CN202471911U

CN202471911U - 多功能电路综合测试笔

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Publication number: CN202471911U
Application number: CN2012200617510U
Authority: CN
Inventors: 吴敏
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2012-02-24
Filing date: 2012-02-24
Publication date: 2012-10-03
Anticipated expiration: 2022-02-24

Abstract

一种多功能电路综合测试笔，其全电路包括基准方波信号发生器、单脉冲与脉冲串发生电路、测试音响指示器和测试灯指示电路。SB2-7、SB2-8为信号输入转换开关，当测试TTL电路时，脉冲由SB2-7输入，当测试CMOS电路时，由SB2-8输入，从而实现4种逻辑状态、2种电路电平的检测。CKl为输出插孔，CK2为5V镍镉电池充电插孔，CK3为CMOS电源插孔。这种多功能电路综合测试笔具有结构简单、体积小、便携带、用途广泛，经济实用等特点，它既可测量数字电路的逻辑状态，又可作为多用途信号源，还可进行仪器功能的自检，主要用于数字逻辑电平的测试、单脉冲或脉冲串的输出，占空比可调的脉冲波形的输出等场合。

Description

多功能电路综合测试笔

技术领域

本实用新型涉及一种电子线路，一种既可以测量数字电路逻辑状态，又可以作为多用途信号源的电子仪器。

背景技术

目前，市售的电路测试仪，因结简复杂、功能单一、体积大、价格昂贵等原因而给电路的测量造成不便。因此，有必要设计出一种结构简单、体积小巧、携带方便、用途广泛、经济实用的多功能电路综合测试笔，以此满足众多用户的需要。

发明内容

本实用新型旨在提出一种既可以测量数字电路的逻辑状态，又可以作为多用途信号源的多功能电路综合测试笔。

这种多功能电路综合测试笔，其全电路由基准方波信号发生器、单脉冲与脉冲串发生电路、测试音响指示器和测试灯指示电路组成。IC1的第1、第2脚同时与二极管VD1、电阻R4、IC2的第2脚及开关SB1、SB2-1相连，IC1的第３脚与开关SB2-2相连，IC1的第4脚同时与SB1、SB2-1相连，IC1的第5脚、第6脚、第10脚同时与电阻R2相连，IC1的第8脚、第9脚同时与电阻R1相连，IC1的第13脚与IC2的第3脚相连，IC1的第7脚同时与IC2的第1脚、IC3的第7脚、IC4的第7脚相连并接地，IC1的第14脚同时与IC2的第4、第8脚相连，还通过开关SB3-3、SB3-2与IC3的第14脚相连，且通过开关SB3-1与IC14的第14脚相连，IC3的第1、第2、第11脚同时与SB2-5相连，IC4的第8、第9、第11脚通过电容C20、电阻R16同时与IC4的第4、第13、第12脚相连。

这种多功能电路综合测试笔，其基准方波信号发生器由IC1和C1～C6、R1、R2与RP1组成，基准方波信号发生器由CMOS与非门IC1所组成，IC1中的两个门F1、F2与R2、RP1及C1～C6组成可调式多谐振荡器，其振荡周期T=2.2RC，该振荡器除了用RP1对振荡频率进行微调外，还通过转换开关SB1的切换，将不同容量的电容C1～C6接入，使电路产生不同频率的方波信号，所产生的方波共分为6挡输出，每挡之间为10倍频关系，即1Hz、10Hz、100Hz、1kHz、10kHz、100kHz，由振荡器产生的方波脉冲有经4脚输出并通过SB2-1直接输出的正向方波和经F3反相后由3脚输出并通过SB2-2输出的负向方波两种输出方式，同时，由4脚输出的正向方波直接加至IC2的2脚作为单稳态电路的启动脉冲。

这种多功能电路综合测试笔，其单稳态电路由IC2与R4、RP2及C8～C12组成，通过定时电容C8～C12的切换，形成不同占空比的方波输出，脉冲宽度调节范围在10～100us，单稳态电路由IC1的4脚输出的方波加至IC2的2脚进行触发而启动，它的输出由IC2的3脚经IC1的13脚输入到IC1中的一个反相器反相后成为负向方波，由IC1的11脚输出后经SB2-4向外输出。

这种多功能电路综合测试笔，其单脉冲与脉冲串发生电路由IC3组成，IC3是一只四一二输入端与非施密特触发器，由其中的3个门F1、F2和F3组成单脉冲与脉冲串发生电路。

这种多功能电路综合测试笔，由R6和C13组成防抖动电路。利用电容C13的充放电功能来消除因按钮抖动对电路的影响。

这种多功能电路综合测试笔，其音响发生器是一个由与非门IC4构成的键控式多谐振荡器，它的振荡频率由R16和C20来决定，本电路的振荡频率为1.5kHz，R17为控制电阻，平时，R17将5脚接地，电路停振，测试时，被测电路的高电平经测试笔、SB2-0到IC4的5脚，多谐振荡器被触发起振，通过压电蜂鸣器发出音响。

