CN203595785U - 可控压缩行程的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种可控压缩行程的测试装置,其特征在于:包括测试装置本体、设置在本体上的下测试固定板和可上下滑动的上测试压板,所述下测试固定板上设有若干个用于定位支撑PCBA板的定位弹针和用于接触PCBA板底面待测触脚、焊盘的测试探针;所述本体上设有框架,所述框架上滑动连接有滑动平台,所述滑动平台上设有上支撑架,所述支撑架通过设于其上的螺杆连接上固定板,所述上固定板下方通过导轴连接所述的测试压板。本实用新型可控压缩行程的测试装置调节方便,效率高,且无需其他辅助工具,省事省力、省成本。
Description
技术领域:
本实用新型涉及一种PCBA板检验及测试可控压缩行程的测试装置。
背景技术:
目前已有自动化对PCBA板102进行检验及测试的装置,如图1所示,将PCBA板102上的孔套进固定在下测试固定板108的定位弹针101上,通过测试装置103上的手动摇杆104上下运动,带动上测试压板105上的压杆106上下运动。在测试时,通过控制手动摇杆104带动压杆106向下运动,压杆106下压一段行程后,接触并继续下压PCBA板102,PCBA板102随定位弹针101向下运动,当PCBA板102接触到固定在下测试固定板108上的测试探针107,导通电路,完成PCBA板102的检验与测试功能。而在测试PCBA板102时,经常需要更改测试探针107、109的压缩量,或更改压杆106的下压行程,通常会采用几种方案来调整最终测试探针107、109的压缩量:
方案一:通过松开紧固螺栓,调整手动摇杆104上下位置,再旋紧紧固螺栓,从而达到调整压杆106的下压行程,达到改变测试探针107、109的压缩量,
方案二:通过更改测试压板105上的压杆106的长短,或测试压板105的上下位置或厚度,来调整高度,从而达到改变测试探针107、109的压缩量。
方案三:通过更改垫板高度,从而达到改变测试探针107的压缩量。
方案四:更换测试探针107的规格型号,来改变107的压缩量。
上述几种调整方案各有缺点:方案一调整难度较大、不方便,需要使用工具,调整的尺寸不好把握,效率低下等因素限制。方案二、方案三更换压杆106长短,调整垫板高度等,需要重新加工零件及安装,耗时,耗材。方案四则需要重新制作整个下固定板108及更换测试探针107、109,需要时间更多了。
实用新型内容:
本实用新型的目的在于克服上述现有技术中的不足,提供一种可控压缩行程的测试装置,通过该装置可达到上述几种方案所不能达到的便捷和高效。
本实用新型可控压缩行程的卡座测试装置,其特征在于:包括测试装置本体、设置在本体上的下测试固定板和可上下滑动的上测试压板,所述下测试固定板上设有若干个用于定位支撑PCBA板的定位弹针和用于接触PCBA板底面待测触脚、焊盘的测试探针;所述本体上设有框架,所述框架上滑动连接有滑动平台,所述滑动平台上设有支撑架,所述支撑架通过设于其上的螺杆连接上固定板,所述上固定板下方通过导轴连接所述的上测试压板。
上述框架具有四根导向柱,所述导向柱分别支撑在本体的四个边角处,所述滑动平台在四根导向柱上滑动。
上述支撑架呈罩状,罩设在滑动平台的通槽上,所述上固定板通过四根导轴连接上测试压板。
上述框架上部横设有转杆,所述转杆端部连接有驱动转柄,所述转杆上铰接有下部与滑动平台铰接的驱动铰片。
上述上测试压板下表面上还设有刚性压杆。
上述上测试压板下表面上还设有测试探针。
上述定位弹针上端部呈尖锐状,以与PCBA板上的通孔配合定位。
上述上测试压板与导轴可拆连接。
上述测试压板上表面设有磁铁,以与固定设于上固定板下部的导轴吸合。
本实用新型可控压缩行程的测试装置工作时,通过滑动平台的滑动,让上测试压板下压,使下测试固定板上测试探针及上测试压板上的探针接触PCBA板各个触角、焊盘,实现测试装置对PCBA板进行检验与测试功能。通过设于螺杆上的手动旋钮来驱动上固定板、上测试压板及测试探针相对PCBA板各个触角、焊盘的距离,进而满足不同测试项目的要求。
本实用新型可控压缩行程的测试装置调节方便,效率高,且无需其他辅助工具,省事省力、省成本。
附图说明:
图1是现有测试装置的立体图;
图2是图1的局部立体放大图;
图3是本实用新型的立体构造图;
图4是本实用新型另一种实施例的立体构造图。
具体实施方式:
下面参照附图结合实施例,对本实用新型作进一步的说明。
