CN202904597U - 一种多标签测试读卡器及测试平台 - Google Patents

一种多标签测试读卡器及测试平台 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种多标签测试读卡器及测试平台。其中,一种多标签测试读卡器,包括:电源转换模块、存储模块、用于在预设时间内采集多个有源标签数据,且工作在915MHz的射频通信模块、控制射频通信模块进行射频通信,并处理从射频通信模块采集的数据且工作在915MHz的ARM嵌入式处理器、网口通信模块以及串口通信模块。因此,ARM处理器作为核心处理器,在测试的速度和稳定性上有了极大的提高,保证在预设时间内对多个有源标签进行测试,进一步PC平台与ARM嵌入式处理器之间通过网口通信模块通信,从而实现PC平台对读卡器的远程控制,即增加RFID在外围上的应用。

Description

一种多标签测试读卡器及测试平台
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域,尤其涉及一种多标签测试读卡器及测试平台。
背景技术
随着社会的发展和科技的进步,射频识别(Radio Frequency Identification,RFID)技术在全球范围内吸引了众多的厂商参与其相关技术及芯片的研发。RFID技术是一种利用射频信号通过空间耦合,如交变磁场或电磁场耦合实现无接触信息传递,并通过所传递的信息达到识别目的的技术。
目前在众多的RFID应用方案中都以功能简单的单片机作为微处理器,使得RFID的应用在功能、速度、外围扩展上都受到了极大的限制。因此,急需一种多标签测试读卡器能在预设时间内依次对多个RFID有源标签进行测试,以提高RFID的应用在功能、速度上的大幅提升和更多的外围扩展上。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本申请实施例提供一种多标签测试读卡器及测试平台,以达到在预设时间内对多个有源标签测试速度更快,增加RFID技术在外围上应用的目的,技术方案如下:
本申请公开了一种多标签测试读卡器,包括:
电源转换模块;
存储模块;
用于在预设时间内采集多个有源标签数据,且工作在915MHz的射频通信模块;
与所述电源转换模块、所述存储模块和所述射频通信模块连接,用于控制所述射频通信模块进行射频通信,并处理从所述射频通信模块采集的数据且工作在915MHz的ARM嵌入式处理器;
与所述ARM嵌入式处理器连接,用于将所述ARM嵌入式处理器处理后的数据发送给个人计算机PC平台,并将所述PC平台的控制指令发送给所述ARM嵌入式处理器的网口通信模块;
与所述ARM嵌入式处理器连接,用于将所述多标签测试读卡器的串口信息输出给PC平台的串口通信模块。
进一步的,所述ARM嵌入式处理器包括S3C6410微处理器。
进一步的,所述射频通信模块包括CC1101芯片,所述CC1101芯片通过串行外设接口SPI与所述ARM嵌入式处理器连接。
进一步的,所述CC1101芯片是用于极低功耗的射频应用并且支持数据包处理、数据缓冲、突发传输、接收信号强度指示RSSI、空闲信道评估CCA的硬件芯片。
进一步的,所述存储模块包括:
用于存储上电后的引导加载程序的EN29LV160AB芯片;
用于存储内核和文件系统的K9F1216U0A芯片;
用于临时存储程序指令和数据的MT48LC16M16A2P芯片。
进一步的,还包括:用于对所述EN29LV160AB芯片进行烧写引导程序的JTAG接口;所述JTAG接口包括所述S3C6410微处理器的TCK、TDI、TMS、TDO和TRST管脚。
进一步的,所述网口通信模块包括DM9000芯片。
进一步的,所述串口通信模块包括MAX232芯片。
进一步的,还包括与所述电源转换模块相连的过流保护电路。
一种多标签测试平台,包括PC平台,其特征在于,还包括:与所述PC平台连接的如所述任意一项所述的多标签测试读卡器。
与现有技术相比,本申请的有益效果是:
在本申请中,射频通信模块在预设时间内实现与多个有源标签的无线通信,可以在预设时间内更加准确、快速的接收多个工作在915MHz频段的有源标签的数据,并传给ARM嵌入式处理器。ARM嵌入式处理器从射频通信模块中采集数据进而对采集的数据进行即时处理,保证在预设时间内处理多个有源标签的数据,采集速度更加快速,整体提高每次数据的测试速度,能够大大减少标签测试所花的时间。
进一步,PC平台与ARM嵌入式处理器之间通过网口通信模块通信,从而实现PC平台对读卡器的远程控制,即增加RFID在外围上的应用。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请的一种多标签测试读卡器结构示意图;