这种多功能电路综合测试笔，SB2-7、SB2-8为信号输入转换开关。测试TTL电路时，脉冲由SB2-7输入；测试CMOS电路时，信号由SB2-8输入。

这种多功能电路综合测试笔，CK1为输出插孔，通过屏蔽线可代替探头作固定输出；CK2为5V镍镉电池充电插孔；CK3为CMOS电源插孔。

本实用新型的有益效果在于：能克服目前市上电路测试仪结构复杂、体积大、携带不便、价格昂贵的不足，具有结构简单、体积小、便携带、用途广泛、测量准确、经济实用的特点，能满足众多用户的需要。

附图说明

附图1为这种多功能电路综合测试笔的结构原理图；

附图2为这种多功能电路综合测试笔的基准方波信号发生器工作原理图；

附图3为这种多功能电路综合测试笔的单脉冲与脉冲串发生电路工作原理图；

附图4为这种多功能电路综合测试笔的音响发生器工作原理图。

具体实施方式

如图1所示，这种多功能电路综合测试笔，其全电路由基准方波信号发生器、单脉冲与脉冲串发生电路、测试音响指示器和测试灯指示电路组成。IC1的第1、第2脚同时与二极管VD1、电阻R4、IC2的第2脚及开关SB1、SB2-1相连，IC1的第3脚与开关SB2-2相连，IC1的第4脚同时与SB1、SB2-1相连，IC1的第5脚、第6脚、第10脚同时与电阻R2相连，IC1的第8脚、第9脚同时与电阻R1相连，IC1的第13脚与IC2的第3脚相连，IC1的第7脚同时与IC2的第1脚、IC3的第7脚、IC4的第7脚相连并接地，IC1的第14脚同时与IC2的第4、第8脚相连，还通过开关SB3-3、SB3-2与IC3的第14脚相连，且通过开关SB3-1与IC14的第14脚相连，IC3的第1、第2、第11脚同时与SB2-5相连，IC4的第8、第9、第11脚通过电容C20、电阻R16同时与IC4的第4、第13、第12脚相连。

如图2所示，这种多功能电路综合测试笔，其基准方波信号发生器由IC1和C1～C6、R1、R2与RP1组成，基准方波信号发生器由CMOS与非门IC1所组成，IC1中的两个门F1、F2与R2、RP1及C1～C6组成可调式多谐振荡器，其振荡周期T=2.2RC，该振荡器除了用RP1对振荡频率进行微调外，还通过转换开关SB1的切换，将不同容量的电容C1～C6接入，使电路产生不同频率的方波信号，所产生的方波共分为6挡输出，每挡之间为10倍频关系，即1Hz、10Hz、100Hz、1kHz、10kHz、100kHz，由振荡器产生的方波脉冲有经4脚输出并通过SB2-1直接输出的正向方波和经F3反相后由3脚输出并通过SB2-2输出的负向方波两种输出方式，同时，由4脚输出的正向方波直接加至IC2的2脚作为单稳态电路的启动脉冲。

这种多功能电路综合测试笔，由IC1及IC2分别输出的方波信号的频率和占空比均可单独进行调节，互不影响。

如图3所示，这种多功能电路综合测试笔，其单脉冲与脉冲串发生电路由IC3组成，IC3是一只四一二输入端与非施密特触发器，由其中的3个门F1、F2和F3组成单脉冲与脉冲串发生电路。当按下SB5时，F1的5、6脚变为低电平，输出端4脚变为高电平，经F2反相后由11脚输出低电平。同时4脚的高电平经R9、R8向C14充电，当充电至F3的阈值电平后，F3的10脚输出低电平，经F2的10脚使F2翻转，由11脚输出高电平。这样，按动SB5一次，F2的11脚便输出一个正向单脉冲，连续按动SB5就会通过F2输出脉冲串。由F2的11脚输出的脉冲通过SB2-5直接向外输出的是正向的脉冲，通过F4反相后又经SB2-6向外输出的是负向的单脉冲或脉冲串。平时，F3的10脚为高电平，经R11、RP3向C15充电，8脚和10脚同为高电平，F3翻转后，10脚变为低电平，C15经RP3、R11放电，当放电使F2的10脚达到阈值电平后，F2翻转，其11脚变为低电平。在F1的4脚变为高电平使C14充电到F3翻转后，由于R9+R8的阻值远大于R10加VD2导通的阻值，当松开SB5使4脚恢复低电平后，C14就立即经VD2和R10放电，使F3的9脚电压迅速降低，F3翻转，10脚恢复高电平向C15充电。RP3用来调节C15的充放电时间常数，达到调节脉冲发生器的振荡频率。

这种多功能电路综合测试笔，由R6和C13组成防抖动电路。当按下SB5按钮发生抖动时，利用电容C13的充放电功能来消除因按钮抖动对电路的影响。

如图4所示，这种多功能电路综合测试笔，其音响发生器是一个由与非门IC4构成的键控式多谐振荡器，它的振荡频率由R16和C20来决定，本电路的振荡频率为1.5kHz，R17为控制电阻，平时，R17将5脚接地，电路停振，测试时，被测电路的高电平经测试笔、SB2-0到IC4的5脚，多谐振荡器被触发起振，通过压电蜂鸣器发出音响。

