CN202630916U - 一种检测隔垫物高度的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种检测隔垫物高度的装置，用于检测液晶显示器基板上的隔垫物的高度，该装置包括：光源、光线接收装置及检测装置，所述光源发出光线照射到隔垫物及所述隔垫物所在的基板上，所述光线接收装置接收由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线；所述检测装置与所述光线接收装置相连接，所述检测装置接收所述光线接收装置发送的由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线，根据所述反射光线的相位计算得到所述隔垫物的高度。本实用新型测量的隔垫物的高度精确，进一步提高了液晶显示器的质量。
Description
技术领域
本实用新型涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种检测隔垫物高度的装置。
背景技术
随着科技的发展，液晶显示已经频繁应用于各种设备中。目前，液晶显示器是常用的平板显示器，其中薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)是液晶显示器中的主流产品。TFT-LCD通常包括对盒设置的阵列基板和彩膜基板，在阵列基板和彩膜基板之间填充有液晶层。其中，在阵列基板和彩膜基板之间设置有隔垫物，隔垫物将对阵列基板和彩膜基板起到支撑盒厚的作用。
隔垫物是液晶显示器的重要部件，隔垫物的高度决定了对盒后的阵列基板和彩膜基板需注入液晶的用量。隔垫物主要分为球形隔垫物及柱状隔垫物，其中，柱状隔垫物因为能很好地控制分布密度，从而能有效地保证液晶盒厚的均一性，成为现有普遍采用的方法。
现有技术中测量隔垫物高度采用的方法，测量不够准确，影响了液晶显示器的质量。
实用新型内容
针对现有技术中存在的不足，本实用新型提供了一种检测隔垫物高度的装置，可以准确地测量出液晶显示器基板（包括彩膜基板和阵列基板）上的隔垫物高度，提高了液晶显示器的质量。
对实现上述技术方案，本实用新型实施例公开了一种检测隔垫物高度的装 置，用于检测液晶显示器基板上的隔垫物的高度，该装置包括：光源、光线接收装置及检测装置，
所述光源发出光线照射到隔垫物及所述隔垫物所在的基板上；
所述光线接收装置接收由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线；
所述检测装置与所述光线接收装置相连接，所述检测装置接收所述光线接收装置发送的由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线，根据所述反射光线的相位计算得到所述隔垫物的高度。
优选的，所述检测装置具体包括：相位检测仪及与所述相位检测仪连接的运算单元，
所述相位检测仪，根据接收到的所述反射光线获得对应所述隔垫物反射光及所述基板表面反射光各自的相位，并将所述相位发送给所述运算单元；
所述运算单元，根据获得的所述相位及所述光源发射光的光线参数计算得到所述隔垫物的高度，所述光线参数至少包括所述光源对应的波长或光频。
优选的，所述光源、光线接收装置及检测装置均位于一腔室内，且所述光源及所述光线接收装置设置于腔室内侧的上表面。
优选的，所述腔室内底部设有基台，所述基台上放置所述基板。
优选的，所述光线接收装置的数量为至少一个。
优选的，所述光线接收装置并排排列在所述腔室内侧的上表面上，且对应每个所述光线接收装置均连接有一个所述相位检测仪。
优选的，所述相位检测仪同时与各个所述光线接收装置连接。
优选的，所述光线接收装置具体为激光接收器。
优选的，所述光源具体为激光发射源。
优选的，所述激光发射源设置于灯条上，所述激光接收器与所述灯条连接，且所述激光接收器可沿所述灯条的长度方向和沿垂直于灯条的长度方向移动。
优选的，所述每个激光接收器上均连接有一个所述相位检测仪，所述各相位检测仪同时与所述运算单元连接。
本实用新型实施例与现有技术相比具有以下优点：
本实用新型中采用相位差法测量隔垫物的高度，具体通过光线接收装置接收隔垫物以及所述隔垫物所在基板的表面各自的反射光，分析出对应所述隔垫物以及所述基板反射光的相位，利用相位差及波长，或者相位差及光频计算出隔垫物的高度。采用本技术方案可以快速计算出隔垫物的高度，提高了效率，节约了人工操作，并且测量结果更加准确，进一步提高了液晶显示器的质量。
附图说明
图1为本实用新型具体实施例一的结构示意图；