图2为本申请的一种多标签测试平台结构示意图;
图3为本申请的一种多标签测试平台一个具体实施例的结构示意图;
图4为本申请的一种多标签测试平台使用示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
一个实施例
本申请提供的多标签测试读卡器中,ARM(Advanced RISC Machines)嵌入式处理器作为核心处理器,控制射频通信模块进行射频通信,并处理从所述射频通信模块采集的数据。其中,射频通信模块在预设时间内依次采集多个有源标签数据,并将接收的数据传输给ARM嵌入式处理器,ARM嵌入式处理器在采集到射频通信模块接收的数据之后在预设时间内即时对数据进行处理,而且ARM嵌入式处理器相比同类的RFID系统提供了更强大的处理能力、处理速度以及更多的外围扩展口,从而使多标签测试读卡器能在预设时间内更快、更稳定的测试多个有源标签,即能够对采集的数据进行处理从而即时分析得出有源标签在各方面的性能情况。同时,PC(personalcomputer,个人计算机)平台与ARM嵌入式处理器之间通过网口通信模块通信,从而实现PC平台对读卡器的远程控制。
参见图1,本申请的一种多标签测试读卡器结构示意图,所述读卡器包括:ARM嵌入式处理器101、存储模块102、网口通信模块103、串口通信模块104、电源转换模块105和射频通信模块106。
ARM嵌入式处理器101工作在15MHz频段,用于控制所述射频通信模块106进行射频通信,并处理从所述射频通信模块106采集的数据。其中,ARM嵌入式处理器101采集的数据为射频通信模块106在预设时间内依次接收到的多个有源标签的数据且ARM嵌入式处理器101对采集的数据进行即时处理。ARM嵌入式处理器101在预设时间内将数据进行即时处理后,将处理后的数据传输给后端PC平台显示,PC平台显示的数据包括标签的信道编号、标签存储的ID编号、标签传输数据的丢包率、标签信号强度、标签测试距离。
在本实施例中,ARM嵌入式处理器101包括S3C6410微处理器,该处理器内具有高性价比和高性能的微控制器解决方案,使得采集速度更加快速,提高每次数据的测试速度,处理能力更加强大,同时S3C6410微处理器提供更多的外围扩展口供用户使用。
存储模块102与所述ARM嵌入式处理器101连接。
在本实施例中存储模块102包括一块16M的EN29LV160AB芯片、一块256M的K9F1216U0A和两块256M的MT48LC16M16A2P芯片。其中,EN29LV160AB芯片用于存储上电后的引导加载程序,K9F1216U0A芯片用于存储内核和文件系统,MT48LC16M16A2P芯片用于临时存储程序指令和数据。
网口通信模块103与所述ARM嵌入式处理器101连接,用于将所述PC平台的测试指令发送给所述ARM嵌入式处理器101,并将所述ARM嵌入式处理器101处理后的数据发送给PC平台。其中,ARM嵌入式处理器101处理后的数据包括:标签的信道编号、标签存储的ID编号、标签传输数据的丢包率、标签信号强度、标签测试距离。PC平台的测试指令包括:接收信号强度RSSI设置、最大测试距离设置、丢包率设置,信道编号设置和ID编号设置等。
在本实施例中,网口通信模块103包括DM9000芯片,该芯片是一款完全集成的单芯片快速以太网MAC控制器,它有一个处理接口,一个10/100M自适应的物理层,DM9000物理协议层接口完全支持使用10MBps下3类、4类、5类非屏蔽双绞线和100MBps下5类非屏蔽双绞线,以完全符合IEEE802.3u规格。
串口通信模块104与所述ARM嵌入式处理器101连接,用于将所述有源标签测试读卡器的串口信息输出给PC平台。串口通信模块104将串口信息输出给PC平台,然后PC平台显示出串口信息。其中串口信息包括:读卡器在工作过程中的运行情况。
在本实施例中,串口通信模块104包括MAX232芯片,该芯片与所述S3C6410微处理器连接。
电源转换模块105与所述ARM嵌入式处理器101连接。在本实施例中,电源转换模块105主要实现将5V转换为3.3V和3.3V转换为1.25V。本申请采用5V直流电输入,电源转换模块将5V直流电转换为读卡器各模块所需的3.3V直流电,再将3.3V直流电转换为1.25V直流电供S3C6410芯片使用。
射频通信模块106包括CC1101芯片,该芯片通过SPI(Serial PeripheralInterface,串行外设接口)107与ARM嵌入式处理器101连接。
