CN203606279U - 一种时间分辨太赫兹光谱检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种时间分辨太赫兹光谱检测装置，包括样品、第二分束器、飞秒激光器、第一分束器、透射探测装置、高压电源、第一时间延迟装置、太赫兹辐射源、斩波器和第二时间延迟装置，飞秒激光器发射出飞秒激光脉冲，飞秒激光脉冲经第一分束器被分为泵浦脉冲和探测脉冲，泵浦脉冲经第二分束器后分为两条泵浦脉冲，其中一条泵浦脉冲经过第一时间延迟装置到达样品，另一个支路的泵浦脉冲经过第二时间延迟装置经斩波器、太赫兹辐射源上产生太赫兹脉冲；探测脉冲和太赫兹脉冲一同共线入射到透射探测装置上，太赫兹脉冲激励样品，在高电压的作用下，透射探测装置检测到样品。本实用新型用太赫兹光谱检测果蔬内部，可实现果蔬内部品质的无损检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种果蔬检测装置，具体涉及一种时间分辨太赫兹光谱检测装置。
背景技术
目前，太赫兹光谱检测正逐渐应用于不同领域。利用时间分辨太赫兹光谱无损检测果蔬内部品质在国内还是空白。
实用新型内容
本实用新型的目的是为解决上述不足，提供一种时间分辨太赫兹光谱检测装置。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：一种时间分辨太赫兹光谱检测装置，包括样品、第二分束器、飞秒激光器、第一分束器、透射探测装置、高压电源、第一时间延迟装置、太赫兹辐射源、斩波器和第二时间延迟装置，飞秒激光器发射出飞秒激光脉冲，飞秒激光脉冲经第一分束器被分为泵浦脉冲和探测脉冲，泵浦脉冲经第二分束器后分为两条泵浦脉冲，其中一条泵浦脉冲经过第一时间延迟装置到达样品，另一个支路的泵浦脉冲经过第二时间延迟装置，再经斩波器调制后入射到太赫兹辐射源上产生太赫兹脉冲；探测脉冲和太赫兹脉冲一同共线入射到透射探测装置上，太赫兹脉冲激励样品，在高电压的作用下，透射探测装置检测到样品。
本实用新型用太赫兹光谱检测果蔬内部，可实现果蔬内部品质的无损检测。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明：
如图1所示，一种时间分辨太赫兹光谱检测装置，包括样品1、第二分束器2、飞秒激光器3、第一分束器4、透射探测装置5、高压电源6、第一时间延迟装置7、太赫兹辐射源8、斩波器9和第二时间延迟装置10，飞秒激光器3发射出飞秒激光脉冲，飞秒激光脉冲经第一分束器4被分为泵浦脉冲和探测脉冲，泵浦脉冲经第二分束器2后分为两条泵浦脉冲，其中一条泵浦脉冲经过第一时间延迟装置7到达样品1，另一个支路的泵浦脉冲经过第二时间延迟装置10，再经斩波器9调制后入射到太赫兹辐射源8上产生太赫兹脉冲；探测脉冲和太赫兹脉冲一同共线入射到透射探测装置5上，太赫兹脉冲激励样品1，在高电压6的作用下，透射探测装置5检测到样品1。
在高电压6的作用下，透射探测装置5检测到样品1的介电常数会发生改变，利用时间分辨的太赫兹光谱技术可用来研究这种变化。通过控制时间延迟系统来调节泵浦脉冲和探测脉冲之间的时间延迟，最终可以探测出太赫兹脉冲的整个时域波形.通过傅立叶变换就可以得到被测样品的频域谱，从而获得其吸收系数和折射率、透射率等光学参数。
本实用新型用太赫兹光谱检测果蔬内部，可实现果蔬内部品质的无损检测。
Claims (1)
1.一种时间分辨太赫兹光谱检测装置，包括样品(1)、第二分束器(2)、飞秒激光器(3)、第一分束器(4)、透射探测装置(5)、高压电源(6)、第一时间延迟装置(7)、太赫兹辐射源(8)、斩波器(9)和第二时间延迟装置(10)，其特征在于：飞秒激光器(3)发射出飞秒激光脉冲，飞秒激光脉冲经第一分束器(4)被分为泵浦脉冲和探测脉冲，泵浦脉冲经第二分束器(2)后分为两条泵浦脉冲，其中一条泵浦脉冲经过第一时间延迟装置(7)到达样品(1)，另一个支路的泵浦脉冲经过第二时间延迟装置(10)，再经斩波器(9)调制后入射到太赫兹辐射源(8)上产生太赫兹脉冲；探测脉冲和太赫兹脉冲一同共线入射到透射探测装置(5)上，太赫兹脉冲激励样品(1)，在高电压(6)的作用下，透射探测装置(5)检测到样品(1)。
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2013
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