图2为本实用新型具体实施例中检测装置的结构示意图；
图3为本实用新型具体实施例中检测装置显示的相位示意图；
图4为本实用新型具体实施例二的结构示意图；
图5为图4的内部仰视图；
图6~图8为本实用新型实施例三中内部的仰视图。
具体实施方式
本实用新型提供了一种检测隔垫物高度的装置，可以准确地测量出液晶显示器基板上的隔垫物高度，提高了液晶显示器的质量。
下面结合具体实施例及附图对本实用新型的技术方案进行详细描述：
如图1所示，为本实用新型实施例一的结构示意图，用于检测液晶显示器基板上的隔垫物的高度，包括：光源11、光线接收装置12及检测装置13，光源11发出光线照射到隔垫物14及基板15上，光线接收装置12接收由隔垫物14及基板15表面反射的光线；
检测装置13与光线接收装置12相连接，检测装置13接收由光线接收装置12发送的并由隔垫物14及基板15表面反射的光线，根据所述反射光线的相位计算得到隔垫物14的高度。
如图2所示，为本实用新型具体实施例中检测装置的结构示意图，检测装置13包括：相位检测仪43以及与相位检测仪43连接的运算单元44；
相位检测仪43根据接收到的所述反射光线，获得对应所述隔垫物反射光及所述基板表面反射光各自的相位，并将所述相位发送给运算单元44；
运算单元44，根据获得的所述相位及所述光源发射光的光线参数，计算得到所述隔垫物的高度，所述光线参数至少包括所述光源对应的波长或光频。
具体的，光源11发射的光线16照射到隔垫物14与基板15表面上。光源发射的光线的初相位为 
其中，f为光频，t为时间，由隔垫物14与基板15表面反射的光线（图中未标出）被光线接收装置12接收到，并将接收到的反射光发送给检测装置13，检测装置13通过分析获得由隔垫物14反射的光线的相位为 
其中，C为光速，d1为光源11到隔垫物14的距离，由基板15表面反射回来的光线的相位为： 
其中，d2为光源11到基板15的距离。
由隔垫物14反射回来的光线和光源16发射的光线的相位差为 
因为，C＝f·λ，其中λ为光的波长，所以 
则 
同样的道理： 
则 
则隔垫物的高度为
由于上述计算得到的公式 
中λ的单位是10-9m（纳米）级的，因此，利用本实用新型的装置检测到的隔垫物高度能达到上述隔垫物的测试精度，即：通过相位差法能够对隔垫物的高度进行精确测量。
如图3所示为本实用新型中检测装置显示的相位示意图，对相位 
作 
处理，以使得处理后的相位φ范围在0-2π之间，能够在同一相位图中表示出来，其中，n为周期的个数，所以相位图中的相位并不能真实地反应实际相位，而是相差了n个周期。因此，相位检测仪中设置有周期计数器，用来计录经过的周期个数，并通过 
得到实际相位。图3中，φ为光源发射的光线在相位示意图中的初相位，图中的φ1，φ2分别为隔垫物14及基板15反射光在相位示意图中的相位，通过相位检测仪43来检测，并将最终的实际相位结果 
的值输出显示在显示屏上。
如图4所示为本实用新型具体实施例二的结构示意图，包括：腔室31，腔室31内底部设有基台32，基台32上放置带有隔垫物36的基板33，腔室31的内侧上表面设有光源34与光线接收装置35，光源34发射光线照射到腔室31底部的隔垫物36与基板33上，然后光线接收装置35接收由隔垫物36与基板33反射的光线，并将接收到的两种反射光发送给检测装置37，由检测装置37检测得到对应隔垫物36反射光的相位以及对应基板33反射光的相位，根据相位差及波长，或者相位差及光频计算得到对应隔垫物36的高度。
如图5所示，为本实用新型实施例二的内部仰视图，即光线接收装置与检测装置排列的示意图。其中，检测装置具体包括：相位检测仪43及与相位检测仪43连接的运算单元44（参照图2），图4中光线接收装置具体为激光接收器41，激光接收器41设置于布满灯条42的腔室顶部，灯条42上设置有光源，可用来提供发射光线，以及对应的光源为激光发射源，实际中激光发射源与接收器可以为一体式结构，即可以发射激光，也可以接收反射光，并且每个激光接收器41上都安装一个相位检测仪43，各相位检测仪43同时与运算单元44连接。激光接收器41并排排列分布在腔室31内侧的上表面上，用于接收放置于其正下方的隔垫物36与基板33的反射光。
另一方式可以采用将一个相位检测仪同时与各个光线接收装置进行连接，用于获取对应每个光线接收装置发送的反射光线的相位，其内部可以设置多个处理模块，并将对应各个光线接收装置接收到的反射光线的相位发送给运算单 元进行处理。
