CN202490812U - Tft-lcd液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，包括支撑架、放置在所述支撑架底部的承样托盘、套在所述支撑架外部并密封整个支撑架的透明的防尘罩，所述防尘罩上设有拉链和两个操作孔，本装置防止了粉料的外泄，使称量更加准确，保证了粒度分析的准确性，避免造成环境污染，避免了对操作人员健康的危害，成本低，使用方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置。
背景技术
TFT-LCD玻璃基板所需原材料繁多，大多都是粉末状和粒状，据TFT-LCD玻璃基板工艺制程的要求，必须根据原材料技术标准来采购原材料和入厂验收，对粒度要求也高，目前，测粉料粒度时采用易于获得的机械设备—振动筛分机及实验标准筛，该方法的特点是简单快速，设备成本购置、维护成本低，检测成本低，但是测完用电子天平测定每一筛上物，在称样时，特别是粉料，会造成严重的粉尘污染，影响员工的身体健康。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对上述情况，提供一种TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置。
本实用新型的目的通过下述技术方案来实现：
一种TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，包括支撑架、放置在所述支撑架底部的承样托盘、套在所述支撑架外部并密封整个支撑架的透明的防尘罩，所述防尘罩上设有拉链和两个操作孔。
作为优选方式，所述防尘罩为圆柱体形状。
作为优选方式，所述防尘罩为透明布料做成的防尘罩。
作为优选方式，所述防尘罩的直径比所述承样托盘的直径大1-2厘米。
作为优选方式，所述操作孔的直径为8-10厘米。
作为优选方式，所述操作孔与承样托盘之间的垂直高度差为8-10厘米。
作为优选方式，所述防尘罩的直径比标准筛的直径大5-10厘米。
本实用新型的工作过程：在称每一筛上物前，先转移粉料，其具体过程为：拉开拉链，把装有粉料的标准筛移入防尘罩中，拉下拉链后，两手从操作孔伸入防尘罩中，拍打筛子使粉料全部落入承样托盘中，待粉尘沉寂后，将粉料连同承样托盘于电子天平上称量。
本实用新型的有益效果：本装置防止了粉料的外泄，使称量更加准确，保证了粒度分析的准确性，避免造成环境污染，避免了对操作人员健康的危害，成本低，使用方便。
附图说明
图1为本实用新型的示意图。
其中，1为防尘罩，2为承样托盘，3为拉链，4为操作孔，5为支撑架。
具体实施方式
下面结合具体实施例和附图对本实用新型作进一步的说明。
一种TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，包括支撑架5、放置在所述支撑架5底部的承样托盘2、套在所述支撑架外部并密封整个支撑架的透明的防尘罩1，所述防尘罩1上设有拉链3和两个操作孔4，防尘罩1为圆柱体形状，防尘罩1为透明布料做成的防尘罩，防尘罩1的直径比标准筛的直径大5-10厘米，防尘罩1的直径比所述承样托盘2的直径大1-2厘米，操作孔4的直径为8-10厘米，操作孔4与承样托盘2之间的垂直高度差为8-10厘米。
本实用新型的工作过程：在称每一筛上物前，先转移粉料，其具体过程为：拉开拉链3，把装有粉料的标准筛移入防尘罩中，拉下拉链后，两手从操作孔伸入防尘罩中，拍打筛子使粉料全部落入承样托盘2中，待粉尘沉寂后，将粉料连同承样托盘于电子天平上称量。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，其特征在于：包括支撑架（5）、放置在所述支撑架（5）底部的承样托盘（2）、套在所述支撑架外部并密封整个支撑架的透明的防尘罩（1），所述防尘罩（1）上设有拉链（3）和两个操作孔（4）。
2.如权利要求1所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，其特征在于：所述防尘罩（1）为圆柱体形状。
3.如权利要求2所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，其特征在于：所述防尘罩（1）为透明布料做成的防尘罩。
4.如权利要求3所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，其特征在于：所述防尘罩（1）的直径比所述承样托盘（2）的直径大1-2厘米。
5.如权利要求4所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，其特征在于：所述操作孔（4）的直径为8-10厘米。
6.如权利要求5所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，其特征在于：所述操作孔（4）与承样托盘（2）之间的垂直高度差为8-10厘米。
7.如权利要求6所述的TFT-LCD液晶玻璃原材料粒度测试粉尘收集装置，其特征在于：所述防尘罩（1）的直径比标准筛的直径大5-10厘米。
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