CN203350362U - 一种新型半导体电阻测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种新型半导体电阻测试系统，包括主机，主机外接温度采集器和若干台电阻测试器，主机包括中央处理器模块、人机交互模块、输入模块和电源模块，本实用新型同时对半导体电阻和环境温度进行测量，并将采集的数据送入主机进行后台分析修正电阻值，并得到电阻值的分布情况，消除了环境温度对电阻检测值的影响，能快速响应并高效处理数据，主机自动作出判定，检测过程省时省力，减少了数据的差错率，检测效率也得到极大提高。
Description
技术领域
本实用新型涉及到一种测量装置，尤其涉及到一种充分消除环境温度影响且响应快速的新型半导体电阻测试系统。
背景技术
随着致冷片技术的进一步发展，要求产品寿命和可靠性越来越高、生产成本越来越低，这就对半导体电阻测试的要求也越来越严格，现有技术的测试系统，是定时测量环境温度并记录，再使用毫欧电阻仪手工测量半导体电阻，并将数据记录录入计算机制成报表，后续再对数据进行分析处理，由于手工检测并录入费工费利，并没有实时测量环境温度，造成电阻值测量不准确，录入需等到整批测完才进行，响应速度较慢，分析计算滞后，使测量系统的效率较低，无法满足生产的需要。
实用新型内容
本实用新型主要解决现有技术的半导体电阻测试人工录入费时费力、易受环境温度影响造成测试值不准确的技术问题；提供了一种能充分消除环境温度影响且响应快速的新型半导体电阻测试系统。
为了解决上述存在的技术问题，本实用新型主要是采用下述技术方案：
本实用新型的一种新型半导体电阻测试系统，包括主机，所述主机外接温度采集器和若干台电阻测试器，所述主机包括中央处理器模块、输入模块、人机交互模块和电源模块，所述输入模块与温度采集器和电阻测试器连接，测试系统同时对几个半导体电阻和环境温度进行测量，并将采集的数据送入主机进行后台分析处理来修正测得的电阻值，并得到电阻值的分布情况，消除了环境温度对电阻检测值的影响，能快速响应并高效处理数据，主机自动作出判定，检测过程省时省力，减少了数据的差错率，检测效率也得到极大提高。
作为优选，所述电阻测试器为毫欧测阻仪，测量精度高，且不会破坏待测半导体的内部结构。
作为优选，所述温度采集器外接温度传感器，温度传感器可快速的实时检测环境温度，对检测到的电阻值参数进行修正，保证每一个半导体电阻值的检测结果精确。
作为优选，所述人机交互模块外接显示单元和功能按钮单元，所述显示单元为液晶显示屏或触摸屏，所述功能按钮单元为数字键盘或触摸屏，操作人员可直接在液晶显示屏或触摸屏上观察到检测的结果或数值或加以控制，及时了解半导体电阻值的分布情况，调整相应的生产参数或技术指标。
作为优选，所述主机还包括通信模块，可将检测的半导体电阻值的数据传递给上一级计算机或控制中心，方便对半导体测试系统进行集中管理和综合控制。
本实用新型的有益效果是：通过同时对几个半导体电阻和环境温度进行测量，并将采集的数据送入主机进行后台分析处理修正电阻值，并得到电阻值的分布情况，消除了环境温度对电阻检测值的影响，能快速响应并高效处理数据，主机自动作出判定，检测过程省时省力，减少了数据的差错率，检测效率也得到极大提高。
附图说明
图1是本实用新型的一种结构示意图。
图2是图1的电气原理结构示意图。
图中 1.主机，2.电阻测试器，3.温度采集器，4.液晶显示器，5.数字键盘。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
实施例：本实施例的一种新型半导体电阻测试系统，如图1所示，包括主机1，主机外接电阻测试器2和温度采集器3，电阻测试器为毫欧测阻仪，温度采集器外接温度传感器，如图2所示，主机包括中央处理器模块、输入模块、通信模块、人机交互模块和电源模块，输入模块直接与温度采集器和电阻测试器连接，人机交互模块外接液晶显示屏4和数字键盘5。
进行半导体电阻检测时，先将毫欧测阻仪和温度采集器通过通信电缆连接到主机上，并将液晶显示器和键盘连接到主机上，此时，将待测试的半导体连接毫欧测阻仪，在主机的程序控制下，毫欧测阻仪测量半导体电阻，温度采集器同步测量环境温度，两个数据同时传递给主机，经主机的测试软件进行分析处理，可得到准确的半导体电阻值并判定是否合格，测试数据自动进行保存，以此类推，继续测试下一颗半导体，并将测试数据分析处理，同时更新电阻的分布情况，各测试数据和结果通过液晶显示器显示，也可通过通信模块上传至控制中心进行集中处理或控制，整个检测过程省时省力，快速高效，差错率低。
以上说明并非对本实用新型作了限制，本实用新型也不仅限于上述说明的举例，本技术领域的普通技术人员在本实用新型的实质范围内所做出的变化、改型、增添或替换，都应视为本实用新型的保护范围。
Claims (5)
1. 一种新型半导体电阻测试系统，特征在于：包括主机（1），所述主机外接温度采集器（2）和若干台电阻测试器（3），所述主机包括中央处理器模块、输入模块、人机交互模块和电源模块，所述输入模块与温度采集器和电阻测试器连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型半导体电阻测试系统，其特征在于：所述电阻测试器（2）为毫欧测阻仪。
3.根据权利要求1所述的一种新型半导体电阻测试系统，其特征在于：所述温度采集器（3）外接温度传感器。
4.根据权利要求1或2或3所述的一种新型半导体电阻测试系统，其特征在于：所述人机交互模块外接显示单元和功能按钮单元，所述显示单元为液晶显示屏（4）或触摸屏，所述功能按钮单元为数字键盘（5）或触摸屏。
5.根据权利要求1所述的一种新型半导体电阻测试系统，其特征在于：所述主机（1）还包括通信模块。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 201320386125 CN203350362U (zh) | 2013-06-27 | 2013-06-27 | 一种新型半导体电阻测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 201320386125 CN203350362U (zh) | 2013-06-27 | 2013-06-27 | 一种新型半导体电阻测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN203350362U true CN203350362U (zh) | 2013-12-18 |
Family
ID=49750246
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN 201320386125 Expired - Lifetime CN203350362U (zh) | 2013-06-27 | 2013-06-27 | 一种新型半导体电阻测试系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN203350362U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113310604A (zh) * | 2021-04-23 | 2021-08-27 | 青岛东方船研深海装备结构技术有限公司 | 一种应力传感器安装辅助系统及装置 |
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2013
- 2013-06-27 CN CN 201320386125 patent/CN203350362U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113310604A (zh) * | 2021-04-23 | 2021-08-27 | 青岛东方船研深海装备结构技术有限公司 | 一种应力传感器安装辅助系统及装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CX01 | Expiry of patent term |
Granted publication date: 20131218 |
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| CX01 | Expiry of patent term |