在本实施例中,射频通信模块106在预设时间内依次采集多个有源标签传输给读卡器的数据,实现了有源标签和读卡器之间的无线通信,并将采集的数据传送给ARM嵌入式处理器101处理。所述CC1101芯片工作在915MHz频段,其可以为一个极低功耗的射频应用并且支持数据包处理、数据缓冲、突发传输、接收信号强度指示RSSI、空闲信道评估CCA的硬件芯片。
其中,预设时间设定可以为一分钟,将10个有源标签作为一组,射频通信模块106在一分钟之内依次采集10个有源标签传输给读卡器的数据,使采集速度更加快速,整体提高每次数据的测试速度,能够大大减少标签测试所花的时间。
此外,本实施例提供的多标签测试读卡器在图1基础上还可以包括:JTAG(Joint Test Action Group)接口,用于对EN29LV160AB芯片烧写引导程序,即用户可以将程序输入到JTAG接口,将程序集成到EN29LV160AB芯片中。其中JTAG接口包括所述S3C6410微处理器引出的TCK、TDI、TMS、TDO和TRST管脚。
当然,读卡器在图1基础上还可以包括与电源转换模块105相连的过流保护电路,用于对多标签测试读卡器中电源的过流和过载保护。在本实施例中,过流保护电路可以为保险丝。
参见图2,本申请的一种多标签测试平台包括:PC平台201和多标签测试读卡器202。
PC平台201包括:数据库2011、人机界面2012和服务台2013。
在本实施例中,PC平台201与多标签测试读卡器202连接,通过有线通信,该平台用户在人机界面2012上通过网口通信模块2023对读卡器202下达测试指令,控制多标签测试读卡器202,多标签测试读卡器202在接到测试指令后控制射频通信模块2026进行工作,使多标签测试读卡器202与有源标签之间进行无线通信。
该PC平台201还可以显示多标签测试读卡器202处理后的数据。同时PC平台201可对需要测试的数据指标进行设置,设置完成后下达指令给多标签测试读卡器202,然后多标签测试读卡器202根据相应指令在预设时间内依次对多个有源标签进行测试,并将测试后的数据传送给PC平台201显示,所述需要测试的数据指标包括:接收信号强度RSSI设置、最大测试距离设置、丢包率设置,信道编号设置、ID编号设置等。
多标签测试读卡器202与图1中所述的读卡器相同,对此本实施例不在加以阐述。
参见图3,本申请一种多标签测试平台一个具体实施例的结构示意图,本申请中的多标签测试读卡器和有源标签都包括CC1101芯片和相同的通信协议,本申请工作频段为915MHz频段。
本实施例中,S3C6410微处理器3021作为核心处理器,用于控制CC1101芯片3026进行射频通信,并即时处理从所述CC1101芯片3026采集的数据,其中,S3C6410微处理器3021采集的数据为CC1101芯片3026接收到的有源标签303的数据,所述CC1101芯片3026可以在预设时间内对多个有源标签采集数据。S3C6410微处理器3021在预设时间内将数据进行即时处理后,将处理后的数据传输给后端PC平台301显示,PC平台301显示的数据包括标签的信道编号、标签存储的ID编号、标签传输数据的丢包率、标签信号强度、标签测试距离。
与S3C6410微处理器3021连接的存储模块3022包括256M的K9F1216U0A芯片和16M的EN29LV160AB芯片和两块256M的MT48LC16M16A2P芯片,其中K9F1216U0A芯片用于存储内核和文件系统,EN29LV160AB芯片用于存储上电后的引导加载程序,MT48LC16M16A2P芯片作为系统的内存,用于系统临时存储程序指令和数据。
与S3C6410微处理器3021连接的网口通信模块3023将所述PC平台301的测试指令发送给所述S3C6410微处理器3021,并将所述处理后的数据发送给PC平台301,所述的网口通信模块3023包括100M网口。其中,S3C6410微处理器3021处理后的数据包括:标签的信道编号、标签存储的ID编号、标签传输数据的丢包率、标签信号强度、标签测试距离。PC平台的测试指令包括:接收信号强度RSSI设置、最大测试距离设置、丢包率设置,信道编号设置、ID编号设置等。
与S3C6410微处理器3021连接的串口3024将多标签测试读卡器302的串口信息输出给PC平台301。串口通信模块104将串口信息输出给PC平台,然后PC平台显示出串口信息。其中串口信息包括:多标签测试读卡器在工作过程中的运行情况。
在本实施例中,CC1101芯片3026通过SPI接口3027与S3C6410微处理器3021相连接。该芯片接收有源标签303传输给多标签测试读卡器302的数据,实现了有源标签303和读卡器302之间的无线通信,并将接收的数据传送给S3C6410微处理器3021处理。该CC1101芯片工作在915MHz频段,用于极低功耗的射频应用并且支持数据包处理、数据缓冲、突发传输、接收信号强度指示RSSI、空闲信道评估CCA的硬件,其中,该芯片可以在预设时间内依次采集多个有源标签的数据,并将接收的多个有源标签的数据传输给多标签测试读卡器。
