CN202562810U - 芯片推力测试仪 - Google Patents

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余登华
卢良军
顾南雁
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Abstract

本实用新型提供了一种芯片推力测试仪，涉及芯片检测技术领域，包括底架、升降装置、电子推力测量仪、待测量产品安装支座、待测量产品夹具，所述底座左侧上方安装有一待测量产品安装支座，所述待测量产品安装支座上方设有一待测量产品夹具，所述底座右侧上方安装有升降装置，升降装置上方设有一电子推力测量仪。本实用新型的有益效果在于：结构简单、检测准确、检测效率高。

Description

芯片推力测试仪
【技术领域】
本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体地讲，涉及一种芯片推力测试仪。
【背景技术】
目前要检测芯片是否焊接牢固，是否是不良品，大都通过肉眼观察，来判定，不仅检测结果不准确，而且效率很低。
【实用新型内容】
本实用新型的目的在于克服目前的芯片检测之不足提供的一种芯片推力测试仪。
本实用新型是通过以下技术方案来实现的：一种芯片推力测试仪包括底架、升降装置、电子推力测量仪、待测量产品安装支座、待测量产品夹具，所述底座左侧上方安装有一待测量产品安装支座，所述待测量产品安装支座上方设有一待测量产品夹具，所述底座右侧上方安装有升降装置，升降装置上方设有一电子推力测量仪。
下面对以上技术方案作进一步阐述：
进一步地，所述升降装置包括立柱、垂直升降摇杆、垂直升降固定块、电子推力测量仪安装架、垂直运动直线轴承、高度限位丝杆，所述立柱为4根，均固定在所述底架右侧上方，外侧两根立柱上设有一垂直升降固定块，所述垂直升降固定块上设有一垂直升降摇杆，垂直升降固定块上方设有一电子推力测量仪安装架，所述电子推力测量仪安装架四角均设有垂直运动直线轴承，所述垂直运动直线轴承套在所述立柱上，所述高度限位丝杆穿过电子推力测量仪安装架与垂直升降固定块相连。
进一步地，待测量产品安装支座包括U形底座、推力测试摇杆、丝杆、滑杆、U形安装架，所述U形底座安装在所述底架左侧上方，所述U形底座左侧设有一推力测试摇杆，所述U形底座凹槽内设有两根滑杆及一根丝杆，丝杆与推力测试摇杆相连，所述U形底座上方设有一U形安装架，所述U形安装架底部穿过滑杆并可以沿滑杆左右移动，所述U形安装架上方安装有待测量产品夹具。
在使用时：可将要检测的芯片放置在待测量产品夹具内，并固定好，通过垂直升降摇杆将电子推力测量仪降下来，电子推力测量仪的测力指针插入到被检测芯片的一端，这时通过推力测试摇杆将被检测芯片向反方向水平移动，即可通过电子推力测量仪测出这时的拉力，根据正常芯片的抗拉力设一个值，低于这个值拉力的芯片即不合格或为不良品。
本实用新型的有益效果在于：结构简单、检测准确、检测效率高。
【附图说明】
图1为本实用新型的整体结构示意图。
附图标记：1、包括底架；2、升降装置；3、电子推力测量仪；4、待测量产品安装支座；5、待测量产品夹具；21、立柱；22、垂直升降摇杆；23、垂直升降固定块；24、电子推力测量仪安装架；25、垂直运动直线轴承；26、高度限位丝杆；41、U形底座；42、推力测试摇杆；43、丝杆；44、滑杆；45、U形安装架。
【具体实施方式】
下面结合附图及具体实施方式对本实用新型做进一步描述：
参照图1所示，该结构的芯片推力测试仪，包括底架1、升降装置2、电子推力测量仪3、待测量产品安装支座4、待测量产品夹具5，所述底座1左侧上方安装有一待测量产品安装支座4，所述待测量产品安装支座4上方设有一待测量产品夹具5，所述底座1右侧上方安装有升降装置2，升降装置2上方设有一电子推力测量仪3。
进一步地，所述升降装置2包括立柱21、垂直升降摇杆22、垂直升降固定块23、电子推力测量仪安装架24、垂直运动直线轴承25、高度限位丝杆26，所述立柱21为4根，均固定在所述底架1右侧上方，外侧两根立柱21上设有一垂直升降固定块23，所述垂直升降固定块23上设有一垂直升降摇杆22，垂直升降固定块23上方设有一电子推力测量仪安装架24，所述电子推力测量仪安装架24四角均设有垂直运动直线轴承25，所述垂直运动直线轴承25套在所述立柱21上，所述高度限位丝杆26穿过电子推力测量仪安装架24与垂直升降固定块23相连。
进一步地，待测量产品安装支座4包括U形底座41、推力测试摇杆42、丝杆43、滑杆44、U形安装架45，所述U形底座41安装在所述底架1左侧上方，所述U形底座41左侧设有一推力测试摇杆42，所述U形底座41凹槽内设有两根滑杆44及一根丝杆43，丝杆43与推力测试摇杆42相连，所述U形底座41上方设有一U形安装架45，所述U形安装架45底部穿过滑杆44并可以沿滑杆44左右移动，所述U形安装架45上方安装有待测量产品夹具5。
在使用时：可将要检测的芯片放置在待测量产品夹具5内，并固定好，通过垂直升降摇杆22将电子推力测量仪3降下来，电子推力测量仪3的测力指针插入到被检测芯片的一端，这时通过推力测试摇杆42将被检测芯片向反方向水平移动，即可通过电子推力测量仪3测出这时的拉力，根据正常芯片的抗拉力设一个值，低于这个值拉力的芯片即不合格或为不良品。
根据上述说明书的揭示和教导，本实用新型所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行适当的变更和修改。因此，本实用新型并不局限于上面揭示和描述的具体实施方式，对本实用新型的一些修改和变更也应当落入本实用新型的权利要求的保护范围内。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本实用新型构成任何限制。

Claims (3)

1.一种芯片推力测试仪，其特征在于：包括底架、升降装置、电子推力测量仪、待测量产品安装支座、待测量产品夹具，所述底座左侧上方安装有一待测量产品安装支座，所述待测量产品安装支座上方设有一待测量产品夹具，所述底座右侧上方安装有升降装置，升降装置上方设有一电子推力测量仪。
2.根据权利要求1所述的芯片推力测试仪，其特征在于：所述升降装置包括立柱、垂直升降摇杆、垂直升降固定块、电子推力测量仪安装架、垂直运动直线轴承、高度限位丝杆，所述立柱为4根，均固定在所述底架右侧上方，外侧两根立柱上设有一垂直升降固定块，所述垂直升降固定块上设有一垂直升降摇杆，垂直升降固定块上方设有一电子推力测量仪安装架，所述电子推力测量仪安装架四角均设有垂直运动直线轴承，所述垂直运动直线轴承套在所述立柱上，所述高度限位丝杆穿过电子推力测量仪安装架与垂直升降固定块相连。
3.根据权利要求1所述的芯片推力测试仪，其特征在于：待测量产品安装支座包括U形底座、推力测试摇杆、丝杆、滑杆、U形安装架，所述U形底座安装在所述底架左侧上方，所述U形底座左侧设有一推力测试摇杆，所述U形底座凹槽内设有两根滑杆及一根丝杆，丝杆与推力测试摇杆相连，所述U形底座上方设有一U形安装架，所述U形安装架底部穿过滑杆并可以沿滑杆左右移动，所述U形安装架上方安装有待测量产品夹具。
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