CN203069737U - 一种led编带机的极性测试座 - Google Patents

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吴涛
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Abstract

本实用新型涉及LED编带机技术领域,特别涉及一种LED编带机的极性测试座,其结构包括有第一夹紧块、第二夹紧块以及设置于所述第一夹紧块和所述第二夹紧块之间的固定块,所述第一夹紧块和所述固定块之间以及所述第二夹紧块和所述固定块之间均设置有极性测试条,所述第一夹紧块和所述第二夹紧块朝向所述固定块的一侧分别开设有与所述极性测试条相滑动配合的滑槽,所述滑槽内设置有支撑件,所述极性测试条开设有长孔,所述支撑件穿设并抵接于所述长孔的底端,所述长孔内设置有缓冲弹簧;本实用新型提供一种具有缓冲结构设置、对LED芯片及极性测试条不容易造成损坏、测试结果准确的一种LED编带机的极性测试座。

Description

一种LED编带机的极性测试座
技术领域
本实用新型涉及LED编带机技术领域,特别涉及应用于对LED芯片的LED编带机的极性测试座。
背景技术
许多LED芯片在具体的使用过程中有严格的极性要求。
在LED芯片在安装至相应的电器上或者为实现工业化的大批量生产对LED芯片进行编带封装之前,都应对LED芯片的极性进行相应的测试,以使生产出来的电子产品能够正常使用。
极性测试座一般是对LED芯片进行通电测试,以判断其极性是否正常,以便于其他装置是否可以把该LED芯片安装至相应的电子产品上或封装至编带内。
而现有技术中,在对LED芯片进行极性测试的过程中,将LED芯片放置于极性测试座的过程是无缓冲设置,使得LED芯片与极性测试座之间的接触为刚性接触,导致LED芯片件容易损坏,同时,在测试导电针接触该LED芯片的电极时,由于无缓冲设置,使得该LED芯片的电极容易损坏,而且在高速度的测试时,也常常使得测试导电针与该LED芯片的电极没有充分接触,导致漏掉了电极的测试,给出的测试结果容易出错。
实用新型内容
本实用新型的目的在于避免上述现有技术中的不足之处而提供一种具有缓冲结构设置、对LED芯片及极性测试条不容易造成损坏、测试结果准确的一种LED编带机的极性测试座。
本实用新型的目的通过以下技术方案实现:
提供了一种LED编带机的极性测试座,包括有第一夹紧块、第二夹紧块以及设置于所述第一夹紧块和所述第二夹紧块之间的固定块,所述第一夹紧块和所述固定块之间以及所述第二夹紧块和所述固定块之间均设置有极性测试条,所述第一夹紧块和所述第二夹紧块朝向所述固定块的一侧分别开设有与所述极性测试条相滑动配合的滑槽,所述滑槽内设置有支撑件,所述极性测试条开设有长孔,所述支撑件穿设并抵接于所述长孔的底端,所述长孔内设置有缓冲弹簧,所述缓冲弹簧的一端触接于所述长孔的顶端,所述缓冲弹簧的另一端触接于所述支撑件;所述极性测试条的顶端外露于所述第一夹紧块、所述第二夹紧块以及所述固定块所在的平面、并用于承托LED芯片以实现极性测试。
其中,所述极性测试条设有四条,其中两条极性测试条设置于所述固定块的一侧,另外两条极性测试条设置于所述固定块的另一侧,四条极性测试条的顶端位于同一平面。
其中,所述极性测试条的顶端具有向所述固定块所在的方向倾斜的倾斜承托面。
其中,所述长孔设置于所述极性测试条的中部。
其中,所述支撑件为圆柱体的支撑件或者矩形体的支撑件。
其中,所述第一夹紧块、所述固定块以及所述第二夹紧块之间通过螺栓可拆卸地连接。
其中,所述极性测试条的下部设置有用于与导线连接的连线孔。
本实用新型的有益效果:当LED芯片被放置到极性测试座上进行极性测试,LED芯片先抵触所述极性测试条,所述极性测试条受到LED芯片施加向下的压力,所述极性测试条将沿所述滑槽向下滑动,当LED芯片极性测试完成之后,所述极性测试条在缓冲弹簧弹力的作用下,恢复到原来的装置,因此所述缓冲弹簧在所述极性测试条受压的过程中起到缓冲作用,避免了LED芯片与所述极性测试条出现刚压导致LED芯片的损坏或所述极性测试条的损坏,使得LED芯片及极性测试条都不易损坏,在极性测试条不损坏的情况下,LED芯片的电极与极性测试条每次都能够充分接触,而进一步的,避免了出现电极漏测及其导致的测试结果不正确的情况。
附图说明
利用附图对本实用新型作进一步说明,但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制,对于本领域的普通技术人员,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1为本实用新型的一种LED编带机的极性测试座的爆炸结构示意图。
图2为本实用新型的一种LED编带机的极性测试座的结构示意图。
附图标记:
1-第一夹紧块、
2-第二夹紧块、
3-极性测试条、31-连线孔、32-长孔、
4-滑槽、
5-支撑件、
6-固定块、
7-缓冲弹簧、
8-LED芯片。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。
本实用新型的一种LED编带机的极性测试座的具体实施方式,如图1和图2所示,包括有第一夹紧块1、第二夹紧块2以及设置于所述第一夹紧块1和所述第二夹紧块2之间的固定块6,所述第一夹紧块1和所述固定块6之间以及所述第二夹紧块2和所述固定块6之间均设置有极性测试条3,所述第一夹紧块1和所述第二夹紧块2朝向所述固定块6的一侧分别开设有与所述极性测试条3相滑动配合的滑槽4,所述滑槽4内设置有支撑件5,所述极性测试条3开设有长孔32,所述支撑件5穿设并抵接于所述长孔32的底端,所述长孔32内设置有缓冲弹簧7,所述缓冲弹簧7的一端触接于所述长孔32的顶端,所述缓冲弹簧7的另一端触接于所述支撑件5;所述极性测试条3的顶端外露于所述第一夹紧块1、所述第二夹紧块2以及所述固定块6所在的平面、并用于承托LED芯片以实现极性测试。
当LED芯片被放置到极性测试座上进行极性测试时,吸取LED芯片的装置难免会对LED芯片产生一个向下的作用力,采用本实用新型的极性测试座,使得LED芯片先抵触所述极性测试条3,所述极性测试条3受到LED芯片施加的向下的压力时,所述极性测试条3将沿所述滑槽4向下滑动起到缓冲的作用,当LED芯片极性测试完成之后,所述极性测试条3在缓冲弹簧7弹力的作用下,恢复到原来的装置,因此所述缓冲弹簧7在所述极性测试条3受压的过程中起到缓冲作用,避免了LED芯片与所述极性测试条3出现刚压导致LED芯片的损坏或所述极性测试条3的损坏的情况,使得LED芯片及极性测试条3都不易损坏,而进一步的,在极性测试条3不损坏的情况下,LED芯片的电极与极性测试条3每次都能够充分接触,避免了出现电极漏测及其导致的测试结果不正确的情况。
具体的,所述极性测试条3设有四条,其中两条极性测试条3设置于所述固定块6的一侧,另外两条极性测试条3设置于所述固定块6的另一侧,四条极性测试条3的顶端位于同一平面,所述极性测试条3的顶端具有向所述固定块6所在的方向倾斜的倾斜承托面。
具体的,所述长孔32设置于所述极性测试条3的中部。
具体的,所述支撑件5为圆柱体的支撑件5或者矩形体的支撑件5。
具体的,所述第一夹紧块1、所述固定块6以及所述第二夹紧块2之间通过螺栓可拆卸地连接,使得可以根据需要更换极性测试条3。
具体的,所述极性测试条3的下部设置有用于与导线连接的连线孔31。
最后应当说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案,而非对本实用新型保护范围的限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。

