CN203133248U - 一种用于真空断路器的nsdd测试的试验回路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于真空断路器的NSDD测试的试验回路，包括工频变压器、第一电容、第二电容、电阻和示波器；该断路器一端电接工频变压器，该断路器另一端电接第一电容一端和电阻一端，该第一电容另一端电接第二电容一端，该第二电容另一端接地，该示波器电接在第一电容另一端和电阻另一端间，该电阻另一端接地；通过示波器显示的断路器逐相分闸后产生的波形获取NSDD参数，依据该些NSDD参数判定断路器测试结果。它具有如下优点：接线简单，无需大功率设备，在工厂内即可完成NSDD测试，费用低，试验结果与试验站测试结果有较高的一致性。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种一种用于真空断路器的NSDD测试的试验回路。
背景技术
国际上从上世纪80年代开始关注非自持破坏性放电现象（即NSDD）产生的原因和危害。一般认为真空断路器在开断电流后出现的非自持破坏性放电，对电力系统本身是有害的，特别是在开断容性电流后出现的极间放电将会使电容器端出现数倍过电压，进而有可能发展成为重大安全事故。特别是对于35KV中性点不接地系统，一旦出现多次NSDD，危害更大。针对这一风险，目前国网部分公司的方法是对于用于开断电容器组的真空断路器，须在绍兴无功功率试验站完成断路器电流老炼试验，该试验模拟真实工况，在32.7KV工频电压下，开断350A电流。要求每相在经过数次老炼后，每相至少连续60次开断后无NSDD现象。该测试方法存在有如下不足：1、比较复杂，试验需要特殊的大功率电源设备，需要在大功率试验站进行；2、试验费用非常昂贵，一次试验费用需要数万元。
实用新型内容
本实用新型提供了一种用于真空断路器的NSDD测试的试验回路，其克服了背景技术中用于真空断路器的NSDD测试方法所存在的不足。
本实用新型解决其技术问题的所采用的技术方案是：
一种用于真空断路器的NSDD测试的试验回路，包括工频变压器、第一电容、第二电容、电阻和示波器；该断路器一端电接工频变压器，该断路器另一端电接第一电容一端和电阻一端，该第一电容另一端电接第二电容一端，该第二电容另一端接地，该示波器电接在第一电容另一端和电阻另一端间，该电阻另一端接地。
一实施例之中：该示波器为双通道示波器。
一实施例之中：该工频变压器接地。
本技术方案与背景技术相比，它具有如下优点：
1、接线简单，无需大功率设备，在工厂内即可完成NSDD测试，费用低，试验结果与试验站测试结果有较高的一致性；
2、能用于估算真空断路器在开断容性电流后出现非自持破坏性放电的相对概率；
3.对真空灭弧室有老炼效果，可降低出现非自持破坏性放电的概率；
4.对实际生产产品质量控制具有指导意义，例如灭弧室制造时的洁净度和触头的表面状况等。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
图1绘示了一实施例的试验回路的电路图。
图2-1绘示了一实施例的示波器波形，此时为1次NSDD。
图2-2绘示了一实施例的示波器波形，此时为2次NSDD。
具体实施方式
请查阅图1，一种用于真空断路器的NSDD测试的试验回路，包括工频变压器10、第一电容20、第二电容30、电阻40和双通道示波器50。该工频变压器10接地，该断路器60一端电接工频变压器10，该断路器60另一端电接第一电容20一端和电阻40一端，该第一电容20另一端电接第二电容30一端，该第二电容30另一端接地，该示波器50电接在第一电容20另一端和电阻40另一端间，该电阻40另一端接地。本实施例之中，通过第一电容20、第二电容30、电阻40设定以定义RC时间处于40-60ms。本实施例之中：该第一电容20包括多个串联 连接的电容，如包括一200pf电容和5个2.7nf电容；该第二电容30如200nf；该电阻40如包括4个串联的500Mohm，根据不同需要可选择不同值的电容、电阻。该工频变压器10的工频电压例如选取真空断路器的额定耐受电压。
当断路器60处于合闸状态时，流过断路器60的电流由第一电容20、第二电容30和电阻40限制，且输出到双通道示波器50。当断路器60分闸后，真空断路器60开断电流（电流为毫安级），真空间隙出现外施电压，同时断路器60负载侧电压将从触头分离瞬间的水平衰减到零，该时间取决于第一电容20、第二电容30和电阻40定义的RC时间。请查阅图2-1和图2-2，通过示波器50显示的断路器60逐相分闸后产生的波形获取NSDD参数，本实施例之中，该NSDD参数包括NSDD数目和NSDD时间。
依据该些NSDD参数判定断路器60测试结果，本实施例之中，断路器60逐相进行NSDD测试，每相操作30次，根据表单记录每次操作出现NSDD的数量和第一次NSDD出现的时间。E（综合评分）=A+B+6×C+30×D；A-每相出现NSDD的总数目；B-每次操作出现NSDD的概率；C-第1到第10次操作时每次出现NSDD的平均数；D-第11到第30次操作时每次出现NSDD的平均数。一般认为，当E值小于40，则表明在投切电容时出现NSDD概率很小。根据需要，本领域技术人员可设置不同的计算公式。
本实施例的试验回路，模拟断路器开断电流后在工频恢复电压下是否出现NSDD现象，并通过示波器记录每次开断操作后出现NSDD的数目与时间。该试验回路不需要大功率设备，在断路器组装工厂内使用普通的工频变压器设备即可完成试验测试，成本低，测试结果与试验站测试结果有较高的一致性。
以上所述，仅为本实用新型较佳实施例而已，故不能依此限定本实用新型实施的范围，即依本实用新型专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应 仍属本实用新型涵盖的范围内。
Claims (3)
1.一种用于真空断路器的NSDD测试的试验回路，其特征在于：包括工频变压器、第一电容、第二电容、电阻和示波器；该断路器一端电接工频变压器，该断路器另一端电接第一电容一端和电阻一端，该第一电容另一端电接第二电容一端，该第二电容另一端接地，该示波器电接在第一电容另一端和电阻另一端间，该电阻另一端接地。
2.根据权利要求1所述的一种用于真空断路器的NSDD测试的试验回路，其特征在于：该示波器为双通道示波器。
3.根据权利要求1所述的一种用于真空断路器的NSDD测试的试验回路，其特征在于：该工频变压器接地。
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| CN 201220746209 CN203133248U (zh) | 2012-12-31 | 2012-12-31 | 一种用于真空断路器的nsdd测试的试验回路 |
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2012
- 2012-12-31 CN CN 201220746209 patent/CN203133248U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
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| CN105866667A (zh) * | 2016-03-31 | 2016-08-17 | 国家电网公司 | 一种双端接地断路器的回路电阻测试方法 |
| CN105866667B (zh) * | 2016-03-31 | 2018-12-04 | 国家电网公司 | 一种双端接地断路器的回路电阻测试方法 |
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