CN202903743U - 一种衍射时差法超声检测扫查架 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于一种无损检测的衍射时差检测装置，特别涉及一种衍射时差法超声检测扫查架，包括扫查架主体、探头组件、滚轮组件、编码器组件、镶嵌在扫查架主体上的圆环和安装在圆环上的直杆。圆环的一个端面上设有T形槽Ⅰ和角刻度。组成扫查架主体的连杆和直杆上设有开口背向的T形槽Ⅱ，槽内设有带螺纹孔的滑块Ⅱ。直杆上垂直于T形槽Ⅱ的方向上设有连接孔，两连接孔的中心距等于圆环上T形槽Ⅰ的中心直径，直杆通过螺钉和滑块Ⅰ连接。探头组件、滚轮组件和编码器组件通过螺钉和滑块Ⅱ连接。本实用新型结构设计简单合理，能进行平行扫查和斜扫查，亦能同时进行平行扫查和斜扫查。本实用新型采用模块化结构，拆装、更换零部件方便。

Description

一种衍射时差法超声检测扫查架

技术领域

本实用新型涉及一种无损检测的衍射时差检测装置，尤其是一种衍射时差法超声检测扫查架。

背景技术

衍射时差法（TOFD）是一种依靠从待检试件内部结构的“端角”和“端点”处得到的衍射能量来检测试件内部缺陷的方法。此种检测方法需使用一对或多对超声波探头，检测时，每对超声波探头需相对焊缝对称布置，通过测量衍射波的传播时间差可以精确得到试件内部缺陷的大小和位置。

目前，一般衍射时差法超声检测扫查架采用的结构式探头组建和编码器组建简单安装在固定杆上，只能左右移动而不能进行自由拆卸、安装。滚轮组件一般是固定安装在固定杆上，不能调整位置使扫查架适合各种不同扫查面的扫查。一般扫查架只能进行平面扫查和非平行扫查，且平行扫查操作麻烦。在需要对被检测对象同时进行平行扫查和斜扫查时，一般扫查架无法快速、方便地同时满足两项扫查需求。

实用新型内容

为解决上述扫查架中存在的缺点和不足，本实用新型提供了一种衍射时差法超声检测扫查架。

本实用新型为达到上述技术目的，采取的技术方案是：

一种衍射时差法超声检测扫查架，包括扫查架主体、探头组件、滚轮组件和编码器组件，还包括镶嵌在扫查架主体上的圆环和安装在圆环上的直杆，圆环的一个端面上设有T形槽Ⅰ，T形槽Ⅰ内设有带螺纹孔的滑块Ⅰ。直杆上设有两个连接孔，连接孔的中心距和T形槽Ⅰ的中心直径相等，直杆通过螺钉和圆环上T形槽Ⅰ内的滑块Ⅰ连接。探头组件安装在扫查架主体或直杆上，滚轮组件安装在扫查架主体上。

作为优选，在所述圆环上设有T形槽的端面上设有角刻度。

作为优选，扫查架主体由连杆构成，连杆和直杆上设有两个开口背向的T形槽Ⅱ，T形槽Ⅱ内设有带螺纹孔的滑块Ⅱ。

作为优选，编码器组件用螺钉和T形槽Ⅱ内的滑块Ⅱ连接进行固定。

作为优选，探头组件包括探头固定架、固定螺钉和探测头。探测头安装在探头固定架上，探头固定架上设有与固定螺钉配合的孔，固定螺钉和T形槽Ⅱ内的滑块Ⅱ通过螺纹配合。

作为优选，滚轮组件包括滚轮固定架、锁紧螺钉和滚轮。滚轮安装在滚轮固定架上，滚轮固定架上设有与锁紧螺钉配合的孔，锁紧螺钉和T形槽内Ⅱ的滑块Ⅱ通过螺纹连接，将滚轮组件安装在连杆上。

作为优选，滚轮为磁性滚轮。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型结构简单、设计合理，能进行平行扫查、斜扫查，亦能同时进行平行扫查和斜扫查，能快速变更扫查方式，提高工作效率；

斜扫查的角度可以根据使用要求进行改变，且圆环上的角刻度便于清楚知道斜扫查时的角度；

本实用新型中探头组件、滚轮组件和编码器组件均采用模块化结构，便于拆装、更换零部件，方便、省时，且降低了成本。

附图说明

图1是本实用新型实施例的结构示意图；

图2是图1中圆环（5）的俯视图；

图3是图2中A-A处的剖视图；

图4是图1中连杆（1、2、3、4）的端面视图；

图5是图1中直杆（5）在连接孔（51）处的横截面剖视图；

图6是本实用新型实施例用于斜扫查时的示意图。

图中，1、2、3、4-连杆，5-直杆，51-连接孔，6-圆环，7-探头组件，71-探头固定架，72-固定螺钉，73-探测头，8-滚轮组件，81-滚轮固定架，82-锁紧螺钉，83-滚轮，9-螺钉，10-T形槽Ⅰ，11-滑块Ⅰ，12-T形槽Ⅱ，13-滑块Ⅱ。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

