CN204241515U - 一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于硬盘检测技术领域，具体公开了一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，包括MCU微控制单元、及于MCU微控制单元连接MCU电源电路模块、温度测试模块、湿度测试模块、远端温度测试模块和硬盘与服务器通讯互连电路模块，其中MCU电源电路模块分别与稳定测试模块、湿度测试模块、远端温度测试模块进行供电。本实用新型一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，1、结构简单、抗震；2、通过温度测试模块、湿度测试模块对检测现场温度、湿度进行监控管理以符合磁电硬盘检测标准参数，同时通过远端温度测试模块监控上一步骤检测温度辅助控制检测现场温度，以达到所有检测项温度相同，进而提高检测精准度。同时本实用新型生产成本低、易推广。
Description
技术领域
本实用新型属于硬盘检测技术领域，具体涉及一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器。
背景技术
当前磁电硬盘行业的工厂测试所用的转接适配器,都是功能单一的连接器转换，没有测试环境评估功能，而磁电硬盘的测试对环境要求相对敏感；从所周知，在工厂生产制程中,对磁盘的测试要评估多达上100项的参数,而其中有近30项测试对环境要求极其敏感，所以测试时,要求各测试站的测试环境尽可能的一致，但对于大批量的生产制程来说,这个环境要求是有相当难度的，所以需要通过对测试环境参数进行测试评估,然后反馈测试系统,以修正测试数据的测试方案，进而完成磁电硬盘测试，提高产品测试的准确性、稳定性及产品合格率。
基于上述问题，本实用新型提供一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器。
实用新型内容
实用新型目的：本实用新型的目的是针对现有技术的不足，提供一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，解决现有传统接口适配器单纯的连接功能，提高磁电硬盘检测过程的稳定性、精准性及便于控制检测环境、保证上下步骤检测环境一致。
技术方案：一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，包括MCU微控制单元、及于MCU微控制单元连接MCU电源电路模块、温度测试模块、湿度测试模块、远端温度测试模块和硬盘与服务器通讯互连电路模块，其中MCU电源电路模块分别与稳定测试模块、湿度测试模块、远端温度测试模块进行供电；所述MCU微控制单元接收本地温度测试模块和湿度测试模块参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块连接的上位机显示；同时所述MCU微控制单元接收远端温度测试模块的参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块连接的上位机显示。
进一步的所述用于超高速磁电硬盘的接口适配器还包括与MCU微控制单元连接的MCU外部辅助电路模块，其中MCU外部辅助电路模块与MCU电源电路模块连接。
进一步的所述MCU微控制单元为51单片机芯片。
进一步的所述温度测试模块和远端温度测试模块为温度传感器或温度测试仪，湿度测试模块为湿度传感器或湿度测试仪。
进一步的所述温度测试仪优选杭州奋乐仪器厂生产的型号为FLA5000。
进一步的所述湿度测试仪优选深圳市恩慈电子有限公司生产的型号为DT-625。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：本实用新型的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，1、结构简单、抗震；2、通过温度测试模块、湿度测试模块对检测现场温度、湿度进行监控管理以符合磁电硬盘检测标准参数，同时通过远端温度测试模块监控上一步骤检测温度辅助控制检测现场温度，以达到所有检测项温度相同，进而提高检测精准度。同时本实用新型生产成本低、易推广。
附图说明
图1是本实用新型一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器的结构示意图；
图2是本实用新型一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器的数据处理流程图；
图3是本实用新型一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器的电路板结构示意图；
其中图中序号如下：1-MCU微控制单元、2-MCU电源电路模块、3-MCU外部辅助电路模块、4-温度测试模块、5-湿度测试模块、6-远端温度测试模块、7-硬盘与服务器通讯互连电路模块。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本实用新型。
如图1所示的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，包括MCU微控制单元1、及于MCU微控制单元1连接MCU电源电路模块2、温度测试模块4、湿度测试模块5、远端温度测试模块6和硬盘与服务器通讯互连电路模块7，其中MCU电源电路模块2分别与温度测试模块4、湿度测试模块5、远端温度测试模块6进行供电；所述MCU微控制单元1接收本地温度测试模块4和湿度测试模块 5参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块7连接的上位机显示；同时所述MCU微控制单元1接收远端温度测试模块6的参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块7连接的上位机显示。
进一步的用于超高速磁电硬盘的接口适配器还包括与MCU微控制单元1连接的MCU外部辅助电路模块3，其中MCU外部辅助电路模块3与MCU电源电路模块2连接，MCU外部辅助电路模块3对MCU微控制单元1进行辅助供电，保证MCU微控制单元1工作电压状态稳定；MCU微控制单元1为51单片机芯片，采购成本低且易于升级；温度测试模块4和远端温度测试模块6为温度传感器或温度测试仪，湿度测试模块5为湿度传感器或湿度测试仪。
其中，温度测试仪优选杭州奋乐仪器厂生产的型号为FLA5000，工作状态稳定、测试参数精准及安装使用方便质量轻、适应范围广，温度范围:﹣30℃－100℃/-30℉－199℉℃，湿度范围:0℃－100％RH，测量精度:±0.5℃/0.9℉，测量误差:±0.5℃/0.9℉；湿度测试仪优选深圳市恩慈电子有限公司生产的型号为DT-625采样率50/秒，参数采集精准、稳定。
实施例
进一步的如图2所示本接口适配器通过硬盘与服务器通讯互连电路模块7与上位机连接，开启MCU电源电路模块2对温度测试模块4、湿度测试模块5、远端温度测试模块6供电，MCU微控制单元1利用温度测试模块4、湿度测试模块5、远端温度测试模块6对各个参数进行收集并利用上位机显示，若与上一检测步骤温度不一致进而对本检测步骤环境进行调整，以实现各个检测步骤环境一致，保证各个检测步骤所检测的数据参数相同或缩小检测误差，提高磁电硬盘整体检测稳定性、精准性。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以作出若干改进，这些改进也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (6)
1.一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，其特征在于：包括MCU微控制单
元（1）、及于MCU微控制单元（1）连接MCU电源电路模块（2）、温度测试模块（4）、湿度测试模块（5）、远端温度测试模块（6）和硬盘与服务器通讯互连电路模块（7），其中MCU电源电路模块（2）分别与稳定测试模块（4）、湿度测试模块（5）、远端温度测试模块（6）进行供电；所述MCU微控制单元（1）接收本地温度测试模块（4）和湿度测试模块（5）参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块（7）连接的上位机显示；同时所述MCU微控制单元（1）接收远端温度测试模块（6）的参数并利用与硬盘与服务器通讯互连电路模块（7）连接的上位机显示。
2.根据权利要求1所述的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，其特征在于：所述用于超高速磁电硬盘的接口适配器还包括与MCU微控制单元（1）连接的MCU外部辅助电路模块（3），其中MCU外部辅助电路模块（3）与MCU电源电路模块（2）连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，其特征在于：所述MCU微控制单元（1）为51单片机芯片。
4.根据权利要求1所述的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，其特征在于：所述温度测试模块（4）和远端温度测试模块（6）为温度传感器或温度测试仪，湿度测试模块（5）为湿度传感器或湿度测试仪。
5.根据权利要求4所述的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，其特征在于：所述温度测试仪优选杭州奋乐仪器厂生产的型号为FLA5000。
6.根据权利要求4所述的一种用于超高速磁电硬盘检测的接口适配器，其特征在于：所述湿度测试仪优选深圳市恩慈电子有限公司生产的型号为DT-625。
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