CN202815105U - 电子产品老化试验工装 - Google Patents

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白云飞
郭承伟
张玉双
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Abstract

本实用新型公开了一种电子产品老化试验工装,包括基座(1)、连接筋(2)、检测接口(3)、检测电路,其特征在于:所述基座(1)上装有与检测接口(3)一一对应的指示灯(4),所述基座上(1)固定安装有定位凸台(5),所述定位凸台(5)上设置有定位槽(6),该电子产品老化试验工装不但结构简单、成本低廉、检测接口数量多而且定位槽(6)的设置有利于被检测设备或装置的整齐排列,便于拆装识别。

Description

电子产品老化试验工装
技术领域
本实用新型涉及一种电子产品老化试验工装,特别是涉及一种车载麦克风老化试验工装。 
背景技术
老化试验是针对电子产品进行老化测试,检测产品的可靠性、稳定性等,老化试验是各个生产企业提高产品质量,树立企业形象、提高企业竞争力的重要途径之一,老化检测试验装置广泛应用于机械、电子、通讯、生物制药等领域,通过老化测试,可检查出不良品或残缺件,为客户提供合格的产品,迅速找出问题并解决问题提供了有效的技术手段,充分提高了产品质量,资源利用效率及产品的品质。 
ZL200720144359.1的中国实用新型专利公开了一种老化装置,包括老化测试板,所述老化测试板的测试面上设置有若干边缘连接器;连接板,垂直连接在所述边缘连接器上,所述连接板垂直于老化测试板测试面的平面上设置有若干连接插座,用于和需要老化的半导体器件或者COB板进行连接。所述老化装置避免了现有技术中COB板在边缘连接器上的插拔,即使COB板在连接板插座上多次插拔之后损伤连接板插座,也只需要更换连接板即可,提高了同一次进行老化的半导体器件的数量,可以老化不同规格的COB板以及不同规格的半导体器件,提高了老化装置的通用性。 
该老化装置虽然能比较好地进行老化试验,但是该装置制造成本较高,结构复杂、适用范围较窄。 
此外,现有多数老化装置在进行老化试验时,因为大多数的被测电子产品需要通过线束与老化装置连接,当对大量的电子产品进行老化试验时,因为线束较多,容易在工作人员观测时出现错误的,不易正确分辨、确认出残次品或不合格产品。 
发明内容
为克服上述现有技术中的缺陷与不足,本实用新型提供一种电子产品老化试验工装,该电子产品老化试验工装结构简单、布局合理、成本低廉、检测接口数量多、凸台的设置有利于整理、分辨被测装置或设备。 
本实用新型的上述目的通过如下的技术方案实现:一种电子产品老化试验工装,包括基座、连接筋、检测接口、检测电路,所述基座上装有与检测接口一一对应的指示灯,所述基座上固定安装有定位凸台,所述定位凸台上设置有定位槽,定位槽有利于被检测设备或装置的整齐排列,便于拆装识别。 
优选的是,所述检测接口通过连接筋与定位凸台固定连接。、 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述定位凸台固定安装在基座上,定位凸台垂直于基座平面。
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述定位凸台数量为三个。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述定位凸台与定位凸台相互平行且均匀安装在基座上。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述每一个定位凸台上的定位槽为两排,相邻两排的定位槽一一对应。、 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述定位槽、指示灯相互对应。
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述基座四周设有肋板,提高了基座的强度。 
作为另一种替换方式,所述基座与肋板为一次制造成型的整体式结构。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述基座的底部设有加强筋。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述基座为四边形的整体式结构。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述加强筋的数量为两个。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述基座上安装有拉手。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述基座上设有定位孔。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述拉手通过所述定位孔与所述加强筋固定连接。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述肋板上设有与外部电源连接的电源插销,便于与外部电源连接。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述电源插销与检测电路连接。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述各个检测接口通过检测电路相互并联连接。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,优选的是,所述指示灯与检测电路的正极连接通过检测接口与检测电路的负极连接。 
按照上述任一方案的电子产品老化试验工装,特别优选的是,所述电子产品老化试验工装用于对麦克风进行老化检测试验。 
附图说明
图1为按照本实用新型的电子产品老化试验工装的一优选实施例的电路结构示意图。 
图2为按照本实用新型的电子产品老化试验工装的一优选实施例的立体结构示意图。图3为按照本实用新型的电子产品老化试验工装的图2所示优选实施例的主视结构示意图。 
图4为按照本实用新型的电子产品老化试验工装的图3所示实施例的仰视结构示意图。 
图5为按照本实用新型的电子产品老化试验工装的图4所示实施例的左视结构示意图。 
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型所示的电子产品老化试验工装的一优选实施例做进一步阐述说明。通过更换不同的接口,可用于任意电子产品的老化检测。 
如图1、图2与图3所示,一种电子产品老化试验工装,特别是一种麦克风老化试验工装,包括基座1、连接筋2、检测接口3、检测电路,基座1上装有与检测接口3一一对应的指示灯4,基座上1固定安装有定位凸台5,定位凸台5上设置有定位槽6定位槽6的设置有利于被检测设备或装置的整齐排列,便于工人分辨、拆装、识别被测设备或装置,直观的找出残次品或不合格的产品,检测接口3通过连接筋2与定位凸台5固定连接,定位凸台5固定安装在基座1上且垂直于基座1平面,定位凸台5数量为三个,定位凸台5与定位凸台5相互平行且均匀安装在基座1上。
所述基座1为四边形的整体式结构,特别是基座1与肋板8为一次制造成型的整体式结构,基座1四周设有肋板8,在基座1的底部设有加强筋9,加强筋9的数量为两个,在基座1上安装有拉手10,拉手10通过基座1上设有的定位孔,拉手10通过所述定位孔与加强筋9固定连接。 
基座1四周任意一边的的肋板8上设有与外部电源连接的电源插销11,便于与外部电源连接,所述电源插销11与检测电路连接,各个检测接口3通过检测电路相互并联连接,指示灯4与检测电路的正极连接通过检测接口3与检测电路的负极连接。 
如图3和图4所示,将被检测的电子产品与基座1上的检测接口3连接,将电源插销11与外接电源连接进行常温老化或者把装有被测电子产品的电子产品老化试验工装置于老化箱或其他老化设备中进行老化此时相应的指示灯4亮起,如果指示灯4熄灭,通常操作人员会检查被测电子产品是否与检测接口3连接牢固,如果连接牢固可靠就可以准确的推断出被测电子产品存在缺陷,继而进行返厂维修、优化,或者根据行业执行标准淘汰相应产品,继而避免残次品流入市场,影响消费者的自身权益。通过老化测试,找出问题并解决问题提供了有效的技术手段,充分提高了产品质可检查出不良品或残缺件,为客户提供合格的产品。 
如图4、图5 、所示,每一个定位凸台5上的定位槽6为两排,相邻两排的定位槽6一一对应,特别是定位槽6、指示灯4、检测接口3、连接筋2相互对应,例如,当对麦克风进行老化试验时,麦克风的一端与检测接口3连接时,另一端可以装卡在定位槽6中,定位槽6不但可以起到定位的作用,而且便于工人的拆装与观测。 
需要说明的是,按照本实用新型的电子产品老化试验工装的技术方案的范畴包括上述各部分之间的任意组合。 
以上结合本实用新型的具体实施例做了详细描述,但并非是对本实用新型的限制,凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改均属于本实用新型的技术范围,例如检测接口3的数量、肋板8的数量等。 

