CN203053881U - 基于单筒显微镜和工业相机的检测系统 - Google Patents
基于单筒显微镜和工业相机的检测系统 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开一种基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,包括机座、单筒显微镜、工业相机、显微镜座、相机座、缩小镜和显示器,所述单筒显微镜设置在显微镜座上,工业相机设置在相机座上,缩小镜位于单筒显微镜和工业相机之间,所述工业相机上设有VGA接口,所述VGA接口通过信号线与显示器相连接,所述显微镜座通过高度调节结构设置在机座上,所述显微镜座底面设有第一光源;所述显微镜座上设有一根连接杆,所述相机座端部移动设置在连接杆上并通过锁紧螺钉紧固。这种检测系统的好处是:第一、单筒显微镜和工业相机可以根据实际需要进行高度调节;第二、自带有照明功能。第三、单筒显微镜可以显示微小瑕疵,检测精度更高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测系统,尤其是一种基于单筒显微镜和工业相机的检测系统。
背景技术
随着社会的进步,各行各业都有了较大的发展,各种产品在生产过程中以及出厂前都需要进行检测,这就需要用于工业检测系统,尤其是基于工业相机的检测系统。
现有的基于工业相机的检测系统包括,包括机座、工业相机和检测显示器,所述工业相机上设有VGA接口,所述VGA接口通过信号线与检测显示器相连,工业相机用于采集现场检测信息,检测显示器用于显示;现有的这种基于工业相机的检测系统存在两个不足:第一、工业相机的高低不能进行有效调节;第二、这种检测系统需要借助额外的光源进行照明;第三、不能对微小的瑕疵进行检测;因此使用时较不便。
由于存在这样的问题,所以有必要对现有的基于工业相机的检测系统进行改进。
发明内容
本实用新型的目的是为了解决上述技术的不足而设计的一种基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,这种检测系统自带光源,并且可以根据需要方便地对工业相机进行高度调节,同时可以对微小的瑕疵进行检测。
本实用新型所设计的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,包括机座、单筒显微镜、工业相机、显微镜座、相机座、缩小镜和显示器,所述单筒显微镜设置在显微镜座上,所述工业相机设置在相机座上,所述的缩小镜位于单筒显微镜和工业相机之间,所述工业相机上设有VGA接口,所述VGA接口通过信号线与显示器相连接,所述显微镜座通过高度调节结构设置在机座上,所述显微镜座底面设有第一光源;所述显微镜座上设有一根连接杆,所述相机座端部移动设置在连接杆上并通过锁紧螺钉紧固。
作为优选:所述的高度调节结构包括滑块、丝杆、固定杆、连接块、上轴承、下轴承和转盘;所述固定杆固定在机座上,所述连接块位于固定杆顶部,所述上轴承位于连接块上,所述下轴承位于机座上,所述的丝杆两端分别位于上轴承和下轴承内,所述转盘位于丝杆顶部;所述的滑块上设有一个通孔和一个螺孔,所述固定杆穿过所述通孔,所述丝杆与所述螺孔螺纹配合;所述滑块与显微镜座固定连接。使用时,转盘转动带到丝杆转动,从而带动滑块在固定杆上上下移动实现工业相机位置的调节;这样的结构较为牢固,而且高度调节方便;
作为优选:所述的第一光源是LED灯;
作为优选:所述机座上设有一个透明检测台;
作为优选:所述透明检测台内设有第二光源;这样照明效果更好;
作为优选:所述固定杆上设有限位环;限位环可以防止显微镜座下降过低而损坏单筒显微镜;安全性更好。
本实用新型所设计的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,它的有益效果是:第一、显微镜座通过高度调节结构设置在机座上,这样单筒显微镜和工业相机可以根据实际需要进行高度调节;第二、所述显微镜座底面设有第一光源;一方面这使得检测系统自带有照明功能,可以在光线较为昏暗的场合使用,另一方面光源是随着显微镜座一起进行升降的,因此在升降过程中不会被阻挡,照明效果可以得到保证。第三、单筒显微镜可以显示微小瑕疵,通过单筒显微镜和工业相机的结合,检测精度更高。
附图说明
图1是实施例1基于单筒显微镜和工业相机的检测系统的结构示意图;
图2是实施例2基于单筒显微镜和工业相机的检测系统的结构示意图;
图3是实施例3基于单筒显微镜和工业相机的检测系统的结构示意图;
图中:机座1、单筒显微镜2、工业相机3、显微镜座4、缩小镜5、显示器6、VGA接口7、信号线8、第一光源9、连接杆10、锁紧螺钉11、滑块12、丝杆13、固定杆14、连接块15、上轴承16、下轴承17、转盘18、通孔19、螺孔20、透明检测台21、第二光源22、限位环23、相机座24。
具体实施方式
下面通过实施例结合附图对本实用新型作进一步的描述。
实施例1:
如图1所示,本实施例所描述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,包括机座1、单筒显微镜2、工业相机3、显微镜座4、相机座24、缩小镜5和显示器6,所述单筒显微镜2设置在显微镜座4上,所述工业相机3设置在相机座24上,所述的缩小镜5位于单筒显微镜2和工业相机3之间,所述工业相机3上设有VGA接口7,所述VGA接口7通过信号线8与显示器6相连接,所述显微镜座4通过高度调节结构设置在机座1上,所述显微镜座4底面设有第一光源9;所述显微镜座4上设有一根连接杆10,所述相机座24端部移动设置在连接杆10上并通过锁紧螺钉11紧固。其中:所述的高度调节结构包括滑块12、丝杆13、固定杆14、连接块15、上轴承16、下轴承17和转盘18;所述固定杆14固定在机座1上,所述连接块15位于固定杆14顶部,所述上轴承16位于连接块15上,所述下轴承17位于机座1上,所述的丝杆13两端分别位于上轴承16和下轴承17内,所述转盘18位于丝杆13顶部;所述的滑块12上设有一个通孔19和一个螺孔20,所述固定杆14穿过所述通孔19,所述丝杆13与所述螺孔20螺纹配合;所述滑块12与显微镜座4固定连接。使用时,转盘18转动带到丝杆13转动,从而带动滑块12在固定杆14上上下移动实现工业相机位置的调节;这样的结构较为牢固,而且高度调节方便;另外,所述的第一光源9是LED灯。
