CN203385802U - 一种单层多点ito的电气性能测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种单层多点ITO的电气性能测试装置,包括内部设置有测试电路板的主控箱;主控箱上设置有用于固定放置电容触摸屏功能片的ITO夹具;ITO夹具的上方设置有与测试电路板相连的FPC转接板,且FPC转接板上设置有与电容触摸屏功能片相接触的引脚;FPC转接板的上方设置有CCD对位装置;主控箱上还设置有用于调整FPC转接板位置的调整机构。本实用新型通过在内部设有测试电路板的主控箱上设置ITO夹具,然后在调整机构和CCD对位装置相配合的情况下对电容触摸屏功能片进行测试;本实用新型能方便调节ITO精确位置,其定位精度可达±0.03mm,准确度可达99%;本实用新型提高了电容触摸屏功能片测试效率,同时降低了周边金属材料寄生电容对其影响。
Description
技术领域
本实用新型属于ITO性能测试领域,涉及一种电容触摸屏功能片的检测装置,特别涉及一种单层多点ITO的电气性能测试装置。
背景技术
在电容触摸屏功能片(ITO sensor)的产品检验过程中,功能的要求,尤其是电性能的要求是最为关键的环节之一,在这个检验过程中需对ITO sensor电容触摸屏功能片进行客制化对位,并通过探针或FPC柔性电路板进行假压接触,利用检测驱动板对sensor传感器加载探测信号并接受反馈信息,以达到测试的目的。而ITO sensor电容触摸屏功能片常见因mask赃物等黄光工艺不良造成ITO本身断短路情况较多,如不加测试就直接上线,会导致TP不良,物料及人工浪费较大。
所以ITO sensor电容触摸屏功能片的产品检验至关重要,测试装置必须保证测试的稳定性。另外,单层多点因工艺所限,其线宽较窄,因此对此类ITO sensor电容触摸屏功能片的产品检验更需要精确对位(0.03mm),并能精确测试其各通道电气性能,准确度达99.9%。目前业界常见ITO sensor的测试一般能测试0.1mm精度ITO,且因为是目视对位,准确度只能达到98%,误判比例较大,直接导致后续TP生产良率下降。
发明内容
本实用新型的目的在于克服传统电容触摸屏功能片测试架的缺点,提供一种单层多点ITO的电气性能测试装置。
为达到上述目的,本实用新型所采用的技术方案是:包括内部设置有测试电路板的主控箱;主控箱上设置有用于固定放置电容触摸屏功能片的ITO夹具;ITO夹具的上方设置有与测试电路板相连的FPC转接板,且FPC转接板上设置有与电容触摸屏功能片相接触的引脚;FPC转接板的上方设置有CCD对位装置;主控箱上还设置有用于调整FPC转接板位置的调整机构。
上述的测试电路板为采用FR材料制作的基于自电容测试的单片机系统
上述的ITO夹具上设置有用于放置电容触摸屏功能片的凹槽。
上述的主控箱上还设置有显示屏以及控制按钮。
上述的控制按钮包括开关按钮、开始按钮以及停止按钮。
上述的显示屏和调整装置均安装在主控箱上,且分布于ITO夹具的两侧。
与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:
本实用新型通过在内部设有测试电路板的主控箱上设置ITO夹具,通过将FPC转接板的每个引脚与述电容触摸屏功能片对齐,然后在调整机构和CCD对位装置相配合的情况下对电容触摸屏功能片进行测试;本实用新型能够精确修正XYZ方向,方便调节ITO精确位置,并适应各种尺寸,其定位精度可达±0.03mm,提高了电容触摸屏功能片测试效率,同时降低了周边金属材料寄生电容对其影响。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图。
其中,1为主控箱;2为ITO夹具;3为FPC转接板;4为CCD对位装置;5为调整机构;6为显示屏。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步说明:
参见图1,本实用新型包括内部设置有测试电路板的主控箱1,测试电路板由基于自电容测试的单片机系统组成,采用FR4材料制作,是整个装置的电气及软件核心;主控箱1上设置有ITO夹具2,ITO夹具2上设置有用于放置电容触摸屏功能片的凹槽,ITO夹具2采用PMMA材料,大小可根据电容触摸屏功能片的大小进行修正;ITO夹具2的凹槽上方设置有FPC转接板3,且FPC转接板的每个引脚与电容触摸屏功能片对齐,FPC转接板3根据所测试电容触摸屏功能片进行设计,与测试电路板配套;FPC转接板3的上方设置有CCD对位装置4,CCD对位装置4主要作为ITO走线于FPC转接板的对位用。主控箱1上还设置有用于对工作台相对FPC转接板位置进行微调的调整机构5,调整机构5是XY轴方向可修正的千分尺;主控箱1上还设置有显示屏6、开关按钮、开始按钮以及停止按钮;显示屏6和调整装置5均安装在主控箱1上,且分布于ITO夹具的两侧。
本实用新型在工作状态时CCD对位装置4常开。电容触摸屏功能片投入时,ITO夹具2打开,调整机构5根据CCD对位装置4的指示进行微调,直到电容触摸屏功能片与FPC转接板3每个引脚对齐,其中,电容触摸屏功能片插入和取出时装置能自动判断并修正对位坐标。电容触摸屏功能片与FPC转接板3每个引脚对齐后,即可开始测试,遇不良小片会报警提示,正常测试数据自动保存。电容触摸屏功能片取出作业时,ITO夹具2打开,电容触摸屏功能片完全取出后,ITO夹具2关闭。本实用新型一个单层多点ITO的电气性能测试装置每分钟测试电容触摸屏功能片的最大数量为60pcs。
本实用新型采用精确对位设计,ITO夹具上方采用CDD做对位用,下部采 用平面千分尺对位结构,精确修正XYZ方向,方便调节ITO精确位置,并适应各种尺寸,其定位精度可达±0.03mm,针对单层多点高密度引脚进行精确对位,并结合高精度测试板探测各引脚通道参数。另外,本实用新型配合测试软件能精确查询各sensor通道线阻及容值,不受方案的ITO图形限制,兼容市场上常见图形。此外,本实用新型测试机构和电容触摸屏功能片接触部位采用PMMA材料。
Claims (6)
1.一种单层多点ITO的电气性能测试装置,其特征在于:包括内部设置有测试电路板的主控箱(1);主控箱(1)上设置有用于固定放置电容触摸屏功能片的ITO夹具(2);ITO夹具(2)的上方设置有与测试电路板相连的FPC转接板(3),且FPC转接板(3)上设置有与电容触摸屏功能片相接触的引脚;FPC转接板(3)的上方设置有CCD对位装置(4);主控箱(1)上还设置有用于调整FPC转接板位置的调整机构(5)。
2.如权利要求1所述的单层多点ITO的电气性能测试装置,其特征在于:所述的测试电路板为采用FR4材料制作的基于自电容测试的单片机系统。
3.如权利要求1所述的单层多点ITO的电气性能测试装置,其特征在于:所述的ITO夹具(2)上设置有用于放置电容触摸屏功能片的凹槽。
4.如权利要求1所述的单层多点ITO的电气性能测试装置,其特征在于:所述的主控箱(1)上还设置有显示屏(6)以及控制按钮。
5.如权利要求4所述的单层多点ITO的电气性能测试装置,其特征在于:所述的控制按钮包括开关按钮、开始按钮以及停止按钮。
6.如权利要求4所述的单层多点ITO的电气性能测试装置,其特征在于:所述的显示屏(6)和调整装置(5)均安装在主控箱(1)上,且分布于ITO夹具的两侧。
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