CN202794413U - 一种集成电路开短路测试设备 - Google Patents

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李卫国
杨富征
谭永良
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Abstract

本实用新型公开了一种集成电路开短路测试设备,包括电路板、电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、系统操作按键、系统显示屏、Handler控制接口、Microchip单片机、手动测试按键和外接64通道接口,所述的电路板上设有Microchip单片机、系统操作按键和系统显示屏,Microchip单片机通过电路板分别与系统操作按键和系统显示屏连接,系统操作按键通过电路板和系统显示屏连接。本实用新型通过系统操作按键设置操作参数,通过系统显示屏显示设置内容和测试结果,操作界面简单方便;以Microchip单片机作为控制核心CPU,以低成本、高效率的实现64通道以内所有集成电路的开短路测试。

Description

一种集成电路开短路测试设备
技术领域
本实用新型涉及一种集成电路测试设备,尤其是一种集成电路开短路测试设备。
背景技术
集成电路广泛应用于电子设备、通信遥控等各个行业中,其性能好坏直接影响着各种产品的质量。集成电路开短路测试设备是对集成电路进行性能测试的重要设备。集成电路的每个管脚上通常设有保护二极管,在测试集成电路前,需对每个管脚进行测试,在保护二极管良好的状态下再进行其他性能测试。
目前常用的集成电路开短路测试设备操作界面复杂,测试范围和测试精度有限,难以保证测试的准确性和一致性,另外,较少具备Handler控制接口,难以实现全自动量产测试。因此,现有技术需进一步改进,从而低成本、高效率的实现集成电路开短路测试。
发明内容
针对现有技术的不足,本实用新型提供一种操作简便、测试准确、可靠高效的集成电路开短路测试设备。
本实用新型的技术方案为:一种集成电路开短路测试设备,包括电路板、电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、系统操作按键、系统显示屏、Handler控制接口、Microchip单片机、手动测试按键和外接64通道接口,其特征在于:所述的电路板上设有Microchip单片机、系统操作按键和系统显示屏,Microchip单片机分别与系统操作按键和系统显示屏连接,系统操作按键与系统显示屏连接,电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、Handler控制接口、手动测试按键和外接64通道接口均通过电路板内部互相连接。
所述的Microchip单片机内带ADC高精度转换器。
所述的系统操作按键包括DIS/SET键、NEXT键、UP键和DOWN键。
所述的测试目标集成电路活动插座为16、32和64脚的活动插座中的一种。
本实用新型的有益效果为:
1、通过系统操作按键设置操作参数,通过系统显示屏显示设置内容和测试结果,操作界面简单方便;
2、通过测试目标集成电路活动插座放置目标集成电路,测试目标集成电路活动插座具有良好的导电性和灵活性,能保证测试结果的准确性;
3、通过手动测试按键可以实现对目标集成电路的手动测试,能保证测试结果的一致性;
4、以Microchip单片机作为控制核心CPU,创新测试技术和测试设备,CPU内置操作系统,测试短路精度高,同时采用矩阵测试原理,不存在短路误测,从而以低成本、高效率的实现64通道以内所有集成电路的开短路测试。
附图说明
图1为本实用新型所述的一种集成电路开短路测试设备的示意图。
图中,1-电路板,2-电源适配器插座,3-测试目标集成电路活动插座,4-系统操作按键,5-系统显示屏,6-Handler接口,7-Microchip单片机,8-手动测试按键,9-外接64通道接口,41-DIS/SET键,42-NEXT键,43-UP键和44-DOWN键,71-ADC高精度转换器。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明: 
如图1所示,一种集成电路开短路测试设备,包括电路板1、电源适配器插座2、测试目标集成电路活动插座3、系统操作按键4、系统显示屏5、Handler控制接口6、Microchip单片机7、手动测试按键8和外接64通道接口9,其特征在于:所述的电路板1上设有Microchip单片机7、系统操作按键4和系统显示屏5,Microchip单片机7通过电路板1分别与系统操作按键4和系统显示屏5连接,系统操作按键4通过电路板1和系统显示屏5连接,电源适配器插座2、测试目标集成电路活动插座3、Handler控制接口6、手动测试按键8和外接64通道接口9均通过电路板1内部互相连接。
所述的Microchip单片机7内带ADC高精度转换器71。
所述的系统操作按键4包括DIS/SET键41、NEXT键42、UP键43和DOWN键44。
所述的测试目标集成电路活动插座3为16、32和64脚的活动插座中的一种。
本实用新型通过系统操作按键设置操作参数,通过系统显示屏显示设置内容和测试结果,操作界面简单方便;通过测试目标集成电路活动插座放置目标集成电路,测试目标集成电路活动插座具有良好的导电性和灵活性,能保证测试结果的准确性;通过手动测试按键可以实现对目标集成电路的手动测试,能保证测试结果的一致性;以Microchip单片机作为控制核心CPU,创新测试技术和测试设备,CPU内置操作系统,测试短路精度高,同时采用矩阵测试原理,不存在短路误测,从而以低成本、高效率的实现64通道以内所有集成电路的开短路测试。因此,本实用新型操作简便,测试准确,可靠高效,能充分满足集成电路开短路测试的要求。

Claims (4)

1.一种集成电路开短路测试设备,包括电路板、电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、系统操作按键、系统显示屏、Handler控制接口、Microchip单片机、手动测试按键和外接64通道接口,其特征在于:所述的电路板上设有Microchip单片机、系统操作按键和系统显示屏,Microchip单片机分别与系统操作按键和系统显示屏连接,系统操作按键与系统显示屏连接,电源适配器插座、测试目标集成电路活动插座、Handler控制接口、手动测试按键和外接64通道接口均通过电路板内部互相连接。
2.根据权利要求1所述的集成电路开短路测试设备,其特征在于:所述的测试目标集成电路活动插座为16、32或64脚的活动插座中的一种。
3.根据权利要求1所述的集成电路开短路测试设备,其特征在于:所述的系统操作按键包括DIS/SET键、NEXT键、UP键和DOWN键。
4.根据权利要求1所述的集成电路开短路测试设备,其特征在于:所述的Microchip单片机内带ADC高精度转换器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106313902A (zh) * 2013-05-22 2017-01-11 珠海艾派克微电子有限公司 墨盒芯片短路检测方法、芯片和墨盒
CN107544018A (zh) * 2017-07-21 2018-01-05 芯海科技(深圳)股份有限公司 一种多site信号量检测及失效判定系统及方法

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