本实施例所描述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,它的有益效果是:第一、显微镜座4通过高度调节结构设置在机座1上,这样单筒显微镜2和工业相机3可以根据实际需要进行高度调节;第二、所述显微镜座4底面设有第一光源9;一方面这使得检测系统自带有照明功能,可以在光线较为昏暗的场合使用,另一方面光源是随着显微镜座4一起进行升降的,因此在升降过程中不会被阻挡,照明效果可以得到保证。第三、单筒显微镜2可以显示微小瑕疵,通过单筒显微镜2和工业相机3的结合,检测精度更高。
实施例2:
如图2所示,本实施例所描述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,与实施例1不同的是:所述机座1上设有一个透明检测台21;所述透明检测台21内设有第二光源22;这样照明效果更好。
实施例3:
如图3所示,本实施例所描述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,与实施例1不同的是:所述固定杆14上设有限位环23;限位环23可以防止显微镜座4下降过低而损坏单筒显微镜2;安全性更好。
本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型的构思作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代,但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
Claims (8)
1.一种基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,包括机座(1)、单筒显微镜(2)、工业相机(3)、显微镜座(4)、相机座(24)、缩小镜(5)和显示器(6),所述单筒显微镜(2)设置在显微镜座(4)上,所述工业相机(3)设置在相机座(24)上,所述的缩小镜(5)位于单筒显微镜(2)和工业相机(3)之间,所述工业相机(3)上设有VGA接口(7),所述VGA接口(7)通过信号线(8)与显示器(6)相连接,其特征是所述显微镜座(4)通过高度调节结构设置在机座(1)上,所述显微镜座(4)底面设有第一光源(9);所述显微镜座(4)上设有一根连接杆(10),所述相机座(24)端部移动设置在连接杆(10)上并通过锁紧螺钉(11)紧固。
2.根据权利要求1所述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,其特征是所述的高度调节结构包括滑块(12)、丝杆(13)、固定杆(14)、连接块(15)、上轴承(16)、下轴承(17)和转盘(18);所述固定杆(14)固定在机座(1)上,所述连接块(15)位于固定杆(14)顶部,所述上轴承(16)位于连接块(15)上,所述下轴承(17)位于机座(1)上,所述的丝杆(13)两端分别位于上轴承(16)和下轴承(17)内,所述转盘(18)位于丝杆(13)顶部;所述的滑块(12)上设有一个通孔(19)和一个螺孔(20),所述固定杆(14)穿过所述通孔(19),所述丝杆(13)与所述螺孔(20)螺纹配合;所述滑块(12)与显微镜座(4)固定连接。
3.根据权利要求1所述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,其特征是所述的第一光源(9)是LED灯。
4.根据权利要求1或2或3所述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,其特征是所述机座(1)上设有一个透明检测台(21)。
5.根据权利要求4所述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,其特征是所述透明检测台(21)内设有第二光源(22)。
6.根据权利要求2或3所述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,其特征是所述固定杆(14)上设有限位环(23)。
7.根据权利要求4所述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,其特征是所述固定杆(14)上设有限位环(23)。
8.根据权利要求5所述的基于单筒显微镜和工业相机的检测系统,其特征是所述固定杆(14)上设有限位环(23)。
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CN105301754A (zh) * | 2015-11-26 | 2016-02-03 | 深圳市华显光学仪器有限公司 | 一种嵌入式显微镜 |
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GR01 | Patent grant | ||
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