Claims (19)

1.一种电子产品老化试验工装,包括基座(1)、连接筋(2)、检测接口(3)、检测电路,其特征在于:所述基座(1)上装有与检测接口(3)一一对应的指示灯(4),所述基座上(1)固定安装有定位凸台(5),所述定位凸台(5)上设置有定位槽(6),定位槽(6)有利于被检测设备或装置的整齐排列,便于拆装识别。
2.如权利要求1所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述检测接口(3)通过连接筋(2)与定位凸台(5)固定连接。
3.如权利要求1或2所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述定位凸台(5)固定安装在基座(1)上,定位凸台(5)垂直于基座(1)平面。
4. 如权利要求3所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述定位凸台(5)数量为三个。
5. 如权利要求4所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述定位凸台(5)与定位凸台(5)相互平行且均匀安装在基座(1)上。
6.如权利要求1或5所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述每一个定位凸台(5)上的定位槽(6)为两排,相邻两排的定位槽(6)一一对应。
7.如权利要求1所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述定位槽(6)、指示灯(4)相互对应。
8.如权利要求1所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述基座(1)四周设有肋板(8)。
9.如权利要求1或8所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述基座(1)与肋板(8)为一次制造成型的整体式结构。
10.如权利要求1或8所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述基座(1)的底部设有加强筋(9)。
11.如权利要求10所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述基座(1)为四边形的整体式结构。
12.如权利要求10所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述加强筋(9)的数量为两个。
13. 如权利要求1所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述基座(1)上安装有拉手(10)。
14.如权利要求1或11所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述基座(1)上设有定位孔。
15.如权利要求12或13所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述拉手(10)通过所述定位孔与加强筋(9)固定连接。
16.如权利要求9所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述肋板(8)上设有与外部电源连接的电源插销(11)。
17.如权利要求1或16所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述电源插销(11)与检测电路连接。
18.如权利要求1或7所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述各个检测接口(3)通过检测电路相互并联连接。
19.如权利要求18所述的电子产品老化试验工装,其特征在于:所述指示灯(4)与检测电路的正极连接并通过检测接口(3)与检测电路的负极连接。
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