如图所示，本实用新型实施例的衍射时差法超声检测扫查架包括扫查架主体、探头组件7、滚轮组件8、编码器组件、圆环6和直杆5。

扫查架主体由连杆1、2、3、4构成，形成一个长方形框架，圆环6镶嵌在该长方形框架中。圆环6的一个端面上设有T形槽Ⅰ10，槽内放置了带有螺纹孔的滑块Ⅰ11。直杆5通过螺钉9和圆环6上T形槽Ⅰ10内的滑块Ⅰ11连接从而进行固定。

组成扫查架主体的每根连杆1、2、3、4和直杆5上设有开口背向的T形槽Ⅱ12，槽内设有带螺纹的滑块Ⅱ13。直杆5在垂直于T形槽10的方向上设有两根连接孔51，两连接孔51的中心距等于圆环6上T形槽Ⅰ10的中心直径。编码器组件用螺钉和T形槽Ⅱ12内的滑块Ⅱ13连接从而进行固定。

探头组件7包括探头固定架71、固定螺钉72和探测头73，探测头73安装在探头固定架71上，探头固定架71上设有与固定螺钉72配合的孔，固定螺钉72和放置在T形槽Ⅱ12内的滑块Ⅱ13通过螺纹连接，从而固定探头固定架71。进行检测时，松开固定螺钉72，探头固定架71可带动探测头73沿连杆或直杆5上设置T形槽Ⅱ12的表面进行滑动。

滚轮组件8包括滚轮固定架81,、锁紧螺钉82和滚轮83，滚轮83带有磁性且安装在滚轮固定架81上，滚轮固定架81上设有与锁紧螺钉82配合的孔，锁紧螺钉72和放置在T形槽Ⅱ12内的滑块Ⅱ13通过螺纹连接，从而固定滚轮固定架81。松开锁紧螺钉82，滚轮固定架81可沿连杆上设置T形槽Ⅱ12的表面进行滑动。

在对试件进行扫查时，根据使用情况调节探头组件7、滚轮组件8和编码器组件的位置，使其符合实验的要求，调节完毕后，拧紧螺钉，使各零部件在实验过程中不会发生窜动。

如图5所示，为本实用新型实施例用于斜扫查时的示意图，松开螺钉9，可以转动直杆5至所需的方向，通过圆环6上的角刻度，可以清楚知道直杆5旋转的角度。

本实用新型结构简单、设计合理，能进行平行扫查、斜扫查，亦能同时进行平行扫查和斜扫查，能快速变更扫查方式，提高工作效率。斜扫查的角度可以根据使用要求进行改变，且圆环上的角刻度便于清楚知道斜扫查时的角度。本实用新型中探头组件、滚轮组件和编码器组件均采用模块化结构，便于拆装、更换零部件，方便、省时，且降低了成本。

以上所述仅为本实用新型的较佳具体实施例，凡是依据本实用新型所作的均等变化与修饰，皆应属于本实用新型申请专利的涵盖范围。

Claims (7)

1.一种衍射时差法超声检测扫查架，包括扫查架主体、探头组件（7）、滚轮组件（8）和编码器组件，其特征在于：还包括镶嵌在扫查架主体上的圆环（6）和安装在圆环（6）上的直杆（5），所述圆环（6）的一个端面上设有T形槽Ⅰ（10），T形槽Ⅰ（10）内设有带螺纹孔的滑块Ⅰ（11）；所述直杆上设有两个连接孔（51），连接孔（51）的中心距和T形槽Ⅰ（10）的中心直径相等，直杆（5）通过螺钉（9）和圆环上T形槽Ⅰ内的滑块Ⅰ（11）连接；所述探头组件（7）安装在扫查架主体或直杆（5）上，所述滚轮组件（8）安装在扫查架主体上。 

2.根据权利要求1所述的一种衍射时差法超声检测扫查架，其特征在于：在所述圆环（6）上设有T形槽Ⅰ（10）的端面上设有角刻度。 

3.根据权利要求1所述的一种衍射时差法超声检测扫查架，其特征在于：所述扫查架主体由连杆（1、2、3、4）构成，连杆（1、2、3、4）和直杆（5）上均设有两个开口背向的T形槽Ⅱ（12），所述T形槽Ⅱ（12）内设有带螺纹孔的滑块Ⅱ（13）。 

4.根据权利要求1所述的一种衍射时差法超声检测扫查架，其特征在于：所述编码器组件通过螺钉和T形槽Ⅱ（12）内的滑块Ⅱ（13）进行连接。 

5.根据权利要求1所述的一种衍射时差法超声检测扫查架，其特征在于：所述探头组件（7）包括探头固定架（71）、固定螺钉（72）和探测头（73），所述探测头（73）安装在探头固定架（71）上，探头固定架（71）上设有与固定螺钉（72）配合的孔，固定螺钉（72）和T形槽Ⅱ（12）内的滑块Ⅱ（13）通过螺纹配合。 

6.根据权利要求1所述的一种衍射时差法超声检测扫查架，其特征在于：所述滚轮组件（8）包括滚轮固定架（81）、锁紧螺钉（82）和滚轮（83），所述滚轮（83）安装在滚轮固定架（81）上，滚轮固定架（81）上设有与锁紧螺钉（82）配合的孔，锁紧螺钉（82）和T形槽Ⅱ（12）的滑块Ⅱ（13）通过螺纹连接。 

7.根据权利要求6所述的一种衍射时差法超声检测扫查架，其特征在于：所述滚轮（83）为磁性滚轮。 

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