Claims (7)

1.一种LED编带机的极性测试座,其特征在于,包括有第一夹紧块、第二夹紧块以及设置于所述第一夹紧块和所述第二夹紧块之间的固定块,所述第一夹紧块和所述固定块之间以及所述第二夹紧块和所述固定块之间均设置有极性测试条,所述第一夹紧块和所述第二夹紧块朝向所述固定块的一侧分别开设有与所述极性测试条相滑动配合的滑槽,所述滑槽内设置有支撑件,所述极性测试条开设有长孔,所述支撑件穿设并抵接于所述长孔的底端,所述长孔内设置有缓冲弹簧,所述缓冲弹簧的一端触接于所述长孔的顶端,所述缓冲弹簧的另一端触接于所述支撑件;所述极性测试条的顶端外露于所述第一夹紧块、所述第二夹紧块以及所述固定块所在的平面、并用于承托LED芯片以实现极性测试。
2.根据权利要求1所述的一种LED编带机的极性测试座,其特征在于,所述极性测试条设有四条,其中两条极性测试条设置于所述固定块的一侧,另外两条极性测试条设置于所述固定块的另一侧,四条极性测试条的顶端位于同一平面。
3.根据权利要求1所述的一种LED编带机的极性测试座,其特征在于,所述极性测试条的顶端具有向所述固定块所在的方向倾斜的倾斜承托面。
4.根据权利要求1所述的一种LED编带机的极性测试座,其特征在于,所述长孔设置于所述极性测试条的中部。
5.根据权利要求1所述的一种LED编带机的极性测试座,其特征在于,所述支撑件为圆柱体的支撑件或者矩形体的支撑件。
6.根据权利要求1所述的一种LED编带机的极性测试座,其特征在于,所述第一夹紧块、所述固定块以及所述第二夹紧块之间通过螺栓可拆卸地连接。
7.根据权利要求1所述的一种LED编带机的极性测试座,其特征在于,所述极性测试条的下部设置有用于与导线连接的连线孔。
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