如图6~图8所示，为本实用新型实施例三的内部仰视图，在该实施例中，只采用一个可以在腔室31内侧的上表面上移动的激光接收器41，该激光接收器41与设置于腔室31内侧的上表面上灯条42相连接，且可以随灯条一起运动。其中采用的光源为激光发射源，激光发射源设置于灯条42上，激光接收器41旁紧邻设置有相位检测仪43，激光接收器41与相位检测仪43为一体式结构，可以沿灯条42的长度方向移动，也可以沿垂直于灯条42长度的方向移动，通过激光接收器41在灯条42上沿轨道移动以及激光接收器41与灯条42一起沿垂直于灯条42长度方向平移的过程中，可以多次获得不同位置处的隔垫物36与基板33的反射光，然后计算出平均值，使得测量结果更加精确，从而进一步提高液晶显示器的质量。
尽管已描述了本实用新型的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (11)
1.一种检测隔垫物高度的装置，用于检测液晶显示器基板上的隔垫物高度，其特征在于，该装置包括：光源、光线接收装置及检测装置，
所述光源发出光线照射到所述隔垫物及所述隔垫物所在的基板上；
所述光线接收装置接收由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线；
所述检测装置与所述光线接收装置相连接，所述检测装置接收所述光线接收装置发送的由所述隔垫物及所述基板表面反射的光线，根据所述反射光线的相位计算得到所述隔垫物的高度。
2.如权利要求1所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述检测装置具体包括：相位检测仪及与所述相位检测仪连接的运算单元，
所述相位检测仪，根据接收到的所述反射光线获得对应所述隔垫物反射光及所述基板表面反射光各自的相位，并将所述相位发送给所述运算单元；
所述运算单元，根据获得的所述相位及所述光源发射光的光线参数计算得到所述隔垫物的高度，所述光线参数至少包括所述光源对应的波长或光频。
3.如权利要求1所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述光源、光线接收装置及检测装置均位于一腔室内，且所述光源及所述光线接收装置设置于腔室内侧的上表面。
4.如权利要求3所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述腔室内底部设有基台，所述基台上放置所述基板。
5.如权利要求2所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述光线接收装置的数量为至少一个。
6.如权利要求5所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述光线接收装置并排排列在所述腔室内侧的上表面上，且对应每个所述光线接收装置均连接有一个所述相位检测仪。
7.如权利要求5所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述相位检测仪同时与各个所述光线接收装置连接。
8.如权利要求5所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述光线接收装置具体为激光接收器。
9.如权利要求8所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述光源具体为激光发射源。
10.如权利要求9所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述激光发射源设置于灯条上，所述激光接收器与所述灯条连接，且所述激光接收器可沿所述灯条的长度方向和沿垂直于灯条的长度方向移动。
11.如权利要求8所述的检测隔垫物高度的装置，其特征在于，所述每个激光接收器上均连接有一个所述相位检测仪，所述各相位检测仪同时与所述运算单元连接。
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| CN107803346A (zh) * | 2017-09-23 | 2018-03-16 | 南京律智诚专利技术开发有限公司 | 一种具有plc技术的工件自动分拣装置 |
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| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
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