本实用新型可控压缩行程的卡座测试装置,包括测试装置本体1、设置在本体1上的下测试固定板2和可上下滑动的上测试压板3,所述下测试固定板2上设有若干个用于定位支撑PCBA板的定位弹针4和用于接触PCBA板底面待测触脚、焊盘的测试探针5;所述本体1上设有框架7,所述框架7上滑动连接有滑动平台8,所述滑动平台8上设有支撑架9,所述支撑架9通过设于其上的螺杆10连接上固定板11,所述上固定板11下方连接所述的测试压板3。
为了滑动顺畅,上述框架具有四根导向柱12,所述导向柱12分别支撑在本体的四个边角处,所述滑动平台8在四根导向柱上滑动。
为了设计合理,上述支撑架9呈罩状,罩设在滑动平台的通槽13上,所述上固定板11通过四根导轴14连接上测试压板3。
为了便于滑动平台的驱动,上述框架7上部横设有转杆14,所述转杆14端部连接有驱动转柄15,所述转杆上铰接有下部与滑动平台铰接的驱动铰片16。
在驱动转柄15驱动下移测试压板的行程过大时,即会存在测试探针压坏卡座弹片7的风险,从而导致卡座失效,为了克服上述不足之处来避免卡座因测试过程损坏的装置,减小卡座损坏率,降低不良。在上述上测试压板下表面上还设有刚性压杆6。
为了定位准确,上述定位弹针上端部呈尖锐状,以与PCBA板上的通孔配合定位。
对于测试项目的更换,也可以通过更换上测试压板,上测试压板可以通过可拆连接方式与导轴连接。
上述测试压板上表面设有磁铁,以与固定设于上固定板下部的导轴吸合。
本实用新型可控压缩行程的测试装置工作时,通过滑动平台的滑动,让上测试压板下压,使下测试固定板上测试探针及上测试压板的测试探针接触PCBA板底面待测触脚、焊盘,实现测试装置对PCBA板进行检验与测试功能。通过设于螺杆上的手动旋钮17来驱动上固定板、上测试压板及测试探针相对PCBA板的距离,进而满足不同测试项目的要求。
本实用新型可控压缩行程的测试装置调节方便,效率高,且无需其他辅助工具,省事省力、省成本。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,凡依本实用新型申请专利范围所做的均等变化与修饰,皆应属本实用新型的涵盖范围。
Claims (8)
1.一种可控压缩行程的测试装置,其特征在于:包括测试装置本体、设置在本体上的下测试固定板和可上下滑动的上测试压板,所述下测试固定板上设有若干个用于定位支撑PCBA板的定位弹针和用于接触PCBA板底面待测触脚、焊盘的测试探针;所述本体上设有框架,所述框架上滑动连接有滑动平台,所述滑动平台上设有支撑架,所述支撑架通过设于其上的螺杆连接上固定板,所述上固定板下方通过导轴连接所述的上测试压板。
2.根据权利要求1所述的可控压缩行程的测试装置,其特征在于:所述框架具有四根导向柱,所述导向柱分别支撑在本体的四个边角处,所述滑动平台在四根导向柱上滑动。
3.根据权利要求2所述的可控压缩行程的测试装置,其特征在于:所述支撑架呈罩状,罩设在滑动平台的通槽上,所述上固定板通过四根导轴连接上测试压板。
4.根据权利要求3所述的可控压缩行程的测试装置,其特征在于:所述框架上部横设有转杆,所述转杆端部连接有驱动转柄,所述转杆上铰接有下部与滑动平台铰接的驱动铰片。
5.根据权利要求4所述的可控压缩行程的测试装置,其特征在于:所述上测试压板下表面上还设有刚性压杆。
6.根据权利要求5所述的可控压缩行程的测试装置,其特征在于:所述定位弹针上端部呈尖锐状,以与PCBA板上的通孔配合定位。
7.根据权利要求3所述的可控压缩行程的测试装置,其特征在于:所述上测试压板与导轴可拆连接。
8.根据权利要求3所述的可控压缩行程的测试装置,其特征在于:所述测试压板上表面设有磁铁,以与固定设于上固定板下部的导轴吸合。
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CN104181350A (zh) * | 2014-08-29 | 2014-12-03 | 苏州市吴中区胥口广博模具加工厂 | 一种mmd信号质量测试治具 |
CN104181340B (zh) * | 2014-09-01 | 2017-01-25 | 苏州市吴中区胥口广博模具加工厂 | 压合行程可调的测试压合架 |
CN107957537A (zh) * | 2017-12-22 | 2018-04-24 | 浙江八达电子仪表有限公司 | 变压器耐压测试工装 |
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2013
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