在本实施例中,PC平台301与多标签测试读卡器302连接,通过有线通信,该平台用户在人机界面3012上通过网口3023对多标签测试读卡器302下达测试指令,多标签测试读卡器302在接到测试指令后控制CC1101芯片3026进行工作,使多标签测试读卡器302与有源标签303之间进行无线通信,S3C6410微处理器3021对从CC1101芯片3026接收的标签测试数据进行处理后,将数据通过网口3023根据TCP/IP协议传输到PC平台301显示,同时实现了将有源标签接入以太网,实现无线传感网和PC平台端301Internet间的互连互通,达到用户远程监视的目的。其中PC平台301可对需要测试的数据指标进行设置,设置完成后下达指令给多标签测试读卡器302,然后多标签测试读卡器302根据相应指令对有源标签进行测试,并将测试后的数据传送给PC平台301显示,所述需要测试的数据指标包括:接收信号强度RSSI设置、最大测试距离设置、丢包率设置,信道编号设置、ID编号设置等。
电源转换模块3025与所述S3C6410微处理器3021和5V电源3028相连接。其中电源转换模块3025中还包括过流保护电路,用于对读卡器中电源的过流和过载保护。
在本实施例中,电源转换模块3025将输入电压转换为系统所需的3.3V直流电和1.25V直流电,3.3V和1.25V提供给S3C6410微处理器3021,3.3V为系统其它模块供电。
如图4所示,本申请的一种多标签测试平台使用示意图中,0至9号有源RFID标签的测试以10个为一组进行测试,PC平台用户将测试参数设置好后,点击多标签测试读卡器402在预设时间内会依次对标签进行测试,测试完毕后读卡器再将对应标签测试的数据在计算机401界面中显示,用户通过计算机401界面显示数据可及时获取各个标签测试的好坏。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽范围。

Claims (10)

1.一种多标签测试读卡器,其特征在于,包括:
电源转换模块;
存储模块;
用于在预设时间内采集多个有源标签数据,且工作在915MHz的射频通信模块;
与所述电源转换模块、所述存储模块和所述射频通信模块连接,用于控制所述射频通信模块进行射频通信,并处理从所述射频通信模块采集的数据且工作在915MHz的ARM嵌入式处理器;
与所述ARM嵌入式处理器连接,用于将所述ARM嵌入式处理器处理后的数据发送给个人计算机PC平台,并将所述PC平台的控制指令发送给所述ARM嵌入式处理器的网口通信模块;
与所述ARM嵌入式处理器连接,用于将所述多标签测试读卡器的串口信息输出给PC平台的串口通信模块。
2.根据权利要求1所述的多标签测试读卡器,其特征在于,所述ARM嵌入式处理器包括S3C6410微处理器。
3.根据权利要求2所述的多标签测试读卡器,其特征在于,所述射频通信模块包括CC1101芯片,所述CC1101芯片通过串行外设接口SPI与所述ARM嵌入式处理器连接。
4.根据权利要求3所述的多标签测试读卡器,其特征在于,所述CC1101芯片是用于极低功耗的射频应用并且支持数据包处理、数据缓冲、突发传输、接收信号强度指示RSSI、空闲信道评估CCA的硬件芯片。
5.根据权利要求4所述的多标签测试读卡器,其特征在于,所述存储模块包括:
用于存储上电后的引导加载程序的EN29LV160AB芯片;
用于存储内核和文件系统的K9F1216U0A芯片;
用于临时存储程序指令和数据的MT48LC16M16A2P芯片。
6.根据权利要求5所述的多标签测试读卡器,其特征在于,还包括:用于对所述EN29LV160AB芯片进行烧写引导程序的JTAG接口;所述JTAG接口包括所述S3C6410微处理器的TCK、TDI、TMS、TDO和TRST管脚。
7.根据权利要求6所述的多标签测试读卡器,其特征在于,所述网口通信模块包括DM9000芯片。
8.根据权利要求7所述的多标签测试读卡器,其特征在于,所述串口通信模块包括MAX232芯片。
9.根据权利要求8所述的多标签测试读卡器,其特征在于,还包括与所述电源转换模块相连的过流保护电路。
10.一种多标签测试平台,包括PC平台,其特征在于,还包括:与所述PC平台连接的如权利要求1-9任意一项所述的多标签测试读卡器。
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