这种多功能电路综合测试笔，由VT1、VT2构成逻辑状态检测电路。当输入为低电平时，PNP管VT1导通，双色发光管LED1发绿光；当输入为高电平时，NPN管VT2导通，LED1发红光。当输入为脉冲时，VT1、VT2交替导通，LED1呈红、绿闪光。当输入脉冲频率较高时，LED1发橙光。输入悬空时LED1不发光。

这种多功能电路综合测试笔，SB2-7、SB2-8为信号输入转换开关。测试TTL电路时，脉冲由SB2-7输入；测试CMOS电路时，信号由SB2-8输入。测试电路采用两种极性的晶体管，实现4种逻辑状态、2种电路电平的检测。

这种多功能电路综合测试笔，CK1为输出插孔，通过屏蔽线可代替探头作固定输出；CK2为5V镍镉电池充电插孔；CK3为CMOS电源插孔，当需要CMOS电平时，可由CMOS电源插孔CK3送入适合的电源，以得到需要的CMOS电平输出。

Claims

1.一种多功能电路综合测试笔，全电路由基准方波信号发生器、单脉冲与脉冲串发生电路、测试音响指示器和测试灯指示电路组成，其特征是它还包括IC1的第1、第2脚同时与二极管VD1、电阻R4、IC2的第2脚及开关SB1、SB2-1相连，IC1的第３脚与开关SB2-2相连，IC1的第4脚同时与SB1、SB2-1相连，IC1的第5脚、第6脚、第10脚同时与电阻R2相连，IC1的第8脚、第9脚同时与电阻R1相连，IC1的第13脚与IC2的第3脚相连，IC1的第7脚同时与IC2的第1脚、IC3的第7脚、IC4的第7脚相连并接地，IC1的第14脚同时与IC2的第4、第8脚相连，还通过开关SB3-3、SB3-2与IC3的第14脚相连，且通过开关SB3-1与IC14的第14脚相连，IC3的第1、第2、第11脚同时与SB2-5相连，IC4的第8、第9、第11脚通过电容C20、电阻R16同时与IC14的第4、第13、第12脚相连。

2.如权利要求1所述的多功能电路综合测试笔，其特征是它还包括基准方波信号发生器由IC1和C1～C6、R1、R2与RP1组成，基准方波信号发生器由CMOS与非门IC1所组成，IC1中的两个门F1、F2与R2、RP1及C1～C6组成可调式多谐振荡器，其振荡周期T=2.2RC，该振荡器除了用RP1对振荡频率进行微调外，还通过转换开关SB1的切换，将不同容量的电容C1～C6接入，使电路产生不同频率的方波信号，所产生的方波共分为6挡输出，每挡之间为10倍频关系，即1Hz、10Hz、100Hz、1kHz、10kHz、100kHz，由振荡器产生的方波脉冲有经4脚输出并通过SB2-1直接输出的正向方波和经F3反相后由3脚输出并通过SB2-2输出的负向方波两种输出方式，同时，由4脚输出的正向方波直接加至IC2的2脚作为单稳态电路的启动脉冲。

3.如权利要求1所述的多功能电路综合测试笔，其特征是它还包括其单稳态电路由IC2与R4、RP2及C8～C12组成，通过定时电容C8～C12的切换，形成不同占空比的方波输出，脉冲宽度调节范围在10～100us，单稳态电路由ICl的4脚输出的方波加至IC2的2脚进行触发而启动，它的输出由IC2的3脚经IC1的13脚输入到IC1中的一个反相器反相后成为负向方波，由IC1的11脚输出后经SB2-4向外输出。

4.如权利要求1所述的多功能电路综合测试笔，其特征是它还包括其单脉冲与脉冲串发生电路由IC3组成，IC3是一只四一二输入端与非施密特触发器，由其中的3个门F1、F2和F3组成单脉冲与脉冲串发生电路。

5.如权利要求1所述的多功能电路综合测试笔，其特征是它还包括由R6和C13组成防抖动电路，利用电容C13的充放电功能来消除因按钮抖动对电路的影响。

6.如权利要求1所述的多功能电路综合测试笔，其特征是它还包括其音响发生器是一个由与非门IC4构成的键控式多谐振荡器，它的振荡频率由R16和C20来决定，本电路的振荡频率为1.5kHz，R17为控制电阻，平时，R17将5脚接地，电路停振，测试时，被测电路的高电平经测试笔、SB2-0到IC4的5脚，多谐振荡器被触发起振，通过压电蜂鸣器发出音响。

7.如权利要求1所述的多功能电路综合测试笔，其特征是它还包括SB2-7、SB2-8为信号输入的转换开关，测试TTL电路时，脉冲由SB2-7输入，测试CMOS电路时，信号由SB2-8输入。

8.如权利要求1所述的多功能电路综合测试笔，其特征是它还包括CK1为输出插孔，通过屏蔽线可代替探头作固定输出，CK2为5V镍镉电池充电插孔，CK3为CMOS电源插孔。