3上开有透射孔1-1,面罩4上开有检测孔2-1,面罩4上检测孔2-1的直径小于盒盖3上透射孔1-1的直径,且检测孔2-1的轴心与透射孔1-1的轴心不重合,底板8外缘设置有外螺纹并与盒体5内壁上设置的内螺纹6相配合,在底板8的内侧上表面设置有下压板7,下压板7的外缘设置有定位凸起并与底板8上设置的定位凹槽相配合,底板8上开有透射孔1-2,下压板7上开有检测孔2-2。
下压板7上检测孔2-2的直径小于底板8上透射孔1-2的直径,且检测孔2-2的轴心与透射孔1-2的轴心不重合。
在透射孔1-2周边的底板8外表面上设置有定位柄9。
在下压板7外表面上固定有调节手柄11。
实施例二:
如附图3、4所示,本实用新型其结构包括盒体5、盒盖3、底板8及面罩4构成,盒盖3旋接在盒体5上端开口处,面罩4抵压设置在盒体5上端与盒盖3之间,盒盖3上开有透射孔1-1,面罩4上开有检测孔2-1,面罩4上检测孔2-1的直径小于盒盖3上透射孔1-1的直径,且检测孔2-1的轴心与透射孔1-1的轴心不重合,底板8外缘设置有外螺纹并与盒体5内壁上设置的内螺纹6相配合,在底板8的内侧上表面设置有下压板7,下压板7的外缘设置有定位凸起并与底板8上设置的定位凹槽相配合,底板8上开有透射孔1-2,下压板7上开有检测孔2-2。
下压板7上检测孔2-2的直径小于底板8上透射孔1-2的直径,且检测孔2-2的轴心与透射孔1-2的轴心不重合。
在透射孔1-2周边的底板8外表面上设置有调节凹槽10。
在下压板7外表面上固定有调节手柄11。
本实用新型的X-荧光光谱分析用双面样品盒其加工制作简单方便,按说明书附图所示加工制作即可。
除说明书所述的技术特征外,均为本专业人员的已知技术。
Claims (5)
1.X-荧光光谱分析用双面样品盒,包括盒体、盒盖、底板及面罩构成,盒盖旋接在盒体上端开口处,面罩抵压设置在盒体上端与盒盖之间,盒盖上开有透射孔,面罩上开有检测孔,面罩上检测孔的直径小于盒盖上透射孔的直径,且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合,其特征在于,底板外缘设置有外螺纹并与盒体内壁上设置的内螺纹相配合,在底板的内侧上表面设置有下压板,下压板的外缘设置有定位凸起并与底板上设置的定位凹槽相配合,底板上开有透射孔,下压板上开有检测孔。
2.根据权利要求1所述的X-荧光光谱分析用双面样品盒,其特征在于下压板上检测孔的直径小于底板上透射孔的直径,且检测孔的轴心与透射孔的轴心不重合。
3.根据权利要求1或2所述的X-荧光光谱分析用双面样品盒,其特征在于在透射孔周边的底板外表面上设置有定位柄。
4.根据权利要求1或2所述的X-荧光光谱分析用双面样品盒,其特征在于在透射孔周边的底板外表面上设置有定位凹槽。
5.根据权利要求1所述的X-荧光光谱分析用双面样品盒,其特征在于在下压板外表面上固定有调节手柄。
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CN104880474A (zh) * | 2014-10-23 | 2015-09-02 | 中国计量科学研究院 | 一种标准物质的防伪卡套及利用其分析标准物质的方法 |
CN108489949A (zh) * | 2018-03-30 | 2018-09-04 | 常州领航量子生物医疗科技有限公司 | 荧光分析用样品盒 |
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